Правообладатель РИД: Демирчян Севак Серобович

Изобретение относится к измерениям плотности электронных состояний в двумерных проводящих кристаллических пленках. Сущность: бесконтактное измерение плотности электронных состояний в двумерных проводящих кристаллических пленках заключается в определении плотности электронных состояний в...