×
10.05.2018
218.016.4d2f

Результат интеллектуальной деятельности: Способ выращивания кристаллов фуллерена С60

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение может быть использовано в полупроводниковой оптоэлектронике. Навеску порошка исходного фуллерена С60 загружают в кварцевую ампулу, внутренняя поверхность которой покрыта пироуглеродом для защиты исходного порошка от воздействия УФ излучения. Затем проводят низкотемпературную обработку в динамическом вакууме, сублимацию фуллерена при последующем нагреве и выдержке в динамическом вакууме при градиенте температур между зонами сублимации и конденсации. После этого проводят пересублимацию и выращивание первичных кристаллов С60 в статическом вакууме при градиенте температур между зонами сублимации и конденсации и выращивание финишных кристаллов С60 при тех же условиях, причём первичные и финишные кристаллы С60 выращивают в той же ампуле без перезагрузки порошка, перемещая её в соответствующую зону. Выход годных кристаллов фуллерена С60 составляет 80-85 мас. %, размер кристаллов – порядка 1 см. 2 ил., 1 пр.

Изобретение относится к области выращивания кристаллов из парогазовой фазы, а именно кристаллов фуллерена С60, являющегося перспективным материалом для полупроводниковой оптоэлектроники.

Известен способ получения кристаллов фуллерена С60 особой чистоты [патент РФ №2442847 опубл. 20.02.2012, бюл. №5] - прототип. Кристаллы С60 были получены с использованием принципа перекристаллизации, при котором вторичные кристаллы фуллерена выращивались из первичных кристаллов, прошедших предварительную перекристаллизацию в динамическом вакууме. Недостатком предложенного способа является существенная потеря порошка С60 как на стадии рафинирования в динамическом вакууме, так и на последующих стадиях роста в условиях статического вакуума. В первом случае потери обусловлены откачкой паров С60 вакуумным насосом. Во втором случае - неполной пересублимацией первичных кристаллов, обусловленной полимеризацией поверхностных слоев кристаллов фуллерена С60 [Photoinduced Polymerization of Solid С, Films. / A.M. Rao, et. al. // Science. - 1993. - V. 259. - P. 955-957], вызванной ультрафиолетовым излучением, присутствующим в спектрах дневного света и пламени газовой горелки, используемой при запайке ампулы. Полимеризация поверхностных слоев кристаллов фуллерена С60 происходит при каждом вскрытии ампулы и перезагрузке выращенных кристаллов в новую ампулу для следующей стадии выращивания и затрудняет испарение (а иногда и вовсе препятствует испарению) молекул С60 из объема кристалла, чем объясняется невозможность получения крупных по своим размерам кристаллов С60, т.к. на потери приходится до 90% (масс.) от исходной загрузки С60.

Задачей настоящего изобретения является выращивание кристаллов фуллерена С60 в условиях, препятствующих воздействию УФ излучения на С60, и увеличение выхода годного по отношению к исходной массе загрузки.

Эта задача в предлагаемом способе решается за счет того, что выращивание кристаллов фуллерена С60 проводят в ампуле, на внутреннюю поверхность которой предварительно наносят слой пироуглерода, препятствующий проникновению ультрафиолетового излучения во внутренний объем ампулы, что предотвращает полимеризацию поверхностных слоев кристаллов фуллерена С60, причем весь многостадийный процесс выращивания проводят без вскрытия ампулы и перезагрузки кристаллов. Очередность стадий процесса выращивания обеспечивается последовательным ступенчатым перемещением ампулы относительно градиентного температурного поля печи таким образом, чтобы кристаллы, выращенные на предыдущей стадии, располагались в области испарения и являлись «исходной загрузкой» для кристаллов, растущих в области осаждения на следующей стадии. В результате реализации такого способа выращивания кристаллов С60 выход годного составляет 80-85% (масс.) и размер кристаллов достигает ~1 см.

Пример.

Навеску порошка фуллерена С60 массой 20 мг и чистотой 99,9% (масс.) загружают в кварцевую ампулу, на внутренней поверхности которой предварительно нанесен слой пироуглерода. После предварительного вакуумирования при комнатной температуре до давления 10-3 мм рт.ст. ампулу размещают в печи, нагретой до температуры 400°С. После выдержки в течение 4 часов при непрерывной откачке температуру в зоне испарения печи повышают до 605°С и порошок С60 сублимируют в зону осаждения. Температура зоны осаждения равна 595°С. После выдержки в течение 7 часов при таких условиях ампулу герметично запаивают и перемещают относительно исходного положения на расстояние 70 мм таким образом, чтобы мелкокристаллический осадок С60 оказался в зоне испарения при температуре 605°С. В таких условиях происходит выращивание первичных кристаллов в течение 72 часов. После истечения указанного времени ампулу снова перемещают в тепловом поле печи на расстояние 70 мм и оставляют в таком положении на 72 часа - происходит пересублимация первичных кристаллов и рост вторичных кристаллов в зоне осаждения. Описанную процедуру повторяют еще один раз для получения финишных кристаллов фуллерена С60.

На фиг. 1 представлена схема эксперимента с температурным профилем печи и разным положением ампулы относительно градиентной зоны. На фиг. 2 представлен кристалл фуллерена С60, выращенный указанным способом.

Способ выращивания кристаллов фуллерена С60, включающий загрузку навески порошка исходного фуллерена С60 в кварцевую ампулу, низкотемпературную обработку в динамическом вакууме, сублимацию фуллерена при последующем нагреве и выдержке в динамическом вакууме, пересублимацию и выращивание первичных кристаллов С60 в статическом вакууме при градиенте температур между зонами сублимации и конденсации и выращивание финишных кристаллов С60 при тех же условиях, отличающийся тем, что внутреннюю поверхность ампулы покрывают пироуглеродом для защиты исходного порошка от воздействия УФ излучения, сублимацию проводят при градиенте температур между зонами сублимации и конденсации, а первичные и финишные кристаллы С60 выращивают в той же ампуле без перезагрузки порошка при ее перемещении в соответствующую зону.
Способ выращивания кристаллов фуллерена С60
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 71-80 из 91.
09.06.2020
№220.018.25bc

Структура с резистивным переключением

Изобретение предназначено для применения в электронике для нейроморфных вычислений и хранения информации. Структура с резистивным переключением включает два металлических алюминиевых контакта, нанесенных на поверхность тонкой пленки аморфной сурьмы. Изобретение обеспечивает получение структуры...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002723073
Дата охранного документа: 08.06.2020
03.07.2020
№220.018.2dda

Способ получения timnal

Изобретение относится к области металлургии, в частности к получению объемных слитков спин-поляризованного бесщелевого полупроводника TiMnAl, который может быть использован в спинтронике. Способ получения TiMnAl из элементарных титана, марганца и алюминия включает помещение навесок марганца и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002725229
Дата охранного документа: 30.06.2020
06.07.2020
№220.018.2fb7

Трансформатор импульсов электроэнергии однополярного тока

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в электрометаллургии для гальванической развязки в источниках питания высокочастотной дуги, используемой для плавления металлических порошков, электроэрозионной обработки поверхности и изготовления деталей сложной формы....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002725610
Дата охранного документа: 03.07.2020
09.07.2020
№220.018.3097

Устройство для выращивания смешанных кристаллов сульфата кобальта-никеля-калия для оптических фильтров ультрафиолетового диапазона

Изобретение относится к области роста кристаллов, в частности, к выращиванию смешанных монокристаллов K(Со,Ni)(SO)x6HO (KCNSH) из водных растворов и может быть использовано в оптическом приборостроении для изготовления солнечно-слепых фильтров. Устройство для выращивания смешанных кристаллов...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002725924
Дата охранного документа: 07.07.2020
20.04.2023
№223.018.4c95

Способ легирования кристаллов селенида цинка хромом

Изобретение относится к области выращивания кристаллов. Способ легирования кристаллов селенида цинка хромом включает смешивание порошков селенида цинка и легирующей добавки и последующее выращивание кристалла из расплава под давлением аргона, при этом хром вводится в исходную загрузку в виде...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002751059
Дата охранного документа: 07.07.2021
20.04.2023
№223.018.4c96

Высокотемпературный слоисто-волокнистый композит, армированный оксидными волокнами, и способ его получения

Изобретение относится к высокотемпературным конструкционным композитным материалам с металлической матрицей и способам их получения. Высокотемпературный слоисто-волокнистый композит, с матрицей на основе Nb, твердого раствора Nb(Al), а также интерметаллидов NbAl и NbAl содержит слои Мо,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002751062
Дата охранного документа: 07.07.2021
20.04.2023
№223.018.4cda

Способ легирования кристаллов сульфида цинка железом или хромом

Изобретение относится к области выращивания кристаллов. Способ легирования кристаллов сульфида цинка железом или хромом включает смешивание порошков сульфида цинка и порошка моносульфида легирующего металла с последующим выращиванием кристалла из расплава вертикальной зонной плавкой. Способ...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002755023
Дата охранного документа: 09.09.2021
20.04.2023
№223.018.4d09

Устройство для измерения малых токов инжектированных зарядов в конденсированных средах

Устройство для измерения малых токов инжектированных зарядов в конденсированных средах предназначено для измерения малых токов ~ 10 А и регистрации их изменения во времени, а также записи результатов измерения на электронный носитель. Устройство содержит преобразователь ток-напряжение,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002754201
Дата охранного документа: 30.08.2021
20.04.2023
№223.018.4d26

Устройство для получения наночастиц из газов и паров жидкостей при сверхнизких температурах

Изобретение относится к области нанотехнологии, а именно предлагаемое устройство позволяет получать частицы малых размеров (наночастицы) из материалов, которые существуют при комнатных температурах в виде газов или паров. Устройство для получения наночастиц из материалов, существующих при...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002756051
Дата охранного документа: 24.09.2021
21.04.2023
№223.018.4fc4

Способ синтеза шпинели ganbse

Изобретение может быть использовано при создании мемристивных структур на основе шпинелей семейства «изоляторов Мотта». Способ синтеза шпинели GaNbSe из элементарных веществ включает твердофазную химическую реакцию в вакуумированной и герметично запаянной кварцевой ампуле. Твердофазную...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002745973
Дата охранного документа: 05.04.2021
Показаны записи 41-49 из 49.
20.04.2023
№223.018.4c95

Способ легирования кристаллов селенида цинка хромом

Изобретение относится к области выращивания кристаллов. Способ легирования кристаллов селенида цинка хромом включает смешивание порошков селенида цинка и легирующей добавки и последующее выращивание кристалла из расплава под давлением аргона, при этом хром вводится в исходную загрузку в виде...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002751059
Дата охранного документа: 07.07.2021
20.04.2023
№223.018.4cda

Способ легирования кристаллов сульфида цинка железом или хромом

Изобретение относится к области выращивания кристаллов. Способ легирования кристаллов сульфида цинка железом или хромом включает смешивание порошков сульфида цинка и порошка моносульфида легирующего металла с последующим выращиванием кристалла из расплава вертикальной зонной плавкой. Способ...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002755023
Дата охранного документа: 09.09.2021
21.04.2023
№223.018.4fc4

Способ синтеза шпинели ganbse

Изобретение может быть использовано при создании мемристивных структур на основе шпинелей семейства «изоляторов Мотта». Способ синтеза шпинели GaNbSe из элементарных веществ включает твердофазную химическую реакцию в вакуумированной и герметично запаянной кварцевой ампуле. Твердофазную...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002745973
Дата охранного документа: 05.04.2021
14.05.2023
№223.018.56cc

Осевой неразгруженный компенсатор

Изобретение относится к технологическому оборудованию, предназначенному для выращивания кристаллов халькогенидов в условиях микрогравитации – важном направлении в космическом материаловедении. Осевой компенсатор пружинно-поршневого типа содержит неразгруженный компенсирующий элемент,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002732334
Дата охранного документа: 15.09.2020
15.05.2023
№223.018.5c25

Сверхпроводящая цепь с эффектом близости

Устройство относится к сверхпроводящим цепям с эффектом близости, позволяющим управлять спектром связанных Андреевских состояний. Предлагается сверхпроводящая цепь с эффектом близости, включающая монокристаллическую пластину силицида кобальта CoSi, ориентированную в кристаллографической...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002753673
Дата охранного документа: 19.08.2021
15.05.2023
№223.018.5c26

Сверхпроводящая цепь с эффектом близости

Устройство относится к сверхпроводящим цепям с эффектом близости, позволяющим управлять спектром связанных Андреевских состояний. Предлагается сверхпроводящая цепь с эффектом близости, включающая монокристаллическую пластину силицида кобальта CoSi, ориентированную в кристаллографической...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002753673
Дата охранного документа: 19.08.2021
15.05.2023
№223.018.5c68

Опора тигля для выращивания кристаллов

Изобретение относится к оборудованию для выращивания кристаллов прямоугольной формы из расплава. Опора тигля выполнена в виде прямоугольного в поперечном сечении корпуса 1 с посадкой для установки тигля на опору 6 и посадкой для установки опоры на шток 5, и имеющего сквозные пазы 4,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002759623
Дата охранного документа: 16.11.2021
16.05.2023
№223.018.5ecf

Электродуговой способ получения слитков timnal

Изобретение относится к области металлургии, в частности к получению сплава Гейслера в виде слитков, пригодных для изучения свойств спин-поляризованного бесщелевого полупроводника TiMnAl. Способ получения слитков сплава TiMnAl из смеси алюминия, марганца и титана включает подготовку смеси...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002754540
Дата охранного документа: 03.09.2021
16.05.2023
№223.018.6357

Электродуговой способ получения прецизионного сплава timnal

Изобретение относится к области металлургии прецизионных сплавов и может быть использовано для получения сплава Гейслера. Осуществляют сплавление смеси порошков алюминия, марганца и титана в гарнисаже плазмой дугового разряда напряжением от 65 до 70 В и током от 8 до 10 А в атмосфере гелия...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002776576
Дата охранного документа: 22.07.2022
+ добавить свой РИД