Изобретение относится к соединению III и его кристаллической форме A, характеризующейся дифрактограммой рентгеновской порошковой дифракции (XPDR), содержащей характеристические дифракционные пики при значениях угла 2θ: 4,72 ± 0,2°, 14,24 ± 0,2°, 16,28 ± 0,2°, 17,14 ± 0,2°, 20,72 ± 0,2°, 21,78 ±...