×
20.05.2019
219.017.5d57

СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ МИКРОСХЕМ ОПЕРАТИВНОГО ЗАПОМИНАЮЩЕГО УСТРОЙСТВА ПО УРОВНЮ БЕССБОЙНОЙ РАБОТЫ

Вид РИД

Изобретение

Юридическая информация Свернуть Развернуть
Краткое описание РИД Свернуть Развернуть
Аннотация: Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для разбраковки микросхем оперативного запоминающего устройства (ОЗУ) по уровню бессбойной работы (УБР). Технический результат: возможность имитировать импульсное ионизирующее излучение (ИИИ), проводить разбраковку микросхем ОЗУ по параметру «уровень бессбойной работы» в процессе изготовления и определять реальный УБР и работоспособность RC-цепи в каждой ячейке и каждой конкретной микросхемы ОЗУ в целом к воздействию ИИИ. Сущность: определение сохранности записанной тестовой информации и разбраковка микросхем ОЗУ по стойкости к воздействию ИИИ происходит в процессе изготовления микросхем на всех изделиях изготавливаемой партии. При этом микросхемы облучают не менее двух раз импульсным излучением лазера, имитирующего воздействие гамма-излучения по требуемому уровню УБР с последующим определением сохранности предварительно записанной в микросхему информации. В качестве информационного кода используются коды «диагональ» и «инверсная диагональ». 1 ил.
Реферат Свернуть Развернуть

Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для разбраковки микросхем оперативного запоминающего устройства (ОЗУ) с повышенной стойкостью к уровню бессбойной работы (УБР).

Известны способы разбраковки микросхем по радиационной стойкости, когда под радиационной стойкостью понимается стойкость к накопленной дозе воздействия ионизирующего излучения (ИИ).

Известен способ отбора радиационно стойких изделий электронной техники [1], включающий облучение партии изделий сравнительно небольшой дозой гамма-квантов или электронов с последующим отбором и исключением из партии приборов с наибольшими изменениями параметров. Возможно также облучение полной дозой, эквивалентной ожидаемой поглощенной дозе радиации в реальных условиях эксплуатации, и восстановление начальных параметров после облучения с помощью отжига при повышенной температуре.

Недостатком этого способа является невозможность прогнозирования уровня бессбойной работы микросхемы при воздействии импульсного ионизирующего излучения.

Наиболее близким аналогом - прототипом - изобретения является [2] способ разбраковки партии интегральных запоминающих устройств по радиационной стойкости к действию ионизирующего излучения, преимущественно по уровню бессбойной работы, включающий отбор из партии интегральных микросхем представительной выборки запоминающих устройств для испытания, нумерацию, измерение электрических параметров и радиационные испытания этих микросхем, проведение разбраковки всей партии запоминающих устройств на группы стойкости, включая маркировку, при этом до проведения измерения электрических параметров выборки микросхем на шины питания каждой микросхемы подают линейно возрастающее до номинального значения напряжение питания и считывают поэлементно в дополнительное запоминающее устройство контроллера содержимое матрицы элементов памяти испытываемого запоминающего устройства, затем это содержимое поразрядно инвертируют в контроллере в тестовый информационный массив, который записывают в те же элементы памяти соответствующего испытываемого запоминающего устройства, при проведении электрических измерений определяют для каждой микросхемы выборки значение времени сохранения соответствующего тестового информационного массива в элементах памяти запоминающего устройства при импульсном отключении напряжения питания микросхемы, после проведения радиационных испытаний устанавливают для выборки микросхем корреляционную взаимосвязь значений времени сохранения тестового информационного массива при импульсном отключении напряжения питания микросхем и уровней бессбойной работы этих микросхем при воздействии ИИ и определяют по размаху значений уровня бессбойной работы количество групп разбраковки и соответствующие им граничные значения времени сохранения тестового информационного массива, при разбраковке партии запоминающих устройств по группам стойкости подают на шины питания поочередно каждой микросхемы линейно возрастающие до номинального значения напряжения питания, поэлементно считывают содержимое матрицы элементов памяти этой микросхемы в контроллер, поразрядно инвертируют это содержимое в тестовый информационный массив, который записывают в те же элементы памяти классифицируемой микросхемы, измеряют время сохранения тестового информационного массива в элементах памяти этой микросхемы при импульсном отключении напряжения питания, по численному значению которого маркируют микросхему меткой соответствующей группы.

Недостатками этого способа являются:

- невозможность определения работоспособности ОЗУ с повышенными требованиями к УБР (при наличии RC-цепи в ячейках памяти);

- непрямое (косвенное) прогнозирование УБР микросхем памяти по времени сохранения тестового информационного массива при импульсном отключении напряжения питания, что не гарантирует попадание к потребителю приборов с высоким УБР;

- отсутствие взаимосвязи между временем сохранения тестового информационного сигнала и записываемым в память ОЗУ информационным кодом;

- определение УБР методами воздействия на определительную выборку микросхем гамма-излучения приводит к необратимым изменениям параметров микросхем и невозможности их дальнейшего применения;

- сложность проведения процесса разбраковки.

Технический результат заключается в том, что предложенный способ позволяет имитировать импульсное ионизирующее излучение (ИИИ), проводить разбраковку микросхем ОЗУ по параметру «уровень бессбойной работы» в процессе изготовления и определять реальный УБР и работоспособность RC-цепи в каждой ячейке и каждой конкретной микросхемы ОЗУ в целом к воздействию ИИИ.

Технический результат достигается тем, что в заявляемом способе разбраковки микросхем ОЗУ по уровню бессбойной работы путем определения сохранности записанной тестовой информации разбраковка микросхем ОЗУ по стойкости к воздействию ИИИ происходит в процессе изготовления микросхем на всех изделиях изготавливаемой партии путем облучения не менее двух раз микросхем импульсным излучением лазера, имитирующего воздействие гамма-излучения по требуемому уровню УБР, с последующим определением сохранности предварительно записанной в микросхему информации, а в качестве информационного кода используются коды «диагональ» и «инверсная диагональ».

На фиг.1 показана топология ячейки памяти ОЗУ с повышенными требованиями к уровню бессбойной работы. Сохранность информации в ячейках памяти ОЗУ при высоких уровнях воздействия мощности дозы осуществляется при помощи RC-цепочки, включенной между плечами триггера ячейки (фиг.1) [3].

RC-цепь - это конденсатор емкостью порядка 0,6-0,8 пФ и резистор сопротивлением порядка 30-40 кОм. Конденсатор образован, как правило, легированной фосфором активной структурой (нижней обкладкой), тонким слоем окисла (порядка 300-400 ангстрем) и поликремнием в слое «затворы» (верхняя обкладка). Резистор образован, как правило, из активной структуры с высоким сопротивлением.

Примерные площади, занимаемые на кристалле элементами RC-цепи (в одной ячейке): конденсатор - 1500 мкм2, резистор - 75 мкм2.

Отсюда - основная особенность стойкого к УБР ОЗУ - большую часть площади кристалла занимают конденсаторы в ячейках (например, для ОЗУ с информационной емкостью 64 кбит общая площадь конденсаторов составит 100 мм2).

Роль RC-цепочки заключается в «запоминании» состояния триггера «0» или «1» и восстановлении этого состояния после окончания действия ИИИ. Постоянная времени RC-цепочки выбирается значительно больше, чем длительность ИИИ, таким образом, чтобы во время действия ИИИ заряд конденсатора изменился не существенно. В нормальных условиях работы микросхемы, в отсутствие воздействия ИИИ и образования ионизационных токов, наличие RC-цепочки в схеме ячейки памяти не сказывается на работе микросхемы и не имеется возможности проверить стойкость ячейки к УБР иначе, как подать на микросхему импульсное ионизирующее излучение. Дефектность исходных структур и привносимая при изготовлении микросхем дефектность могут привести к изменению расчетного номинала RC-цепочки, что скажется на УБР готовых микросхем, а значит, на их годности сохранять информацию в требуемых условиях.

Радиационная отбраковка образцов микросхем, собранных на полиимидные носители, по параметру УБР осуществлялась на основе результатов контроля сохранности информации в накопителе микросхемы после эквивалентного воздействия ИИИ с уровнем, соответствующим требуемому уровню стойкости микросхем. Контроль сохранности информации проводили при напряжениях питания Ucc=4,5 B в следующей последовательности. До воздействия во все ячейки памяти БИС записывался информационный код. Во время воздействия БИС работала в режиме хранения информации. После воздействия производилось считывание информации из ячеек памяти БИС и сравнение ее с записанной до воздействия. Критерием работоспособности являлось совпадение считанной и записанной информации после двух воздействий ИИИ, при условии, что сбоя в хранении информации не наблюдалось после каждого воздействия.

При функциональном контроле применялись информационные коды «диагональ» и «инверсная диагональ», так как они являются наименее устойчивыми к импульсному воздействию [4].

Список литературы

1. Чернышев А.А., Ведерников В.В., Галеев А.И., Горюнов Н.Н. Радиационная отбраковка полупроводниковых приборов и интегральных схем. - Зарубежная электронная техника, 1979. Вып.5, С.3-25.

2. Способ разбраковки партии интегральных запоминающих устройств по радиационной стойкости (Патент РФ №2149417, МПК G01R 31/28, G06F 11/22, опубл. 20.05.2000, ретроспективный комплект описаний изобретений РФ за 2000 г. на DVD) (прототип).

3. Киргизова А.В., Григорьев Н.Г., Петров А.Г. Проблемы одновременного обеспечения высокой сбоеустойчивости и информационной емкости ОЗУ при применении RC-цепей в ячейках памяти. - Сб. научных трудов. Т.1 - М.: МИФИ, 2006, С.185-186.

4. Киргизова А.В. Влияние информационного кода на сбоеустойчивость КМОП КНС ОЗУ. - Электроника, микро- и наноэлектроника. Сб. научных трудов. - М.: МИФИ, 2004, С.321-325.

Способ разбраковки микросхем ОЗУ по уровню бессбойной работы путем определения сохранности записанной тестовой информации, отличающийся тем, что разбраковка микросхем ОЗУ по стойкости к воздействию импульсного ионизирующего излучения происходит в процессе изготовления микросхем на всех изделиях изготавливаемой партии путем облучения не менее двух раз микросхем импульсным излучением лазера, имитирующего воздействие гамма-излучения по требуемому уровню бесперебойной работы, с последующим определением сохранности предварительно записанной в микросхему информации, а в качестве информационного кода используются коды «диагональ» и «инверсная диагональ».
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 1-5 из 5.
17.04.2019
№219.017.1635

Радиопередающее устройство

Изобретение относится к области радиотехники и может использоваться в радиотелеметрических системах. Достигаемый технический результат - повышение надежности получения информации об объекте в режиме обнаружения и поиска. Радиопередающее устройство содержит источник постоянного тока, блок...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002422988
Дата охранного документа: 27.06.2011
17.04.2019
№219.017.1648

Абсолютный датчик угла поворота

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного определения положения вала электродвигателя. Технический результат - повышение радиационной стойкости упрощение схемы обработки сигнала. Сущность изобретения заключается в том, что абсолютный датчик угла...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002436037
Дата охранного документа: 10.12.2011
09.05.2019
№219.017.4f73

Способ навигации движущихся объектов

Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано в различных системах локации, предназначенных для определения местоположения движущихся объектов (ДО). Технический результат - повышение быстродействия и помехоустойчивости. Для достижения данного результата осуществляют...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002406071
Дата охранного документа: 10.12.2010
18.05.2019
№219.017.5720

Высокотемпературный коаксиальный кабельный разъем

Изобретение относится к радиотехнике, в частности к устройствам считывания информации с объектов, подвергающихся воздействию повышенных температур. Высокотемпературный коаксиальный кабельный разъем состоит из узла подключения к внешнему источнику ВЧ-энергии, содержащего корпус с установленными...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002384922
Дата охранного документа: 20.03.2010
14.07.2019
№219.017.b4b8

Способ оперативного определения объемного содержания жидкой фазы в газожидкостном потоке и устройство для его осуществления

Способ оперативного определения объемного содержания жидкой фазы в газожидкостном потоке заключается в изокинетическом отборе пробы из газопровода, отсечке фильтром жидкой фазы и последующем измерении ее объемной доли при фиксированном объемном расходе газожидкостной смеси. При этом...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002445581
Дата охранного документа: 20.03.2012
Показаны записи 1-10 из 10.
27.10.2013
№216.012.79eb

Штамм энтеровируса коксаки в6, селективно инфицирующий и лизирующий опухолевые клетки человека in vitro

Изобретение относится к области вирусологии и касается штамма вируса Коксаки В6. Описанный штамм получен посредством проведения серии адаптационных пассажей родительского штамма вируса ЖЭВ-15 Коксаки В6 на высокочувствительной к данному вирусу культуре клеток НЕК293 и неопластической клеточной...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002496873
Дата охранного документа: 27.10.2013
10.02.2014
№216.012.9db9

Тетраэтил-2-(2,2,6,6-тетраметилпиперидин-4-иламино)-этилен-1,1-бисфосфонат, обладающий противоопухолевой активностью

Изобретение относится к противоопухолевому соединению формулы Предложено новое противоопухолевое соединение, обладающее высоким индексом селективности по отношению к раковым клеткам в сравнении с клетками нормального фенотипа и выраженным противоопухолевым действием в отношении опухолей...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002506085
Дата охранного документа: 10.02.2014
20.02.2015
№216.013.2850

Рекомбинантная плазмидная днк pcdna4-apo-2nls2, несущая синтетический ген белка апоптина, индуцирующего p53 независимый апоптоз опухолевых клеток

Изобретение относится к области молекулярной биологии, конкретно к рекомбинантной экспрессии апоптина, и может быть использовано в качестве противоопухолевого терапевтического трансгена. Сконструированная плазмидная ДНК pcDNA4-Apo-2NLS2 имеет молекулярную массу 5,13 мДа, размер 7896 п.н. и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002541777
Дата охранного документа: 20.02.2015
20.10.2015
№216.013.85a0

Штамм энтеровируса а71 типа субгенотипа с4, используемый для диагностики и изучения эффективности лечебно-профилактических и вакцинных препаратов

Предложен штамм энтеровируса человека А71 типа субгенотипа С4. Штамм депонирован в Коллекции микроорганизмов ФБУН ГНЦ ВБ «Вектор» Роспотребнадзора под регистрационным номером V-670. Штамм предназначен для диагностики, изучения эффективности и создания лечебно-профилактических и вакцинных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002565811
Дата охранного документа: 20.10.2015
19.07.2018
№218.016.722d

Способ расчетно-экспериментальной оценки радиационной стойкости интегральных схем к воздействию отдельных заряженных частиц, основанный на локальном лазерном облучении

Cпособ относится к области исследований радиационной стойкости изделий полупроводниковой электроники, в частности интегральных схем, к воздействию ионизирующих излучений. Способ оценки радиационной стойкости интегральных схем к воздействию отдельных заряженных частиц, основанный на локальном...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002661556
Дата охранного документа: 17.07.2018
17.04.2019
№219.017.164a

Способ разбраковки кмоп микросхем, изготовленных на кнд структурах, по радиационной стойкости

Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для разбраковки КМОП микросхем, изготовленных на КНД ("кремний на диэлектрике") структурах, по радиационной стойкости. Технический результат: не требуется облучение каждой микросхемы источниками радиационного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002444742
Дата охранного документа: 10.03.2012
18.05.2019
№219.017.586f

Способ разбраковки кмоп микросхем, изготовленных на кнд структурах, по стойкости к радиационному воздействию

Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для разбраковки КМОП микросхем, изготовленных на КНД структурах, по радиационной стойкости. Технический результат - сокращение времени восстановления микросхем, проведение разбраковки по одному параметру, определение...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002364880
Дата охранного документа: 20.08.2009
20.05.2019
№219.017.5d5c

Способ отбраковки кмоп микросхем, изготовленных на кнд структурах, по стойкости к радиационному воздействию

Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для отбраковки КМОП микросхем, изготовленных на КНД (кремний на диэлектрике) структурах, по радиационной стойкости. Способ отбраковки КМОП микросхем, изготовленных на КНД структурах, по стойкости к радиационному...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002411527
Дата охранного документа: 10.02.2011
29.06.2019
№219.017.9f08

7-[n'-(4-трифторметилбензоил)-гидразинокарбонил]-трицикло[3.2.2.0]нон-8-ен-6-карбоновая кислота, обладающая противовирусной активностью

Изобретение относится к новому трициклическому соединению, конкретно 7-[N'-(4-тpифтopмeтилбeнзoил)-гидpaзинoкapбoнил]-тpициклo[3.2.2.0]нoн-8-ен-6-карбоновой кислоте формулы I, обладающей противовирусной активностью по отношению к ортопоксвирусам, которая может найти применение в медицине....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002412160
Дата охранного документа: 20.02.2011
03.07.2020
№220.018.2df0

Способ переработки шунгита

Изобретение относится к способам переработки углеродсодержащей горной породы – шунгита, и может быть использовано для фильтрации воды на водопроводных очистных сооружений, в качестве засыпки в бытовых фильтрах для очистки бытовой воды, для очистки сточных вод, отделения нефтепродуктов. Исходное...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002725233
Дата охранного документа: 30.06.2020
+ добавить свой РИД