×

Правообладатель РИД: Васильева Лариса Александровна

Показаны записи 1-10 из 15.
25.06.2020
№220.018.2b6d

Способ увеличения прочности зондов многозондовых головок

Изобретение относится к области полупроводниковой микроэлектроники, а именно к технологии контроля функциональных и динамических параметров многовыводных кристаллов БИС. Задача изобретения состоит в увеличения прочности зондов ЖЗГ. Технический результат достигается тем, что по всей поверхности...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002724301
Дата охранного документа: 22.06.2020
29.06.2019
№219.017.a1c5

Способ изготовления индиевых столбиков

Изобретение относится к технологии получения индиевых столбиков взрывной технологией. Способ позволяет формировать индиевые столбики как на кремниевой (Si) БИС считывания, так и на инфракрасной фотодиодной матрице, кристалл которой выполнен из узкозонного полупроводника, например из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002468469
Дата охранного документа: 27.11.2012
08.05.2019
№219.017.48f7

Способ повышения точности контроля качества стыковки

Изобретение может быть использовано для гибридизации матричных фотоприемных устройств (МФПУ) методом перевернутого монтажа. Способ повышения точности контроля качества стыковки БИС считывания и матрицы фоточувствительных элементов (МФЧЭ) включает установку состыкованного модуля в держатель под...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002686882
Дата охранного документа: 06.05.2019
19.04.2019
№219.017.2f71

Способ изготовления индиевых столбиков

Изобретение относится к технологии получения индиевых столбиков для микросборок интегральных схем или ИК-фотодиодных матриц методом перевернутого кристалла. Сущность изобретения: для изготовления индиевых столбиков на временную кремниевую подложку наносят слой фоторезиста и слой индия. Проводят...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002371808
Дата охранного документа: 27.10.2009
11.03.2019
№219.016.d92c

Способ обнаружения скрытых дефектов матричных или линейных моп мультиплексоров

Изобретение относится к области тестирования МОП мультиплексоров. Сущность изобретения: в способе обнаружения скрытых дефектов матричных или линейных МОП мультиплексоров на кремниевой пластине с годными МОП мультиплексорами вскрываются окна в защитном слое окисла к металлизированным площадкам...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002388110
Дата охранного документа: 27.04.2010
29.12.2018
№218.016.acab

Способ улучшения адгезии индиевых микроконтактов с помощью ультразвуковой обработки

Использование: для изготовления индиевых микроконтактов в матричных фотоприемниках. Сущность изобретения заключается в том, что способ улучшения адгезии индиевых микроконтактов с помощью ультразвуковой обработки на полупроводниковых пластинах с матрицами БИС считывания или фотодиодными...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002676222
Дата охранного документа: 26.12.2018
05.07.2018
№218.016.6b33

Способ оперативного контроля качества стыковки

Изобретение относится к области полупроводниковой микроэлектроники, а именно к технологии сборки полупроводниковых приборов, и может быть использовано для гибридизации кристаллов БИС считывания и матрицы фоточувствительных элементов (МФЧЭ) методом перевернутого монтажа. Изобретение обеспечивает...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002660020
Дата охранного документа: 04.07.2018
09.06.2018
№218.016.5c5b

Способ изготовления микроконтактов

Изобретение относится к технологии сборки полупроводниковых приборов и может быть использовано для гибридизации кристаллов БИС считывания и матрицы фоточувствительных элементов (МФЧЭ) методом перевернутого монтажа. Способ изготовления микроконтактов согласно изобретению включает нанесение...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002655953
Дата охранного документа: 30.05.2018
25.08.2017
№217.015.c90c

Способ сборки кристаллов мфпу

Изобретение относится к технологии сборки гибридных матричных фотоприемных устройств (МФПУ). Одной из основных операций при изготовлении МФПУ является сборка кристаллов в корпус с последующим соединением контактных площадок кристалла БИС с внешними выводами корпуса МФПУ. Такая электрическая...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002619362
Дата охранного документа: 15.05.2017
25.08.2017
№217.015.b386

Способ повышения прочности стыковки кристаллов

Изобретение относится к области полупроводниковой микроэлектроники, а именно к технологии сборки полупроводниковых приборов, и может быть использовано для гибридизации матричных фотоприемных устройств методом перевернутого монтажа. В способе повышения прочности стыковки индиевых микроконтактов...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002613617
Дата охранного документа: 21.03.2017
+ добавить свой РИД