×
19.01.2018
218.016.00d1

Результат интеллектуальной деятельности: Способ получения нитрида кремния

Вид РИД

Изобретение

№ охранного документа
0002629656
Дата охранного документа
30.08.2017
Аннотация: Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии получения нитрида кремния. В способе получения нитрида кремния нитрид кремния формируют каталитическим парофазным химическим осаждением смеси гидразина (NH) и силана (SiH) при температуре подложки 230-370°С, давлении SiH 15-17,5 Па, скорости роста нитрида кремния 100 нм/мин и отношении парциальных давлений газообразных источников Р(NH+N)/P(SiH)=4-6. Техническим результатом является повышение пробивного напряжения, обеспечение технологичности, улучшение параметров структур, повышение качества и увеличение процента выхода годных. 1 табл.

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии получения нитрида кремния.

Известен способ получения нитрида кремния [Патент №5332697, МКИ H01L 21/02], близкого к стехиометрическому составу, путем взаимодействия пористого кремния с газами, содержащими азот (например, с аммиаком), при соответствующей температуре и давлении. В процессе диффузии газа в пористую структуру происходит его взаимодействие с кремнием с образованием слоя соединений толщиной 1 мкм. В таких структурах формируются неоднородные слои, которые ухудшают характеристики приборов.

Известен способ получения пленки нитрида кремния [Патент №5330936 США, МКИ H01L 21/00]. Сначала на кремниевой подложке на той ее части, где имеется полевой оксид, селективно формируется первый слой поликремния Si* в качестве нижнего электрода конденсатора, а на него с помощью ПФХО-метода селективно наносится пленка Si3N4. Источником в процессе ПФХО служит аммиак в смеси с силаном или дихлорсиланом. После этого, так же селективно, на образовавшуюся пленку Si3N4 наносят второй слой поликремния Si*, который служит верхним электродом конденсатора. В силан или дихлорсилан вводят хлористый водород в объемном отношении 0,1-0,7 при давлении порядка 105 Па.

Недостатками способа являются:

- низкие значения пробивного напряжения;

- высокая плотность дефектов;

- низкая технологичность.

Задача, решаемая изобретением: повышение пробивного напряжения, обеспечение технологичности, улучшение параметров, повышение качества и увеличение процента выхода годных.

Задача решается формированием нитрида кремния каталитическим парофазным химическим осаждением смеси гидразина (N2H4) и силана (SiH4) при температуре подложки 230-370°С, давлении SiH4 15-17,5 Па, скорости потока силана 8-10 л/мин, скорости роста нитрида кремния 100 нм/мин при отношении парциальных давлений газообразных источников Р(N2H4+N2)/P(SiH4)=4-6.

Технология способа состоит в следующем: газообразные источники проходят через катализатор к подложке. Расстояние между подложкой и нагреваемым катализатором составляет 3-4 см. Катализатором служит провод из сплава окиси тория и вольфрама (2% Th-W). В качестве газообразных источников служат смесь гидразина (N2H4) и силана (SiH4); при комнатной температуре SiH4 находится в жидком состоянии. Через эту жидкость пропускают газообразный азот, который захватывает пары N2H4, и вводят в камеру вместе с SiH4.

Условия осаждения Si3N4:

- температура катализатора - 1180-1390°С;

- температура подложки - 230-370°С;

- давление SiH4 - 15-17,5 Па;

- отношение парциальных давлений газообразных источников P(N2H4+N2)/P(SiH4)=4-6;

- скорость потока силана (SiH4) - 8-10 л/мин;

- скорость роста Si3N4 - 100 нм/мин.

По предлагаемому способу были изготовлены и исследованы структуры. Результаты обработки представлены в таблице.

Экспериментальные исследования показали, что выход годных полупроводниковых структур на партии пластин, сформированных в оптимальном режиме, увеличился на 14,5%.

Стабильность параметров во всем экспериментальном интервале температур была нормальной и соответствовала требованиям.

Предложенный способ получения нитрида кремния каталитическим парофазным химическим осаждением смеси гидрозина (N2H4) и силана (SiH4) при температуре подложки 230-370°С, давлении SiH4 15-17,5 Па, скорости роста нитрида кремния 100 нм/мин и отношении парциальных давлений газообразных источников Р(N2H4+N2)/P(SiH4)=4-6 позволяет повысить процент выхода годных структур и улучшить их надежность.

Технический результат: повышение пробивного напряжения, обеспечение технологичности, улучшение параметров структур, повышение качества и увеличение процента выхода годных.

Способ получения нитрида кремния, включающий процессы взаимодействия газов, содержащих азот, с силаном, отличающийся тем, что нитрид кремния формируют каталитическим парофазным химическим осаждением смеси гидразина (NH) и силана (SiH) при температуре подложки 230-370°C, давлении SiH15-17,5 Па, скорости роста нитрида кремния100 нм/мин и отношении парциальных давлений газообразных источников P(NH+N)/P(SiH)=4-6.
Источник поступления информации: Роспатент

Showing 41-43 of 43 items.
04.04.2018
№218.016.2f7c

Способ изготовления полупроводниковой структуры

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления полупроводниковых структур с пониженной дефектностью. В способе изготовления полупроводниковой структуры выращивание эпитаксиального слоя кремния проводят в процессе...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002644627
Дата охранного документа: 13.02.2018
04.04.2018
№218.016.3080

Способ изготовления фотопреобразователя

Изобретение относится к технологии изготовления фотопреобразователя с повышенным коэффициентом полезного действия (КПД). Предложен способ изготовления фотопреобразователя путем формирования в pin-структуре i-слоя на основе арсенида индия InGaAs между слоями GaAs и AlGaAs на подложках GaAs, при...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002644992
Дата охранного документа: 15.02.2018
04.04.2018
№218.016.368b

Способ изготовления полупроводниковой структуры

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии получения кремниевых пленок на сапфире с пониженной дефектностью. В способе изготовления полупроводниковой структуры проводят отжиг подложки в атмосфере водорода в течение 2 часов при...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002646422
Дата охранного документа: 05.03.2018
Showing 51-60 of 87 items.
12.12.2018
№218.016.a59c

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления подзатворного диэлектрика с пониженной плотностью дефектов. Изобретение обеспечивает снижение плотности дефектов, повышение технологичности, улучшение параметров приборов,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002674413
Дата охранного документа: 07.12.2018
19.01.2019
№219.016.b1a1

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления затвора полевого транзистора с пониженными токами утечек. Изобретение обеспечивает снижение значений токов утечек, улучшение параметров структур, повышение технологичности,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002677500
Дата охранного документа: 17.01.2019
26.02.2019
№219.016.c7ed

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления полупроводниковых структур с пониженными токами утечек. Предложен способ изготовления полупроводникового прибора путем формирования на обратной стороне подложки пленки...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002680607
Дата охранного документа: 25.02.2019
26.02.2019
№219.016.c80e

Способ изготовления полупроводниковых структур

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления полупроводниковых структур с пониженной дефектностью. Способ изготовления полупроводниковой структуры предусматривает проведение на обратной стороне пластины диффузии...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002680606
Дата охранного документа: 25.02.2019
03.03.2019
№219.016.d23f

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления полевых транзисторов с пониженной дефектностью. Изобретение обеспечивает снижение дефектности, обеспечение технологичности, улучшение параметров приборов, повышение качества...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002680989
Дата охранного документа: 01.03.2019
24.05.2019
№219.017.5d6e

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления приборов с пониженным контактным сопротивлением. Целью изобретения является снижение контактного сопротивления, обеспечение технологичности, улучшение параметров работы...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002688861
Дата охранного документа: 22.05.2019
24.05.2019
№219.017.5d77

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления защитной изолирующей пленки с низкой дефектностью. Изобретение обеспечивает снижение значений тока утечки, повышение технологичности, улучшение параметров приборов,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002688863
Дата охранного документа: 22.05.2019
24.05.2019
№219.017.5de3

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления полевого транзистора с пониженной дефектностью. Технология способа состоит в следующем: на пластинах кремния p-типа проводимости с удельным сопротивлением 7,5 Ом*см...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002688851
Дата охранного документа: 22.05.2019
24.05.2019
№219.017.5df1

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии формирования силицидных слоев с низким сопротивлением. Изобретение обеспечивает снижение сопротивления, улучшение параметров приборов, повышение качества и увеличение процента выхода...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002688874
Дата охранного документа: 22.05.2019
24.05.2019
№219.017.5df3

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления затворного слоя оксида кремния с низкой плотностью дефектов. Слой затворного оксида кремния формируют с применением пиролиза силана в присутствии двуокиси углерода в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002688881
Дата охранного документа: 22.05.2019
+ добавить свой РИД