Правообладатель РИД: Саунин С.А.

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) физических характеристик поверхности объектов с одновременным оптическим наблюдением зоны сканирования. Сущность изобретения состоит в том, что в СЗМ, совмещенном с...

Сканирующий зондовый микроскоп с системой слежения за кантилевером содержит сопряженный с основанием сканер с кантилевером, закрепленным на сканере с возможностью взаимодействия с образцом, первое зеркало, связанное со сканером, и лазер, оптически сопряженный с первым зеркалом, кантилевером и...

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов. Сущность изобретения заключается в том, что в многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа,...

Изобретение относится к области туннельной и атомно-силовой микроскопии, а точнее к устройствам, обеспечивающим градуировку сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ). Сущность изобретения заключается в том, что в тестовой структуре для градуировки СЗМ, состоящей из основания и расположенных на нем...