Правообладатель РИД: Никитин Алексей Константинович

Изобретение относится к оптическим методам контроля качества поверхности полупроводниковых и металлических изделий, в которых взаимодействие зондирующего излучения с поверхностью опосредовано поверхностной электромагнитной волной (ПЭВ), возбуждаемой падающим излучением и направляемой...

Устройство относится к области информационных технологий, реализуемых с использованием поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) инфракрасного и терагерцового диапазонов. Устройство содержит источник излучения с плоским волновым фронтом, поляризационный конвертер, придающий излучению радиальную...

Изобретение относится к оптике терагерцового (ТГц) диапазона и может быть использовано для поляризации и амплитудной модуляции ТГц излучения без использования мобильных оптических устройств, размещаемых на пути пучка излучения. Суть изобретения заключается в том, что поляризатор, содержащий...

Изобретение относится к области зондирования удаленных объектов электромагнитным излучением и касается способа обнаружения объекта на выпуклой металлической поверхности за линией ее горизонта. Способ включает в себя генерацию на поверхности коллимированного пучка плазмон-поляритонов (ППП) с...

Изобретение относится к оптике конденсированных сред и может быть использовано для определения оптических постоянных поверхности твердых тел, способных направлять поверхностные плазмон-поляритоны (ППП). Интерферометр содержит источник коллимированного р-поляризованного монохроматического...

Изобретение относится к области исследования поверхности металлов и полупроводников путем измерения характеристик направляемых ей поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может найти применение в сенсорных устройствах, абсорбционных спектрометрах и интерферометрах, использующих в качестве...

Изобретение относится к области исследования поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и касается устройства для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ). Устройство содержит источник р-поляризованного монохроматического...

27 Изобретение относится к области исследования поверхности материалов оптическими методами и касается устройства для определения длины распространения поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения. Устройство содержит источник излучения,...

Изобретение относится к оптическим методам исследования материалов, а именно к определению спектров комплексной диэлектрической проницаемости или оптических постоянных. Способ заключается в размещении в каждом плече двухлучевого интерферометра по одному идентичному герметичному контейнеру с...

Устройство содержит источник лазерного излучения, твердотельный образец с плоской поверхностью, направляющей ПЭВ, состоящий из двух частей, имеющих сопряженные поверхности, зафиксированный относительно первой части по ходу излучения элемент преобразования излучения в ПЭВ, приемник излучения....