×
09.06.2018
218.016.5c7f

Результат интеллектуальной деятельности: УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УПРУГИХ ПОСТОЯННЫХ МАЛОПЛАСТИЧНЫХ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ ПРИ ПОВЫШЕННОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов оптическими средствами измерения путем приложения к ним сжимающих статических нагрузок. Устройство содержит основание с неподвижной плитой и подвижную плиту. На основании установлены лазер, светоделитель и зеркало. Луч, отразившийся от светоделителя, направляется в интерферометр продольных деформаций, а луч, прошедший через светоделитель, направляется зеркалом в интерферометр поперечных деформаций. В устройстве использованы четырехходовые интерферометры, каждый из которых включает в себя поляризованный светоделитель, делящий луч лазера на рабочий и эталонный лучи, два ретроотражателя, четвертьволновую и поляризационную пластины. В интерферометре поперечных деформаций расположены шесть обводных зеркал, направляющих луч рабочего плеча на две противоположные зеркально-полированные боковые поверхности исследуемого образца прямоугольного сечения. В рабочем плече интерферометра продольных деформаций расположены зеркально-полированная поверхность подвижной плиты, обращенная к неподвижной плите, и две зеркально-полированные наклонные под углом 45 градусов поверхности неподвижной плиты, центры которых находятся в одной плоскости с продольной осью исследуемого образца симметрично относительно нее. С наружных сторон плит установлены электроды, подключенные к источнику постоянного тока. Между одной из плит и соответствующим электродом помещен слой полупроводника. Слой полупроводника может быть также помещен между второй плитой и вторым электродом. Образец устанавливают между плитами, задают предварительную нагрузку, пропускают электрический ток между электродами. После нагрева образца его деформируют, непрерывно регистрируют силу нагружения и температуру образца с помощью термопары. Счет переместившихся интерференционных линий производится с помощью последовательно расположенных после интерферометров по ходу отраженных лучей рабочих плеч соответственно двух коллиматоров, двух диафрагм, двух фотоприемников и электронной схемы обработки. Технический результат – повышение точности измерений упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при высоких температурах. 1 з.п. ф-лы, 5 ил.

Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов оптическими средствами измерения путем приложения к ним сжимающих статических нагрузок.

Известно устройство для измерения деформаций (а.с. СССР №958851, МПК3 G01B 11/16, опубл. 15.09.82, Бюл. №34), содержащее основание, установленные на основании лазер, расположенный по ходу его излучения светоделитель, зеркало, образующее эталонное плечо интерферометра, два измерительных штока, подпружиненных в осевом направлении, три зеркала, расположенных в рабочем плече интерферометра, последовательно расположенные коллиматор, диафрагму, фотоприемник и электронную схему обработки, а также два зеркала, установленных на торцах измерительных штоков.

Недостатком известного устройства является низкая точность вследствие использования контактного метода измерения.

Наиболее близким техническим решением, взятым за прототип, является устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов (пат. РФ №1744445, МПК5 G01B 11/00, опубл. 30.06.92, Бюл. №24), которое содержит основание с неподвижной плитой и подвижную в продольном направлении плиту. Между плитами расположен исследуемый образец прямоугольного сечения с одной зеркально-полированной боковой поверхностью. На основании установлен лазер, расположенные по ходу его излучения светоделитель и зеркало, отраженные лучи от которых образуют эталонные плечи двуплечих интерферометров соответственно поперечных и продольных деформаций. После интерферометров по ходу отраженных лучей рабочих плеч последовательно расположены два коллиматора, две диафрагмы, два фотоприемника и электронная схема обработки. При этом рабочее плечо интерферометра продольных деформаций образует зеркало, установленное на подвижной плите, а рабочее плечо интерферометра поперечных деформаций образует зеркально-полированная боковая поверхность исследуемого образца. Устройство может быть также снабжено тремя зеркалами, расположенными по ходу излучения в рабочем плече интерферометра поперечных деформаций. В этом случае луч рабочего плеча направляется под углом относительно нормали к передней зеркальной поверхности исследуемого образца.

Недостатками известного устройства являются недостаточная точность измерений из-за погрешностей, возникающих под воздействием силы нагружения от просадки неподвижной плиты и взаимного перекоса плит, погрешности, связанной с направлением луча рабочего плеча под углом относительно нормали к передней зеркальной поверхности исследуемого образца, низкой чувствительности, а также невозможность проведения измерений на нагретом образце из-за быстрой потери тепла, связанной с его стоком в плиты пресса и длительностью установки и настройки.

Задачей изобретения является повышение точности измерений упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при высоких температурах.

Поставленная задача решается за счет технических результатов, заключающихся в использовании дифференциальной схемы измерения длины образца, использовании четырехходовых оптических систем интерферометров поперечных и продольных деформаций и реализации нагрева образца в его рабочем положении непосредственно до и во время проведения испытания. Это достигается тем, что устройство содержит основание с неподвижной плитой и подвижную плиту. Между плитами расположен исследуемый образец прямоугольного сечения с двумя противоположными зеркально-полированными боковыми поверхностями. На основании установлены лазер, расположенные по ходу его излучения светоделитель и зеркало. Луч, отразившийся от светоделителя, направляется в интерферометр продольных деформаций, а луч, прошедший через светоделитель, направляется зеркалом в интерферометр поперечных деформаций. После интерферометров по ходу отраженных лучей рабочих плеч последовательно расположены два коллиматора, две диафрагмы, два фотоприемника и электронная схема обработки. С наружных сторон плит установлены электроды, подключенные к источнику постоянного тока, между одной из плит и соответствующим электродом помещен слой полупроводника. Установлена термопара, контактирующая с исследуемым образцом и связанная электрически с электронной схемой обработки.

В оптической системе измерения продольной деформации образца использован четырехходовой интерферометр, включающий поляризованный светоделитель, делящий луч лазера на рабочий и эталонный лучи, четвертьволновую и поляризационную пластины и два ретроотражателя. При этом в рабочем плече интерферометра продольных деформаций расположены зеркально-полированная поверхность подвижной плиты, обращенная к неподвижной плите, и две зеркально-полированные наклонные под углом 45 градусов поверхности неподвижной плиты, центры которых находятся в одной плоскости с продольной осью исследуемого образца симметрично относительно нее. В оптической системе измерения поперечной деформации образца также использован четырехходовой интерферометр, включающий поляризованный светоделитель, делящий луч лазера на рабочий и эталонный лучи, четвертьволновую и поляризационную пластины, два ретроотражателя и шесть обводных зеркал для рабочего луча. Причем в рабочем плече интерферометра поперечных деформаций расположены две противоположные зеркально-полированные боковые поверхности исследуемого образца. Для получения более стабильного прогрева образца между второй плитой и вторым электродом также может быть помещен слой полупроводника.

На фиг. 1 изображена оптико-механическая схема устройства; на фиг. 2 - оптическая схема измерения продольной деформации исследуемого образца с использованием четырехходового интерферометра; на фиг. 3 - оптическая схема измерения поперечной деформации исследуемого образца с использованием четырехходового интерферометра; на фиг. 4 - схема компенсации погрешностей, возникающих из-за просадки неподвижной плиты, за счет сохранения величины хода рабочего луча при использовании двух зеркально-полированных поверхностей неподвижной плиты, расположенных под углом 45 градусов, на фиг. 5 - схема компенсации погрешностей, возникающих из-за возможного взаимного перекоса плит.

Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре содержит основание 1 с неподвижной плитой 2 и подвижную плиту 3. Между плитами 2 и 3 расположен исследуемый образец 4 прямоугольного сечения с двумя противоположными зеркально-полированными боковыми поверхностями 5 и 6. На основании 1 установлены лазер 7, расположенные по ходу его излучения светоделитель 8 и зеркало 9. Луч, отразившийся от светоделителя 8, направляется в интерферометр 10 продольных деформаций. Луч, прошедший через светоделитель 8 и отразившийся от зеркала 9, направляется в интерферометр 11 поперечных деформаций. После интерферометров 10 и 11 по ходу отраженных лучей рабочих плеч последовательно расположены два коллиматора 12 и 13, две диафрагмы 14 и 15, два фотоприемника 16 и 17 и электронная схема обработки 18. С наружных сторон плит 2 и 3 установлены электроды 19 и 20, подключенные к источнику постоянного тока 21. Между одной из плит 2 и соответствующим электродом 20 помещен слой полупроводника 22. Установлена термопара 23, контактирующая с исследуемым образцом 4 и связанная электрически с электронной схемой обработки 18.

Четырехходовой интерферометр 10 продольных деформаций включает поляризованный светоделитель 24, делящий луч лазера 7 на рабочий и эталонный лучи, два ретроотражателя 25 и 26, четвертьволновую пластину 27 и поляризационную пластину 28. При этом в рабочем плече интерферометра 10 продольных деформаций расположены зеркально-полированная поверхность 29 подвижной плиты 3, обращенная к неподвижной плите 2, и две зеркально-полированные наклонные под углом 45 градусов поверхности 30 и 31 неподвижной плиты 2, центры которых находятся в одной плоскости с продольной осью исследуемого образца 4 симметрично относительно нее. Четырехходовой интерферометр 11 поперечных деформаций включает поляризованный светоделитель 32, делящий луч лазера 7 на рабочий и эталонный лучи, четвертьволновую пластину 33, поляризационную пластину 34, два ретроотражателя 35 и 36 и шесть обводных зеркал 37 и 38 для рабочего луча. Причем в рабочем плече интерферометра 11 поперечных деформаций расположены две противоположные зеркально-полированные боковые поверхности 5 и 6 исследуемого образца 4. Для получения более стабильного прогрева образца 4 между второй плитой 3 и вторым электродом 19 также может быть помещен слой полупроводника.

Устройство работает следующим образом.

Излучение лазера 7 делится светоделителем 8 на два пучка, один из которых, отразившийся от светоделителя 8, направляется в интерферометр 10 продольных деформаций, а другой, прошедший через светоделитель 8 и отразившийся от зеркала 9, направляется в интерферометр 11 поперечных деформаций. Продольная деформация образца 4 регистрируется с помощью четырехходового интерферометра 10. Поляризованный под углом 45 градусов луч лазера 7 делится поляризованным светоделителем 24 интерферометра 10 на рабочий и эталонный лучи. Рабочий луч, образуемый путем прохождения через наклонную поверхность поляризованного светоделителя 24, получает горизонтальную поляризацию, а отразившийся от наклонной поверхности эталонный луч - вертикальную поляризацию. Установленная по ходу рабочего луча четвертьволновая пластина 27 меняет поляризацию рабочего луча на круговую с направлением по часовой стрелке.

С помощью зеркально-полированной поверхности 30 неподвижной плиты 2, расположенной под углом 45 градусов, рабочий луч направляется вдоль оси симметрии исследуемого образца на зеркально-полированную поверхность 29 подвижной плиты 3, а после отражения от последней обретает противоположное направление круговой поляризации и возвращается тем же путем на четвертьволновую пластину 27, пройдя которую приобретает вертикальную поляризацию.

Далее рабочий луч отражается от наклонной поверхности поляризованного светоделителя 24 без изменения плоскости поляризации и направляется в ретроотражатель 26. После прохождения ретроотражателя 26 и отразившись от наклонной поверхности поляризованного светоделителя 24, рабочий луч снова проходит через четвертьволновую пластину 27 со сменой вертикальной поляризации на круговую с направлением против часовой стрелки. С помощью зеркально-полированной поверхности 31, расположенной под углом 45 градусов с другой стороны неподвижной плиты 2, рабочий луч снова направляется вдоль оси симметрии исследуемого образца на зеркально-полированную поверхность 29 подвижной плиты 3, а после отражения от последней обретает противоположное направление круговой поляризации и снова возвращается тем же путем на четвертьволновую пластину 27. Пройдя сквозь последнюю, рабочий луч приобретает горизонтальную поляризацию, проходит через наклонную поверхность поляризованного светоделителя 24 и совмещается с эталонным лучом, который направляется туда же ретроотражателем 25. Далее совмещенные эталонный и рабочий лучи проходят через поляризационную пластину 28, на которой плоскости поляризации лучей совмещаются, в результате чего происходит их интерференция.

Поперечная деформация образца 4 регистрируется с помощью четырехходового интерферометра 11. Поляризованный под углом 45 градусов луч лазера 7 делится поляризованным светоделителем 32 интерферометра 11 на рабочий и эталонный лучи. Рабочий луч, образуемый путем прохождения через наклонную поверхность поляризованного светоделителя 32, получает горизонтальную поляризацию, а отразившийся от наклонной поверхности эталонный луч - вертикальную поляризацию. Установленная по ходу рабочего луча четвертьволновая пластина 33 меняет поляризацию рабочего луча на круговую с направлением по часовой стрелке. С помощью трех обводных зеркал 37 рабочий луч направляется на зеркально-полированную боковую поверхность 5 исследуемого образца 4. После отражения от зеркально-полированной боковой поверхности 5 рабочий луч обретает противоположное направление круговой поляризации и возвращается тем же путем на четвертьволновую пластину 33, пройдя которую приобретает вертикальную поляризацию.

Далее рабочий луч отражается от наклонной поверхности поляризованного светоделителя 32 без изменения плоскости поляризации и направляется в ретроотражатель 36. После прохождения ретроотражателя 36 и отразившись от наклонной поверхности поляризованного светоделителя 32 рабочий луч снова проходит через четвертьволновую пластину 33 со сменой вертикальной поляризации на круговую с направлением против часовой стрелки. С помощью трех обводных зеркал 38 рабочий луч направляется на противоположную зеркально-полированную боковую поверхность 6 исследуемого образца 4, отразившись от которой, меняет направление круговой поляризации на противоположное и возвращается тем же путем на четвертьволновую пластину 33. Пройдя сквозь последнюю, рабочий луч приобретает горизонтальную поляризацию, проходит через наклонную поверхность поляризованного светоделителя 32 и совмещается с эталонным лучом, который направляется туда же ретроотражателем 35. Далее совмещенные эталонный и рабочий лучи проходят через поляризационную пластину 34, на которой их плоскости поляризации совмещаются, в результате чего происходит их интерференция.

Счет переместившихся интерференционных линий производится с помощью последовательно расположенных после интерферометров 10 и 11 по ходу отраженных лучей рабочих плеч соответственно двух коллиматоров 12 и 13, двух диафрагм 14 и 15, двух фотоприемников 16 и 17 и электронной схемы обработки 18.

Перед испытанием исследуемый образец 4 прямоугольного сечения устанавливают между плитами 2 и 3, соблюдая перпендикулярность его зеркально-полированных боковых поверхностей 5 и 6 направлению лучей рабочего плеча интерферометра 11 поперечных деформаций. Далее задают предварительную нагрузку на образец 4. Пропускают постоянный электрический ток между электродами 19 и 20 через образец 4, плиты 2 и 3 и слой полупроводника 22. При прохождении электрического тока через слой полупроводника 22 выделяется тепло, благодаря которому происходит нагрев плиты 2 и соответственно образца 4. В процессе испытания после нагрева исследуемого образца 4 его деформируют, непрерывно регистрируют температуру образца 4 с помощью термопары 23 и силу нагружения Р и ведут счет чисел n и m интерференционных линий с помощью фотоприемников 16 и 17, а результаты измерений записывают и обрабатывают с помощью электронной схемы обработки 18, в качестве которой может быть использована ПЭВМ. По изменению интерференционных картин определяют деформации материала, а модуль упругости Е и коэффициент Пуассона μ определяют по формулам:

; ,

где Р - сила нагружения;

n и m - числа считанных интерференционных линий соответственно в интерферометрах продольной и поперечной деформаций;

а - толщина образца между его зеркально-полированными боковыми поверхностями;

l и b - длина и ширина образца соответственно;

λ - длина волны источника когерентного монохроматического излучения.

Для получения более стабильного прогрева образца 4 между второй плитой 3 и вторым электродом 19 также помещают слой полупроводника.

Направление луча рабочего плеча интерферометра 10 продольных деформаций на зеркально-полированную поверхность 29 подвижной плиты 3 через предварительно-изготовленные на неподвижной плите 2 под углом 45 градусов зеркально-полированные поверхности 30 и 31, центры которых находятся в одной плоскости с продольной осью исследуемого образца симметрично относительно нее, позволяет реализовать дифференциальную схему измерения длины образца 4 и, таким образом, автоматически компенсировать погрешности Δl, возникающие из-за просадки неподвижной плиты 2, за счет сохранения величины хода луча рабочего плеча, а также компенсировать погрешность Δl1 взаимного перекоса плит. Кроме того, использование четырехходовых интерферометров для измерения продольной и поперечной деформаций позволяет увеличить чувствительность устройства и, соответственно, повысить точность измерения упругих постоянных, а также устранить погрешность, которая возникает в случае направления луча рабочего плеча интерферометра поперечных деформаций под углом относительно нормали к передней зеркальной поверхности исследуемого образца.

Таким образом, описанное устройство, благодаря использованию дифференциальной схемы измерения длины образца, использованию четырехходовых интерферометров для измерения продольной и поперечной деформаций и реализации нагрева образца в его рабочем положении непосредственно перед проведением испытания, позволяет реализовать определение упругих постоянных материала малопластичных металлов и сплавов при высоких температурах с высокой точностью.


УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УПРУГИХ ПОСТОЯННЫХ МАЛОПЛАСТИЧНЫХ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ ПРИ ПОВЫШЕННОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УПРУГИХ ПОСТОЯННЫХ МАЛОПЛАСТИЧНЫХ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ ПРИ ПОВЫШЕННОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УПРУГИХ ПОСТОЯННЫХ МАЛОПЛАСТИЧНЫХ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ ПРИ ПОВЫШЕННОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УПРУГИХ ПОСТОЯННЫХ МАЛОПЛАСТИЧНЫХ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ ПРИ ПОВЫШЕННОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 101-110 из 184.
09.06.2018
№218.016.6007

Бесступенчатая передача с планетарным механизмом с выходом на водило

Изобретение относится к трансмиссиям. Бесступенчатая передача содержит фрикционный вариатор и простой трехзвенный планетарный механизм, состоящий из солнечной шестерни, эпициклического колеса и водила с сателлитами. Входной и выходной валы установлены параллельно. На входном валу закреплен...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002656941
Дата охранного документа: 07.06.2018
09.06.2018
№218.016.6011

Реверсивная (20r20) несоосная 24-х ступенчатая вально-планетарная коробка передач типа 24r28

Изобретение относится к несоосной коробке передач типа 24R28. На входе МКП на двух параллельных валах свободно установлены три ряда шестерен переднего хода и ряд шестерен заднего хода для реверса, простой трехзвенный ПМ, состоящий из водила с сателлитами, которые зацеплены с солнечной шестерней...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002656930
Дата охранного документа: 07.06.2018
09.06.2018
№218.016.602c

Несоосная 24-х ступенчатая вально-планетарная коробка передач

Изобретение относится к машиностроению. Несоосная вально-планетарная коробка передач содержит два вала, на которых свободно установлены два ряда шестерен заднего хода и три пары шестерен прямого хода, простой трехзвенный планетарный механизм, состоящий из водила с сателлитами, которые зацеплены...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002656944
Дата охранного документа: 07.06.2018
09.06.2018
№218.016.6053

Несоосная многоступенчатая вально-планетарная коробка передач с электроинерционным стартером

Изобретение относится к коробкам передач с электроиндукционным стартером. В коробке передач между маховиком и коленчатым валом двигателя расположена двухпозиционная муфта. На входе многоступенчатой коробке передач (МКП) на двух валах свободно установлены четыре ряда шестерен прямого хода, ряд...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002656942
Дата охранного документа: 07.06.2018
25.06.2018
№218.016.65f9

Способ определения оптимальной скорости резания

Способ относится к обработке жаропрочных сплавов на никелевой основе твердосплавным инструментом. По результатам кратковременных испытаний определяют температуру резания, при которой происходит изменение коэффициента сплошности стружки. На графике зависимости температуры резания от скорости...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002658559
Дата охранного документа: 21.06.2018
01.07.2018
№218.016.6990

Бесступенчатая передача с планетарным механизмом с выходом на эпициклическое колесо

Изобретение относится к трансмиссиям наземных транспортных средств. Бесступенчатая передача содержит фрикционный вариатор и простой трехзвенный планетарный механизм, состоящий из солнечной шестерни, эпициклического колеса и водила с сателлитами. Входной и выходной валы установлены параллельно,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002659368
Дата охранного документа: 29.06.2018
06.07.2018
№218.016.6cf5

Передний поворотный v-образный отвал

Изобретение относится к машиностроению, а именно к плужным снегоочистителям, применяемым для уборки снега с дорог и тротуаров и снабженным пассивным рабочим органом в виде отвала. Передний поворотный V-образный отвал состоит из отвала, полурам гидроцилиндра подъема-опускания рамы. Отвал состоит...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002660272
Дата охранного документа: 05.07.2018
06.07.2018
№218.016.6cfb

Карамель с начинкой функционального назначения, обладающая гиполипидемическими свойствами, способная улучшать процессы памяти

Изобретение относится к пищевой промышленности и касается технологии производства сахаристых кондитерских изделий. Карамель с начинкой функционального назначения состоит из сахара, воды, сиропа глюкозного, растительного фосфолипидно-минерального комплекса «Витол-ФЭМ-Са», биологически активной...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002660263
Дата охранного документа: 05.07.2018
06.07.2018
№218.016.6d2d

Способ получения воды из воздуха

Изобретение относится к способам автономного получения пресной воды путем испарения морской воды и конденсации паровоздушной смеси и может быть использовано для питьевого водоснабжения, а также для бытовых и хозяйственных нужд. Способ получения воды из воздуха включает насыщение воздуха...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002660273
Дата охранного документа: 05.07.2018
08.07.2018
№218.016.6e45

Способ определения режима многофазной смеси в трубопроводе с использованием cbr-технологий

Использование: для определения режима многофазной смеси в трубопроводе. Сущность изобретения заключается в том, что на внешней поверхности трубопровода устанавливается группа излучателей, одновременно являющихся приемниками, которая прозвучивает (зондирует) ультразвуковыми колебаниями заданной...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002660411
Дата охранного документа: 06.07.2018
Показаны записи 11-15 из 15.
13.02.2018
№218.016.2419

Дилатометр

Изобретение относится к области исследования материалов с помощью теплофизических измерений, а именно к устройствам для измерения температурного коэффициента линейного расширения (ТКЛР). Дилатометр содержит камеру нагрева со съемной трубкой, в которой горизонтально установлены исследуемый...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002642489
Дата охранного документа: 25.01.2018
10.05.2018
№218.016.47b3

Способ исследования деформации материала

Изобретение относится к оптическим способам измерения деформаций в области исследования механических свойств материалов, в частности инструментальных сталей и твердых сплавов, путем приложения сжимающих статических нагрузок. В способе исследования деформаций материала полируют одну из боковых...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002650746
Дата охранного документа: 17.04.2018
10.05.2018
№218.016.47b7

Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре

Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов оптическими средствами измерения путем приложения к ним сжимающих статических нагрузок. Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре содержит основание с неподвижной...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002650740
Дата охранного документа: 17.04.2018
10.05.2018
№218.016.47e0

Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре

Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов оптическими средствами измерения путем приложения к ним сжимающих статических нагрузок. Устройство содержит основание с неподвижной плитой и подвижную плиту. На основании установлены лазер, расположенные по ходу его излучения...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002650741
Дата охранного документа: 17.04.2018
10.05.2018
№218.016.47f7

Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре

Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов оптическими средствами измерения путем приложения к ним сжимающих статических нагрузок. Устройство содержит основание с неподвижной плитой и подвижную плиту. На основании установлены лазер, светоделитель и зеркало, с помощью...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002650742
Дата охранного документа: 17.04.2018
+ добавить свой РИД