×
27.03.2015
216.013.3636

Результат интеллектуальной деятельности: РЕЦИРКУЛЯЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем. Формируют стартовый и стоповый импульсы заданной длительности и с заданной длительностью интервала между ними, превышающей длительность стартового импульса. Стартовый и стоповый импульсы подают на два параллельных канала, каждый из которых содержит схему ИЛИ и регулируемую линию задержки. Контролируемую микросхему включают в канал стопового импульса. При одном цикле рециркуляции стартовый импульс проходит канал, первый коммутатор, общую линию задержки, второй коммутатор и возвращается на схему ИЛИ канала. Стартовый импульс управляет коммутаторами, которые переключают общую линию задержки к каналу стопового импульса. Аналогичный путь проходит стоповый импульс, только по каналу с контролируемой микросхемой. Стоповый импульс также управляет коммутаторами, которые переключают общую линию задержки к каналу стартового импульса. Предварительно регулируемыми линиями задержки добиваются равенства задержек, вносимых параллельными каналами без подключенной контролируемой микросхемы. Измеряют длительность временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульса при завершении всех циклов рециркуляции, по которой и определяют искомую величину. Длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки. Технический результат заключается в уменьшении погрешности измерения. 2 ил.
Основные результаты: Рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем, включающий формирование стартового и стопового импульсов одинаковой длительности; передачу и поочередную рециркуляцию стартового и стопового импульсов по двум параллельным каналам с переключением каналов с помощью двух коммутаторов, и каждый из каналов содержит линию задержки; измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество N циклов рециркуляции, отличающийся тем, что стартовый и стоповый импульсы поступают в начале первого цикла рециркуляции на первые объединенные входы двух схем ИЛИ каждого канала, а в начале следующих циклов проходят через вторые входы схем ИЛИ; и соединенные с выходом схем ИЛИ линии задержки каждого канала регулируемые; а контролируемую микросхему последовательно включают в канал рециркуляции стопового импульса, и длительность стартового и стопового импульсов и интервал между ними предварительно задают; а в цепь рециркуляции стартового и стопового импульсов включают общую для двух каналов линию задержки, которая подключается первым коммутатором или к каналу стартового импульса, или к каналу стопового импульса, а вторым коммутатором подключается или ко второму входу схемы ИЛИ канала стартового импульса, или ко второму входу схемы ИЛИ канала стопового импульса, при этом коммутаторы управляются или стоповым, или стартовым импульсами; и измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов осуществляют на вторых входах схем ИЛИ при достижении N+1 цикла рециркуляции, а искомую величину определяют по формуле: ,где T - измеренный временной интервал между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество циклов рециркуляции; N - количество циклов рециркуляции; τ - длительность стартового и стопового импульсов; T - первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами; при этом первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами должна превышать длительность стартового импульса; а длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки; причем перед подключением контролируемой микросхемы время задержки каналов выравнивают регулируемыми линиями задержки.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем.

Известен способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем путем вычитания из времени появления сигнала на выходе микросхемы времени поступления сигнала на вход по заданному уровню (см. ГОСТ 18683.2-83. Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров).

Недостатком известного способа является большая погрешность измерения времени задержки из-за малого измеряемого временного интервала. Время задержки распространения сигнала современных цифровых интегральных микросхем составляет десятки наносекунд и менее. Так, типовое время задержки КМОП микросхемы с напряжением питания 10 В составляет 25 нс, а с питанием 5 В составляет 35 нс.

Наиболее близким к заявленному изобретению по совокупности признаков способом того же назначения и принятым за прототип является рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала, включающий формирование стартового и стопового импульсов; передачу и поочередную рециркуляцию стартового и стопового импульсов по двум параллельным каналам, каждый из которых содержит линию задержки; и измерение временного интервала между их передними или задними фронтами через заданное количество циклов рециркуляции (см. А.С. СССР №474784, авторов Семенов А.Г., Игнатенков А.П. «Устройство дискретного измерения временных интервалов», опубликовано 25.06.1975, бюллетень №23).

Недостатком известного способа, принятого за прототип, является большая погрешность измерения временного интервала в диапазоне единиц наносекунд, так как стартовый и стоповый импульсы формируются по переднему и заднему фронту измеряемого импульса, и длительность стартового и стопового импульсов должна быть меньше длительности измеряемого временного интервала. При прохождении по каналам преобразования импульсы наносекундной длительности наиболее подвергнуты искажениям и при многократном прохождении импульсов по указанным каналам искажения и погрешности преобразования будут накапливаться.

Технический результат заключается в уменьшении погрешности измерения временного интервала в диапазоне единиц наносекунд.

Указанный технический результат достигается тем, что в известном рециркуляционном способе измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем, включающем формирование стартового и стопового импульсов одинаковой длительности; передачу и поочередную рециркуляцию стартового и стопового импульсов по двум параллельным каналам с переключением каналов с помощью двух коммутаторов, и каждый из каналов содержит линию задержки; измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество N циклов рециркуляции, отличие заключается в том, что стартовый и стоповый импульсы поступают в начале первого цикла рециркуляции на первые объединенные входы двух схем ИЛИ каждого канала, а в начале следующих циклов проходят через вторые входы схем ИЛИ; и соединенные с выходом схем ИЛИ линии задержки каждого канала регулируемые; а контролируемую микросхему последовательно включают в канал рециркуляции стопового импульса, и длительность стартового и стопового импульсов и интервал между ними предварительно задают; а в цепь рециркуляции стартового и стопового импульсов включают общую для двух каналов линию задержки, которая подключается первым коммутатором или к каналу стартового импульса, или к каналу стопового импульса, а вторым коммутатором подключается или ко второму входу схемы ИЛИ канала стартового импульса, или ко второму входу схемы ИЛИ канала стопового импульса, при этом коммутаторы управляются или стоповым, или стартовым импульсами; и измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов осуществляют на вторых входах схем ИЛИ при достижении N+1 цикла рециркуляции, а искомую величину определяют по формуле:

,

где Tизм - измеренный временной интервал между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество циклов рециркуляции; N - количество циклов рециркуляции; τ - длительность стартового и стопового импульсов; T0 - первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами; при этом первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами должна превышать длительность стартового импульса; а длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки; причем, перед подключением контролируемой микросхемы, время задержки каналов выравнивают регулируемыми линиями задержки.

Сущность изобретения заключается в следующем. Измерение малых временных интервалов проводят, как правило, рециркуляционным способом (см., например, Рециркуляционные преобразователи временного интервала в код: Учеб. пособие / Г.Н. Абрамов; Поволж. техн. ин-т сервиса, 85 с., М. Изд-во Гос. акад. сферы быта и услуг. 1998). В рециркуляционных измерителях малых временных интервалов сформированный одиночный импульс, равный по длительности измеряемому временному интервалу, многократно рециркулирует по каналу, содержащему схему ИЛИ и линию задержки. При достижении заданных N циклов рециркуляции определяют время задержки распространения сигнала TЗ=Tизм/N, где Tизм - длительность импульса задержки в конце всех циклов рециркуляции. Кроме рециркуляции одиночного импульса используют также (как это реализовано в прототипе) рециркуляцию двух импульсов - стартового и стопового по двум параллельным каналам. Стартовый и столовый импульсы формируются по переднему и заднему фронту одиночного импульса. Использование для рециркуляции стартового и стопового импульсов ограничено минимальной длительностью временного интервала. Сформированные по фронтам одиночного сигнала два импульса должны иметь меньшую длительность, чем длительность одиночного сигнала, что не всегда выполнимо.

Для устранения ограничений на длительность импульса измеряемого временного интервала длительность стартового и стопового импульсов в предложенном изобретении не формируют по фронтам сигнала, а предварительно задают (импульсы напряжения длительностью τ на рис.1в). Также задают и интервал T0 между импульсами. Длительность импульса τ при этом может намного превышать длительность измеряемого временного интервала.

Стартовый и стоповый импульсы поступают в начале первого цикла рециркуляции на первые объединенные входы двух схем ИЛИ каждого канала, а в начале следующих циклов проходят через вторые входы схем ИЛИ. Соединенные с выходом схем ИЛИ линии задержки каждого канала регулируемые. Контролируемую микросхему со временем задержки распространения сигнала TЗ последовательно включают в канал рециркуляции стопового импульса.

Предварительно перед подключением контролируемой микросхемы, регулируемыми линиями задержки добиваются одинаковой задержки Tк двух каналов, так как получить равные задержки подбором схем ИЛИ, особенно в диапазоне изменения температур окружающей среды, невозможно. В каждый момент времени работает один из параллельных каналов.

В цепь рециркуляции стартового и стопового импульсов включают общую для двух параллельных каналов линию задержки, которая подключается первым коммутатором или к каналу стартового импульса, или к каналу стопового импульса, а вторым коммутатором подключается или ко второму входу схемы ИЛИ канала стартового импульса, или ко второму входу схемы ИЛИ канала стопового импульса. Коммутаторы управляются или стоповым, или стартовым импульсами. Измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов осуществляют на вторых входах схем ИЛИ при достижении N+1 цикла рециркуляции (см. фиг.1е).

Время задержки TК1 распространения сигнала по каналу стартового импульса через схему ИЛИ 3, регулируемую линию задержки 5 и общую линию задержки 7 (см. фиг.2) за N циклов рециркуляции равно:

Эпюра напряжений на выходе канала стартового импульса показана на фиг.1г.

Время задержки TК2 распространения сигнала по каналу стопового импульса через схему ИЛИ 4, регулируемую линию задержки 6, контролируемую микросхему 1 и общую линию задержки 7 за N циклов рециркуляции равно (см. фиг.1д):

Эпюра напряжений на выходе канала стопового импульса показана на фиг.1д.

Разность между (2) и (1) дает временной интервал Tизм между передними или задними фронтами импульсов на выходе общей линии задержки (см. фиг.1е), который поступает на измеритель временных интервалов (ИВИ 12) и имеет следующий вид:

Tизм=Nτ+NT0+NTЗ

Отсюда время задержки распространения сигнала TЗ равно:

Выражение (3) легко решается аппаратным методом (вычислителем) с калибровкой шкалы в единицах времени.

Первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсом T0 должна превышать длительность стартового импульса τ; а длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции N не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки TЛЗ.

На фиг.1 представлены эпюры напряжений, поясняющие рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем.

На фиг.2 представлена функциональная схема измерителя, реализующая рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем между передними фронтами стартового и стопового импульсов.

Измеритель содержит контролируемую микросхему 1, гнезда XS1 и XS2, формирователь 2 импульсов, первую схему ИЛИ 3 и первую регулируемую линию задержки 5 канала стартового импульса, вторую схему ИЛИ 4 и вторую регулируемую линию задержки 6 канала стопового импульса, обитую линию задержки 7, первый коммутатор 8, второй коммутатор 9, первый триггер 10, счетчик 11, ИВИ 12, третий коммутатор 13, схему И 14, второй триггер 15, вычислитель 16.

Измеритель работает следующим образом. Подключают контролируемую микросхему 1 к гнездам XS1 и XS2 измерителя. С первого выхода формирователя 2 импульсов сигнал сброса длительностью τсбр (см. фиг.1а) поступает на второй триггер 15, первый триггер 10, счетчик 11, ИВИ 12 и вычислитель 16. При этом на выходе второго триггера 15 устанавливается уровень логической единицы UТр2, который подается на первый вход схемы И 14 (см. фиг.1 б). Напряжение с первого триггера 10 поступает на управляющие входы коммутаторов 8 и 9, которые переключают общую линию задержки 7 через схему И 14 к каналу стартового импульса (схема ИЛИ 3 и последовательно соединенная регулируемая линия задержки 5) и к первому входу ИВИ 12. Счетчик 11, ИВИ 12 и вычислитель 16 обнуляются.

Затем со второго выхода формирователя 2 импульсов подаются стартовый и стоповый импульсы длительностью τ (см. фиг.1в) и интервалом между ними длительностью T0. Стартовый импульс проходит через канал стартового импульса с задержкой Tк, через первый коммутатор 8, схему И 14, поступает на вход первого триггера 10, а также через общую линию задержки 7 и второй коммутатор 9 подается на первый измерительный вход ИВИ 12 и второй вход схемы ИЛИ 3. Время задержки TЛЗ будет состоять из времени задержки общей линии задержки и времени задержки прохождения сигнала схемы И 14. Первый триггер 10 переключает коммутаторы 8 и 9 к каналу стопового импульса (схема ИЛИ 4 и последовательно соединенная регулируемая линия задержки 6). Одновременно счетчик 11 считывает импульс переключения. Стоповый импульс проходит через канал стопового импульса с включенной контролируемой микросхемой 1 и задерживается на величину TК+TЗ. Затем поступает через первый коммутатор 8 и схему И 14 на вход первого триггера 10 и через общую линию задержки 7, и второй коммутатор 9 поступает на второй измерительный вход ИВИ 12 и второй вход схемы ИЛИ 4. Далее повторяется второй цикл рециркуляции стартового и стопового импульсов.

Через 2N-1 переключений первого триггера 10 и счетчика 11, сигнал со счетчика 11 подается на управляющий вход ИВИ 12 и происходит измерение времени задержки между передними фронтами последнего стартового импульса и последнего стопового импульса. Через 2N+1 переключений первого триггера 10 и счетчика 11, сигнал со счетчика 11 подается на второй триггер 15, который блокирует цепь рециркуляции импульсов путем подачи логического нуля на схему И 14. Измеренная величина задержки Tизм поступает на вход вычислителя 16, который определяет время задержки распространения сигнала TЗ по формуле (3).

Перед подключением контролируемой микросхемы 1 необходимо провести выравнивание задержек, вносимых каналом стартового импульса и каналом стопового импульса. Для этого включают третий коммутатор 13 и запускают формирователь 2 стартового и стопового импульсов. Далее измеритель работает, как и при измерении времени задержки распространения сигнала. Регулировкой линий задержек 5 и 6 добиваются равенства нулю времени задержки по каналам согласно формуле (3)

.

Рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем, включающий формирование стартового и стопового импульсов одинаковой длительности; передачу и поочередную рециркуляцию стартового и стопового импульсов по двум параллельным каналам с переключением каналов с помощью двух коммутаторов, и каждый из каналов содержит линию задержки; измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество N циклов рециркуляции, отличающийся тем, что стартовый и стоповый импульсы поступают в начале первого цикла рециркуляции на первые объединенные входы двух схем ИЛИ каждого канала, а в начале следующих циклов проходят через вторые входы схем ИЛИ; и соединенные с выходом схем ИЛИ линии задержки каждого канала регулируемые; а контролируемую микросхему последовательно включают в канал рециркуляции стопового импульса, и длительность стартового и стопового импульсов и интервал между ними предварительно задают; а в цепь рециркуляции стартового и стопового импульсов включают общую для двух каналов линию задержки, которая подключается первым коммутатором или к каналу стартового импульса, или к каналу стопового импульса, а вторым коммутатором подключается или ко второму входу схемы ИЛИ канала стартового импульса, или ко второму входу схемы ИЛИ канала стопового импульса, при этом коммутаторы управляются или стоповым, или стартовым импульсами; и измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов осуществляют на вторых входах схем ИЛИ при достижении N+1 цикла рециркуляции, а искомую величину определяют по формуле: ,где T - измеренный временной интервал между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество циклов рециркуляции; N - количество циклов рециркуляции; τ - длительность стартового и стопового импульсов; T - первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами; при этом первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами должна превышать длительность стартового импульса; а длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки; причем перед подключением контролируемой микросхемы время задержки каналов выравнивают регулируемыми линиями задержки.
РЕЦИРКУЛЯЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
РЕЦИРКУЛЯЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
РЕЦИРКУЛЯЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 31-40 из 268.
10.01.2015
№216.013.19e3

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к области нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, ниобия и молибдена при их содержании,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538055
Дата охранного документа: 10.01.2015
10.01.2015
№216.013.19e4

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида ниобия. Затем наносят верхний слой из нитрида соединения...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538056
Дата охранного документа: 10.01.2015
10.01.2015
№216.013.19e5

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к нанесению износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, ниобия и молибдена при их содержании, в мас.%:...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538057
Дата охранного документа: 10.01.2015
10.01.2015
№216.013.19e6

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к нанесению износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида циркония. Затем наносят верхний слой из нитрида соединения титана,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538058
Дата охранного документа: 10.01.2015
10.01.2015
№216.013.19e7

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к нанесению износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида хрома. Затем наносят верхний слой из нитрида соединения титана,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538059
Дата охранного документа: 10.01.2015
10.01.2015
№216.013.19e8

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, ниобия и молибдена при их содержании, в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538060
Дата охранного документа: 10.01.2015
10.01.2015
№216.013.1ce0

Устройство для отвода от автомобиля энергии встречного удара

Изобретение относится к области транспортного машиностроения. Устройство для отвода от автомобиля энергии встречного удара содержит установленную в передней части автомобиля ударную поверхность, шарнирно соединенную с металлическими продольными упорами. Упоры снабжены по концам элементами для...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538820
Дата охранного документа: 10.01.2015
10.01.2015
№216.013.1ce2

Бампер транспортного средства

Бампер транспортного средства относится к устройствам для гашения энергии удара при столкновениях транспортных средств с препятствиями. Бампер содержит смонтированные на кузове (1) наружную подвижную (2) и внутреннюю неподвижную (3) рамы, соединенные цилиндрическими винтовыми пружинами (4). На...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538822
Дата охранного документа: 10.01.2015
10.01.2015
№216.013.1ce6

Энергопоглощающий бампер транспортного средства

Изобретение относится к области транспортного машиностроения. Энергопоглощающий бампер транспортного средства содержит ударный брус, упруго укрепленный на кузове с помощью боковых направляющих и промежуточных деформирующих элементов. Промежуточные деформирующиеся элементы выполнены в виде...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538826
Дата охранного документа: 10.01.2015
10.01.2015
№216.013.1ce7

Защитный буфер транспортного средства

Изобретение относится к области транспортного машиностроения. Защитный буфер транспортного средства содержит установленные по периметру его кузова или на его отдельных, наиболее уязвимых, участках защитные элементы, образующие выступающую по периферии транспортного средства подвижную...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538827
Дата охранного документа: 10.01.2015
Показаны записи 31-40 из 441.
20.08.2013
№216.012.5fa0

Способ очистки эльборового шлифовального круга

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано на операциях эльборового шлифования заготовок из вязких, пластичных и адгезионно-активных материалов. К рабочей поверхности засаленного шлифовального круга прижимают инструмент для очистки в виде абразивного бруска. Абразивные...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490112
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.5fa1

Способ автоматического управления процессом правки соосно установленных торцешлифовальных кругов

Изобретение относится к металлообработке и может быть использовано в автомобильной и подшипниковой промышленности для автоматической правки шлифовальных кругов по торцовым поверхностям на специализированных шлифовальных станках с программным управлением при двустороннем торцовом шлифовании....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490113
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.5fa2

Способ термообработки полуфабрикатов абразивных инструментов на органических термореактивных связках

Изобретение относится к технологии изготовления абразивных инструментов (АИ) на органических термореактивных связках (ОТС), предназначенных для обработки заготовок из различных металлов и сплавов. Способ включает стадию предварительного нагрева группы полуфабрикатов АИ в микроволновом поле...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490114
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.5fa3

Способ изготовления абразивного инструмента на органической термореактивной связке

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при изготовлении абразивного инструмента на органической термореактивной связке, предназначенного для обработки заготовок из различных металлов и сплавов. В формовочную смесь перед перемешиванием вводят наполнитель, в качестве...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490115
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.6003

Способ вакуумной деаэрации подпиточной воды теплосети на тепловой электростанции

Изобретение относится к области теплоэнергетики и может быть использовано на тепловой электростанции. Способ включает подачу в вакуумный деаэратор исходной воды и воды, используемой в качестве греющего агента, которую перед подачей в вакуумный деаэратор подогревают до технологически необходимой...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490211
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.6004

Устройство для удаления поверхностного слоя нефтесодержащих жидкостей

Изобретение относится к области очистки объектов от нефтесодержащих жидкостей. Технический результат - повышение производительности. Устройство для удаления поверхностного слоя нефтесодержащих жидкостей содержит плавающее маслосборное средство, выполненное в виде ленточного конвейера,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490212
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.6005

Устройство для удаления поверхностного слоя нефтесодержащих жидкостей

Изобретение относится к области очистки объектов от нефтесодержащих жидкостей. Технический результат - повышение производительности. Устройство для удаления поверхностного слоя нефтесодержащих жидкостей содержит плавающее маслосборное средство, выполненное в виде ленточного конвейера,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490213
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.6095

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, кремния и молибдена при их соотношении,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490357
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.6096

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, циркония и ниобия при их соотношении,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490358
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.6097

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, молибдена и хрома при их соотношении,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490359
Дата охранного документа: 20.08.2013
+ добавить свой РИД