×

Правообладатель РИД: Гиндин Павел Дмитриевич

Показаны записи 11-18 из 18.
07.02.2019
№219.016.b7e3

Способ формирования диэлектрического слоя на поверхности кристалла inas

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, содержащих пассивную структуру диэлектрик - полупроводник, в том числе диодов и транзисторов, а также приемников излучения, чувствительных в спектральном диапазоне (1÷3,5) мкм, таких как фотодиоды и фототранзисторы на...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002678944
Дата охранного документа: 04.02.2019
10.08.2015
№216.013.68c7

Способ изготовления слоев р-типа проводимости на кристаллах ingaas

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, чувствительных к инфракрасному излучению, и может быть использовано при изготовлении фотодиодов на кристаллах InGaAs n-типа проводимости, фототранзисторов, фоторезисторов на основе кристаллов p-типа проводимости. В...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002558376
Дата охранного документа: 10.08.2015
20.04.2015
№216.013.42d7

Способ изготовления pin-фотодиодов с охранным кольцом на высокоомном р-кремнии

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов. Способ изготовления pin-фотодиодов с охранным кольцом (ОК) на высокоомном р-кремнии включает термическое окисление исходной пластины р-кремния или эпитаксиальной структуры, содержащей слой высокоомного р-кремния,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002548609
Дата охранного документа: 20.04.2015
20.03.2015
№216.013.3452

Способ изготовления планарных pin-фотодиодов большой площади на высокоомном p-кремнии

Предлагаемое изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, в частности, к способам изготовления планарных pin-фотодиодов большой площади на основе высокоомного кремния p-типа проводимости. Способ включает подготовку пластины исходных p-кремния или кремниевой...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002544869
Дата охранного документа: 20.03.2015
10.02.2015
№216.013.25d4

Способ изготовления слоев р-типа проводимости на кристаллах inas

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, чувствительных к инфракрасному излучению, и может быть использовано при изготовлении фотодиодов на кристаллах InAs n-типа проводимости, фототранзисторов, фоторезисторов на основе кристаллов p-типа проводимости. Способ...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002541137
Дата охранного документа: 10.02.2015
10.10.2013
№216.012.7424

Способ измерения эквивалентной температуры

Изобретение относится к области метрологического обеспечения стационарных пирометрических устройств в рабочих условиях эксплуатации и может быть применено в системах контроля температуры букс подвижного состава железных дорог. Способ измерения эквивалентной температуры включает автоматическую...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002495389
Дата охранного документа: 10.10.2013
20.08.2013
№216.012.6191

Способ поверки пирометров в рабочих условиях

Способ относится к области метрологического обеспечения пирометрических систем, в том числе регистрирующих объекты с температурой, близкой к температуре окружающей среды, и может быть применен в системах контроля температуры букс подвижного состава железных дорог, как в пунктах линейного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490609
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.06.2013
№216.012.4e4f

Способ изготовления слоев p-типа проводимости на кристаллах insb

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, чувствительных к инфракрасному излучению, и может быть использовано при изготовлении фотодиодов на кристаллах InSb n-типа проводимости (изготовление p-n-переходов), фототранзисторов (изготовление базовых областей на...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002485629
Дата охранного документа: 20.06.2013
+ добавить свой РИД