×
25.03.2020
220.018.0fee

Результат интеллектуальной деятельности: Способ инструментального определения мощности и границы залегания органогенных горизонтов в почвенном профиле на основе ИК съемки

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к области почвоведения и касается способа инструментального определения мощности и границы залегания органогенных горизонтов в почвенном профиле. Способ включает в себя цифровую съемку почвенного профиля в инфракрасном диапазоне спектра аппаратурой, позволяющей выполнять пересчет цифровых значений пикселей изображения в двумерный массив данных радиояркостной температуры. Границу залегания органогенных горизонтов определяют как семейство точек по столбцам изображения, в которых функция линейной регрессии скачкообразно меняет тангенс угла наклона. Съемка проводится перпендикулярно стенке разреза с расстояния, равного 40-60 см, в диапазоне от 7,5 до 14 мкм, с радиометрическим разрешением не хуже 0,1°С и пространственным разрешением не ниже 1×1 см. Анализ и построение схемы профиля проводят путем обработки двумерных числовых массивов данных табличным процессором. Технический результат заключается в обеспечении возможности установления визуально неразличимой границы горизонтов и автоматического построения схемы органогенного горизонта почвенного профиля. 2 ил.

Изобретение относится к почвоведению, а именно к способу инструментального определения мощности и автоматического построения схемы расположения границы органогенного горизонта в почвенном профиле. Органогенные горизонты - это горизонты, которые формируются на поверхности или в верхней части почвенного профиля и представлены органическим веществом разной степени разложения или гумусом.

Наиболее распространенным способом определения мощности органогенных горизонтов почв является натурное измерение с помощью масштабной линейки, рулетки или сантиметровой ленты при выполнении морфологического описания почвенного профиля, которое является основным методологическим приемом исследования почв [Розанов Б.Г. Морфология почв. М., 2004. 432 с.].

Недостатком существующего метода является то, что определение требуемых характеристик основано только на экспертном визуальном анализе. Визуальная оценка границ горизонтов зачастую весьма затруднительна, а получаемый результат является во многом субъективным. Подробное описание строения и выполнение схемы структурной организации органогенного горизонта делает этот метод трудоемким, затратным по времени исполнения и требовательным к уровню подготовки экспертов.

Известен способ выделения границы горизонта почвы с использованием спектрометров, фиксирующих ближнее инфракрасное и рентгеновское излучение [Zhang Y., Hartemink A. Soil horizon delineation using vis-NIR and pXRF data // Catena 180:298-308. DOI: 10.1016/j.catena.2019.05.001].

Недостатком данного способа является высокая трудоемкость, которая не позволяет производить обработку больших объемов данных за приемлемое время, необходимость использования дорогостоящего узкоспециализированного оборудования и соответствующего уровня специальной технической подготовки.

Известен способ анализа строения почвенного профиля с помощью цифровой фотографии [Пузаченко Ю.Г., Пузаченко М.Ю., Козлов Д.Н., Алещенко Е.М. Анализ строения почвенного профиля на основе цифровой фотографии // Почвоведение. 2004. №2. С. 133-146], что, по сути, есть автоматизация метода визуальной экспертной оценки.

Недостатком этого способа является сложность подготовки органогенного горизонта почвенного разреза к съемке, возникающие технические проблемы цветопередачи в видимом диапазоне спектра, невозможность однозначной интерпретации цветовых градиентов, а также необходимость экспертной субъективной калибровочной привязки исходных данных съемки к физическим характеристикам почв.

Техническим результатом изобретения является получение количественных характеристик, позволяющих определить мощность органогенных горизонтов и автоматически зафиксировать в формате цифрового изображения строение органогенного горизонта почвенного профиля.

Технический результат достигается тем, что в способе инструментального определения мощности и границы залегания органогенных горизонтов в почвенном профиле на основе ИК съемки, позволяющем получать количественные оценки почвенных морфоструктур, новым является то, что предварительно проводят цифровую съемку почвенного профиля в инфракрасном (ИК) диапазоне спектра аппаратурой, позволяющей выполнять пересчет цифровых значений пикселей изображения в двумерный массив данных радиояркостной температуры (Tя), после чего границу залегания органогенных горизонтов в почвенном профиле определяют как семейство точек по столбцам изображения, в которых функция линейной регрессии скачкообразно меняет тангенс угла наклона (коэффициент линейной регрессии), съемку осуществляют в диапазоне от 7,5 до 14 мкм, с радиометрическим разрешением не хуже 0,1°С, пространственным разрешением не ниже 1×1 см, съемка проводится перпендикулярно стенке разреза с расстояния равного 40-60 см, после процедуры съемки для исследуемого почвенного разреза формируют двумерный массив значений радиояркостных температур (Тя) с пространственным разрешением, соответствующим разрешающей способности прибора съемки, этап анализа и построения схемы профиля проводят путем обработки двумерных числовых массивов данных любыми доступными табличными процессорами.

Сопоставительный анализ с прототипом показывает, что заявляемый способ отличается тем, что съемку почвенного профиля осуществляют радиометром с рабочим диапазоном длин волн от 7,5 до 14 мкм, с радиометрическим разрешением не хуже 0,1°С, пространственным разрешением не ниже 1×1 см, съемка проводится перпендикулярно стенке разреза с расстояния равного 40-60 см, для последующего масштабирования изображения при съемке профиля устанавливают метки верхней и нижней границы исследуемого участка вертикальной стенки почвенного профиля, после процедуры съемки требуется выполнить пересчет цифровых значений пикселей изображения в двумерный массив данных радиояркостной температуры (Тя) и сформировать двумерный массив значений радиояркостных температур с шагом измерений, соответствующим разрешающей способности прибора съемки, этап анализа и построения схемы профиля проводят путем обработки двумерных числовых массивов данных любыми доступными табличными процессорами, рассчитывают среднее значение температуры по столбцам изображения, границу органогенного горизонта определяют по точкам, в который функция линейной регрессии скачкообразно меняет тангенс угла наклона (коэффициент линейной регрессии). Эти признаки позволяют сделать вывод о соответствии заявляемого технического решения критерию «новизна».

При изучении других известных технических решений в данной области техники признаки, отличающие заявляемое изобретение от прототипа, не выявлены, и поэтому они обеспечивают заявляемому техническому решению соответствие критерию «изобретательский уровень».

В заявляемом способе выделение органогенного горизонта и определение его мощности в профиле производится на основе анализа распределения радиояркостной температуры (Тя), фиксируемой методом инструментальной съемки в инфракрасном диапазоне по характерной точке на графике распределения температур, в которой график функции линейной регрессии скачкообразно меняет тангенс угла наклона (коэффициент линейной регрессии). Распределение радиояркостной температуры вдоль профиля определяется физическими свойствами почвы (влажностью, плотностью, сложением, структурой, теплопроводностью, удельной теплоемкостью). Дальнейший анализ получаемого двумерного массива измерений позволяет программными средствами визуализировать схематическое строение органогенного горизонта почвенного профиля.

Изобретение поясняется чертежами:

На фиг. 1. представлена схема проведения съемки почвенного профиля ИК-радиметром. А - радиометр, F - расстояние до стенки почвенного профиля, Н - глубина почвенного профиля (Н).

На фиг. 2. представлено распределение радиояркостной температуры (Тя) с характерной точкой (3), в которой график функции линейной регрессии (Т(Н)) скачкообразно меняет тангенс угла наклона (a1, а2 - коэффициенты линейной регрессии). 1 - данные для верхней части почвенного горизонта, 2 - ход температуры ниже границы органогенного горизонта.

Способ осуществляют следующим образом.

Съемка производится радиометром в ИК-диапазоне (рабочий диапазон длин волн от 7,5 до 14 мкм, с радиометрическим разрешением не хуже 0,1°С, пространственным разрешением не ниже 1×1 см). Аппаратура съемки должна позволять выполнить пересчет цифровых значений пикселей изображения в двумерный массив данных радиояркостной температуры (Тя),

Почвенный разрез закладывается таким образом, чтобы анализируемая стенка профиля не освещалась прямыми лучами солнца, что необходимо для сохранения значимых различий радиояркостной температуры по глубине профиля в течение времени проведения съемки. Съемка производится при положительных среднесуточных температурах. При съемке следует учитывать погодные условия, в солнечную погоду устанавливается затеняющий экран. Наиболее удобным временем для съемки почвенного профиля является период с 12 до 17 ч местного времени, что обусловлено особенностями суточного хода температур и теплообмена в системе «приземный слой атмосферы - верхние горизонты почвы». Съемка проводится перпендикулярно стенке разреза с расстояния (F) равного 40-60 см, позволяющего захватить необходимый фрагмент почвенного профиля на определенную глубину (Н) (фиг. 1). Для масштабирования изображения при съемке профиля устанавливают метки верхней и нижней границы исследуемого участка вертикальной стенки почвенного профиля, измеряют расстояние между установленными границами в см.

Изображения, получаемые радиометром, должны сопровождаться калибровочными данными, необходимыми для перевода яркости каждого пиксела в значения радиояркостной температуры (фиг. 2). Могут быть использованы радиометры с функцией автоматического пересчета цифровых значений пикселей изображения в двумерный массив данных радиояркостной температуры (Тя). После процедуры съемки и калибровки изображения для исследуемого почвенного разреза формируется двумерный массив значений радиояркостных температур с шагом измерений (фиг. 2), соответствующим разрешающей способности прибора съемки. В среднем изображение имеет размер не хуже 100×100 пикселей, что соответствует массиву 10000 значений радиояркостной температуры. Размер пикселя изображения в среднем составляет 0,5-1 см и зависит от фокусного расстояния (F) (фиг. 1). Этап анализа и построения схемы органогенного горизонта профиля проводится путем обработки двумерных массивов данных авторскими или специализированными программными продуктами (электронные таблицы, средства построения многомерных поверхностей, геоинформационные системы - ГИС). Мощность органогенного горизонта определяется по характерной точке, в которой график функции линейной регрессии (Т(Н)) скачкообразно меняет тангенс угла наклона (фиг. 2).

Использование предлагаемого способа инструментального определения мощности и границы залегания органогенного горизонта почвенного профиля обеспечивает по сравнению с существующими способами следующие преимущества:

- высокую оперативность получения данных;

- возможность инструментальной оценки мощности органогенного горизонта;

- возможность установления визуально неразличимой границы горизонтов;

- возможность автоматического построения схемы органогенного горизонта почвенного профиля на основе методов обработки и анализа двумерного массива данных радиояркостной температуры;

- исключается необходимость экспертного визуального анализа почвенного профиля на месте проведения измерений.

Способ инструментального определения мощности и границы залегания органогенных горизонтов в почвенном профиле на основе ИК съемки, позволяющий получать количественные оценки почвенных морфоструктур, отличающийся тем, что предварительно проводят цифровую съемку почвенного профиля в инфракрасном (ИК) диапазоне спектра аппаратурой, позволяющей выполнять пересчет цифровых значений пикселей изображения в двумерный массив данных радиояркостной температуры (Т), после чего границу залегания органогенных горизонтов в почвенном профиле определяют как семейство точек по столбцам изображения, в которых функция линейной регрессии скачкообразно меняет тангенс угла наклона (коэффициент линейной регрессии), съемку осуществляют в диапазоне от 7,5 до 14 мкм, с радиометрическим разрешением не хуже 0,1°С, пространственным разрешением не ниже 1×1 см, съемка проводится перпендикулярно стенке разреза с расстояния, равного 40-60 см, после процедуры съемки для исследуемого почвенного разреза формируют двумерный массив значений радиояркостных температур (Т) с пространственным разрешением, соответствующим разрешающей способности прибора съемки, этап анализа и построения схемы профиля проводят путем обработки двумерных числовых массивов данных любыми доступными табличными процессорами.
Способ инструментального определения мощности и границы залегания органогенных горизонтов в почвенном профиле на основе ИК съемки
Способ инструментального определения мощности и границы залегания органогенных горизонтов в почвенном профиле на основе ИК съемки
Способ инструментального определения мощности и границы залегания органогенных горизонтов в почвенном профиле на основе ИК съемки
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 21-30 из 55.
22.08.2018
№218.016.7e56

Держатель образца для сквид-магнитометра типа mpms для исследования анизотропных свойств орторомбических монокристаллов

Изобретение относится к устройствам для измерения переменных магнитных величин и может быть использовано при проведении магнитных измерений. Держатель образца для СКВИД-магнитометра типа MPMS для исследования анизотропных свойств орторомбических монокристаллов содержит цилиндрическую трубку из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002664421
Дата охранного документа: 20.08.2018
13.09.2018
№218.016.873c

Способ синтеза эндоэдральных фуллеренов

Изобретение относится к нанотехнологии. Синтез эндоэдральных фуллеренов проводят в водоохлаждаемой металлической герметичной камере в плазме высокочастотной дуги с использованием переменного тока при атмосферном давлении. В нижней камере 4 установлен один вертикальный графитовый электрод 2 и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002666856
Дата охранного документа: 12.09.2018
28.10.2018
№218.016.97a3

Оксидный керамический магнитный материал на основе натрия, ванадия, железа и никеля

Изобретение относится к разработке новых материалов, которые могут быть полезны для химической промышленности, материаловедения, спинтроники. Оксидный керамический магнитный материал содержит кислород, железо и ванадий и дополнительно натрий и никель при следующем соотношении компонентов, ат....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002670973
Дата охранного документа: 26.10.2018
19.12.2018
№218.016.a8a0

Микрополосковый широкополосный полосно-пропускающий фильтр

Изобретение относятся к радиотехнике, в частности к фильтрам. Микрополосковый широкополосный полосно-пропускающий фильтр содержит диэлектрическую подложку, одна сторона которой полностью металлизирована и выполняет функцию заземляемого основания, а на вторую сторону нанесены нерегулярные...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002675206
Дата охранного документа: 17.12.2018
07.02.2019
№219.016.b7e4

Сверхширокополосное поглощающее покрытие

Изобретение относится к технике сверхвысоких частот и предназначено для уменьшения радиолокационной заметности объектов военной техники, например летательных аппаратов. Сверхширокополосное поглощающее покрытие содержит диэлектрические слои, на поверхности которых нанесена двумерно-периодическая...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002678937
Дата охранного документа: 04.02.2019
13.03.2019
№219.016.de94

Способ нанесения нанопленочного покрытия на подложку

Изобретение относится к способу нанесения нанопленочного покрытия на подложку и может быть использовано для получения нанопокрытий на поверхностях различных подложек при невысокой температуре. Осуществляют импульсно-плазменное напыление с лазерным поджигом. Используют импульсный режим работы...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002681587
Дата охранного документа: 11.03.2019
14.03.2019
№219.016.df47

Способ получения нанокристаллов силицида железа α-fesi с изменяемой преимущественной ориентацией

Изобретение относится к технологии получения материалов нанометрового размера, состоящих из нанокристаллов силицида железа α-FeSi с контролируемо изменяемой преимущественной кристаллографической ориентацией, формой и габитусом, и может применяться для разработки новых функциональных элементов в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002681635
Дата охранного документа: 11.03.2019
14.03.2019
№219.016.df5e

Способ получения композиционного материала на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена

Изобретение относится к полимерному материаловедению и может быть использовано в радиоэлектронике для изготовления морозостойких изделий, обладающих высокой диэлектрической проницаемостью и низкими диэлектрическими потерями. Описан способ получения композиционного материала на основе...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002681634
Дата охранного документа: 11.03.2019
16.03.2019
№219.016.e1a8

Датчик слабых магнитных полей

Изобретение относится к измерительной технике, а именно предназначено для измерения слабых магнитных полей, и может использоваться, в первую очередь, в магнитометрии. Датчик слабых магнитных полей содержит СВЧ-генератор, чувствительный элемент на основе тонкой магнитной пленки, помещенной в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002682076
Дата охранного документа: 14.03.2019
21.03.2019
№219.016.eaa9

Устройство для калибровки дихрографов кругового дихроизма

Изобретение относится к оптическим устройствам, имитирующим вещество, обладающее круговым дихроизмом (КД), с возможностью регулирования величины задаваемого эффекта в широком диапазоне значений на выбранной длине волны, сохраняющее ход светового луча строго по оптической оси в процессе...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002682605
Дата охранного документа: 19.03.2019
Показаны записи 1-1 из 1.
06.07.2018
№218.016.6d42

Способ выявления и картирования структуры почвенного профиля методом съемки в инфракрасном диапазоне спектра

Изобретение относится к почвоведению. Способ выявления и картирования структуры почвенного профиля методом съемки в инфракрасном диапазоне спектра заключается в съемке почвенного профиля радиометром в инфракрасном диапазоне. Границы почвенных горизонтов определяют по перепаду значений...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002660224
Дата охранного документа: 05.07.2018
+ добавить свой РИД