×
22.11.2019
219.017.e551

Способ получения особо чистого селена

Вид РИД

Изобретение

Юридическая информация Свернуть Развернуть
Краткое описание РИД Свернуть Развернуть
Аннотация: Изобретение относится к неорганической химии и может быть использовано в волоконной инфракрасной оптике, полупроводниковом приборостроении для изготовления особо чистых халькогенидных стекол и волоконных световодов на их основе, а также в полупроводниковой технике. Для получения особо чистого продукта очищаемый селен последовательно подвергают высоковакуумной дегазации его расплава при температуре 250-270°С, высоковакуумной дистилляции и термической обработке паров селена при температуре 600-650°С. Проводят химико-термическую обработку расплава и паров селена при температуре 600-650°С в атмосфере инертного газа гелия с добавкой кислорода при давлении 400-650 мм рт.ст. с последующим вымораживанием летучих продуктов реакций. Трехступенчатую высоковакуумную дистилляцию проводят с малой (2-1)10 см/см⋅с и уменьшающейся от стадии к стадии до (2-1)10 см/см⋅с удельной скоростью испарения. Обеспечивается получение селена с повышенной степенью чистоты по водородсодержащим примесям, воде (HO), селеноводороду (HSe), сероводороду (HS), примесям углерод- и кислородсодержащих веществ, гетерофазным примесным включениям из диоксида кремния, углерода, металлов. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.
Реферат Свернуть Развернуть

Изобретение относится к области технологии получения высокочистых веществ, а именно особо чистого селена, и может быть использовано в волоконной инфракрасной оптике, полупроводниковом приборостроении для изготовления особо чистых халькогенидных стекол и волоконных световодов на их основе, а также в полупроводниковой технике.

Известно значительное число химических и физическо-химических способов очистки селена: (Кудрявцев А.А. // Химия и технология селена и теллура. М., Металлургия, 1968; Беляев А.И., Жемчужина Е.А., Фирсанова Л.А. // Металлургия чистых металлов и элементарных полупроводников. Изд-во. Металлургия 1969, 473-477 с; Грейвер Т. Н., Зайцева И.Г, Косовер В.М. // Селен и теллур. М., Металлургия, 1977, 296 с.; Девятых Г.Г., Чурбанов М.Ф. // Высокочистые холькогены. Изд. Нижегородского госуниверситета им. Н.И. Лобачевского, 1997, 104 с.). Например, из химических способов очистки технического селена используют методы, основанные на растворимости элементарного селена в растворах сульфита натрия (Д. М. Чижиков, В. П. Счастливый / Селен и селениды. М., Наука, 1964, С. 104-105), или в азотной кислоте с последующим извлечением селена из полученного раствора, восстановлением его до элементарного состояния (Патент № 220240, опубл. 10.09.1999 г.).

Недостатками являются трудоемкость и многооперационность процессов, низкая эффективность очистки по отдельным примесям или группам примесей. Перевод селена в летучие гидрид или монохлорид селена с последующим разложением очищенных продуктов характеризуется сложностью аппаратурного оформления процесса, высокой химической агрессивностью и токсичностью летучих веществ. (Д. М. Чижиков, В. П. Счастливый / Селен и селениды. М., Наука, 1964, с. 105, 106).

Из известных способов используют дистилляционные методы очистки: простую перегонку, ректификацию, а также фильтрацию. Чистый селен получают сочетанием химических и физико-химических методов очистки. (Беляев А.И., Жемчужина Е.А., Фирсанова Л.А. // Металлургия чистых металлов и элементарных полупроводников. Изд-во. Металлургия 1969, 473-477 с).

Известен способ получения селена высокой чистоты путем ректификации технического селена при атмосферном давлении в токе инертного газа. Ректификацию проводят как в тарельчатых, так и в насадочных колоннах. (Авторское свидетельство изобретения № 220507, опубл.00.00.1968 г.)

Недостаток перечисленных способов - неэффективность очистки селена от гетерофазных примесных включений субмикронных размеров.

Требования к селеносодержащим материалам для фотонных применений, ИК стеклам для волоконной оптики включают низкое содержание большего числа примесей, и не только электроактивных. Это газообразующие примеси (соединения углерода, кислорода, водорода), содержание которых лимитируется на уровне 10-6 – 10-7 % мас.. Содержание гетерофазных примесных включений микронных и субмикронных размеров должно быть ниже 1-10 част./см3 и 103 част./см3, соответственно. Процессы глубокой очистки селена от этих примесей специфичны, что обусловлено агрегатной формой этих примесей, особенностями их поведения в традиционных процессах очистки. Дополнительное осложняющее обстоятельство состоит в появлении в последние десятилетия новых источников технического селена, исходного для дальнейшей очистки. Состав примесей в селене из новых источников мало изучен и существенно различается по химической, агрегатной форме и их содержанию. Вследствие этого разработанные ранее отдельные методы или комбинации методов очистки, эффективные при получении селена для полупроводниковых применений, могут не обеспечить удаление из селена ряда примесей, прежде всего газообразующих и в форме частиц до уровня требований к материалам для волоконной ИК-оптики.

Наиболее близким к заявляемому по технической сущности и достигаемому результату, выбранным в качестве прототипа, является очистка селена от примесей углерода, водорода и кислорода химическим связыванием углерода диоксидом селена с последующей 2-кратной вакуумной дистилляцией селена (диссертация Ширяева В.С. Высокочистые стекла систем As-Se, As-S-Se, As-Se-Te для волоконной оптики. стр.124-134.)

Недостатками прототипа являются: разделенность процесса очистки на самостоятельные технологические операции, низкая эффективность химико-термической обработки расплава, загрязнение селена частицами кварцевого стекла микронных и субмикронных размеров в процессе разрушения стеклянных перегородок и перепайки соединительных трубок, жесткие температурно-временные режимы и условия испарения, приводящие к увеличению брызгоуноса в процессе дистилляции, отсутствие процесса обезгаживания и термической обработки паров на начальной стадии процесса очистки, совершенно необходимые при получении образцов массой 3-5 кг и более. В таблице 1 представлено содержание примесей в селене, полученном при использовании прототипа.

Таблица 1. Содержание примесей в селене очищенном с использованием прототипа.

Метод определения примесь содержание
химико-атомно-эмиссионный метод анализа металлы, кремний (1-3)×10-5% мас.
Газовая хроматография СО2 (диоксид углерода), (COS) оксисульфид углерода, СS2 сероуглерод, SО2 диоксид серы Не представлено
Реакционная газовая хроматография С (углерод) 2×10-4% мас.
ИК- спектроскопия SeH (селеноводород) <5×10-4% мас.
SeO2(диоксид селена) <4×10-4% мас.
H2О (вода), ОН-группа (гидроксильная группа) Не представлено
Лазерная ультрамикроскопия Субмикрон. частицы, cм-3 (>0.08 мкм) 6·105

Недостаточная степень глубины очистки селена не позволяет получать халькогенидные стекла и на их основе волоконные световоды с низкими оптическими потерями.

Технологическая проблема, решаемая предлагаемым изобретением, - разработка комплексного способа, обеспечивающего получение селена, особо чистого по примесям, лимитируемым в селене для волоконно-оптических применений, из исходного селена любого происхождения.

Технический результат от использования предлагаемого изобретения заключается в получении селена с повышенной степенью чистоты по водородсодержащим примесям, воде (H2O), селеноводороду (H2Se), сероводороду (H2S), примесям углерод- и кислород- содержащих веществ, гетерофазным примесным включениям из диоксида кремния, углерода, металлов.

Указанный технический результат достигается тем, что в способе получения особо чистого селена, включающем высоковакуумную дистилляцию, очищаемый селен последовательно подвергают высоковакуумной дегазации его расплава при температуре 250÷2700С, высоковакуумной дистилляции и термической обработке паров селена при температуре 600÷6500С, химико-термической обработке расплава и паров селена при температуре 600-6500С в атмосфере инертного газа гелия с добавкой кислорода при давлении 400÷650 мм.рт.ст. и вымораживанию летучих продуктов реакций, трехступенчатой высоковакуумной дистилляции с малой (2÷1)×10-4 см3/см2 ∙с и уменьшающейся от стадии к стадии до (2÷1)×10-5 см3/см2 с удельной скоростью испарения.

Термическую обработку паров селена осуществляют как высоковакуумный проточный процесс. Химико-термическую обработку расплава и паров селена проводят в замкнутой системе.

Трехступенчатую высоковакуумную дистилляцию проводят при остаточном давлении (2-10)×10-6 мм.рт.ст., температуре очищаемого расплава 350-400ОС.

Предлагаемый способ содержит в совокупности технологические операции, увеличивающие различие относительных летучестей примесей и основы и эффективность стадий высоковакуумной дистилляционной очистки, объединенных в единый технологический процесс. Используемые в определенной последовательности, они обеспечивают очистку от всех групп примесей, как изначально присутствующих в исходном селене, так и образовавшихся в процессе очистки. Подбор оптимальных температурно-временных условий процессов минимизирует поступление примесей в очищаемый селен на всех стадиях процесса.

Способ осуществляют следующим образом.

На первой стадии проводят высоковакуумную, при остаточном давлении (2-10)×10-6 мм.рт.ст., дегазацию расплава селена при температуре 250-2700С, обеспечивая очистку от растворенных летучих примесей: воды (H2O), диоксида углерода (CO2), оксисульфида углерода (COS), азота (N2), хлорводорода (HCl), легколетучих углеводородов. Затем повышают температуру расплава до 350-3800С и проводят высоковакуумную дистилляцию для освобождения от наиболее крупных частиц и труднолетучих примесей с термической обработкой паров селена при температуре 600-6500С. При термической обработке паров селена происходит изменение молекулярной формы примесных соединений углерода с летучестью, близкой к летучести селена и перевод их основной массы в малолетучую форму по сравнению с исходной. Повышение температуры выше 6500С при термической обработке паров селена приводит к загрязнению селена примесью водорода, диффундирующего из стенок кварцевого стекла с образованием селеноводорода. При температуре ниже 6000С загрязняющее действие материала аппаратуры примесью водорода существенно ниже.

Следующая стадия процесса: химико-термическая обработка (ХТО) расплава и паров селена в замкнутой системе в атмосфере инертного газа, с добавкой окислителя соединений углерода - кислорода при температурах испарителя 600-6500С, конденсатора (300÷400)0С при давлении 400 ÷ 650 мм рт.ст. смеси гелий (He) + кислород (О2).

Кислород с селеном через образующийся in situ диоксид селена и напрямую взаимодействует с примесями углерода, углеводородами, водородом, переводя их в более легкоотделяемый диоксид углерода, водородсодержашие примеси, которые вымораживаются на начальной стадии подготовки расплава к высоковакуумной дистилляции.

Заключительной стадией процесса является последовательная трехступенчатая высоковакуумная (2-10)×10-6 мм рт.ст.) дистилляция при температуре расплава 350-4000С с малой (2-1)×10-4см3/см2∙с. и уменьшающейся от стадии к стадии до (2-1)×10-5см3/см2∙с. удельной скоростью испарения для освобождения от летучих примесей и повышения глубины очистки от мелкодисперсных частиц. Параметры процессов минимизируют в совокупном действии отрицательные последствия брызгоуноса, накопления субмикронных частиц на поверхности испаряемого расплава и в приповерхностном слое, поступление в расплав легко диффундирующего водорода из стенок аппаратуры. Удельные скорости испарения и температура расплава подбирались экспериментально и являются оптимальными при данных температурно-временных условий для получения селена с малым содержанием субмикронных частиц.

Выбранный диапазон значений температуры и удельных скоростей испарения предотвращает накопление примесных частиц на поверхности испарения и в приповерхностном слое. За счет достаточно низкой вязкости расплава селена происходит выравнивание содержания примесных частиц в приповерхностном слое и в объеме расплава. Повышение температуры и удельной скорости испарения приводит к ухудшению очистки за счет усиливающегося брызгоуноса. Снижение удельной скорости испарения ниже (2-4)×10-6см3/см2 с. неоправданно из-за существенного снижения производительности метода.

Использование высокого вакуума позволило снизить парциальное давление остаточных газов воды, диокисида углерода, азота, водорода до (2-10)×10-6 мм рт.ст.

Изложенное подтверждается следующими примерами.

Пример 1.

Способ может быть осуществлен с помощью установки, изображенной на фиг. 1, в которой последовательно проводят высоковакуумную дегазацию расплава селена, термическую и химико-термическую обработку расплава и паров селена и трехступенчатую высоковакуумную дистилляцию.

Конструктивно устройство изготовлено из кварцевого стекла и состоит из нескольких частей: емкость 1 с патрубком 2 для загрузки исходного селена, соединительной трубки 3 для термической обработки паров и высоковакуумной дистилляции селена в секцию для химико-термической обработки (ХТО) расплава селена, состоящую из куба 4 и конденсатора 5; емкостей 6,7 с U-образными затворами для последовательной высоковакуумной дистилляции расплава с малой удельной скоростью испарения, емкости 8- приемника очищенного особо чистого селена, емкости 9 для сбора фракций, обогащенных примесями. Вся система через ловушку 10, охлаждаемую жидким азотом, соединена через кран 11 с высоковакуумным насосом.

В емкость 1 через патрубок 2 загружали 3 кг селена квалификации ОСЧ 15-3 (особо чистый селен с содержанием 15 примесей металлов на уровне 10-3-10-4 % мас, содержание углерода на уровне (2±0,5)×10-3% мас.

Всю систему прогревали при температуре 150-1800С, вакуумировали до остаточного давления 3×10-6 мм рт.ст. Селен разогревали до плавления и выдерживали при температуре 250-2700С. Оптимальное время дегазации расплава для удаления примесных газов составляло один час на 1 кг. загруженного селена.

Далее температуру в емкости 1 повышали до 3700С и проводили высоковакуумную дистилляцию расплава селена с термической обработкой его паров при 6000С в зоне печи 3 с конденсацией паров в емкости 4 при температуре 2600С. Удельная скорость испарения составляла 1,3×10-3см3/см2 с.

Следующая стадия процесса - химико-термическая обработка (ХТО) расплава и паров селена в замкнутой системе в атмосфере инертного газа гелия с добавкой окислителя-кислорода. При закрытом кране 11 и открытом магнитном клапане 12 через краны 13,14 заполняли систему инертным газом - гелием с добавкой кислорода до давления 400 ÷ 650 мм.рт.ст. Содержание кислорода в газовой смеси составляло 7 % об. Емкость 4 с расплавом селена разогревали до температуры 6000С. Полную конденсацию паров селена осуществляли на участке 5 при температуре 3000С

По окончании ХТО температуру расплава селена понижали до 3500С, систему вакуумировали с вымораживанием легколетучих продуктов реакции и диоксида селена в ловушку 10. Чтобы избежать осаждение примесей и диоксида селена на стенках аппаратуры все соединительные трубки и емкости нагревали до температуры 3000С. Оптимальное время ХТО при данных температурных условиях и загрузочной массы 3 кг селена составляет 12 часов.

Температурно-временные условия ХТО были подобраны опытным путем, и, как показали эксперименты, являются оптимальными для очистки с точки зрения получения особо чистого селена для волоконной оптики.

ХТО обеспечивает перевод углерода и водорода в легкоотделяемые соединения.

В таблице 2 приведен анализ газовой смеси после ХТО расплава селена. Видно, что идет эффективное превращение углеводородов (C1-C9), углерода (С) и серы (S) в диоксид углерода (СО2) и сероуглерода (CS2), диоксида серы (SO2), оксисульфида углерода (COS), селеноводорода (Н2Se).

Таблица 2. Примесный состав газовой смеси после ХТО расплава селена.

Прим. диоксид углерода
СО2
углеводороды С19 оксисульфид углерода (COS) сероуглерод СS2 диоксид серы SО2 селеноводород Н2Se
сод-ние,
% об.
3±0,3×10-1 <1×10-6 6±2×10-5 4,2±0,5×10-5 1,0±0,3 <1×10-4% мас.

Высоковакуумную дистилляцию расплава селена из емкости 4 в емкость 6, нагретую до 2500С, проводили со скоростью испарения 1,5×10-4см3/см2∙с. После окончания перегонки U-образный затвор на входе в емкость 6 отделял ее от секции ХТО. Высоковакуумную дистилляцию из емкости 6 (3700С) в емкость 7 (2400С) осуществляли с удельной скоростью испарения 8,5×10-5см3/см2 ∙с. Заключительную высоковакуумную дистилляцию из емкости 7(3600С) в приемник 8 (2400С) осуществляли с удельной скоростью испарения 1,7×10-5см3/см2∙с. Высоковакуумную дистилляцию расплава селена проводили при остаточном давлении (2-10)×10-6 мм рт.ст., температуре очищаемого расплава 350-400ОС. Экспериментально установленные температурно-временные условия высоковакуумной дистилляционной очистки позволили минимизировать в совокупном действии брызгоунос, концентрирование субмикронных частиц на поверхности испаряемого расплава, и поступление в расплав легко диффундирующего водорода из стенок аппаратуры. После окончания высоковакуумной дистилляции приемник 8 отпаивали от аппарата дистилляции по линии А-А. Анализ очищенного селена на содержание примесей представлен в таблице 3.

Таблица 3. Содержание примесей в селене очищенном с помощью высоковакуумной дегазации расплава селена, термической и химико-термической обработкой расплава и паров селена и трехступенчатой высоковакуумной дистилляцией.

Метод определения примесь содержание
лазерная масс-спектрометрия (ЛСМ) и атомно-эмиссионная спектроскопия с индуктивно связанной плазмой (АЭС-ИСП) металлы, кремний <(1-5) ×10-6% мас.
ИК- спектроскопия СО2 (диоксид углерода), 3×10-5% мас.
Хроматомасс-спекрометрия (COS) оксисульфид углерода, СS2 сероуглерод, SО2 диоксид серы <(1-5) ×10-5% мас.
С (углерод) ≤6×10-5% мас.
ИК- спектроскопия SeH (селеноводород) <1×10-5% мас.
SeO2(диоксид селена) <4×10-5% мас.
H2О (вода), ОН-группа (гидроксильная группа) ≤ 2×10-5%мас.
Лазерная ультрамикроскопия Субмикрон. частицы, cм-3 (>0.08 мкм) 2·105

Кубовые остатки селена, обогащенные труднолетучими примесями после всех стадий высоковакуумной дистилляции составляли в сумме 9 % мас. от исходной загрузки. После окончания процесса очистки, остатки селена в емкостях и U-образных трубках перегоняли в емкость 9, отделяемую от системы по Б-Б.

Пример 2. В емкость 2 загружали 4000 г. моноизотопного селена 80Se, выделенного из отходов механической обработки селенида цинка (ZnSe). Примесный состав исходного моноизотопного селена 80Se, определенный методом лазерной масс-спектрометрии (ЛСМ) представлен в таблице 4.

Таблица 4. Примесный состав образцов исходного селена (80Se)

Примеси Углерод,
С
Кислород,
О2
Кремний,
Si
Сера,
S
Металлы
содержание, 104% мас. 20 0,9 0,4 0,7 10-2,2

Последовательность процессов дегазации, термической, химико-термической обработки и дистилляции расплава селена (80Se) описаны в примере 1.

Состав газовой смеси при ХТО расплава селена 80Se: гелия ВЧ и кислорода ВЧ в соотношении 20:1 при давлении 600 мм рт.ст. Время ХТО составило 18 часа. Высоковакуумную дистилляцию из аппарата ХТО в емкость 6 для дистилляции осуществляли с удельной скоростью испарения 1,1×10-4см3/см2 ∙с. при температуре испарителя 3700С. Удельная скорость испарения из емкости 6 (3600С) в емкость 7 составила 4,3×10-5см3/см2∙с.. Высоковакуумную дистилляцию из емкости 7 (3600С) в емкость 8 осуществляли с удельной скоростью испарения 1,1 ×10-5г/см2∙с. Во всех случаях температура емкостей для конденсации составляла 2300С. Остатки селена, обогащенные труднолетучими примесями, перегонялись в емкость 9 и составили 6% мас. от исходной загрузки.

Содержание примесей в очищенном моноизотопном селене 80Se представлены в таблице 4.

Таблица 4. Содержание примесей в моноизотопном селене 80Se очищенном с помощью высоковакуумной дегазации расплава селена, термической и химико-термической обработкой расплава и паров селена и трехступенчатой высоковакуумной дистилляцией.

Метод определения примесь содержание
лазерная масс-спектрометрия (ЛСМ) и атомно-эмиссионная спектроскопия с индуктивно связанной плазмой (АЭС-ИСП) металлы, кремний <(2-7) ×10-6% мас.
ИК- спектроскопия СО2 (диоксид углерода), 4×10-5% мас.
Хроматомасс-спекрометрия (COS) оксисульфид углерода, СS2 сероуглерод, SО2 диоксид серы <(1-5) ×10-5% мас.
С (углерод) ≤ 6×10-5% мас.
ИК- спектроскопия SeH (селеноводород) <1×10-5% мас.
SeO2(диоксид селена) <4×10-5% мас.
H2О (вода), ОН-группа (гидроксильная группа) ≤ 2×10-5% мас.
Лазерная ультрамикроскопия Субмикрон. частицы, cм-3 (>0.08 мкм) 3×105

Предложенный способ содержит технологические операции, увеличивающие различие относительных летучестей примесей и основы и эффективность стадий высоковакуумной дистилляционной очистки, что приводит к повышению степени чистоты селена от водородсодержащих примесей (воды, селеноводорода, сероводорода), примесей углерод-, и кислород- содержащих веществ, гетерофазных примесных включений металлов, кремния, углерода.

Используемые в определенной последовательности, они обеспечивают очистку от всех групп примесей, как изначально присутствующих в исходном селене, так и образовавшихся в процессе очистки. Подбор оптимальных температурно-временных условий процессов минимизирует поступление примесей в очищаемый селен на всех стадиях процесса.

Проведение очистки селена как непрерывного во времени процесса без отделения перепайкой отдельных частей системы друг от друга, используемое в прототипе, исключает загрязнение очищаемого и очищенного селена частицами диоксида кремния, образующихся при перепайке вакуумированных кварцевых коммуникаций.

Очищенный таким способом селен был использован для получения селеносодержащих волоконных световодов с малыми оптическими потерями, чувствительных к присутствию селективно поглощающих примесных соединений углерода, кислорода и водорода. Инфракрасные спектры световодов, изготовленные из селена, полученного предлагаемым способом, имели существенно меньшую интенсивность полос поглощения, вызванных присутствием этих примесей, по сравнению с образцами из селена, очищенного по прототипу.


Способ получения особо чистого селена
Источник поступления информации: Роспатент

Showing 1-9 of 9 items.
10.01.2013
№216.012.187f

Способ получения двойного изопропилата магния-алюминия

Настоящее изобретение относится к способу получения двойного изопропилата магния-алюминия, который является исходным соединением для синтеза нанодисперсных порошков алюмомагниевой шпинели, которые могут использоваться для получения прозрачной поликристаллической керамики. Способ заключается во...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002471763
Дата охранного документа: 10.01.2013
27.02.2013
№216.012.2a8b

Способ получения высокочистого безводного ацетата цинка

Изобретение относится к технологии получения солей карбоновых кислот, в частности уксусной, и касается разработки способа получения высокочистого безводного ацетата цинка. Высокочистый ацетат цинка получают взаимодействием цинксодержащего соединения с уксусной кислотой, где в качестве...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002476418
Дата охранного документа: 27.02.2013
10.09.2013
№216.012.677e

Способ получения силана

Изобретение относится к неорганической химии и может быть использовано для получения силана, применяемого для производства кремния в виде поли- и монокристаллов, и пленок аморфного гидрогенизированного кремния, легированного фтором. Силан получают по реакции восстановления тетрафторида кремния...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002492141
Дата охранного документа: 10.09.2013
20.04.2014
№216.012.bc4a

Способ получения особо чистых сульфидов p-элементов iii группы периодической системы

Изобретение относится к неорганической химии, а именно к получению сульфидов р-элементов III группы Периодической системы, являющихся перспективными материалами для полупроводниковой оптоэлектронной техники и инфракрасной оптики. Сульфиды р-элементов III группы Периодической системы получают...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002513930
Дата охранного документа: 20.04.2014
27.03.2016
№216.014.db31

Способ получения высокочистых халькойодидных стекол

Изобретение относится к химии, а именно к производству высокочистых стекол, которые могут быть использованы для изготовления оптических элементов, световодов и широкозонных полупроводников, применяемых в оптике и оптоэлектронных приборах ближнего и среднего ИК-диапазона. Задачей, на решение...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002579096
Дата охранного документа: 27.03.2016
20.05.2016
№216.015.3f41

Способ получения прозрачной керамики алюмоиттриевого граната

Изобретение относится к способу получения прозрачной керамики алюмоиттриевого граната (ИАГ), в том числе легированной ионами редкоземельных металлов (Nd, Yb, Tm, Но, Er), которая может быть использована в качестве активной лазерной среды, либо люминофоров и сцинтилляторов (при легировании...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002584187
Дата охранного документа: 20.05.2016
10.05.2018
№218.016.3ebb

Способ получения особо чистых халькогенидных стекол системы германий-селен

Изобретение относится к способу получения особо чистых халькогенидных стекол системы германий-селен. Способ включает загрузку компонентов шихты в вакуумированный кварцевый реактор, синтез стеклообразующего расплава, его гомогенизирующее плавление и закалку. В качестве источника германия...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002648389
Дата охранного документа: 26.03.2018
17.08.2018
№218.016.7c61

Способ электрохимического получения порошков оксида алюминия

Изобретение относится к области химии и технологии получения порошков оксида алюминия для изготовления конструкционной и функциональной керамики на основе оксида алюминия, катализаторов, а также в производстве лейкосапфира. Способ включает электролитическое растворение алюминия с получением...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002664135
Дата охранного документа: 15.08.2018
30.10.2019
№219.017.dbdc

Твердотельный активный элемент

Изобретение относится к области лазерной техники. Твердотельный активный элемент состоит как минимум из трех слоев, при этом слой, содержащий ионы активатора, сформирован в виде изгиба в радиальном направлении по отношению к оптической оси упомянутого элемента. Толщина слоя, содержащего ионы...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002704332
Дата охранного документа: 28.10.2019
Showing 1-10 of 21 items.
27.02.2013
№216.012.2a8b

Способ получения высокочистого безводного ацетата цинка

Изобретение относится к технологии получения солей карбоновых кислот, в частности уксусной, и касается разработки способа получения высокочистого безводного ацетата цинка. Высокочистый ацетат цинка получают взаимодействием цинксодержащего соединения с уксусной кислотой, где в качестве...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002476418
Дата охранного документа: 27.02.2013
10.06.2013
№216.012.480e

Способ получения особо чистых теллуритно-молибдатных стекол

Изобретение относится к волоконной оптике и касается разработки способа получения особо чистых теллуритно-молибдатных стекол для изготовления волоконных световодов и планарных оптических волноводов, применяемых в оптике и оптоэлектронных приборах ближнего и среднего ИК-диапазона. Способ...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002484026
Дата охранного документа: 10.06.2013
20.06.2013
№216.012.4cb6

Композиционный оптический материал и способ его получения

Изобретение относится к оптико-механической промышленности, в частности к оптическим материалам, применяемым в устройствах и приборах инфракрасной техники, и может быть использовано для изготовления защитных входных люков (окон), обеспечивающих надежное функционирование приборов. Композиционный...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002485220
Дата охранного документа: 20.06.2013
20.04.2014
№216.012.bc4a

Способ получения особо чистых сульфидов p-элементов iii группы периодической системы

Изобретение относится к неорганической химии, а именно к получению сульфидов р-элементов III группы Периодической системы, являющихся перспективными материалами для полупроводниковой оптоэлектронной техники и инфракрасной оптики. Сульфиды р-элементов III группы Периодической системы получают...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002513930
Дата охранного документа: 20.04.2014
27.03.2016
№216.014.db31

Способ получения высокочистых халькойодидных стекол

Изобретение относится к химии, а именно к производству высокочистых стекол, которые могут быть использованы для изготовления оптических элементов, световодов и широкозонных полупроводников, применяемых в оптике и оптоэлектронных приборах ближнего и среднего ИК-диапазона. Задачей, на решение...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002579096
Дата охранного документа: 27.03.2016
20.06.2016
№217.015.03ec

Шихта для получения теллуритно-молибдатных стекол (варианты)

Заявляемое изобретение относится к области химии и касается шихты для получения теллуритно-молибдатных стекол, которые могут найти применение в оптике для изготовления волоконных световодов и планарных оптических волноводов, применяемых в оптоэлектронных приборах видимого, ближнего и среднего...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002587199
Дата охранного документа: 20.06.2016
20.05.2016
№216.015.3f08

Способ получения многокомпонентных теллуритных стекол

Изобретение относится к области химии, касается способа получения многокомпонентных теллуритных стекол, которые могут быть использованы для изготовления волоконных световодов и планарных оптических волноводов, применяемых в оптике и оптоэлектронных приборах видимого, ближнего и среднего...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002584474
Дата охранного документа: 20.05.2016
20.05.2016
№216.015.4051

Шихта для получения теллуритных стекол (варианты)

Заявляемая группа изобретений относится к области химии и касается составов шихты для получения теллуритных стекол, которые могут найти применение в оптике для изготовления волоконных световодов и планарных оптических волноводов, применяемых в оптоэлектронных приборах видимого, ближнего и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002584482
Дата охранного документа: 20.05.2016
25.08.2017
№217.015.c4be

Способ получения особо чистых стекол системы германий - сера - йод

Изобретение относится к особо чистым стеклам для инфракрасной оптики. Технический результат – снижение содержания оптически активных примесей. Германий, серу, йод загружают в реактор, плавят и подвергают закалке стеклообразующий расплав. В качестве источника йода используют йодид...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002618257
Дата охранного документа: 03.05.2017
25.08.2017
№217.015.c58d

Способ получения изотопнообогащенного тетрахлорида кремния

Изобретение относится к получению изотопнообогащенного тетрахлорида кремния, который может быть использован для получения изотопов кремния, оптических материалов, волоконных световодов и пленок. Способ получения изотопнообогащенных тетрахлоридов кремния SiCl, SiCl, SiCl включает взаимодействие...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002618265
Дата охранного документа: 03.05.2017
+ добавить свой РИД