×
27.01.2015
216.013.20df

Результат интеллектуальной деятельности: УСТРОЙСТВО СВЧ ПЛАЗМЕННОЙ ОБРАБОТКИ ПЛАСТИН

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к СВЧ плазменным устройствам для проведения процессов осаждения и травления слоев - металлов, полупроводников, диэлектриков и может быть использовано в технологических процессах создания полупроводниковых приборов с высокой степенью интеграции, работающих в экстремальных условиях. Изобретение обеспечивает улучшение равномерности обработки и повышение скорости формирования слоев. В устройстве СВЧ плазменной обработки пластин, содержащем волноводный тракт, огибающий боковую стенку реакционной камеры, через центр широкой стенки волноводного тракта перпендикулярно к ней проходят несколько разрядных трубок, а в местах их входа и выхода из волноводного тракта накладывается магнитное поле для создания условий электронного циклотронного резонанса, волноводный тракт выполняют кольцевым и располагают на боковой стенке реакционной камеры так, что разрядные трубки размещаются в одной плоскости, параллельной обрабатываемой пластине, а над обрабатываемой пластиной вне реакционной камеры на ее крышке, выполненной из прозрачного для СВЧ материала, располагают плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну, под обрабатываемой пластиной для ее нагрева размещают еще одну плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну. 2 ил.
Основные результаты: Устройство СВЧ плазменной обработки пластин, содержащее волноводный тракт, огибающий боковую стенку реакционной камеры, через центр широкой стенки волноводного тракта перпендикулярно к ней проходит несколько разрядных трубок, а в местах их входа и выхода из волноводного тракта накладывается магнитное поле для создания условий электронного циклотронного резонанса, отличающееся тем, что волноводный тракт выполняют кольцевым и располагают на боковой стенке реакционной камеры так, что разрядные трубки размещаются в одной плоскости, параллельной обрабатываемой пластине, а над обрабатываемой пластиной вне реакционной камеры на ее крышке, выполненной из прозрачного для СВЧ материала, располагают плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну, под обрабатываемой пластиной для ее нагрева размещают еще одну плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну.

Изобретение относится к СВЧ плазменным устройствам для проведения процессов осаждения и травления слоев - металлов, полупроводников, диэлектриков и может быть использовано в технологических процессах создания полупроводниковых приборов с высокой степенью интеграции, работающих в экстремальных условиях.

Известно СВЧ плазменное устройство волноводного типа обработки материалов при пониженных давлениях, состоящее из СВЧ генератора, волноводного тракта, огибающего реакционную камеру и заканчивающегося короткозамыкающим поршнем или согласованной нагрузкой. В нескольких местах широкую стенку волноводного тракта пересекают кварцевые разрядные трубки перпендикулярно ее поверхности, один конец которых входит в реакционную камеру, а через другой подается газ (или газы). В местах входа и выхода кварцевых трубок из волноводного тракта накладывается магнитное поле, с помощью которого реализуются условия электронного циклотронного резонанса (ЭЦР). В разрядных трубках загорается плазма, которая «впрыскивается» в реакционную камеру, в которой происходит обработка (травление, осаждение слоев) кремниевых пластин [«Устройство СВЧ плазменной обработки пластин большого диаметра» Сборник материалов «3-й международный симпозиум по теоретической и прикладной плазмохимии». Иваново, 2002, том 2, стр. 472-474].

Недостатки аналога:

- трубно настроить одинаковое горение плазмы в каждой разрядной трубке (плотность плазмы разрядов в каждой трубке отличаются);

- практически сложно уставлять равномерностью обработки по пластине (хотя и возможно).

Известен ближайший аналог (прототип), устройство плазменной обработки [RU 2368032 C1, H01L 21/3065, 20.09.2009], состоящее из реакционной вакуумной камеры с вводами источников СВЧ плазмы, количество которых не регламентировано, расположенными перпендикулярно боковой стенке, и расположенного в реакционной вакуумной камере подогреваемого или охлаждаемого пьедестала для подложек, имеющего возможность вертикального перемещения и возможность электрического смещения относительно плазмы. Вне камеры над местом размещения подложек на пьедестале расположен ВЧ-индуктор, причем стенка камеры, в месте ее примыкания к индуктору, выполнена из материала, прозрачного для ВЧ электромагнитного поля. Основными недостатками устройства являются неравномерность обработки пластин (приблизительно 2%) и относительно низкая скорость формирования слоев.

Техническим результатом изобретения является улучшение равномерности обработки и повышение скорости формирования слоев. Изобретение поясняется чертежами - фиг. 1 и фиг. 2.

Технический результат достигается за счет того, что волноводный тракт 1, огибающий боковую стенку реакционной камеры 2, делается кольцевым и возбуждается с двух диаметрально противоположных сторон посредством волноводных тройников. Волны в противоположных плечах тройников отличаются друг от друга по фазе на 180° и не «видят друг друга». Поэтому возбуждение ЭЦР плазмы в каждой разрядной трубке 3, проходящей через центр широкой стенки волноводного тракта и перпендикулярно ей, посредством наложения магнитного поля с помощью электромагнитов 4 и магнитопроводов 5 в местах входа и выхода из волноводного тракта производится как бы от двух источников СВЧ. Отраженные волны совпадают по фазе с падающей волной в противоположном плече тройника, то есть идет «подпитка» каждого источника за счет отраженной волны и тем самым резко повышается коэффициент полезного использования СВЧ энергии генератора и равномерность горения плазмы в каждой разрядной трубке (плотность плазмы в каждой разрядной трубке практически одинакова). Таким образом, в реакционную камеру «впрыскивается» плазма из всех разрядных трубок с практически одинаковой плотностью в телесные углы, которые пересекаются, и образуется область распадающейся плазмы с высокой степенью однородности параметров плазмы, в которую и помещают пластину. Все разрядные трубки располагаются в одной плоскости, параллельной обрабатываемой пластине. При обработке пластин до 76 мм в диаметре неравномерность обработки составляет порядка 2÷3%. При обработке пластин до 150 мм в диаметре неравномерность составляет до 5%. При обработке пластин до 200 мм в диаметре неравномерность обработки составляет 6÷8%. Если проводятся процессы травления, то в центре пластины наблюдается недотрав слоев. Если проводятся процессы осаждения, то в центральной зоне наблюдается уменьшение толщины по сравнению с периферийной зоной. Для снижения такой неравномерности обработки пластин большого диаметра вне реакционной камеры над местом размещения подложек 6 на пьедестале 7 расположена плоская спиральная двухзаходная СВЧ антенна 8, запитываемая или от отдельного СВЧ генератора, или ответвлением с помощью тройника и коаксиально-волноводного перехода части СВЧ энергии от основного СВЧ генератора. СВЧ энергия, проводимая с помощью спиральной антенны, поглощается «технологической» плазмой, создаваемой с помощью разрядных трубок, ее параметры (плотность, энергия ионов и т.д.) возрастают и «выравниваются» по сечению над обрабатываемой пластиной. Спиральная двухзаходная СВЧ антенна размещается на крышке реакционной камеры, выполненной из прозрачного для СВЧ материала 9. Таким образом, равномерность параметров «технологической» плазмы в реакционной камере над обрабатываемой пластиной повышается и позволяет обрабатывать пластины диаметром до 200 мм с неравномерностью 1÷1,5%.

Подогрев обрабатываемых пластин осуществляется с помощью СВЧ поля. Для этого в реакционной камере под обрабатываемой пластиной размещается еще одна плоская спиральная двухзаходная СВЧ антенна, запитываемая или от отдельного СВЧ генератора, или ответвлением с помощью тройника и коаксиально-волноводного перехода части СВЧ энергии от основного СВЧ генератора.

Устройство СВЧ плазменной обработки пластин, содержащее волноводный тракт, огибающий боковую стенку реакционной камеры, через центр широкой стенки волноводного тракта перпендикулярно к ней проходит несколько разрядных трубок, а в местах их входа и выхода из волноводного тракта накладывается магнитное поле для создания условий электронного циклотронного резонанса, отличающееся тем, что волноводный тракт выполняют кольцевым и располагают на боковой стенке реакционной камеры так, что разрядные трубки размещаются в одной плоскости, параллельной обрабатываемой пластине, а над обрабатываемой пластиной вне реакционной камеры на ее крышке, выполненной из прозрачного для СВЧ материала, располагают плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну, под обрабатываемой пластиной для ее нагрева размещают еще одну плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну.
УСТРОЙСТВО СВЧ ПЛАЗМЕННОЙ ОБРАБОТКИ ПЛАСТИН
УСТРОЙСТВО СВЧ ПЛАЗМЕННОЙ ОБРАБОТКИ ПЛАСТИН
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 11-20 из 21.
27.04.2016
№216.015.38fb

Полупроводниковая транзисторная наногетероструктура на подложке gaas с модифицированным стоп-слоем algaas

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для изготовления монолитных интегральных схем, оперирующих в сантиметровом и миллиметровом диапазоне длин волн. Согласно изобретению предложена полупроводниковая транзисторная гетероструктура на подложке GaAs с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002582440
Дата охранного документа: 27.04.2016
25.08.2017
№217.015.9a89

Материал для фотопроводящих антенн

Изобретение может быть использовано для создания активного слоя в фотопроводящих антеннах-детекторах и генераторах электромагнитного излучения терагерцевого диапазона. Материал для фотопроводящих антенн согласно изобретению представляет собой пленку GaAs, эпитаксиально выращенную на подложке...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002610222
Дата охранного документа: 08.02.2017
25.08.2017
№217.015.9c9e

Способ изготовления омических контактов к нитридным гетероструктурам algan/gan

Изобретение относится к технологии формирования омических контактов к гетероструктурам AlGaN/GaN и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых приборов, в частности полевых транзисторов СВЧ диапазона. Технический результат - уменьшение удельного сопротивления омических контактов...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002610346
Дата охранного документа: 09.02.2017
25.08.2017
№217.015.c9a2

Способ изготовления омических контактов к нитридным гетероструктурам на основе si/al

Изобретение относится к способу формирования омических контактов к нитридным гетероструктурам по технологии вжигаемых омических контактов и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых приборов с высокой степенью интеграции. Омический контакт формируют путем последовательного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002619444
Дата охранного документа: 15.05.2017
26.08.2017
№217.015.dcd9

Способ изготовления т-образного затвора

Изобретение относится к технологии формирования Т-образных металлических затворов транзисторов различного типа, предназначенных для работы в диапазонах СВЧ и выше, а также при создании монолитных интегральных схем. Суть изготовления коротких Т-образных затворов с высоким аспектным соотношением...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002624600
Дата охранного документа: 04.07.2017
26.08.2017
№217.015.dce5

Полупроводниковая структура для фотопроводящих антенн

Изобретение может быть использовано в приемных антеннах для терагерцевого диапазона частот (от 300 ГГц до 4 ТГц). Cтруктура представляет собой полупроводниковую эпитаксиальную многослойную структуру, выращенную на подложке GaAs с кристаллографической ориентацией (111)А, состоящую из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002624612
Дата охранного документа: 04.07.2017
26.08.2017
№217.015.dd7b

Способ определения степени релаксации барьерного слоя нитридной гетероструктуры

Изобретение относится к электрофизическим способам определения степени релаксации барьерного слоя нитридной гетероструктуры и применяется для оценки качества кристаллической структуры, в которой наблюдается пьезоэлектрическая поляризация. Техническим результатом данного изобретения является...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002624604
Дата охранного документа: 04.07.2017
10.05.2018
№218.016.46c5

Материал для эффективной генерации терагерцового излучения

Изобретение относится к фотопроводящим полупроводниковым материалам. Предложен фотопроводящий материал с высокой интенсивностью генерации терагерцового (ТГц) излучения. Материал предназначен для использования в системах импульсной и непрерывной (фотомиксинг) генерации ТГц излучения....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002650575
Дата охранного документа: 16.04.2018
10.05.2018
№218.016.4745

Наноразмерная структура с профилем легирования в виде нанонитей из атомов олова

Использование: для создания РНЕМТ транзисторов. Сущность изобретения заключается в том, что наноразмерная структура с нанонитями из атомов олова, встроенными в кристалл GaAs включает монокристаллическую полуизолирующую вицинальную подложку GaAs (100) с углом разориентации 0.3°÷0.4° в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002650576
Дата охранного документа: 16.04.2018
14.06.2018
№218.016.61c5

Материал на основе ingaas на подложках inp для фотопроводящих антенн

Использование: для создания материала фотопроводящих антенн. Сущность изобретения заключается в том, что материал содержит пленку LT-InGaAs, эпитаксиально выращенную при пониженной температуре на подложке InP, отличающийся тем, что используется подложка InP с кристаллографической ориентацией...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002657306
Дата охранного документа: 13.06.2018
Показаны записи 11-20 из 22.
25.08.2017
№217.015.9c9e

Способ изготовления омических контактов к нитридным гетероструктурам algan/gan

Изобретение относится к технологии формирования омических контактов к гетероструктурам AlGaN/GaN и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых приборов, в частности полевых транзисторов СВЧ диапазона. Технический результат - уменьшение удельного сопротивления омических контактов...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002610346
Дата охранного документа: 09.02.2017
25.08.2017
№217.015.c9a2

Способ изготовления омических контактов к нитридным гетероструктурам на основе si/al

Изобретение относится к способу формирования омических контактов к нитридным гетероструктурам по технологии вжигаемых омических контактов и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых приборов с высокой степенью интеграции. Омический контакт формируют путем последовательного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002619444
Дата охранного документа: 15.05.2017
26.08.2017
№217.015.dcd9

Способ изготовления т-образного затвора

Изобретение относится к технологии формирования Т-образных металлических затворов транзисторов различного типа, предназначенных для работы в диапазонах СВЧ и выше, а также при создании монолитных интегральных схем. Суть изготовления коротких Т-образных затворов с высоким аспектным соотношением...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002624600
Дата охранного документа: 04.07.2017
26.08.2017
№217.015.dce5

Полупроводниковая структура для фотопроводящих антенн

Изобретение может быть использовано в приемных антеннах для терагерцевого диапазона частот (от 300 ГГц до 4 ТГц). Cтруктура представляет собой полупроводниковую эпитаксиальную многослойную структуру, выращенную на подложке GaAs с кристаллографической ориентацией (111)А, состоящую из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002624612
Дата охранного документа: 04.07.2017
26.08.2017
№217.015.dd7b

Способ определения степени релаксации барьерного слоя нитридной гетероструктуры

Изобретение относится к электрофизическим способам определения степени релаксации барьерного слоя нитридной гетероструктуры и применяется для оценки качества кристаллической структуры, в которой наблюдается пьезоэлектрическая поляризация. Техническим результатом данного изобретения является...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002624604
Дата охранного документа: 04.07.2017
10.05.2018
№218.016.46c5

Материал для эффективной генерации терагерцового излучения

Изобретение относится к фотопроводящим полупроводниковым материалам. Предложен фотопроводящий материал с высокой интенсивностью генерации терагерцового (ТГц) излучения. Материал предназначен для использования в системах импульсной и непрерывной (фотомиксинг) генерации ТГц излучения....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002650575
Дата охранного документа: 16.04.2018
10.05.2018
№218.016.4745

Наноразмерная структура с профилем легирования в виде нанонитей из атомов олова

Использование: для создания РНЕМТ транзисторов. Сущность изобретения заключается в том, что наноразмерная структура с нанонитями из атомов олова, встроенными в кристалл GaAs включает монокристаллическую полуизолирующую вицинальную подложку GaAs (100) с углом разориентации 0.3°÷0.4° в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002650576
Дата охранного документа: 16.04.2018
14.06.2018
№218.016.61c5

Материал на основе ingaas на подложках inp для фотопроводящих антенн

Использование: для создания материала фотопроводящих антенн. Сущность изобретения заключается в том, что материал содержит пленку LT-InGaAs, эпитаксиально выращенную при пониженной температуре на подложке InP, отличающийся тем, что используется подложка InP с кристаллографической ориентацией...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002657306
Дата охранного документа: 13.06.2018
01.11.2018
№218.016.98f8

Полупроводниковая структура для фотопроводящих антенн

Изобретение может быть использовано при производстве передающих и приемных антенн для терагерцевого диапазона частот (от 300 ГГц до 5 ТГц). Полупроводниковая структура для фотопроводящих антенн эпитаксиально выращена на подложке GaAs с кристаллографической ориентацией (111)А и состоит из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002671286
Дата охранного документа: 30.10.2018
10.04.2019
№219.017.07b7

P-i-n-диодный преобразователь нейтронного излучения

Изобретение относится к полупроводниковым приборам для преобразования воздействий радиационного излучения, преимущественно нейтронного, в электрический сигнал, измерение которого позволяет определить уровень радиации или набранную дозу облучения. P-I-N-диодный преобразователь нейтронного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002408955
Дата охранного документа: 10.01.2011
+ добавить свой РИД