×

Правообладатель РИД: Галиев Галиб Бариевич

Показаны записи 1-7 из 7.
01.11.2018
№218.016.98f8

Полупроводниковая структура для фотопроводящих антенн

Изобретение может быть использовано при производстве передающих и приемных антенн для терагерцевого диапазона частот (от 300 ГГц до 5 ТГц). Полупроводниковая структура для фотопроводящих антенн эпитаксиально выращена на подложке GaAs с кристаллографической ориентацией (111)А и состоит из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002671286
Дата охранного документа: 30.10.2018
14.06.2018
№218.016.61c5

Материал на основе ingaas на подложках inp для фотопроводящих антенн

Использование: для создания материала фотопроводящих антенн. Сущность изобретения заключается в том, что материал содержит пленку LT-InGaAs, эпитаксиально выращенную при пониженной температуре на подложке InP, отличающийся тем, что используется подложка InP с кристаллографической ориентацией...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002657306
Дата охранного документа: 13.06.2018
25.08.2017
№217.015.9a89

Материал для фотопроводящих антенн

Изобретение может быть использовано для создания активного слоя в фотопроводящих антеннах-детекторах и генераторах электромагнитного излучения терагерцевого диапазона. Материал для фотопроводящих антенн согласно изобретению представляет собой пленку GaAs, эпитаксиально выращенную на подложке...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002610222
Дата охранного документа: 08.02.2017
27.04.2016
№216.015.38fb

Полупроводниковая транзисторная наногетероструктура на подложке gaas с модифицированным стоп-слоем algaas

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для изготовления монолитных интегральных схем, оперирующих в сантиметровом и миллиметровом диапазоне длин волн. Согласно изобретению предложена полупроводниковая транзисторная гетероструктура на подложке GaAs с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002582440
Дата охранного документа: 27.04.2016
20.04.2016
№216.015.366a

Способ определения параметров решетки в выбранной малой области эпитаксиального слоя с градиентом химического состава

Использование: для контроля технологии при изготовлении полупроводниковых метаморфных гетероструктур. Сущность изобретения заключается в том, что регистрируют кривые дифракционного отражения в режиме θ/2θ-сканирования от различных кристаллографических плоскостей, измеряют угловое положения...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002581744
Дата охранного документа: 20.04.2016
10.02.2013
№216.012.24cd

Полупроводниковая метаморфная наногетероструктура inalas/ingaas

Изобретение относится к полупроводниковым метаморфным наногетероструктурам, используемым для изготовления СВЧ-транзисторов и монолитных интегральных схем с высокой рабочей частотой и большими пробивными напряжениями. Техническим результатом изобретения является уменьшение плотности дислокаций,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002474923
Дата охранного документа: 10.02.2013
10.02.2013
№216.012.24ce

Полупроводниковая наногетероструктура inalas/ingaas с метаморфным буфером

Изобретение относится к полупроводниковым наногетероструктурам, используемым для изготовления СВЧ транзисторов и монолитных интегральных схем с высокой рабочей частотой и большими пробивными напряжениями. Техническим результатом изобретения является уменьшение плотности дислокаций, проникающих...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002474924
Дата охранного документа: 10.02.2013
+ добавить свой РИД