×

Правообладатель РИД: Антонов Иван Николаевич

Показаны записи 1-5 из 5.
15.11.2019
№219.017.e2da

Способ изготовления мемристора с наноконцентраторами электрического поля

Использование: для изготовления мемристоров с диэлектрической структурой. Сущность изобретения заключается в том, что предложен способ изготовления мемристора путем формирования расположенной между двумя электродами диэлектрической структуры, содержащей обеспечивающий филаментарный механизм...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002706207
Дата охранного документа: 14.11.2019
15.11.2019
№219.017.e2b9

Способ управления работой мемристивной конденсаторной структуры металл-диэлектрик-полупроводник

Использование: для создания запоминающих и потребляющих малую мощность интегральных схем энергонезависимой памяти. Сущность изобретения заключается в том, что способ управления работой мемристивной конденсаторной структуры металл-диэлектрик-полупроводник, в котором диэлектрик и полупроводник...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002706197
Дата охранного документа: 14.11.2019
25.08.2017
№217.015.9db9

Способ изготовления резистной маски с расширенным диапазоном разрешения изображения

Изобретение относится к технологии изготовления резистных масок в производстве микросхем, в частности изготовления резистных масок с расширенным диапазоном разрешения изображений. Технический результат изобретения - разработка способа изготовления резистной маски позитивного типа с расширенным...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002610782
Дата охранного документа: 15.02.2017
25.08.2017
№217.015.9d95

Способ взрывной фотолитографии

Изобретение относится к взрывной фотолитографической технологии и может быть использовано, когда получение рабочего рисунка из активного материала (металла или полупроводника) методами избирательного химического или плазмохимического травления через фоторезистную маску затруднено или...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002610843
Дата охранного документа: 16.02.2017
10.06.2016
№216.015.475e

Способ определения электрофизических параметров конденсаторной структуры мемристора, характеризующих процесс формовки

Изобретение относится к области нанотехнологий, а именно к способам измерения параметров наноструктур, и может быть использовано при определении электрофизических параметров конденсаторной структуры мемристора, характеризующих процесс формовки. Способ определения электрофизических параметров...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002585963
Дата охранного документа: 10.06.2016
+ добавить свой РИД