19.01.2017
№217.015.9324
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ШИРИНЫ ЗАПРЕЩЕННОЙ ЗОНЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВ
Вид РИД
Изобретение
№ охранного документа
0001131399
Дата охранного документа
10.07.2016
Аннотация:
Способ определения ширины запрещенной зоны полупроводников, основанный на облучении образца монохроматическим электромагнитным излучением и регистрации спектральной зависимости реакции образца на облучение, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения ширины запрещенной зоны халькогенидных стеклообразующих полупроводников, облучение образца производят модулированным по интенсивности излучением, регистрируют спектральную зависимость упругой фотодеформации образца и по величине пика спектральной зависимости фотодеформации определяют ширину запрещенной зоны.
Источник поступления информации:
Роспатент
Показаны записи 1-1 из 1.
10.08.2016
№216.015.5698
Полупроводниковый стеклообразный материал
Полупроводниковый стеклообразный материал, включающий, ат.%: кремний 6,8-7,7; германий 6,8-7,7; теллур 49-51 и мышьяк, отличающийся тем, что, с целью повышения фоточувствительности, он содержит мышьяк в количестве 25,4-30,6 ат.% и дополнительно - индий в количестве 5-10 ат.%.
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0001526120
Дата охранного документа: 10.08.2016
