×
27.09.2013
216.012.70aa

Результат интеллектуальной деятельности: СПОСОБ КОНСЕРВАЦИИ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖЕК ИЗ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к технологии полупроводников, в частности к способам консервации поверхности полупроводниковых подложек. Изобретение позволяет сохранять «epiready» свойства подложек на воздухе без использования инертной среды при комнатной температуре и затем использовать для эпитаксиального выращивания полупроводниковых гетеро-и наноструктур. В способе консервации поверхности подложек из арсенида галлия, включающем химико-динамическое полирование поверхности полупроводника в полирующем травителе, содержащем концентрированную серную кислоту, перекись водорода и воду в соотношении HSO:HO:HO=5:1:1, отмывку в деионизованной воде, стравливание слоя остаточного оксида в водном растворе концентрированной соляной кислоты HO:HCl=10:1 до проявления гидрофобных свойств чистой поверхности подложки из арсенида галлия, отмывку в деионизованной воде, сушку в центрифуге, обработку в парах селена, стравливание образовавшегося слоя селенида галлия в водном растворе концентрированной соляной кислоты HO:HCl=10:1, отмывку в деионизованной воде, сушку в центрифуге, после сушки подложку повторно обрабатывают в парах селена в камере квазизамкнутого объема с образованием эпитаксиального слоя селенида галлия (GaSe) при температуре подложки - T=(310÷350)°С, температуре стенок камеры - Т=(280-300)°С, температуре селена - T=(230÷250)°C в течение 3÷10 минут и затем осуществляют упаковку без использования инертной среды. 4 ил.
Основные результаты: Способ консервации поверхности подложек из арсенида галлия, характеризующийся тем, что он предусматривает химико-динамическое полирование поверхности полупроводника в полирующем травителе, содержащем серную кислоту, перекись водорода и воду в соотношении HSO:HO:HO=5:1:1, отмывку в деионизованной воде, стравливание слоя остаточного оксида в водном растворе соляной кислоты HO:HCl=10:1 до проявления гидрофобных свойств чистой поверхности подложки из арсенида галлия, отмывку в деионизованной воде, сушку в центрифуге, обработку в парах селена, стравливание образовавшегося эпитаксиального слоя селенида галлия в водном растворе соляной кислоты HO:HCl=10:1, отмывку в деионизованной воде и сушку в центрифуге, после последней сушки подложку повторно обрабатывают в парах селена в камере квазизамкнутого объема с образованием эпитаксиальпого слоя селенида галлия (GaSe) при температуре подложки T=(310÷350)°С, температуре стенок камеры Т=(280÷300)°С, температуре селена T(230÷250)°С в течение 3÷10 мин и затем осуществляют упаковку без использования инертной среды.

Изобретение относится к технологии полупроводников, в частности к способам консервации поверхности полупроводниковых подложек.

Для получения эпитаксиальных слоев в современной полупроводниковой технологии материалов AIIIBV (в частности, арсенид галлия (GaAs)) требуются подложки с высококачественной поверхностью. Для выращивания полупроводниковых гетероструктур высокого качества методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) или газофазной эпитаксией из металлорганических соединений (МОСГФЭ) используют так называемые подложки epiready (готовые для эпитаксии). Поверхность таких подложек, например GaAs, является атомно-гладкой (шероховатость 0,5 нм) и содержит только аморфный слой оксида мышьяка As2O3 толщиной до 1-2 нм, который мгновенно образуется на воздухе. Непосредственно перед проведением эпитаксии (методом МЛЭ или МОСГФЭ) в реакторе в условиях сверхвысокого вакуума или потоке водорода «epiready» подложки нагревают для удаления аморфного слоя оксида мышьяка As2O3, а затем выращивают необходимые слои полупроводников.

Наиболее близкой по технической сущности и достигаемому эффекту к предлагаемому способу является способ получения атомно-гладкой поверхности подложки GaAs, включающий химико-динамическое полирование (ХДП), обработку в парах селена, стравливание образовавшегося слоя селенида галлия, отмывку в деионизованной воде и сушку в центрифуге. [Патент №2319798 «Способ получения атомно-гладкой поверхности подложки арсенида галлия» / Н.Н. Безрядин, Г.И. Котов, И.Н. Арсентьев, А.А. Стародубцев, В.Д. Стрыгин // опубл. 20.03.2008 Бюл. №8] Для предотвращения образования собственных оксидов «epiready» подложки хранят в специальных полиэтиленовых контейнерах, запечатанных в инертной среде.

Недостаток способа - готовые под эпитаксию «epiready» подложки из GaAs, запакованные в герметичный полиэтиленовый контейнер в инертной среде, гарантированно сохраняют требуемые качества в течение 3 месяцев при комнатной температуре. По истечении этого срока качество выращиваемых на таких подложках эпитаксиальных слоев ухудшается из-за того, что происходит деградация топологии поверхности «epiready» подложек. [Allwood D.A. Monitoring epiready semiconductor wafers / D.A. Allwood, S. Cox, N.J. Mason, R. Palmer, R. Young, P.J. Walker // Thin Solid Films. 2002, vol. 412, p.76-83]. Исследование системы дефектов и соответствующих электронных состояний свежеприготовленных «epiready» подложек из GaAs методом нестационарной спектроскопии глубоких уровней (НСГУ) показывает, что в спектре НСГУ структур на основе GaAs присутствуют пики EL2, EL6 и полоса распределенных по энергии поверхностных электронных состояний (ПЭС) в температурном интервале от 200 К до 280 К (фиг.1). При хранении «epiready» подложек GaAs в течение одного года наблюдаются изменения в спектре НСГУ, свидетельствующие о перераспределении ПЭС по энергии в температурном интервале от 200 К до 320 К (фиг.2), то есть происходит деградация поверхности подложек. Основной причиной этого является медленно протекающая твердофазная реакция:

As2O3+2GaAs=Ga2O3+4As,

результатом которой является образование нелетучего аморфного оксида галлия Ga2O3 и мышьяка. Следствием этого и является изменение концентрациии точечных и протяженных дефектов и соответствующих ПЭС на поверхности арсенида галлия (фиг.2). Только понижение температуры хранения до -20°С (253 К) замедляет скорость твердофазной реакции, что позволяет продлить срок хранения «epiready» подложек арсенида галлия. [Allwood D.A. Monitoring epiready semiconductor wafers / D.A. Allwood, S. Cox, N.J. Mason, R. Palmer, R. Young, P.J. Walker // Thin Solid Films. 2002, vol. 412, p.76-83]

Технической задачей изобретения является разработка способа консервации поверхности подложек из арсенида галлия, позволяющего сохранять «epiready» свойства подложек на воздухе без использования инертной среды при комнатной температуре и затем использовать их для эпитаксиального выращивания качественных полупроводниковых гетеро- и наноструктур.

Для решения технической задачи изобретения предложен способ консервации поверхности подложек из арсенида галлия, включающий химико-динамическое полирование поверхности полупроводника в полирующем травителе, содержащем концентрированную серную кислоту, перекись водорода и воду в соотношении H2SO4:H2O2:H2O=5:1:1, отмывку в деионизованной воде, стравливание слоя остаточного оксида в водном растворе концентрированной соляной кислоты H2O:HCl=10:1 до проявления гидрофобных свойств чистой поверхности подложки из арсенида галлия, отмывку ее в деионизованной воде, сушку подложки в центрифуге, обработку ее в парах селена, стравливание образовавшегося слоя селенида галлия в водном растворе концентрированной соляной кислоты H2O:HCl=10:1, отмывку в деионизованной воде, сушку в центрифуге, упаковку и хранение, новым является то, что после последней сушки подложку повторно обрабатывают в парах селена в камере квазизамкнутого объема с образованием эпитаксиального слоя селенида галлия (Ga2Se3) при температуре подложки - Tn=(310÷350)°С, температуре стенок камеры - Tc=(280÷300)°С, температуре селена - TSe=(230÷250)°С в течение 3÷10 мин и затем осуществляют упаковку без использования инертной среды.

Технический результат изобретения заключается в повышении длительности хранения до 12 месяцев подложек из арсенида галлия на воздухе при комнатной температуре без использования инертной среды без изменения их качества за счет предотвращения образования собственных оксидов и протекания последующих твердофазных реакций.

На фиг.1 представлен спектр НСГУ структуры Au/GaAs(100), сформированной на свежеприготовленной «epiready» подложке из GaAs. Режимы измерения: заполняющее прямое смещение Vпр=+1 В; опустошающее обратное смещение Vобр=-1 В.

На фиг.2 представлен спектр НСГУ структуры Au/GaAs(100), сформированной на выдержанной в течение одного года на воздухе «epiready» подложке из GaAs. Режимы измерения: заполняющее прямое смещение Vпр=+1 В; опустошающее обратное смещение Vобр=-1 В.

На фиг.3 представлен спектр НСГУ структуры Au/Ga2Se3/GaAs(100), на сформированной предложенным способом свежеприготовленной «epiready» подложке из GaAs. Режимы измерения: заполняющее прямое смещение Vпр=+1 В; опустошающее обратное смещение Vобр=-1 В.

На фиг.4 представлен спектр НСГУ структуры Au/Ga2Se3/GaAs(100), на сформированной предложенным способом и выдержанной в течение одного года на воздухе «epiready» подложке из GaAs. Режимы измерения: заполняющее прямое смещение Vпр=+1 В; опустошающее обратное смещение Voбp=-1 В.

Способ консервации поверхности подложек из арсенида галлия осуществляют следующим образом.

Для стравливания нарушенного слоя, который образуется на поверхности подложки после химико-механического полирования, используют метод химико-динамического полирования поверхности GaAs в сернокислом травителе H2SO4:H2O2:H2O=5:1:1. Средняя скорость травления составляла 5 мкм/мин, время травления 8÷10 мин. После травления подложку промывают в проточной деионизованной воде. Остаточный оксид удаляют химическим способом в водном растворе концентрированной соляной кислоты Н2O:НСl=10:1. Затем подложку промывают в проточной деионизованной воде и сушат в центрифуге. Далее проводят обработку поверхности подложки в парах селена в камере квазизамкнутого объема с образованием слоя селенида галлия при температуре подложки - Тn=(310÷350)°С, температуре стенок камеры - Тc=(280÷300)°С, температуре селена - TSe=(230÷250)°С в течение 3÷10 мин. Температуру измеряли с помощью хромель - алюмелевых термопар, установленных в соответствующих зонах камеры. Затем образовавшийся слой Ga2Se3 стравливают в растворе H2O:HCl=10:1, промывают в проточной деионизованной воде и сушат в центрифуге. Стравливание эпитаксиального слоя Ga2Se3 позволяет получить атомно-гладкую поверхность подложки из GaAs с неоднородностью до 0,3 нм. [Патент №2319798 «Способ получения атомно-гладкой поверхности положки арсенида галлия» / Н.Н. Безрядин, Г.И. Котов, И.Н. Арсентьев, А.А. Стародубцев, В.Д. Стрыгин // опубл. 20.03.2008 Бюл. №8]. После чего процесс обработки в парах селена проводят повторно при тех же режимах, и тогда поверхность подложки из GaAs оказывается законсервированной и не изменяет своих электрофизических характеристик после хранения на воздухе без использования инертной среды и при комнатной температуре в течение одного года.

Способ поясняется примером.

Пример 1 (прототип)

Для эксперимента выбрали арсенид галлия электронного типа проводимости n-GaAs(100) марки АГЧ-25а с концентрацией донорной примеси Nd ~1016 см-3, поверхность которого химико-динамически полировали в растворе H2SO4:H2O2:H2O=5:1:1 в течение 10 мин, а затем промывали в деионизованной воде, выдерживали в растворе H2O:HCl=10:1 в течение 5 мин для удаления остаточных оксидов, после чего подложку промывали в деионизованной воде и высушивали в центрифуге. После сушки подложку обрабатывали в парах селена в камере квазизамкнутого объема для образования эпитаксиального слоя селенида галлия при температуре подложки - Тn=330°С, температуре стенок камеры - Тс=280°С, температуре селена - ТSe=240°С в течение 5 мин. После чего подложку снова выдерживали в растворе H2O:HCl=10:1 в течение 5 мин для стравливания образовавшегося слоя селенида галлия, а затем подложку промывали в деионизованной воде и высушивали в центрифуге.

Диоды Шоттки Au/GaAs(100) для исследования формировались термическим напылением в вакууме через маску контактов из золота (Au) площадью 2,5*10-3 см-2. Исследовались спектры НСГУ диодов Шоттки в диапазоне температур от 100 К до 360 К при следующих режимах: время инжекции 10 мс, заполняющее прямое смещение Vпр=+1 В, опустошающее обратное смещение Vобр=-1 В.

В спектре НСГУ свежеприготовленных «epiready» подложек из GaAs присутствуют пики EL2, EL6 и полоса поверхностных электронных состояний (ПЭС), распределенных по энергии, в температурном интервале от 200 К до 280 К (фиг.1).

После хранения на воздухе при комнатной температуре приготовленных методом ХДП «epiready» подложек из GaAs в течение одного года наблюдаются изменения в спектре НСГУ, связанные с перераспределением ПЭС по энергии, что проявляется в уширении полосы распределенных ПЭС в интервале температур от 200 К до 320 К (фиг.2).

Пример 2

Для эксперимента выбрали арсенид галлия электронного типа проводимости (n-GaAs(100)) марки АГЧ-25а с концентрацией донорной примеси Nd ~1016 см-3, поверхность которого химико-динамически полировали в растворе H2SO4:H2O2:H2O=5:1:1 в течение 10 мин, а затем промывали в деионизованной воде, выдерживали в растворе H2O:HCl=10:1 в течение 5 мин для стравливания остаточных оксидов, после чего подложку промывали в деионизованной воде и высушивали в центрифуге. После сушки подложку обрабатывали в парах селена в камере квазизамкнутого объема для образования эпитаксиального слоя селенида галлия при температуре подложки - Тn=330°С, температуре стенок камеры - Тc=280°С, температуре селена - TSe=240°С в течение 5 мин. После чего подложку снова выдерживали в растворе H2O:HCl=10:1 в течение 5 мин для стравливания образовавшегося слоя селенида галлия, а затем подложку промывали в деионизованной воде и высушивали в центрифуге. После последней сушки процесс обработки в парах селена проводили повторно при температуре подложки - Тn=330°С, температуре стенок камеры - Тc=280°С, температуре селена - TSe=240°С в течение 5 мин.

Диоды Шоттки Au/Ga2Se3/GaAs(100) для исследования формировались термическим напылением в вакууме через маску контактов из золота (Au) площадью 2,5*10-3 см-2. В спектре НСГУ диодов Шоттки на сформированной предложенным способом свежеприготовленной «epiready» подложке из GaAs присутствуют пики EL2, EL3 и EL6, соответствующие только глубоким уровням в объеме GaAs (фиг.3).

После хранения в течение одного года законсервированных предложенным способом «epiready» подложек из GaAs на воздухе при комнатной температуре спектр НСГУ практически не изменился (фиг.4).

Таким образом, как видно из примеров и спектров НСГУ, полученные результаты свидетельствует о том, что в течение всего срока хранения на поверхности, законсервированной эпитаксиальным слоем Ga2Se3, «epiready» подложек из GaAs образование собственных оксидов и последующих твердофазных реакций, которые могли бы ухудшить состояние поверхности, не протекает.

Ухудшить условия хранения законсервированных «epiready» подложек из GaAs может использование для химико-динамического полирования некачественной перекиси водорода (H2O2), так как данный реактив в процессе хранения разлагается и в связи с этим имеет определенный срок годности. Кроме того, отклонение температуры подложки и длительности процесса обработки в парах селена от заявленных в формуле изобретения может также уменьшить срок хранения.

Предложенный способ консервации поверхности подложек из арсенида галлия позволяет законсервировать поверхность «epiready» подложек из GaAs для хранения на воздухе при комнатной температуре, продлить до 12 месяцев срок годности подложек для последующего формирования качественных гетеро- и наноструктур, упростить процесс упаковки и хранения.

Способ консервации поверхности подложек из арсенида галлия, характеризующийся тем, что он предусматривает химико-динамическое полирование поверхности полупроводника в полирующем травителе, содержащем серную кислоту, перекись водорода и воду в соотношении HSO:HO:HO=5:1:1, отмывку в деионизованной воде, стравливание слоя остаточного оксида в водном растворе соляной кислоты HO:HCl=10:1 до проявления гидрофобных свойств чистой поверхности подложки из арсенида галлия, отмывку в деионизованной воде, сушку в центрифуге, обработку в парах селена, стравливание образовавшегося эпитаксиального слоя селенида галлия в водном растворе соляной кислоты HO:HCl=10:1, отмывку в деионизованной воде и сушку в центрифуге, после последней сушки подложку повторно обрабатывают в парах селена в камере квазизамкнутого объема с образованием эпитаксиальпого слоя селенида галлия (GaSe) при температуре подложки T=(310÷350)°С, температуре стенок камеры Т=(280÷300)°С, температуре селена T(230÷250)°С в течение 3÷10 мин и затем осуществляют упаковку без использования инертной среды.
СПОСОБ КОНСЕРВАЦИИ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖЕК ИЗ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ
СПОСОБ КОНСЕРВАЦИИ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖЕК ИЗ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ
СПОСОБ КОНСЕРВАЦИИ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖЕК ИЗ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ
СПОСОБ КОНСЕРВАЦИИ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖЕК ИЗ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 51-57 из 57.
20.11.2015
№216.013.922d

Способ производства сбивных кондитерских изделий

Изобретение относится к пищевой промышленности, в частности к кондитерской отрасли. Предложен способ производства сбивных кондитерских изделий, в котором готовят агаро-сахаро-паточный сироп, для чего сухой порошкообразный агар смешивают в технологической емкости с водой температурой 15°С в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002569037
Дата охранного документа: 20.11.2015
27.11.2015
№216.013.93aa

Способ производства продукта на основе пшеничных зародышей

Изобретение относится к пищевой промышленности и может быть использовано при производстве пищевых добавок. Предложен способ производства продукта на основе пшеничных зародышевых хлопьев, включающий очистку от металломагнитных примесей, дополнительное обогащение, стабилизацию продукта....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002569421
Дата охранного документа: 27.11.2015
27.11.2015
№216.013.9545

Способ производства сбивного бездрожжевого хлеба из муки цельносмолотого зерна пшеницы

Изобретение относится к пищевой промышленности, в частности к хлебопекарному производству. Предложен способ производства сбивного бездрожжевого хлеба из муки цельносмолотого зерна пшеницы, включающий измельчение в муку промытого, высушенного нешелушенного зерна пшеницы, просеивание, замес теста...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002569832
Дата охранного документа: 27.11.2015
10.12.2015
№216.013.9804

Установка для сушки и агломерации пищевых сред

Изобретение относится к сушке дисперсных материалов и может быть использовано для сушки сыпучих материалов в пищевой, химической, металлургической и других отраслях промышленности. В установке для сушки и агломерации пищевых сред, содержащей сушильную камеру с размещенными на внутренней...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002570536
Дата охранного документа: 10.12.2015
20.12.2015
№216.013.9ae7

Портативный анализатор газов с массивом пьезосенсоров

Изобретение относится к проведению экспресс-анализа воздуха или смесей газов. Портативный анализатор газов с массивом пьезосенсоров включает высокопрочный полимерный корпус с насадкой-нагнетателем и защитной крышкой из фторопласта, на верхней панели корпуса расположена ячейка с массивом из трех...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002571280
Дата охранного документа: 20.12.2015
10.02.2016
№216.014.c42e

Способ производства хлеба повышенной пищевой ценности из смеси ржаной и пшеничной муки

Изобретение относится к пищевой промышленности, в частности к хлебопекарному производству. Предложен способ производства хлеба повышенной пищевой ценности из смеси ржаной и пшеничной муки, включающий замес теста из смеси муки ржаной хлебопекарной обдирной и пшеничной муки первого сорта, целого...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002574488
Дата охранного документа: 10.02.2016
20.01.2018
№218.016.129e

Способ получения нанопрофилированной ультратонкой пленки alo на поверхности пористого кремния

Использование: для роста наноразмерных пленок диэлектриков на поверхности монокристаллических полупроводников. Сущность изобретения заключается в том, что пленку AlO наносят ионно-плазменным распылением на слой пористого кремния с размером пор менее 3 нм, полученного электрохимическим...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002634326
Дата охранного документа: 25.10.2017
Показаны записи 51-60 из 76.
20.08.2015
№216.013.6ff8

Способ производства хлеба

Изобретение относится к пищевой промышленности и может быть использовано в производстве хлебобулочных изделий. Предложен способ производства хлеба, в котором готовят мучную композитную смесь из муки пшенной, гречневой, овсяной и зародышевых хлопьев пшеницы в соотношении 12:12:12:64 по массе....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002560234
Дата охранного документа: 20.08.2015
20.08.2015
№216.013.70af

Мембранный аппарат

Изобретение относится к области разделения, концентрирования и опреснения различных растворов методами обратного осмоса и ультрафильтрации. Мембранный аппарат, включающий корпус, выполненный из непроницаемого материала, с патрубками для ввода исходного раствора, вывода фильтрата и концентрата,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002560417
Дата охранного документа: 20.08.2015
20.08.2015
№216.013.7178

Способ производства зернового хлеба повышенной пищевой ценности

Изобретение относится к пищевой промышленности, в частности к хлебопекарному производству, и может быть использовано для производства хлеба из биоактивированного зерна. Способ производства зернового хлеба повышенной пищевой ценности включает замачивание нешелушеного зерна пшеницы, промывание и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002560618
Дата охранного документа: 20.08.2015
20.08.2015
№216.013.72c9

Способ продувки диффузионного сита

Изобретение относится к сахарной промышленности. Способ продувки диффузионного сита диффузионного аппарата предусматривает использование смеси диффузионного сока и сжатого воздуха. Если этого недостаточно, дополнительно проводят продувку диффузионного сита ретурным паром. Причем для...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002560955
Дата охранного документа: 20.08.2015
20.08.2015
№216.013.72ec

Способ производства булочного изделия

Изобретение относится к пищевой промышленности, в частности к хлебопекарному производству, и может быть использовано для производства булочных изделий. Способ производства булочного изделия включает приготовление дрожжевого безопарного теста из пшеничной муки высшего сорта, суспензии...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002560990
Дата охранного документа: 20.08.2015
10.09.2015
№216.013.7a10

Способ получения соуса на основе белкового концентрата колострума

Изобретение относится к пищевой промышленности, а именно к способу получения соуса на основе белкового концентрата колострума, и может быть использовано при производстве функциональных продуктов, предназначенных для диетического питания. Пастеризуют колостральную сыворотку при температуре...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002562837
Дата охранного документа: 10.09.2015
10.10.2015
№216.013.823c

Натяжное устройство ленточного конвейера

Натяжное устройство ленточного конвейера содержит охватываемый лентой барабан (1), закрепленный на каретке (3) с подвешенным грузом (2), установленной на вертикальных направляющих, и механизм улавливания каретки с барабаном и грузом, выполненный из закрепленных вертикальных направляющих (11)...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002564937
Дата охранного документа: 10.10.2015
10.10.2015
№216.013.823f

Конвейерное устройство

Конвейерное устройство содержит бесконечно замкнутую ленту (1), к которой прикреплены ковши (2), взаимодействующие с барабанами. По всей длине ленты по ломаной линии между ковшами расположены бесконечно замкнутые стальные тросы (3). Участок троса, контактирующий с лентой и задней стенкой ковша,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002564940
Дата охранного документа: 10.10.2015
10.10.2015
№216.013.8295

Способ получения фруктозного сиропа

Изобретение относится к пищевой промышленности, и может быть использовано в качестве пищевой добавки при производстве пищевых продуктов. Способ предусматривает приготовление фруктозного сиропа из экстракта цветков одуванчика, липы, ромашки и кумквата. Для чего цветки одуванчика, липы, ромашки...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002565026
Дата охранного документа: 10.10.2015
20.10.2015
№216.013.82c8

Способ производства сдобного изделия "тигровый орех"

Изобретение относится к пищевой промышленности, в частности к хлебопекарному производству. Предложен способ производства сдобного изделия, включающий приготовление дрожжевого безопарного теста из пшеничной муки первого сорта, суспензии прессованных дрожжей, раствора соли поваренной пищевой,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002565083
Дата охранного документа: 20.10.2015
+ добавить свой РИД