×
21.05.2023
223.018.6922

Результат интеллектуальной деятельности: Способ снижения величины гистерезиса по току перехода сверхпроводящих нанопроводов из сверхпроводящего состояния в нормальное и обратно

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при создании функциональных переключаемых электронных устройств различного назначения, в том числе, для применения в процессорах с высокой плотностью функциональных элементов на основе сверхпроводящих нанопроводов. Способ снижения величины гистерезиса по току перехода сверхпроводящих нанопроводов из сверхпроводящего состояния в нормальное и обратно предусматривает определение критической температуры перехода материала нанопровода в сверхпроводящее состояние Т и поддержание рабочей температуры нанопровода в пределах (0.85…0.9)⋅Т. Технический результат - снижение энергопотребления и тепловыделения в электронных функциональных наноразмерных устройствах с высокой плотностью элементов. 1 табл., 2 ил.

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при создании функциональных переключаемых электронных устройств различного назначения, в том числе, для применения в процессорах с высокой плотностью функциональных элементов на основе сверхпроводящих нанопроводов.

Как известно, работа сверхпроводящих коммутаторов (СПК), основана на переводе токонесущего элемента из сверхпроводящего состояния в нормальное. При этом перевод осуществляется превышением одного из критических параметров сверхпроводящего токонесущего элемента (температуры, плотности тока, напряженности магнитного поля) или некоторой совокупности их. При использовании таких переключателей требуется повышенный расход энергии и связанное с ним тепловыделение, что ограничивает их использование в наноразмерных микросхемах.

Известен способ перевода сверхпроводника в электронных устройствах из сверхпроводящего состояния в нормальное путем его локального нагрева JP 2013016664 [1] с использованием нагревательных элементов в виде меандра из фольги. Из-за ее малой теплоемкости и относительно большой площади обеспечивается как быстрый нагрев, так и быстрое охлаждение, что облегчает обратный перевод сверхпроводника из нормального состояние в сверхпроводящего. Этого достаточно для обеспечения работы тех аппаратов (МРТ), для которых этот способ используется в средствах аварийного отключения, но не применим в элементах логики, где требуется.

Известен способ перевода сверхпроводника в электронных устройствах из сверхпроводящего состояния в нормальное путем увеличения суммарного проходящего по нему тока до значений, превышающих величину критического (US 2015045228 [2]). Это достигается тем, что в дополнение к уже протекающему по сверхпроводнику току создается наведенный индукционный ток путем подачи тока управления на индукционную катушку, сформированную на поверхности сверхпроводника. Суперпозиция индуктивных токов и напряжения постоянного тока превышает критическую плотность тока материала сверхпроводника, который инициирует переход в нормальное состояние. Недостатками используемого метода является его неприменимость для микро и наноустройств с высокой плотностью функциональных элементов (например, процессоров) на основе сверхпроводников в связи с тем, что магнитное поле от используемой RF катушки захватывает большую площадь и объем существенно превышающие размеры функциональных элементов, что будет неизбежно вызывать ложные срабатывания многочисленных соседних, по отношению к управляемому, элементу. Кроме того, способ не обеспечивает снижения критического тока перехода наноразмерного сверхпроводника из сверхпроводящего состояния в нормальное, что приводит к повышенному энергопотреблению и тепловыделению.

Наиболее близким по достигаемому результату - снижение энергопотребления и тепловыделения в электронных функциональных наноразмерных устройствах с высокой плотностью элементов - является способ уменьшения критического тока перевода наноразмерного сверхпроводника из сверхпроводящего состояния в нормальное, описанный в RU 2694799 [3]. Способ заключается в том, что в наноразмерном сверхпроводнике создается резистивная область, которая находится в нормальном состоянии при рабочей температуре. При этом происходит уменьшение прямого критического тока перехода сверхпроводящего нанопроводника из сверхпроводящего состояния в нормальное до уровня тока обратного перехода. Такое уменьшение критического тока происходит примерно в 5-10 раз по сравнению со сверхпроводниками, в которых эта резистивная область отсутствует. При этом происходит и уменьшение величины гистерезиса по току перехода сверхпроводящих нанопроводов из сверхпроводящего состояния в нормальное и обратно. Недостатком известного способа является недостаточно высокое снижение энергопотребление, обусловленного необходимостью нагрева резисторов, включенных в тело нанопровода.

Заявляемый способ снижения величины гистерезиса по току перехода сверхпроводящих нанопроводов из сверхпроводящего состояния в нормальное и обратно направлен на снижение энергопотребления и тепловыделения в электронных функциональных наноразмерных устройствах с высокой плотностью элементов.

Указанный результат достигается тем, что способ снижения величины гистерезиса по току перехода сверхпроводящих нанопроводов из сверхпроводящего состояния в нормальное и обратно предусматривает определение критической температуры перехода материала нанопровода в сверхпроводящее состояние Тс и поддержание рабочей температуры нанопровода в пределах (0.85…0.9)⋅Тс.

Уменьшение величины гистерезиса по току перехода сверхпроводящих нанопроводов из сверхпроводящего состояния в нормальное и обратно обуславливает снижение энергопотребления в любых функциональных элементах, использующих интегрированные сопротивления, например, переключателях, логических устройствах поскольку уменьшает значение токов срабатывания устройств за счет уменьшения тока прямого переключения (при уменьшении гистерезиса по току величина тока прямого перехода уменьшается, приближаясь к величине тока обратного перехода). Также существенным обстоятельством, обуславливающим важность минимизации величины гистерезиса по току, является тот факт, что обеспечение стабильности функционирования устройств переключения требуют реализации минимальной разницы токов прямого и обратного переходов при выборе параметров электрических схем, что гарантирует работу переключающегося элемента вблизи фиксированного заданного значения тока. Искомая рабочая температура для исключения гистерезиса по току выбирается из диапазона: (0.85…0.9)⋅Тс. Использование температуры меньше 0.85⋅Тс нецелесообразно, поскольку присутствует гистерезис. Использование температуры выше, чем 0.9⋅Тс, также нецелесообразно, поскольку в сверхпроводнике в этом диапазоне температур в сверхпроводящем состоянии до его перехода в нормальное состояние появляется небольшое сопротивление, так называемое остаточное сопротивление, природа которого заключается в движении вихрей Абрикосова, а также в изменении фазы волны сверхпроводящих электронных пар (эффект квантового проскальзывания фазы) в ходе переноса сверхпроводящего тока, что приводит к повышению энергопотребления.

Сущность заявляемого способа поясняется примером реализации и графическими материалами. На фиг. 1 представлена принципиальная схема установки для измерения величины критического тока. На фиг. 2 вольт-амперная характеристика нанопроводника без встроенного резистивного элемента.

В общем случае эксперименты по определению величины гистерезиса по току перехода сверхпроводящих нанопроводов из сверхпроводящего состояния в нормальное и обратно проводились с помощью установки, представленной на фиг. 1 следующим образом.

Исследуемый нанопроводник 1 помещается в жидкий гелий (температура 4.2 К) или в другое устройство, позволяющее достичь рабочей температуры, ниже температуры сверхпроводящего перехода материала нанопроводника.

С помощью источника тока 2 через нанопроводник пропускается постоянный ток, который измеряется амперметром 3, при этом напряжение на нанопроводнике измеряется вольтметром 4.

Величина тока через нанопроводник медленно увеличивается до момента возникновения напряжения на нанопроводнике. В момент возникновения напряжения на нанопроводнике фиксируется величина тока, которая соответствует току прямого перехода нанопровода из сверхпроводящего состояния в нормальное.

Далее, величина тока через нанопровод медленно уменьшается до момента исчезновения напряжения на нанопроводнике. В момент исчезновения напряжения на нанопроводнике фиксируется величина тока, которая соответствует току обратного перехода нанопровода из нормального состояния в сверхпроводящее.

Таким образом измеряются прямой и обратный ток нанопроводника.

В качестве примера рассмотрим определение величины гистерезиса по току перехода сверхпроводящих нанопроводов из сверхпроводящего состояния в нормальное и обратно в нанопроводе из нитрида ниобия (NbN). Нанопроводник из нитрида ниобия длиной 1000 нм, шириной 200 нм и толщиной 4 нм изготавливается методами электронной литографии и плазмохимического травления на диэлектрической подложке из сапфира. Для подключения нанопроводника к схеме электрических измерений, к его концам методом взрывной фотолитографии формируются макроскопические металлические контакты из платины толщиной 20 нм с подслоем титана толщиной 10 нм. Нанопроводник на подложке помещается в жидкий гелий (температура 4.2 К) или в другое устройство, способное обеспечить достижение рабочей температуры 4.2 К, например, криогенную машину замкнутого цикла.

С помощью источника тока 2 через нанопроводник пропускается постоянный ток, который измеряется амперметром 3, при этом напряжение на нанопроводнике измеряется вольтметром 4.

Величина тока через нанопроводник медленно увеличивается до момента возникновения напряжения на нанопроводнике. В момент возникновения напряжения на нанопроводнике фиксируется величина тока, которая соответствует току прямого перехода нанопровода из сверхпроводящего состояния в нормальное.

Далее, величина тока через нанопровод медленно уменьшается до момента исчезновения напряжения на нанопроводнике. В момент исчезновения напряжения на нанопроводнике фиксируется величина тока, которая соответствует току обратного перехода нанопровода из нормального состояния в сверхпроводящее.

По результатам вышеописанных измерений напряжения на нанопроводе в зависимости от величины тока через него строится вольт-амперная характеристика нанопроводника, показанная на фиг. 2. Прямой ток нанопроводника I1 определяется в момент появления напряжения на нанопроводнике при увеличении тока, а обратный ток I2 определяется в момент исчезновения напряжения на нанопроводнике при уменьшении тока. Соответственно, графически определялась величина гистерезиса.

По описанной выше методике проводились измерения величины гистерезиса в зависимости от температуры для различных материалов. Результаты измерений приведены в таблице, в которой в качестве меры гистерезиса указано отношение токов прямого и обратного перехода I1/I2 (чем ближе это отношение к 1, тем меньше величина гистерезиса, а при значении 1 гистерезис отсутствует, поскольку токи прямого и обратного переходов равны).

Из представленных в таблице результатов видно, что при поддержании температуры нанопроводов в пределах (0.85…0.9)⋅Tc величина гистерезиса минимальна, что обеспечивает оптимальные условия по току для устойчивой работы устройств, поскольку переключение из сверхпроводящего состояния в нормальное (ток I1) не требует превышения тока по сравнению с током обратного переключения из нормального состояния в сверхпроводящее (ток I2), а также уменьшение энергопотребления устройства, поскольку при приближении рабочей температуры устройства к температуре сверхпроводящего перехода Тс, наблюдается уменьшение величины как тока I1, так и тока I2, что уменьшает энергопотребление тогда, когда переключаемый участок нанопровода находится в нормальном состоянии, поскольку энергопотребление пропорционально квадрату величины тока, протекающего через элемент в нормальном состоянии.

Неоспоримое преимущество заявленного способа снижения энергопотребления за счет увеличения температуры системы в сравнении с известным ранее способом уменьшения критического тока перехода за счет внедрения в сверхпроводник участка нормального металла, заключается в том, что, пока нанопровод находится в сверхпроводящем состоянии, он не выделяет тепловой мощности и его энергопотребления равно нулю, в отличие от случая интеграции в сверхпроводящий провод участка нормального металла, на котором тепловая мощность выделяется всегда. Кроме того, увеличение температуры системы и ее приближение к Тс приводит к сильному уменьшению как прямого, так и обратного критических токов, что позволяет существенно уменьшить энергопотребление системы за счет снижения рабочего тока, поскольку энергопотребление определяется его квадратом.

Способ снижения величины гистерезиса по току перехода сверхпроводящих нанопроводов из сверхпроводящего состояния в нормальное и обратно, характеризуемый тем, что производят определение критической температуры перехода материала нанопровода в сверхпроводящее состояние Т и поддерживают рабочую температуру нанопровода в пределах (0.85…0.9)⋅Т.
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 1-2 из 2.
16.05.2023
№223.018.643e

Способ определения технического состояния энергетического оборудования с использованием параметров термографических изображений

Изобретение относится к области технической диагностики энергетического оборудования. Способ определения технического состояния энергетического оборудования с использованием параметров термографических изображений заключается в проведении тепловизионного контроля (ТВК) и регистрации...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002791176
Дата охранного документа: 03.03.2023
16.05.2023
№223.018.6450

Способ переплавки конструкционных материалов оболочек отработавших твэлов и конструкционных материалов отработавших тепловыделяющих сборок

Изобретение относится к области металлургии, а именно к пирометаллургической переработке металлических радиоактивных отходов, представленных оболочками отработавших твэлов. Способ включает предварительное смешение фрагментов конструкционных материалов (КМ) отработавших оболочек твэлов,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002790544
Дата охранного документа: 22.02.2023
Показаны записи 1-10 из 15.
27.02.2013
№216.012.2a5e

Способ изготовления сверхпроводниковых однофотонных детекторов

Изобретение относится к области получения сверхпроводящих соединений и изготовления нанопроводников и приборов на их основе, что может быть использовано в электротехнической, радиотехнической, медицинской и других отраслях промышленности, в частности для оптического тестирования интегральных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002476373
Дата охранного документа: 27.02.2013
20.03.2013
№216.012.304f

Способ формирования проводников в наноструктурах

Изобретение относится к технологии создания сложных проводящих структур и может быть использовано в нанотехнологии. Сущность изобретения: способ формирования проводников в наноструктурах включает нанесение на подложку исходного диэлектрического вещества, в молекулы которого входят атомы...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002477902
Дата охранного документа: 20.03.2013
27.12.2013
№216.012.920f

Способ формирования монокристаллических нанопроводников в матрице из собственного оксида

Изобретение относится к технологии создания сложных проводящих структур и может быть использовано в нанотехнологии, микроэлектронике для создания сверхминиатюрных приборов, интегральных схем и запоминающих устройств. Изобретение направлено на обеспечение формирование монокристаллических...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002503084
Дата охранного документа: 27.12.2013
27.02.2014
№216.012.a741

Способ прогнозирования степени охрупчивания теплостойких сталей

Изобретение относится к методам тепло-прочностных испытаний конструкционных материалов преимущественно при прогнозировании и оценке работоспособности необлучаемых конструктивных элементов в атомной технике. Для продления срока службы корпусов реакторов типа ВВЭР предварительно определяют уровни...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002508532
Дата охранного документа: 27.02.2014
20.08.2014
№216.012.ec0c

Способ формирования магнитной паттернированной структуры в немагнитной матрице

Изобретение относится к технологии создания сложных структур с помощью потока ускоренных частиц и может быть использовано в нанотехнологии, микроэлектронике для создания сверхминиатюрных приборов, интегральных схем и запоминающих устройств. Изобретение обеспечивает уменьшение размеров магнитных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002526236
Дата охранного документа: 20.08.2014
20.02.2015
№216.013.27ee

Способ изготовления сверхпроводящих наноэлементов с туннельными или джозефсоновскими переходами

Использование: для изготовления сверхпроводниковых туннельных или джозефсоновских переходов. Сущность изобретения заключается в том, что способ изготовления сверхпроводящих наноэлементов с туннельными или джозефсоновскими переходами включает формирование нанопроводов из веществ, обладающих...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002541679
Дата охранного документа: 20.02.2015
20.07.2015
№216.013.64ef

Способ восстановления физико-механических свойств внутрикорпусных устройств водо-водяного энергетического реактора ввэр-1000

Изобретение относится к восстановительной термической обработке узлов водо-водяных энергетических реакторов (ВВЭР) и направлено на повышение ресурса и обеспечение безопасной эксплуатации реакторов ВВЭР-1000. Указанный результат достигается тем, что способ восстановления физико-механических...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002557386
Дата охранного документа: 20.07.2015
20.04.2016
№216.015.3472

Способ изготовления сверхпроводящих многосекционных оптических детекторов

Использование: для изготовления сверхпроводниковых датчиков излучения. Сущность изобретения заключается в том, что способ изготовления сверхпроводящих многосекционных оптических детекторов, включающий формирование отдельных секций из сверхпроводящих нанопроводов, образующих рисунок в виде...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002581405
Дата охранного документа: 20.04.2016
27.04.2016
№216.015.3827

Способ изготовления сварного составного образца типа ст для испытаний на трещиностойкость облученного металла

Изобретение относится к методам испытаний металлов на трещиностойкость, в частности к способу изготовления сварного составного образца типа СТ для испытаний на трещиностойкость облученного металла по стандартным методикам. Обойму изготавливают из необлученного металла и вставку из облученного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002582626
Дата охранного документа: 27.04.2016
04.04.2018
№218.016.31b9

Способ создания интегрированного криогенного адаптера питания на одном чипе в одном технологическом процессе

Изобретение относится к области сверхпроводниковой микроэлектроники, в частности к способу создания интегрированного криогенного адаптера питания на одном чипе. Способ включает нанесение на подложку слоя сверхпроводника и формирование из него методом электронной литографии сверхпроводящих...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002645167
Дата охранного документа: 16.02.2018
+ добавить свой РИД