×
23.07.2019
219.017.b711

Способ детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа

Вид РИД

Изобретение

Юридическая информация Свернуть Развернуть
Краткое описание РИД Свернуть Развернуть
Аннотация: Изобретение относится к оптическим методам высокого пространственного разрешения на основе методов зондовой микроскопии. Сущность изобретения заключается в том, что в способе детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа, включающем сближение осциллирующего на частоте Ω зондового датчика с образцом, фокусирование на острие зондового датчика оптического излучения с длиной волны λ в диапазоне от 0.4 до 500 мкм источника излучения посредством фокусирующего элемента, измерение ближнепольного оптического отклика первым синхронным детектором посредством детектирования сигнала оптического детектора на высшей гармонике осцилляций зондового датчика nΩ, где n - порядок высшей гармоники, с использованием схемы интерферометра Майкельсона, в которой модуль подвижки устанавливает зеркало опорного плеча в заданные положения, используя систему обратной связи, изменяют положение зеркала опорного плеча посредством модуля подвижки таким образом, чтобы разница фаз ближнепольного оптического отклика и излучения, отраженного от зеркала опорного плеча, поддерживалась постоянной. Технический результат заключается в снижении времени измерения, увеличении быстродействия, уменьшении шумов при измерении и снижении погрешности измерений ближнепольного отклика образца, а также в расширении функциональных возможностей устройства. 7 з.п. ф-лы, 4 ил.
Реферат Свернуть Развернуть

Способ детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) относится к методам ближнепольной оптической микроскопии рассеивающего типа и может быть использован для исследования оптических свойств образцов с нанометровым разрешением, например, позволяет различать металлические, полупроводниковые и диэлектрические участки на поверхности образцов, выполнять картирование образцов в ИК микроскопии и спектроскопии на наноуровне.

Известен способ детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа, включающий сближение осциллирующего на частоте Ω зондового датчика, с образцом, фокусирование на острие зондового датчика оптического излучения с длиной волны λ в диапазоне от 0.4 мкм до 500 мкм источника излучения, посредством фокусирующего элемента, измерение ближнепольного оптического отклика первым синхронным детектором посредством детектирования сигнала оптического детектора на высшей гармонике осцилляций зондового датчика nΩ, где n - порядок высшей гармоники, с использованием схемы интерферометра Майкельсона, в которой модуль подвижки устанавливает зеркало опорного плеча в заданные положения [F. Keilmann and R. Hillenbrand, "Near-field microscopy by elastic light scattering from a tip", Philos. Trans. A. Math. Phys. Eng. Sci., vol. 362, no. 1817, pp. 787-805, 2004].

Этот способ выбран в качестве прототипа предложенного решения.

Недостаток этого способа заключается в том, что механические перемещения зеркала опорного плеча в каждой точке на величину λ/8 ограничивают быстродействие методики скоростью в ~3 мс/точку, так как типичные резонансные частоты модуля подвижки зеркала опорного пучка составляют около 300 Гц. Кроме этого, механические вибрации при перемещениях зеркала приводят к дополнительным вибрациям, увеличивающим погрешность измерения.

Технический результат изобретения заключается в увеличении быстродействия измерения благодаря слежению за фазой регистрируемого сигнала посредством системы обратной связи. Это также приводит к уменьшению механических вибраций и соответственно уменьшению погрешности измерений.

Указанный технический результат достигается тем, что в способе детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа, включающем сближение осциллирующего на частоте Ω зондового датчика, с образцом, фокусирование на острие зондового датчика оптического излучения с длиной волны λ в диапазоне от 0.4 мкм до 500 мкм источника излучения, посредством фокусирующего элемента, измерение ближнепольного оптического отклика первым синхронным детектором посредством детектирования сигнала оптического детектора на высшей гармонике осцилляций зондового датчика nΩ, где n - порядок высшей гармоники, с использованием схемы интерферометра Майкельсона, в которой модуль подвижки устанавливает зеркало опорного плеча в заданные положения, используя систему обратной связи, изменяют положение зеркала опорного плеча посредством модуля подвижки таким образом, чтобы разница фаз ближнепольного оптического отклика и излучения, отраженного от зеркала опорного плеча, поддерживалась постоянной.

Существует вариант, в котором на вход системы обратной связи подают сигнал синусоидальной компоненты оптической амплитуды, измеренный первым синхронным детектором на частоте nΩ, а выходной сигнал системы обратной связи управляет положением зеркала опорного плеча посредством модуля подвижки, компенсируя разницу между сигналом синусоидальной компоненты оптической амплитуды и близким к нулю значением рабочей точки, при этом регистрируется сигнал положения зеркала опорного плеча, который умножают на коэффициент пересчета 4π/λ и получают сигнал фазы оптического отклика.

Существует вариант, в котором после получения сигнала фазы оптического отклика зеркало опорного плеча смещают при помощи модуля подвижки на заданную величину, соответствующую сдвигу фазы опорного пучка на детекторе близким к π/2+πk, k - это целое число, и в этом положении регистрируется сигнал полной оптической амплитуды, измеренный первым синхронным детектором на частоте nΩ, а после этого образец перемещают в новую точку и повторяют описанную выше процедуру в каждой точке сканирования.

Существует вариант, в котором при первом сканировании линии по поверхности образца в каждой точке линии регистрируют положение зеркала опорного плеча, а затем при повторном сканировании той же линии в каждой точке посредством модуля подвижки обеспечивают сдвиг фазы луча, отраженного от зеркала опорного плеча на величину, близкой к π/2+πk, k - это целое число, относительно зарегистрированного при первом сканировании линии положения зеркала опорного плеча в этой же точке, при этом при повторном сканировании линии первым синхронным детектором регистрируется сигнал полной оптической амплитуды на частоте nΩ, после этого образец перемещают на следующую линию и повторяют описанную выше процедуру для каждой следующей линии сканирования.

Существует вариант, в котором с частотой f модулируют сигнал, управляющий положением зеркала опорного плеча посредством модуля подвижки, и на вход системе обратной связи подают сигнал синусоидальной компонентой измеренный вторым синхронным детектором на частоте f, при этом на вход второму синхронному детектору подают сигнал синусоидальной компоненты оптической амплитуды, измеренный первым синхронным детектором на частоте nΩ, и выходной сигнал системы обратной связи изменяет положение зеркала опорного плеча посредством модуля подвижки, компенсируя разницу между сигналом синусоидальной компоненты, измеренный вторым синхронным детектором на частоте f, и близким к нулю значением рабочей точки, при этом в процессе сканирования регистрируется сигнал полной оптической амплитуды и положение зеркала опорного плеча, которое умножают на коэффициент пересчета 4π/λ, и получают сигнал фазы оптического отклика.

Существует вариант, в котором в заданном диапазоне изменяют длину волны λ источника излучения и строят зависимость сигнала полной оптической амплитуды от длины волны λ источника излучения, при этом в результате получается спектральная зависимость амплитуды ближнепольного оптического отклика от длины волны λ.

Существует вариант, в котором положение зеркала опорного плеча регистрируют посредством датчиков смещения.

Существует вариант, в котором угол зеркала опорного плеча поддерживают постоянным при перемещении посредством модуля подвижки с помощью системы обратной связи, на вход которой подаются значения датчиков углового смещения, а выходной сигнал управляет углом модуля подвижки, компенсируя угловые отклонения при перемещениях.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема установки для детектирования ближнепольного оптического отклика.

На фиг. 2 изображена зависимость сигнала полной оптической амплитуды от перемещения зеркала опорного плеча.

На фиг. 3 изображена зависимость сигнала синусоидальной компоненты оптической амплитуды от перемещения зеркала опорного плеча.

На фиг. 4 изображена зависимость сигнала синусоидальной компонентой со второго синхронного детектора от перемещения зеркала опорного плеча.

Предложенный способ реализуется на устройстве, схема которого изображена на фиг. 1. Это устройство включает зондовый датчик 1, образец 2, зафиксированный на сканирующем основании 3. Зондовый датчик 1 в зоне взаимодействия с образцом 2 заканчивается острием 4. Источник излучения 5, оптически сопряжен посредством фокусирующего элемента 6 закрепленного на подвижке 7 с острием 4 зондовый датчик 1. Схема СЗМ в общем виде описана в [Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии - Н. Новгород: Институт физики микроструктур, 2004., 110 с.]. Оптический детектор 8 посредством делителя пучка 12 оптически сопряжен с острием 4, которое вносит периодические возмущения в ближнепольный отклик образца. Также с оптическим детектором 8 оптически сопряжено зеркало опорного плеча 14, закрепленное на модуле подвижке 13. Используемая схема интерферометра Майкельсона. Оптический детектор 8 электрически сопряжен с первым синхронным детектором 11. В свою очередь первый генератор 9 электрически сопряжен с пьезовибратором 10 и первым синхронным детектором 11. Второй генератор 16 электрически сопряжен с модулем подвижки 13 и вторым синхронным детектором 18. Система обратной связи 15 электрически сопряжена с первым синхронным детектором 11 или вторым синхронным детектором 18 и блоком управления 17 модуля подвижки 13. Датчики линейного смещения 19 и углового смещения 20 сопряжены с зеркалом опорного плеча 14.

Способ детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа реализуется следующим образом. Производят сближение осциллирующего на частоте Ω (например, 100 кГц.) зондового датчика 1 с образцом 2. После этого фокусируют на острие 4 зондового датчика 1 оптическое излучение от источника излучения 5, в качестве которого можно использовать, например, перестраиваемый ИК СО2 лазер или квантово-каскадный лазер с перестраиваемой длиной волны или лазер видимого или ближнего ИК диапазона или источник ТГц излучения. Длина волны λ этого излучения находится в диапазоне от 0.4 мкм до 500 мкм. Фокусировка оптического излучения осуществляется посредством фокусирующего элемента 6, в качестве которого можно использовать, например, параболическое металлическое зеркало с Au напылением или Ge линзу Измерение ближнепольного оптического отклика первым синхронным детектором 11 осуществляют посредством детектирования сигнала оптического детектора 8 на высшей гармонике осцилляций зондового датчика 1 nΩ, где n - порядок высшей гармоники. Для этого используют интерферометр Майкельсона, в котором модуль подвижки 13 устанавливает зеркало опорного плеча 14 в заданные положения. В качестве модуля подвижки 13 можно использовать пьезокерамическую подвижку с блоком управления. Далее, используя систему обратной связи 15, изменяют положение зеркала опорного плеча 14 посредством модуля подвижки 13 таким образом, чтобы разница фаз ближнепольного оптического отклика и излучения, отраженного от зеркала опорного плеча 14, поддерживалась постоянной.

Существует вариант, в котором на вход системы обратной связи 15 подают сигнал синусоидальной компоненты оптической амплитуды 25, измеренный первым синхронным детектором 11 на частоте nΩ. При этом выходной сигнал системы обратной связи 15 управляет положением зеркала опорного плеча 14 посредством модуля подвижки 13. В результате компенсируется разница между сигналом синусоидальной компоненты оптической амплитуды 25 и близким к нулю значением рабочей точки. Эта величина может быть в диапазоне от -10% до 10% величины максимального значения сигнала синусоидальной компоненты оптической амплитуды 25. При этом регистрируется сигнал положения зеркала опорного плеча 14, который умножают на коэффициент пересчета 4π/λ и получают сигнал фазы оптического отклика 28. После этого при необходимости образец 2 перемещают в новую точку и повторяют описанную выше процедуру в каждой точке сканирования.

Существует вариант, в котором после получения сигнала фазы оптического отклика 28 зеркало опорного плеча 14 смещают при помощи модуля подвижки 13 на заданную величину. Эта величина соответствует сдвигу фазы опорного пучка на детекторе близким к π/2+πk (k - это целое число) и может быть в диапазоне ±π/20. В этом положении регистрируется сигнал полной оптической амплитуды 26, измеренный первым синхронным детектором 11 на частоте nΩ. После этого образец 2 перемещают в новую точку и повторяют описанную выше процедуру в каждой точке сканирования. Существует вариант, в котором при первом сканировании линии по поверхности образца 2 в каждой точке линии регистрируют положение зеркала опорного плеча 14. Затем при повторном сканировании той же линии в каждой точке посредством модуля подвижки 13 обеспечивают сдвиг фазы луча, отраженного от зеркала опорного плеча 14 на величину, близкой к π/2+πk (k - это целое число), относительно зарегистрированного при первом сканировании линии положения зеркала опорного плеча 14 в этой же точке. При этом при повторном сканировании линии первым синхронным детектором 11 регистрируется сигнал полной оптической амплитуды 26 на частоте nΩ. После этого образец 2 перемещают на следующую линию и повторяют описанную выше процедуру для каждой следующей линии сканирования.

Существует вариант, в котором с частотой f модулируют сигнал, управляющий положением зеркала опорного плеча 14 посредством модуля подвижки 13. Частота f может быть в диапазоне 100 Гц до 10 кГц. На вход системе обратной связи подают сигнал синусоидальной компонентой 27 измеренный вторым синхронным детектором 18 на частоте f. При этом на вход второму синхронному детектору 18 подают сигнал синусоидальной компоненты оптической амплитуды 25, измеренный первым синхронным детектором 11 на частоте nΩ. Выходной сигнал системы обратной связи изменяет положение зеркала опорного плеча 14 посредством модуля подвижки 13, компенсируя разницу между сигналом синусоидальной компоненты 27, измеренный вторым синхронным детектором 18 на частоте f, и близким к нулю значением рабочей точки. При этом в процессе сканирования регистрируется сигнал полной оптической амплитуды 26 и положение зеркала опорного плеча 14, которое умножают на коэффициент пересчета 4π/λ и получают сигнал фазы оптического отклика.

Существует вариант, в котором в заданном диапазоне (например, для квантово-каскадного ИК лазера в диапазоне от 9,5 мкм до 12 мкм) изменяют длину волны λ источника излучения 5 и строят зависимость сигнала полной оптической амплитуды 26 от длины волны λ источника излучения 5. При этом в результате получают спектральную зависимость амплитуды ближнепольного оптического отклика от длины волны λ.

Существует вариант, в котором положение зеркала опорного плеча 14 регистрируют посредством датчиков линейного смещения 19. Они могут быть выполнены в виде емкостных датчиков смещения

Существует вариант, в котором угол зеркала опорного плеча 14 поддерживают постоянным при перемещении посредством модуля подвижки 13 с помощью системы обратной связи 15. На ее вход подают значения датчиков углового смещения 20. При этом выходной сигнал управляет углом модуля подвижки 13, компенсируя угловые отклонения при перемещениях.

То, что в способе детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа, используя систему обратной связи 15 изменяют положение зеркала опорного плеча 14 посредством модуля подвижки 13 таким образом, чтобы разница фаз ближнепольного оптического отклика и излучения, отраженного от зеркала опорного плеча 14, поддерживалась постоянной приводит к тому, что увеличивается быстродействие, а также снижается уровень механических шумов и вибрации, создаваемых модулем подвижки 13 зеркала опорного плеча 14 и, соответственно, уменьшается погрешность измерений.

То, что на вход системы обратной связи 15 подают сигнал синусоидальной компоненты оптической амплитуды 25, измеренный первым синхронным детектором 11 на частоте nΩ, а выходной сигнал системы обратной связи 15 управляет положением зеркала опорного плеча 14 посредством модуля подвижки 13, компенсируя разницу между сигналом синусоидальной компоненты оптической амплитуды 25 и близким к нулю значением рабочей точки, при этом регистрируется сигнал положения зеркала опорного плеча 14, который умножают на коэффициент пересчета 4π/λ, и получают сигнал фазы оптического отклика приводит к тому, что увеличивается быстродействие, а также снижается уровень механических шумов и вибрации, создаваемых модулем подвижки 13 зеркала опорного плеча 14 и, соответственно, уменьшается погрешность измерений.

То, что после получения сигнала фазы оптического отклика зеркало опорного плеча 14 смещают при помощи модуля подвижки 13 на заданную величину, соответствующую сдвигу фазы опорного пучка на детекторе близким к π/2+πk, k - это целое число и в этом положении регистрируется сигнал полной оптической амплитуды 26, измеренный первым синхронным детектором 11 на частоте nΩ, а после этого образец 2 перемещают в новую точку и повторяют описанную выше процедуру в каждой точке сканирования приводит к тому, что снижается погрешность измерений.

То, что при первом сканировании линии по поверхности образца 2 в каждой точке линии регистрируют положение зеркала опорного плеча 14, а затем при повторном сканировании той же линии в каждой точке посредством модуля подвижки 13 обеспечивают сдвиг фазы луча, отраженного от зеркала опорного плеча 14 на величину, близкой к π/2+πk, k - это целое число, относительно зарегистрированного при первом сканировании линии положения зеркала опорного плеча 14 в этой же точке, при этом при повторном сканировании линии первым синхронным детектором 11 регистрируется сигнал полной оптической амплитуды 26 на частоте nΩ, после этого образец 2 перемещают на следующую линию и повторяют описанную выше процедуру для каждой следующей линии сканирования приводит к тому, что снижается уровень механических шумов и вибрации, создаваемых модулем подвижки 13 зеркала опорного плеча 14 и, соответственно, уменьшается погрешность измерений.

То, что с частотой f модулируют сигнал, управляющий положением зеркала опорного плеча 14 посредством модуля подвижки 13, и на вход системе обратной связи подают сигнал синусоидальной компонентой 27 измеренный вторым синхронным детектором 18 на частоте f, при этом на вход второму синхронному детектору 18 подают сигнал синусоидальной компоненты оптической амплитуды 25, измеренный первым синхронным детектором 11 на частоте nΩ, и выходной сигнал системы обратной связи изменяет положение зеркала опорного плеча 14 посредством модуля подвижки 13, компенсируя разницу между сигналом синусоидальной компоненты 27, измеренный вторым синхронным детектором 18 на частоте f, и близким к нулю значением рабочей точки, при этом в процессе сканирования регистрируется сигнал полной оптической амплитуды 26 и положение зеркала опорного плеча 14, которое умножают на коэффициент пересчета 4π/λ и получают сигнал фазы оптического отклика приводит к тому, что увеличивается быстродействие, а также снижается уровень механических шумов и вибрации, создаваемых модулем подвижки 13 зеркала опорного плеча 14 и, соответственно, уменьшается погрешность измерений.

То, что в заданном диапазоне изменяют длину волны λ источника излучения 5 и строят зависимость сигнала полной оптической амплитуды 26 от длины волны λ источника излучения 5, при этом в результате получается спектральная зависимость амплитуды ближнепольного оптического отклика от длины волны λ приводит снижению времени измерения, кроме того это это приводит к расширению функциональных возможностей устройства.

То, что положение зеркала опорного плеча 14 регистрируют посредством датчиков линейного смещения 19 приводит к тому, что устраняются нежелательные эффекты модуля подвижки 13, такие как нелинейность, люфт, гистерезис, и таким образом, приводит к уменьшению погрешности измерения сигнала фазы оптического отклика 28 и сигнала полной оптической амплитуды 26.

То, что угол зеркала опорного плеча 14 поддерживают постоянным при перемещении посредством модуля подвижки 13 с помощью системы обратной связи 15, на вход которой подаются значения датчиков углового смещения 20, а выходной сигнал управляет углом модуля подвижки 13, компенсируя угловые отклонения при перемещениях приводит к тому, что снижается погрешность измерения сигнала фазы оптического отклика 28 и сигнала полной оптической амплитуды 26.


Способ детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа
Способ детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа
Способ детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 1-7 из 7.
25.08.2017
№217.015.be64

Сканирующий зондовый микроскоп для оптической спектрометрии

Изобретение предназначено для оптической микроскопии и спектрометрии комбинационного рассеяния, люминесценции или флуоресценции с использованием зондового датчика в качестве оптической антенны. Микроскоп содержит основание 1, измерительную головку 2, зондовый датчик 3, держатель зондового...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002616854
Дата охранного документа: 18.04.2017
26.08.2017
№217.015.ed14

Устройство углового сканирования

Изобретение относится к точной механике и может быть использовано для углового перемещения отражающего элемента. Сущность изобретения заключается в том, что устройство углового сканирования содержит корпус 1, на котором закреплен пьезоэлектрический элемент 3 посредством первого конца 4...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002628673
Дата охранного документа: 21.08.2017
19.01.2018
№218.015.ff98

Устройство механического перемещения для сканирующего зондового микроскопа

Изобретение относится к точной механике и может быть использовано для сближения зонда и образца в сканирующей зондовой микроскопии. Сущность изобретения заключается в том, что в устройстве механического перемещения для сканирующего зондового микроскопа, содержащем основание 1, СЗМ головку 2,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002629538
Дата охранного документа: 29.08.2017
25.08.2018
№218.016.7f26

Устройство подвижки

Устройство подвижки относится к точной механике и может быть использовано для перемещения образцов по двум или трем координатам, например, в зондовой микроскопии. Сущность изобретения заключается в том, что в устройстве подвижки каретка 10 упруго сопряжена с переходным элементом 9 по координате...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002664783
Дата охранного документа: 22.08.2018
25.07.2019
№219.017.b848

Сканирующий зондовый микроскоп с устройством для функционирования многозондового датчика

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования образцов в зондовых режимах. Сканирующий зондовый микроскоп с устройством для функционирования многозондового датчика включает платформу 1, держатель образца 2 с образцом 3, установленные на сканирующем...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002695517
Дата охранного документа: 23.07.2019
03.09.2019
№219.017.c6c8

Способ формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, преимущественно к атомно-силовой микроскопии. Сущность изобретения заключается в том, что в способе формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии, включающем построчное сканирование поверхности образца в прямом и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002698953
Дата охранного документа: 02.09.2019
14.05.2023
№223.018.55f3

Зонд ближнепольного оптического микроскопа

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и может быть использовано при исследовании микрорельефа отражающих поверхностей, например, в кристаллографии, метрологии, при изучении высокомолекулярных соединений, а также для локальных исследований микрообъектов в виде...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002731164
Дата охранного документа: 31.08.2020
Показаны записи 1-10 из 59.
10.01.2013
№216.012.19d6

Емкостной датчик для измерения линейных перемещений

Изобретение относится к области прецизионных измерений перемещений посредством измерения емкости и может быть использовано для определения линейных перемещений сканирующих устройств в сканирующих зондовых микроскопах (СЗМ). Сущность: датчик содержит измерительную емкость и опорную емкость,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002472106
Дата охранного документа: 10.01.2013
10.01.2013
№216.012.1a11

Сканирующий зондовый микроскоп для биологических применений

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002472165
Дата охранного документа: 10.01.2013
20.12.2013
№216.012.8e7d

Сумматор свч сигналов

Изобретение относится к технике сверхвысоких частот (СВЧ), в частности к устройствам сложения (деления) СВЧ сигналов, и может быть использовано для сложения (деления) СВЧ сигналов в фидерных трактах техники связи, радиолокационных устройств, в телевидении, в измерительной технике. Технический...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002502160
Дата охранного документа: 20.12.2013
20.01.2014
№216.012.9905

Устройство для складывания антенны боевой машины

Изобретение относится к бронетехнике и может найти применение в БМП, БТР, танках и др. Технический результат - повышение надежности устройства. Устройство для складывания антенны боевой машины содержит антенну с амортизатором, колпачок и хвостовик, установленные на жестко закрепленном кольце....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002504872
Дата охранного документа: 20.01.2014
20.01.2014
№216.012.9906

Резонансная волноводно-щелевая антенна

Изобретение относится к антенной технике и может быть использовано при создании антенных систем в радионавигации и радиолокации. Технический результат - расширение рабочего диапазона частот без ухудшения коэффициента направленного действия и согласования антенны при сохранении направления...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002504873
Дата охранного документа: 20.01.2014
10.03.2014
№216.012.aaa0

Контактный свч переключатель

Изобретение относится к технике сверхвысоких частот (СВЧ) и может быть использовано для коммутации СВЧ сигналов в фидерных трактах различного назначения, в частности при создании переключателя фидерных трактов. Достигаемый технический результат - увеличение надежности, увеличение развязки при...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002509395
Дата охранного документа: 10.03.2014
20.05.2014
№216.012.c334

Сканирующий зондовый микроскоп для исследования крупногабаритных объектов

Устройство предназначено для проведения зондовых измерений на объектах, имеющих сложную форму, например на трубах в нефтяной и атомной отраслях промышленности. Сущность изобретения заключается в том, что в сканирующий зондовый микроскоп для исследования крупногабаритных объектов, включающий...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002515731
Дата охранного документа: 20.05.2014
20.07.2014
№216.012.de9e

Нанотехнологический комплекс

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства и измерения новых изделий наноэлектроники. Нанотехнологический комплекс включает робот-раздатчик с возможностью осевого вращения, сопряженный с камерой загрузки образцов и модулем...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002522776
Дата охранного документа: 20.07.2014
10.08.2014
№216.012.e7b5

Механический свч переключатель

Изобретение относится к технике сверхвысоких частот (СВЧ) и может быть использовано для коммутации СВЧ-сигналов в фидерных трактах различного назначения, в частности при создании переключателя фидерных трактов. Технические результаты заключаются в увеличениях надежности и рабочей мощности при...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002525110
Дата охранного документа: 10.08.2014
10.09.2014
№216.012.f2fa

Способ получения органического удобрения и система для его осуществления

Изобретения относятся к сельскому хозяйству. Способ получения органического удобрения включает использование отходов спиртового производства лютерной воды и барды, прессование последней для отделения фугата от органической массы, получение рабочей смеси путем смешивания фугата с лютерной водой,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002528024
Дата охранного документа: 10.09.2014
+ добавить свой РИД