×
27.01.2015
216.013.20df

УСТРОЙСТВО СВЧ ПЛАЗМЕННОЙ ОБРАБОТКИ ПЛАСТИН

Вид РИД

Изобретение

Юридическая информация Свернуть Развернуть
Краткое описание РИД Свернуть Развернуть
Аннотация: Изобретение относится к СВЧ плазменным устройствам для проведения процессов осаждения и травления слоев - металлов, полупроводников, диэлектриков и может быть использовано в технологических процессах создания полупроводниковых приборов с высокой степенью интеграции, работающих в экстремальных условиях. Изобретение обеспечивает улучшение равномерности обработки и повышение скорости формирования слоев. В устройстве СВЧ плазменной обработки пластин, содержащем волноводный тракт, огибающий боковую стенку реакционной камеры, через центр широкой стенки волноводного тракта перпендикулярно к ней проходят несколько разрядных трубок, а в местах их входа и выхода из волноводного тракта накладывается магнитное поле для создания условий электронного циклотронного резонанса, волноводный тракт выполняют кольцевым и располагают на боковой стенке реакционной камеры так, что разрядные трубки размещаются в одной плоскости, параллельной обрабатываемой пластине, а над обрабатываемой пластиной вне реакционной камеры на ее крышке, выполненной из прозрачного для СВЧ материала, располагают плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну, под обрабатываемой пластиной для ее нагрева размещают еще одну плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну. 2 ил.
Основные результаты: Устройство СВЧ плазменной обработки пластин, содержащее волноводный тракт, огибающий боковую стенку реакционной камеры, через центр широкой стенки волноводного тракта перпендикулярно к ней проходит несколько разрядных трубок, а в местах их входа и выхода из волноводного тракта накладывается магнитное поле для создания условий электронного циклотронного резонанса, отличающееся тем, что волноводный тракт выполняют кольцевым и располагают на боковой стенке реакционной камеры так, что разрядные трубки размещаются в одной плоскости, параллельной обрабатываемой пластине, а над обрабатываемой пластиной вне реакционной камеры на ее крышке, выполненной из прозрачного для СВЧ материала, располагают плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну, под обрабатываемой пластиной для ее нагрева размещают еще одну плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну.
Реферат Свернуть Развернуть

Изобретение относится к СВЧ плазменным устройствам для проведения процессов осаждения и травления слоев - металлов, полупроводников, диэлектриков и может быть использовано в технологических процессах создания полупроводниковых приборов с высокой степенью интеграции, работающих в экстремальных условиях.

Известно СВЧ плазменное устройство волноводного типа обработки материалов при пониженных давлениях, состоящее из СВЧ генератора, волноводного тракта, огибающего реакционную камеру и заканчивающегося короткозамыкающим поршнем или согласованной нагрузкой. В нескольких местах широкую стенку волноводного тракта пересекают кварцевые разрядные трубки перпендикулярно ее поверхности, один конец которых входит в реакционную камеру, а через другой подается газ (или газы). В местах входа и выхода кварцевых трубок из волноводного тракта накладывается магнитное поле, с помощью которого реализуются условия электронного циклотронного резонанса (ЭЦР). В разрядных трубках загорается плазма, которая «впрыскивается» в реакционную камеру, в которой происходит обработка (травление, осаждение слоев) кремниевых пластин [«Устройство СВЧ плазменной обработки пластин большого диаметра» Сборник материалов «3-й международный симпозиум по теоретической и прикладной плазмохимии». Иваново, 2002, том 2, стр. 472-474].

Недостатки аналога:

- трубно настроить одинаковое горение плазмы в каждой разрядной трубке (плотность плазмы разрядов в каждой трубке отличаются);

- практически сложно уставлять равномерностью обработки по пластине (хотя и возможно).

Известен ближайший аналог (прототип), устройство плазменной обработки [RU 2368032 C1, H01L 21/3065, 20.09.2009], состоящее из реакционной вакуумной камеры с вводами источников СВЧ плазмы, количество которых не регламентировано, расположенными перпендикулярно боковой стенке, и расположенного в реакционной вакуумной камере подогреваемого или охлаждаемого пьедестала для подложек, имеющего возможность вертикального перемещения и возможность электрического смещения относительно плазмы. Вне камеры над местом размещения подложек на пьедестале расположен ВЧ-индуктор, причем стенка камеры, в месте ее примыкания к индуктору, выполнена из материала, прозрачного для ВЧ электромагнитного поля. Основными недостатками устройства являются неравномерность обработки пластин (приблизительно 2%) и относительно низкая скорость формирования слоев.

Техническим результатом изобретения является улучшение равномерности обработки и повышение скорости формирования слоев. Изобретение поясняется чертежами - фиг. 1 и фиг. 2.

Технический результат достигается за счет того, что волноводный тракт 1, огибающий боковую стенку реакционной камеры 2, делается кольцевым и возбуждается с двух диаметрально противоположных сторон посредством волноводных тройников. Волны в противоположных плечах тройников отличаются друг от друга по фазе на 180° и не «видят друг друга». Поэтому возбуждение ЭЦР плазмы в каждой разрядной трубке 3, проходящей через центр широкой стенки волноводного тракта и перпендикулярно ей, посредством наложения магнитного поля с помощью электромагнитов 4 и магнитопроводов 5 в местах входа и выхода из волноводного тракта производится как бы от двух источников СВЧ. Отраженные волны совпадают по фазе с падающей волной в противоположном плече тройника, то есть идет «подпитка» каждого источника за счет отраженной волны и тем самым резко повышается коэффициент полезного использования СВЧ энергии генератора и равномерность горения плазмы в каждой разрядной трубке (плотность плазмы в каждой разрядной трубке практически одинакова). Таким образом, в реакционную камеру «впрыскивается» плазма из всех разрядных трубок с практически одинаковой плотностью в телесные углы, которые пересекаются, и образуется область распадающейся плазмы с высокой степенью однородности параметров плазмы, в которую и помещают пластину. Все разрядные трубки располагаются в одной плоскости, параллельной обрабатываемой пластине. При обработке пластин до 76 мм в диаметре неравномерность обработки составляет порядка 2÷3%. При обработке пластин до 150 мм в диаметре неравномерность составляет до 5%. При обработке пластин до 200 мм в диаметре неравномерность обработки составляет 6÷8%. Если проводятся процессы травления, то в центре пластины наблюдается недотрав слоев. Если проводятся процессы осаждения, то в центральной зоне наблюдается уменьшение толщины по сравнению с периферийной зоной. Для снижения такой неравномерности обработки пластин большого диаметра вне реакционной камеры над местом размещения подложек 6 на пьедестале 7 расположена плоская спиральная двухзаходная СВЧ антенна 8, запитываемая или от отдельного СВЧ генератора, или ответвлением с помощью тройника и коаксиально-волноводного перехода части СВЧ энергии от основного СВЧ генератора. СВЧ энергия, проводимая с помощью спиральной антенны, поглощается «технологической» плазмой, создаваемой с помощью разрядных трубок, ее параметры (плотность, энергия ионов и т.д.) возрастают и «выравниваются» по сечению над обрабатываемой пластиной. Спиральная двухзаходная СВЧ антенна размещается на крышке реакционной камеры, выполненной из прозрачного для СВЧ материала 9. Таким образом, равномерность параметров «технологической» плазмы в реакционной камере над обрабатываемой пластиной повышается и позволяет обрабатывать пластины диаметром до 200 мм с неравномерностью 1÷1,5%.

Подогрев обрабатываемых пластин осуществляется с помощью СВЧ поля. Для этого в реакционной камере под обрабатываемой пластиной размещается еще одна плоская спиральная двухзаходная СВЧ антенна, запитываемая или от отдельного СВЧ генератора, или ответвлением с помощью тройника и коаксиально-волноводного перехода части СВЧ энергии от основного СВЧ генератора.

Устройство СВЧ плазменной обработки пластин, содержащее волноводный тракт, огибающий боковую стенку реакционной камеры, через центр широкой стенки волноводного тракта перпендикулярно к ней проходит несколько разрядных трубок, а в местах их входа и выхода из волноводного тракта накладывается магнитное поле для создания условий электронного циклотронного резонанса, отличающееся тем, что волноводный тракт выполняют кольцевым и располагают на боковой стенке реакционной камеры так, что разрядные трубки размещаются в одной плоскости, параллельной обрабатываемой пластине, а над обрабатываемой пластиной вне реакционной камеры на ее крышке, выполненной из прозрачного для СВЧ материала, располагают плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну, под обрабатываемой пластиной для ее нагрева размещают еще одну плоскую двухзаходную спиральную СВЧ антенну.
УСТРОЙСТВО СВЧ ПЛАЗМЕННОЙ ОБРАБОТКИ ПЛАСТИН
УСТРОЙСТВО СВЧ ПЛАЗМЕННОЙ ОБРАБОТКИ ПЛАСТИН
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 1-10 из 21.
10.06.2013
№216.012.46b8

Лезвие офтальмохирургическое

Изобретение относится к медицине и представляет собой лезвие офтальмохирургическое. Лезвие офтальмохирургическое содержит корпус с основанием из монокристаллического кремния и режущую кромку. Основание корпуса и клинообразная режущая кромка покрыты слоями термически выращенного диоксида кремния...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002483684
Дата охранного документа: 10.06.2013
20.06.2013
№216.012.4aff

Лезвие офтальмохирургическое

Изобретение относится к офтальмологии. Лезвие офтальмохирургическое содержит корпус с основанием из монокристаллического кремния и режущую кромку, основание корпуса и клинообразная режущая кромка покрыты слоями термически выращенного диоксида кремния (SiO) толщиной (700÷1200)Å и карбида кремния...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002484781
Дата охранного документа: 20.06.2013
10.06.2014
№216.012.cbb2

Функционально-интегрированная ячейка фоточувствительной матрицы

Изобретение относится к области микроэлектроники, а более конкретно к фоточувствительным матрицам приемников оптических, рентгеновских излучений и изображений для применения в фотоаппаратах, видеокамерах, сотовых телефонах, медицинских рентгеновских панелях, а также в универсальных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002517917
Дата охранного документа: 10.06.2014
27.06.2014
№216.012.d5e8

Наноразмерная структура с квазиодномерными проводящими нитями олова в решетке gaas

Изобретение относится к наноразмерным полупроводниковым структурам, содержащим систему квазиодномерных проводящих каналов, используемых для изготовления приборов наноэлектроники и нанофотоники. Техническим результатом является увеличение концентрации электронов в активной области наноструктуры....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002520538
Дата охранного документа: 27.06.2014
27.12.2014
№216.013.162d

Способ прецизионной лазерно-плазмохимической резки пластин

Изобретение относится к лазерным методам резки пластин и может быть использовано в микроэлектронной промышленности для резки алмазных, карбидкремниевых, кремниевых и других подложек с изготовленными на них приборами. Технический результат - прецизионная лазерная резка без «выброса» и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002537101
Дата охранного документа: 27.12.2014
10.01.2015
№216.013.1b12

Способ свч плазменного формирования пленок кубического карбида кремния на кремнии (3с-sic)

Изобретение относится в технологии производства пленок карбида кремния на кремнии, которые могут быть использованы в качестве подложек или функциональных слоев при изготовлении приборов полупроводниковой электроники, работающих в экстремальных условиях - повышенных уровнях радиации и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538358
Дата охранного документа: 10.01.2015
27.01.2015
№216.013.20e8

Устройство свч плазменной обработки

Изобретение относится к СВЧ плазменным установкам для проведения процессов травления и осаждения слоев - металлов, полупроводников, диэлектриков при пониженном давлении и может быть использовано в технологических процессах создания полупроводниковых приборов с высокой степенью интеграции....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002539872
Дата охранного документа: 27.01.2015
10.07.2015
№216.013.5e8a

Устройство свч плазменной обработки материалов

Изобретение относится к устройствам СВЧ плазменной обработки материалов и может быть использовано при создании твердотельных приборов микро- и наноэлектроники, мощных дискретных твердотельных электронных приборов, в производстве подложек для электронных приборов, работающих в экстремальных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002555743
Дата охранного документа: 10.07.2015
10.04.2016
№216.015.2c6c

Способ обработки поверхности алмаза

Изобретение относится к технологии обработки алмаза и может быть использовано в микроэлектронной технике СВЧ. Способ обработки поверхности алмаза включает взаимное расположение в одной плоскости исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали, обеспечение непосредственного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002579398
Дата охранного документа: 10.04.2016
20.04.2016
№216.015.366a

Способ определения параметров решетки в выбранной малой области эпитаксиального слоя с градиентом химического состава

Использование: для контроля технологии при изготовлении полупроводниковых метаморфных гетероструктур. Сущность изобретения заключается в том, что регистрируют кривые дифракционного отражения в режиме θ/2θ-сканирования от различных кристаллографических плоскостей, измеряют угловое положения...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002581744
Дата охранного документа: 20.04.2016
Показаны записи 1-10 из 22.
10.06.2014
№216.012.cbb2

Функционально-интегрированная ячейка фоточувствительной матрицы

Изобретение относится к области микроэлектроники, а более конкретно к фоточувствительным матрицам приемников оптических, рентгеновских излучений и изображений для применения в фотоаппаратах, видеокамерах, сотовых телефонах, медицинских рентгеновских панелях, а также в универсальных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002517917
Дата охранного документа: 10.06.2014
27.06.2014
№216.012.d5e8

Наноразмерная структура с квазиодномерными проводящими нитями олова в решетке gaas

Изобретение относится к наноразмерным полупроводниковым структурам, содержащим систему квазиодномерных проводящих каналов, используемых для изготовления приборов наноэлектроники и нанофотоники. Техническим результатом является увеличение концентрации электронов в активной области наноструктуры....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002520538
Дата охранного документа: 27.06.2014
27.12.2014
№216.013.162d

Способ прецизионной лазерно-плазмохимической резки пластин

Изобретение относится к лазерным методам резки пластин и может быть использовано в микроэлектронной промышленности для резки алмазных, карбидкремниевых, кремниевых и других подложек с изготовленными на них приборами. Технический результат - прецизионная лазерная резка без «выброса» и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002537101
Дата охранного документа: 27.12.2014
10.01.2015
№216.013.1b12

Способ свч плазменного формирования пленок кубического карбида кремния на кремнии (3с-sic)

Изобретение относится в технологии производства пленок карбида кремния на кремнии, которые могут быть использованы в качестве подложек или функциональных слоев при изготовлении приборов полупроводниковой электроники, работающих в экстремальных условиях - повышенных уровнях радиации и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538358
Дата охранного документа: 10.01.2015
27.01.2015
№216.013.20e8

Устройство свч плазменной обработки

Изобретение относится к СВЧ плазменным установкам для проведения процессов травления и осаждения слоев - металлов, полупроводников, диэлектриков при пониженном давлении и может быть использовано в технологических процессах создания полупроводниковых приборов с высокой степенью интеграции....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002539872
Дата охранного документа: 27.01.2015
10.07.2015
№216.013.5e8a

Устройство свч плазменной обработки материалов

Изобретение относится к устройствам СВЧ плазменной обработки материалов и может быть использовано при создании твердотельных приборов микро- и наноэлектроники, мощных дискретных твердотельных электронных приборов, в производстве подложек для электронных приборов, работающих в экстремальных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002555743
Дата охранного документа: 10.07.2015
10.04.2016
№216.015.2c6c

Способ обработки поверхности алмаза

Изобретение относится к технологии обработки алмаза и может быть использовано в микроэлектронной технике СВЧ. Способ обработки поверхности алмаза включает взаимное расположение в одной плоскости исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали, обеспечение непосредственного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002579398
Дата охранного документа: 10.04.2016
20.04.2016
№216.015.366a

Способ определения параметров решетки в выбранной малой области эпитаксиального слоя с градиентом химического состава

Использование: для контроля технологии при изготовлении полупроводниковых метаморфных гетероструктур. Сущность изобретения заключается в том, что регистрируют кривые дифракционного отражения в режиме θ/2θ-сканирования от различных кристаллографических плоскостей, измеряют угловое положения...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002581744
Дата охранного документа: 20.04.2016
27.04.2016
№216.015.38fb

Полупроводниковая транзисторная наногетероструктура на подложке gaas с модифицированным стоп-слоем algaas

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для изготовления монолитных интегральных схем, оперирующих в сантиметровом и миллиметровом диапазоне длин волн. Согласно изобретению предложена полупроводниковая транзисторная гетероструктура на подложке GaAs с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002582440
Дата охранного документа: 27.04.2016
25.08.2017
№217.015.9a89

Материал для фотопроводящих антенн

Изобретение может быть использовано для создания активного слоя в фотопроводящих антеннах-детекторах и генераторах электромагнитного излучения терагерцевого диапазона. Материал для фотопроводящих антенн согласно изобретению представляет собой пленку GaAs, эпитаксиально выращенную на подложке...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002610222
Дата охранного документа: 08.02.2017
+ добавить свой РИД