×
17.10.2019
219.017.d665

Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по надежности

Вид РИД

Изобретение

Юридическая информация Свернуть Развернуть
Краткое описание РИД Свернуть Развернуть
Аннотация: Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых изделий, и может быть использовано для сравнительной оценки качества и надежности партий изделий одного типа как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Технический результат - неразрушающий способ, позволяющий расширить область применения и повысить достоверность отбраковки полупроводниковых изделий по надежности по сравнению с существующими аналогичными способами. В способе сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по надежности на одинаковых выборках из партий проводят измерения информативных параметров при комнатной температуре до и после испытаний на безотказность в течение 100 часов, затем сравнивают средние значения коэффициента увеличения информативного параметра/параметров для выборок. 2 табл.
Реферат Свернуть Развернуть

Предлагаемый способ относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых изделий (ППИ): диодов, транзисторов и интегральных схем, и может быть использован для сравнительной оценки качества и надежности партий изделий одного типа, как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры.

Известен способ сравнительной оценки надежности партий транзисторов патент РФ №2226698 R 31/26, опубликован 10.04.2004, в соответствии с которым проводят выборочные испытания партий транзисторов воздействием электростатических разряд (ЭСР). На каждый транзистор выборки подают электростатические разряды потенциалом вдвое большим, чем допустимый по техническим условиям, затем каждый раз повышают на 20-30 В до появления параметрического или катастрофического отказа.

Наиболее близким к заявляемому изобретению способ сравнительной оценки надежности полупроводниковых изделий патент РФ №2538032 R 31/26, опубликован 10.01.2015, суть которого заключает в измерении значения интенсивности низкочастотного шума на транзисторах по выводам «эмиттер-база» и на интегральных схемах «вход-общая точка». Затем на каждое изделие подают не менее пяти импульсов ЭСР обоих полярностей потенциалом, допустимом по техническим условиям на выходы «эмиттер-база» транзисторов и «вход-общая точка» интегральных, схем имеющих наибольшую чувствительность к ЭСР и вновь измеряют значения низкочастотного шума, находят отношения значений НЧШ после воздействие ЭСР к начальному значению и по величине среднего значения этого отношения сравнивают надежность партии изделий.

Недостатка данного способа - использование ресурса изделия при разрушающих испытаниях.

Задача - повышение достоверности отбраковки полупроводниковых изделий и расширение области применения способа при неразрушающих испытаниях.

Для решения поставленной задачи в способе сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по надежности, в соответствии с которым на одинаковых произвольных выборках из партий проводят измерения информативных параметров при комнатной температуре до испытаний на безотказность и после 100 ч испытаний, после чего сравнивают средние значения коэффициента увеличения информативного параметра/параметров.

Предлагаемый способ основан на измерении электрических информативных параметров изделий (в качестве которых выступают электрические характеристики, определяемые ТУ на конкретное полупроводниковое изделие) на одинаковых выборках из партий (количество партий не ограничено) до воздействия испытаний; испытания на безотказность в течение 100 часов в режиме, указанном в ТУ, с последующей выдержки в течение 2-х часов в нормальных условиях; контрольным замером тех же электрических информативных параметров изделий после испытаний; расчет коэффициентов информативных параметров, сравнение коэффициентов и вывод о сравнительной надежности партий.

Для эксперимента взяли по 10 шт. ИС типа 134РУ6 из двух партий и измерили два информативных параметра: выходное напряжение логического нуля UOL ≤ 0.4 В при выходном токе IOL = 8 мА и выходное напряжение логической единицы UOH ≥ 2,6 В - до и после испытаний на безотказность.

Результаты эксперимента представлены в таблице 1 и 2, здесь

Сравним по табл. 1 табл. 2 поведение параметра UOL, ограниченного значениями сверху 0,4 В. Видно, что по этому параметру партия 2 будет более надежной, т. к. K2ср2 = 0,874, т.е. менее 1, а значит, параметр UOL во второй партии не возрастает.

По параметру UOH, ограниченного значением 2,6 В снизу, видим, что партия 1 будет менее надежной, т. к. К3ср3 = 0,989, т. е. менее 1, а партия №2 будет более надежной, т.к. параметр UOH растет.

По обоим параметрам имеем, что партия 2 будет более надежной.

Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий по надежности, заключающийся в измерении электрических информативных параметров изделий (указанных в ТУ) на одинаковых произвольных выборках из партии до и после испытаний, отличающийся тем, что измерение информативных параметров изделия на одинаковых выборках из партий проводят при комнатной температуре в течение 100 часов по допустимым техническим условиям с последующей выдержкой в течение 2 часов в нормальных условиях и по сравнению среднего значения коэффициента увеличения информативного параметра/параметров делают вывод о сравнительной надежности партий ИС.
Источник поступления информации: Роспатент

Showing 1-10 of 124 items.
13.01.2017
№217.015.8ae6

Солнечный тепловой коллектор

Изобретение относится к гелиотехнике, в частности к солнечным тепловым коллекторам, используемым в теплоснабжении зданий и сооружений. В солнечном тепловом коллекторе может нагреваться как жидкий теплоноситель, подаваемый потребителю, так и воздух, направляемый в отапливаемые помещения. Жидкий...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002604119
Дата охранного документа: 10.12.2016
13.01.2017
№217.015.90f0

Сооружение коллективной защиты на базе пневматической опалубки

Сооружение коллективной защиты на базе пневматической опалубки может быть использовано для быстрого возведения сооружений типа оболочек в районах чрезвычайных ситуаций для временного размещения людей и материальных ценностей, а также в других случаях. Сооружение на базе пневматической опалубки...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002603975
Дата охранного документа: 10.12.2016
25.08.2017
№217.015.a567

Способ формирования на поверхности изделия из никелевого сплава композитного покрытия

Изобретение относится к напылению теплозащитных покрытий и может быть использовано в авиастроении и других областях машиностроения при производстве деталей турбинных двигателей и установок. Способ формирования на поверхности изделия из никелевого сплава композитного покрытия, содержащего оксид...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002607677
Дата охранного документа: 10.01.2017
25.08.2017
№217.015.b861

Метод возведения волнистых монолитных сводов и опалубка для его осуществления

Изобретение относится к строительству и может быть использовано для возведения сводов криволинейного очертания из монолитного фибробетона. Опалубочная система для возведения волнистых монолитных сводов состоит из отдельных пневмокаркасных арочных элементов, позволяющих формирование опалубки на...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002615202
Дата охранного документа: 04.04.2017
25.08.2017
№217.015.c991

Способ плазменного напыления покрытия

Изобретение относится к области нанесения покрытий и может быть использовано для упрочнения режущего инструмента и металлических деталей машин. Способ плазменного нанесения покрытия на металлическую заготовку включает нагрев поверхности заготовки и плазменное напыление слоя покрытия на ее...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002619410
Дата охранного документа: 15.05.2017
13.02.2018
№218.016.1ff1

Конструкция фундаментной плиты с регулируемыми усилиями

Изобретение относится к строительству, а именно к плитным фундаментам мелкого заложения для каркасных зданий и сооружений. Конструкция фундаментной плиты с регулируемыми усилиями, разделенная на секции узлами шарнирного действия, в которой оси шарниров образуют в плане прямоугольную сетку,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002641356
Дата охранного документа: 17.01.2018
13.02.2018
№218.016.2024

Узел шарнирного действия для фундаментной плиты с регулируемыми усилиями

Изобретение относится к строительству, а именно к фундаментам мелкого заложения для зданий и сооружений. Узел шарнирного действия для фундаментной плиты с регулируемыми усилиями включает ось вращения шарнирного узла, выполненного из стальной трубы с приваренными стальными пластинами,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002641357
Дата охранного документа: 17.01.2018
04.04.2018
№218.016.350c

Генератор индукторный

Изобретение относится к индукторным сегментным генераторам. Генератор индукторный содержит роторные элементы с валом, статор, элементы крепления и подшипники. Статор выполнен в виде полого прямоугольного профиля, одна сторона которого закреплена на несущем элементе, на противоположной стороне...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002645949
Дата охранного документа: 28.02.2018
04.04.2018
№218.016.3595

Ветроколесо электрогенератора сегментного типа

Изобретение относится к ветроэнергетике. Ветроколесо ветроэлектрогенератора сегментного типа содержит ступицу, спицы, обод, лопасти с устройством крепления к ободу. Устройство крепления лопастей к ободу выполнено в виде уголка, установленного снаружи обода, коробчатой скобы с торцевой...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002645877
Дата охранного документа: 28.02.2018
04.04.2018
№218.016.375b

Лабораторная установка по гидравлическим исследованиям

Изобретение относится к устройствам для обучения при проведении лабораторных работ по курсу «Гидравлика». Оно состоит из напорного бака с подводом воды, водомерного устройства, пьезометра-уровнемера из прозрачной трубки, водовыпускных отверстий, выполненных непосредственно в щите-затворе, ось...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002646559
Дата охранного документа: 05.03.2018
Showing 1-9 of 9 items.
10.09.2014
№216.012.f197

Способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам испытаний интегральных схем (ИС) на коррозионную стойкость. Сущность: перед испытанием ИС проводят проверку внешнего вида, электрических параметров и проверку герметичности, нагревают до температуры плюс 125°С со скоростью не более...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002527669
Дата охранного документа: 10.09.2014
27.09.2014
№216.012.f95e

Способ разделения интегральных схем "по надежности"

Изобретение относится к контролю качества и надежности интегральных схем (ИС), как логических, так и аналоговых, и может быть использовано как в процессе производства, так и при входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность: на представительной выборке ИС...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002529675
Дата охранного документа: 27.09.2014
27.12.2014
№216.013.1630

Способ разделения интегральных схем по надежности

Изобретение относится к электротехнике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем (ИС) как логических, так и аналоговых. Сущность изобретения заключается в том, что на представительной выборке проводят измерение критического напряжения питания (КНП) до и после...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002537104
Дата охранного документа: 27.12.2014
10.04.2015
№216.013.3c96

Способ сравнительных испытаний по надежности партий интегральных схем

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых интегральных схем (ИС). Сущность: из партий ИС методом случайной выборки отбирают одинаковое количество изделий (не менее 10 от каждой партии) и измеряют значение информативного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002546998
Дата охранного документа: 10.04.2015
13.04.2019
№219.017.0c29

Способ разделения интегральных схем класса "система на кристалле" по надежности

Использование: для разбраковки ИС класса «система на кристалле» по критерию потенциальной надежности. Сущность изобретения заключается в том, что на представительной выборке ИС класса «система на кристалле» измеряют значения критических напряжений питания (КНП) отдельно для каждого...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002684681
Дата охранного документа: 11.04.2019
19.06.2019
№219.017.85be

Способ диагностики полупроводниковых изделий по производным вольт-амперных характеристик

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых изделий (ППИ), а также для анализа изделий, отказавших у потребителя. Технический результат: повышение точности диагностики и расширение функциональных возможностей контроля...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002348941
Дата охранного документа: 10.03.2009
29.06.2019
№219.017.9bf0

Устройство для выявления потенциально ненадежных полупроводниковых интегральных схем методом анализа форм и/или параметров динамического тока потребления

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых интегральных схем (ИС), а также для анализа изделий, отказавших у потребителя. Технический результат: повышение точности диагностики и расширения функциональных возможностей...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002348049
Дата охранного документа: 27.02.2009
29.06.2019
№219.017.9de7

Способ разбраковки полупроводниковых изделий по стойкости к электростатическим разрядам

Изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации полупроводниковых изделий (ППИ), и может быть использовано для отбраковки из партии полупроводниковых изделий, менее стойких к электростатическим разрядам. Для этого полупроводниковые изделия на...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002379698
Дата охранного документа: 20.01.2010
03.08.2019
№219.017.bc4a

Способ неразрушающего контроля качества сверхбольших интегральных схем по значению критического напряжения питания

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для обеспечения качества и надежности сверхбольших интегральных схем (СБИС). Сущность: измеряют критическое напряжение питания при нормальной и повышенной температуре. СБИС предварительно программируют тестирующей программой для...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002696360
Дата охранного документа: 01.08.2019
+ добавить свой РИД