×
20.11.2015
216.013.91f1

Результат интеллектуальной деятельности: СПОСОБ ЗАЩИТЫ УГЛОВ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР НА КРЕМНИЕВОЙ ПЛАСТИНЕ ПРИ ГЛУБИННОМ АНИЗОТРОПНОМ ТРАВЛЕНИИ

Вид РИД

Изобретение

№ охранного документа
0002568977
Дата охранного документа
20.11.2015
Аннотация: Использование: для изготовления микроэлектромеханических структур. Сущность изобретения заключается в том, что способ защиты углов трехмерных микромеханических структур на кремниевой пластине с кристаллографической ориентацией (100) при глубинном анизотропном травлении в водном растворе гидрооксида калия КОН включает формирование масочного рисунка с элементами защиты углов, элементы защиты углов, имеющие диагональную форму на топологической маске, располагают под углом 45° к контурам жесткого центра, причем размеры изготовляемых трехмерных микромеханических структур определяются из определенных условий. Технический результат: обеспечение возможности повышения качества и увеличения процента выхода годных трехмерных микромеханических структур. 6 ил., 2 табл.
Основные результаты: Способ защиты углов трехмерных микромеханических структур на кремниевой пластине с кристаллографической ориентацией (100) при глубинном анизотропном травлении в водном растворе гидрооксида калия КОН, включающий формирование масочного рисунка с элементами защиты углов, примыкающими к исходной части топологической маски вблизи точки пересечения сторон защищаемого чипа или трехмерной микроструктуры на пластине, причем травление проводят до тех пор, пока кремниевые элементы, сформированные в области маски защиты углов, не стравятся в процессе травления до границы исходной топологической области жесткого центра микромеханической структуры, отличающийся тем, что элементы защиты углов, имеющие диагональную форму на топологической маске, располагают под углом 45° к контурам жесткого центра, причем размеры изготовляемых трехмерных микромеханических структур определяют из условий: /h>2,97; b/h>2,1; (-b)/h>0,87, а параметры их изготовления назначают из соотношений m≥h·(1+ctgβ) - длина, l=2·h - ширина,где - половина от размера стороны квадратной мембраны трехмерной микромеханической структуры,b - половина от размера квадратной стороны жесткого центра на мембране трехмерной микромеханической структуры,h - глубина травления в направлении <100>,β - угол, определяемый отношением скорости травления V диагонального компенсатора к скорости травления V в направлении <100>.

Изобретение относится к микромеханике, а именно к технологии изготовления микроэлектромеханических структур (МЭМС).

Известен способ микропрофилирования монокристаллического кремния ориентации (100) посредством анизотропного химического травления в системе едкое кали КОН - изопропиловый спирт (ИПС) C3H2OH - вода H2O, содержащей КОН: ИПС: H2O=32 г: 250 мл: 375 мл при температуре +80°C. При формировании мезаструктур или V-образных канавок в данном травителе происходит растравливание внешних углов. Для получения формы углов, близкой к прямоугольной, в рисунок фотошаблонов в вершинах внешних углов вводят компенсирующие элементы в виде маскированного квадрата, центр которого совмещен с вершиной элемента. Недостатком указанного способа защиты внешних углов является большая площадь фигур компенсации квадратной формы, в результате которой остаточная толщина кремниевой пластины в местах расположения указанных фигур из-за неполного их стравливания может превышать заданное значение на 5-15 мкм, что отражается на характеристиках изготавливаемых микромеханических структур. Например, в случае формирования таким способом мембраны с жестким центром датчика давления это приводит к снижению чувствительности, определяемой номинальной толщиной мембраны, и ухудшению линейности преобразовательной характеристики. Готра З.Ю. Технология микроэлектронных устройств: Справочник. - М.: Радио и связь, 1991: илл., с. 397.

Известен способ защиты углов трехмерных микромеханических структур на кремниевой пластине с кристаллографической ориентацией (100), которую подвергают анизотропному травлению в водном растворе гидрооксида калия КОН, включающий формирование масочного рисунка с элементами защиты углов, примыкающими к исходной части топологической маски вблизи точки пересечения сторон защищаемого чипа или трехмерной микроструктуры на пластине и продолжающимися за пределы исходной части маски, при котором для защиты выпуклых углов чипа или трехмерной микроструктуры формируют масочный рисунок с элементами Т-образной формы, содержащей продольную и поперечную части, масочный рисунок с Т-образными элементами защиты выпуклых углов формируют из металлической структуры V-Cu′-Cu′′, включающей тонкопленочную структуру ванадия и меди V-Cu′ и гальванический слой меди Cu′′, а каждый из Т-образных элементов защиты выполняют в форме двух полосок - продольной вдоль кристаллографического направления [110] высотой В и поперечной шириной Ш, расположенной в поперечном направлении под прямым углом к продольной полоске, при этом травление проводят до тех пор, пока продольные кремниевые элементы, сформированные в области маски защиты углов в процессе анизотропного химического травления, не стравятся до границы исходной топологической области жесткого центра преобразователя, что соответствует моменту формирования правильного многоугольника в основании объемной фигуры жесткого центра, самосовмещения топологических слоев преобразователя и выхода на заданную глубину травления. В случае травления кремния в 33% растворе гидрооксида калия при температуре кипения для заданных интервалов отношений конструктивных параметров микромеханической структуры 0,44<b/a<0,73 и 30,6<h/a·103<36,6, размеры Т-образных элементов защиты выполняют в соотношениях как 5,1<В/Ш<9,1, где а - половина от размера стороны квадратной мембраны, b - половина от размера стороны квадратного основания жесткого центра, h - толщина мембраны.

Патент Российской Федерации №2220475, МПК: H01L 21/308, 2003 г. Прототип.

Недостатками прототипа являются невозможность получения точной формы прямого угла и потеря точности при визуальном контроле процесса самосовмещения топологических слоев, как следствие, увеличивается процент брака выпускаемых трехмерных микромеханических структур. Это обусловлено тем, что Т-образные фигуры компенсации, так же как и защищаемые ими внешние углы, имеют один и тот же механизм травления, в процессе которого происходит огранка (скругление) вершин внешних углов. Поэтому в момент полного стравливания компенсаторов квадратной или Т-образной формы сразу же начинается травление защищаемого ими элемента микромеханической структуры, в связи с чем получить правильную прямоугольную форму внешнего угла при использовании указанных фигур компенсации принципиально невозможно. Поскольку радиус скругления защищаемого угла может иметь технологический разброс в довольно широком диапазоне, определяемом такими факторами, как свойства кремниевой пластины, свойства компонентов травителя, температурой травителя и точностью ее поддержания, то выработать четкие критерии, определяющие момент полного стравливания защитного элемента и, как следствие, достижения требуемой глубины травления, не представляется возможным. В результате получится разброс формируемых мембран по толщине, что применительно, например, к изготовлению чувствительных элементов датчиков давления приведет к их вариации по чувствительности, линейности и нагрузочной способности.

Изобретение устраняет указанные недостатки.

Техническим результатом изобретения является повышение качества и увеличение процента выхода годных трехмерных микромеханических структур.

Технический результат достигается тем, что в способе защиты углов трехмерных микромеханических структур на кремниевой пластине с кристаллографической ориентацией (100) при глубинном анизотропном травлении в водном растворе гидрооксида калия КОН, включающем формирование масочного рисунка с элементами защиты углов, примыкающими к исходной части топологической маски вблизи точки пересечения сторон защищаемого чипа или трехмерной микроструктуры на пластине, причем травление проводят до тех пор, пока кремниевые элементы, сформированные в области маски защиты углов не стравятся в процессе травления до границы исходной топологической области жесткого центра микромеханической структуры, элементы защиты углов, имеющие диагональную форму на топологической маске, располагают под углом 45′ к контурам жесткого центра, причем размеры изготовляемых трехмерных микромеханических структур определяют из условий: a/hTP>2,97; b/hTP>2,1; (a-b)/hTP>0,87, а параметры их изготовления назначают из соотношений m≥hTP·(1+ctgβ) - длина, l=2·hTP - ширина,

где а - половина от размера стороны квадратной мембраны трехмерной микромеханической структуры,

b - половина от размера квадратной стороны жесткого центра на мембране трехмерной микромеханической структуры,

hTP - глубина травления в направлении <100>,

β - угол, определяемый отношением скорости травления V1 диагонального компенсатора к скорости травления V<100> в направлении <100>.

Изобретение поясняется фигурами 1-6.

На Фиг. 1 показана фотография трехмерной микромеханической структуры, представляющей собой кремниевую мембрану с жестким центром и сформированную с использованием Т-образных фигур компенсации.

На Фиг. 2 показана конфигурация кремниевой мембраны с жестким центром, имеющим правильную прямоугольную форму.

На Фиг. 3 показано поперечное сечение кремниевой мембраны с жестким центром, имеющим правильную прямоугольную форму.

На Фиг. 4 показана схема размещения фигур компенсации диагональной формы и назначения их размеров.

На Фиг. 5 показан график зависимости угла β на компенсаторе диагональной формы от соотношения скоростей травления.

На Фиг. 6 показана фотография кремниевой мембраны с жестким центром, сформированной с использованием фигур компенсации диагональной формы.

Способ осуществляется следующим образом. В момент полного стравливания элементов защиты Т-образной формы (см. Фиг. 1) сразу же начинается травление защищаемых ими внешних углов, из-за чего получить правильную прямоугольную форму последних при использовании подобных защитных элементов принципиально невозможно. Это объясняется тем, что в данном случае огранка внешних углов происходит по плоскостям {111}, {100} и плоскостям, близким к {311}, у основания углов наблюдается выход плоскостей {110}. Поверхность плоскостей {311}, {100} и {111}, образующих боковые грани, зеркальная, а {110} - ребристая, что обусловлено выходом семейства плоскостей {111}, пересечения граней которых и образуют указанные ребра.

Правильную прямоугольную форму защищаемого внешнего угла (см. Фиг. 2 и Фиг. 3) получают при использовании фигур компенсации диагональной формы. В начале процесса (см. Фиг. 4) травление при вершине прямого угла в направлении вектора скорости идет по тому же пути, что и для квадратного или Т-образного компенсаторов. При травлении в направлении вектора появляется семейство плоскостей {100}. Это подтверждается равенством абсолютных значений скоростей V<100> и V2 во всем исследованном температурном диапазоне. При определенной глубине травления, зависящей от формы, размеров и ориентации исходной фигуры травления, достигается равновесная форма огранки. После того как прямой угол при вершине компенсатора окончательно стравится, появляются плоскости, следы которых образуют между собой угол ≈30° в плоскости (100) и угол ≈15° с семейством плоскостей, перпендикулярных направлению вектора . При дальнейшем увеличении глубины фигура травления изменяется геометрически подобно.

В качестве маскирующего материала при анизотропном травлении кремния в водном растворе гидрооксида калия КОН применяют пленки, например, двуокиси кремния SiO2, нитрида кремния или металлической структуры V-Cu′-Cu′′. Минимальное расстояние Si3N4 между вершиной диагонального компенсатора и контуром мембраны микромеханической структуры на топологической маске определяется характеристиками оборудования, используемого для формирования маскирующего слоя на поверхности кремниевой пластины и переноса на него топологического рисунка маски. Для случая контактной фотолитографии Smin составляет 5…10 мкм.

Ширина l диагонального компенсатора вычисляется по формуле:

где hTP - глубина травления кремния, мкм;

V<100> - скорость травления кремния в направлении <100>, мкм/мин;

tTP - время травления, мин.

Для обеспечения защиты внешнего угла в течение заданного времени травления размер m, определяемый как расстояние от вершины защищаемого угла до вершины угла диагонального компенсатора на топологическом рисунке фотошаблона, должен удовлетворять условию:

Случай равенства в формуле (2) является предельным и соответствует длине стороны треугольника, образуемого фронтами травления скоростей и (см. Фиг. 3). При m<hTP·(1+ctgβ) компенсатор стравится до достижения требуемой толщины мембраны и начнется растравливание защищаемого им угла, что приведет к формированию конфигурации внешних углов, представленной на Фиг. 1.

Угол β определяется типом проводимости кремниевой пластины, температурой и концентрацией травителя. Значения угла β для монокристаллического кремния марки КЭФ n-типа проводимости (ρ=4,5 Ом·см) ориентации (100) при травлении в 33%-ном водном растворе КОН представлены в таблице 1.

В общем случае значение угла β зависит от соотношения скоростей травления V1/V<100> и определяется по формуле (3):

Численные значения угла β в зависимости от соотношения скоростей V1/V<100> представлены в таблице 2 и на Фиг. 5.

Конфигурация трехмерной микромеханической структуры, представляющей собой изготовленную с использованием компенсаторов диагональной формы мембрану с жестким центром, представлена на Фиг. 6

Ввиду того, что скорость V2 бокового травления компенсатора совпадает со скоростью травления V<100> вглубь кремниевой пластины, момент полного стравливания компенсатора диагональной формы соответствует достижению требуемой глубины травления.

Способ позволяет получать внешние углы правильной прямоугольной формы, одновременно обеспечивая возможность визуального контроля глубины травления по остаточной конфигурации фигур компенсации, и, следовательно, повысить качество и выход годных трехмерных микромеханических структур.

Способ защиты углов трехмерных микромеханических структур на кремниевой пластине с кристаллографической ориентацией (100) при глубинном анизотропном травлении в водном растворе гидрооксида калия КОН, включающий формирование масочного рисунка с элементами защиты углов, примыкающими к исходной части топологической маски вблизи точки пересечения сторон защищаемого чипа или трехмерной микроструктуры на пластине, причем травление проводят до тех пор, пока кремниевые элементы, сформированные в области маски защиты углов, не стравятся в процессе травления до границы исходной топологической области жесткого центра микромеханической структуры, отличающийся тем, что элементы защиты углов, имеющие диагональную форму на топологической маске, располагают под углом 45° к контурам жесткого центра, причем размеры изготовляемых трехмерных микромеханических структур определяют из условий: /h>2,97; b/h>2,1; (-b)/h>0,87, а параметры их изготовления назначают из соотношений m≥h·(1+ctgβ) - длина, l=2·h - ширина,где - половина от размера стороны квадратной мембраны трехмерной микромеханической структуры,b - половина от размера квадратной стороны жесткого центра на мембране трехмерной микромеханической структуры,h - глубина травления в направлении <100>,β - угол, определяемый отношением скорости травления V диагонального компенсатора к скорости травления V в направлении <100>.
СПОСОБ ЗАЩИТЫ УГЛОВ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР НА КРЕМНИЕВОЙ ПЛАСТИНЕ ПРИ ГЛУБИННОМ АНИЗОТРОПНОМ ТРАВЛЕНИИ
СПОСОБ ЗАЩИТЫ УГЛОВ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР НА КРЕМНИЕВОЙ ПЛАСТИНЕ ПРИ ГЛУБИННОМ АНИЗОТРОПНОМ ТРАВЛЕНИИ
СПОСОБ ЗАЩИТЫ УГЛОВ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР НА КРЕМНИЕВОЙ ПЛАСТИНЕ ПРИ ГЛУБИННОМ АНИЗОТРОПНОМ ТРАВЛЕНИИ
СПОСОБ ЗАЩИТЫ УГЛОВ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР НА КРЕМНИЕВОЙ ПЛАСТИНЕ ПРИ ГЛУБИННОМ АНИЗОТРОПНОМ ТРАВЛЕНИИ
СПОСОБ ЗАЩИТЫ УГЛОВ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР НА КРЕМНИЕВОЙ ПЛАСТИНЕ ПРИ ГЛУБИННОМ АНИЗОТРОПНОМ ТРАВЛЕНИИ
СПОСОБ ЗАЩИТЫ УГЛОВ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР НА КРЕМНИЕВОЙ ПЛАСТИНЕ ПРИ ГЛУБИННОМ АНИЗОТРОПНОМ ТРАВЛЕНИИ
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 171-180 из 191.
13.02.2019
№219.016.b96f

Устройство для определения объёмов замкнутых полостей

Устройство относится к измерительной технике, в частности к измерениям вместимостей замкнутых герметизированных объемов в различных сложных системах и установках, имеющих отношение к вакуумной технике, с возможностью размещения внутри их объемов пористых материалов и/или элементов конструкций...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002679476
Дата охранного документа: 11.02.2019
20.02.2019
№219.016.bc2a

Способ определения объёмов замкнутых полостей

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям вместимостей замкнутых герметизированных объемов в различных сложных системах и установках, имеющих отношение к вакуумной технике, с возможностью размещения внутри их объемов пористых материалов и/или элементов конструкций...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002680159
Дата охранного документа: 18.02.2019
01.03.2019
№219.016.d072

Способ определения порога обнаружения радиационного монитора

Изобретение относится к ядерной технике, а именно к области радиационного мониторинга, и может быть использовано в машиностроении, медицине и других отраслях для контроля несанкционированного перемещения ядерных материалов и других радиоактивных веществ. Сущность изобретения заключается в том,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002467353
Дата охранного документа: 20.11.2012
03.03.2019
№219.016.d22a

Высоконаполненный компаунд для изготовления ферромагнитных сердечников

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при создании материалов с магнитными свойствами, подвергающихся сложной механической обработке в отвержденном состоянии. Высоконаполненный формовочный эпоксидно-ферритовый компаунд содержит эпоксидную диановую смолу,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002680999
Дата охранного документа: 01.03.2019
13.04.2019
№219.017.0c68

Инфразвуковой микробарометр

Изобретение относится к метрологии, в частности к инфразвуковым микробарометрам. Инфразвуковой микробарометр состоит из корпуса, содержащего приемную и опорную камеры. Камеры разделены мембраной и соединены дросселем, обеспечивающим фильтрацию длиннопериодных колебаний атмосферного давления....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002684672
Дата охранного документа: 11.04.2019
18.05.2019
№219.017.541a

Способ коррекции частотной характеристики фотоэлектронного умножителя

Изобретение относится к области измерительной техники. В способе выбирают динод по перепаду напряжения на динодной характеристике. Подбором потенциала устанавливают рабочую точку выбранного динода на спадающей ветви динодной характеристики, если коэффициент неплоскостности выходного импульса...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002263368
Дата охранного документа: 27.10.2005
29.05.2019
№219.017.6569

Плазменный источник проникающего излучения

Изобретение относится к плазменной технике, к устройствам для генерирования нейтронных пучков, в частности к генераторам разовых импульсов нейтронного и рентгеновского излучения, и предназначено для проведения ядерно-физических исследований, изучения радиационной стойкости элементов электронной...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002342810
Дата охранного документа: 27.12.2008
29.05.2019
№219.017.67aa

Совмещенный датчик электрической дуги

Изобретение относится к электротехнике и предназначено для использования в системах релейной дуговой защиты комплектного распределительного устройства (КРУ) для обнаружения факта возникновения электрической дуги. Техническим результатом, обеспечиваемым заявляемым изобретением, является...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002419941
Дата охранного документа: 27.05.2011
29.05.2019
№219.017.69ea

Сверхширокополосный емкостный измерительный преобразователь импульсных электрических полей

Изобретение относится к технике измерений амплитудных значений напряженности электромагнитных импульсов и предназначено для использования при измерении параметров импульсных электрических полей. Сверхширокополосный емкостной измерительный преобразователь импульсных электрических полей выполнен...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002463615
Дата охранного документа: 10.10.2012
09.06.2019
№219.017.79aa

Блок излучателя нейтронов

Изобретение относится к области физического приборостроения, в частности к источникам нейтронного излучения, предназначенным для проведения геофизических исследований нефтяных, газовых и рудных скважин. Блок излучателя нейтронов содержит нейтронную трубку, схему питания нейтронной трубки с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002399977
Дата охранного документа: 20.09.2010
Показаны записи 151-155 из 155.
20.01.2018
№218.016.0ffb

Устройство для определения направления и дальности до источника сигналов

Изобретение относится к пеленгаторам и может быть использовано для определения направления и дальности до источника сигналов. Сущность: устройство содержит ПЭВМ (1), блок (5) системы единого времени, блок (6) связи с абонентами, первый блок (7) схем ИЛИ, а также первый и второй идентичные...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002633647
Дата охранного документа: 16.10.2017
20.01.2018
№218.016.1077

Способ лазерного отжига неметаллических материалов

Изобретение относится к способу лазерного отжига неметаллических материалов и может быть использовано для отжига полупроводниковых, керамических и стеклообразных материалов. Осуществляют облучение поверхности лазерным импульсом прямоугольной формы с требуемой плотностью энергии. Исходный...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002633860
Дата охранного документа: 18.10.2017
20.01.2018
№218.016.1365

Аэродромная тележка-погрузчик

Изобретение относится к обслуживанию авиационной техники. Аэродромная тележка - погрузчик содержит ходовую часть (1), механизм (26) поперечного перемещения, механизм (10) подъема. Механизм поперечного перемещения имеет неподвижную раму (25) с закрепленными на ней катками (43), внутреннюю...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002634518
Дата охранного документа: 31.10.2017
20.01.2018
№218.016.1c36

Способ изготовления серебряно-кислородно-цезиевого фотокатода

Изобретение относится к электровакуумной технике, в частности к изготовлению полупрозрачных серебряно-кислородно-цезиевых фотокатодов в случаях, где конструктивно нежелательно проведение высокочастотного разряда для окисления основного слоя серебра, а также в целях предотвращения окисления...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002640402
Дата охранного документа: 09.01.2018
04.04.2018
№218.016.363b

Способ лазерной обработки неметаллических материалов

Изобретение относится к области технологических процессов и может быть использовано для лазерного отжига или легирования полупроводниковых, керамических и стеклообразных материалов. Способ лазерной обработки неметаллических материалов согласно изобретению заключается в расчете условия...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002646177
Дата охранного документа: 01.03.2018
+ добавить свой РИД