Автор РИД: Леушина Т.А.

Способ определения ширины запрещенной зоны полупроводников, основанный на облучении образца монохроматическим электромагнитным излучением и регистрации спектральной зависимости реакции образца на облучение, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения ширины запрещенной зоны...