×
02.09.2019
219.017.c5ef

Результат интеллектуальной деятельности: УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ КРИСТАЛЛОВ ВЕРТИКАЛЬНЫМ МЕТОДОМ БРИДЖМЕНА

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к технологии выращивания монокристаллов полупроводников вертикальным методом Бриджмена. Устройство содержит корпус 1 с размещенной внутри него теплоизоляцией 2, два последовательно установленных нагревателя 3, 5 и тигель 6 с рабочей камерой, имеющий возможность осевого перемещения, при этом устройство дополнительно содержит третий - средний нагреватель 4 высотой hс, установленный в зазоре между теплоизоляцией 2 и нагревателями 3, 5, имеющими одинаковые внутренние dв и внешние dн диаметры, симметрично плоскости соприкосновения нижнего 5 и верхнего 3 нагревателей, причем общая высота hвн верхнего 3 и нижнего 5 нагревателей составляет 1,5Н-2Н, внутренний диаметр dв - 1,1D-1,2D, внешний диаметр dн - 1,4D-1,5D, а высота третьего нагревателя hс составляет 0,25Н-0,5Н, его внутренний диаметр Dв - 1,55D-1,65D, и внешний диаметр Dн - 1,85D-1,95D, где Н - высота рабочей камеры тигля, a D - внешний диаметр тигля. Изобретение позволяет получать кристаллы высокого качества за счет обеспечения равномерного и регулируемого температурного поля в области контакта нагревателей. 1 ил., 1 пр.

Изобретение относится к технологии выращивания монокристаллов полупроводников и других кристаллических материалов.

Известны устройства для выращивания кристаллов вертикальным методом Бриджмена, содержащие 2-4 нагревателя для создания заданного градиента температуры, которые расположены соосно с тиглем, содержащим затравочный кристалл и расплав (US 20050076827 A1, US 20070151510 A1, RU №2357021, RU №2199615). В известных устройствах недостатком является снижение температуры в области соприкосновения нагревателей. В этой области теплового узла изменяется градиент температуры в расплаве и на границе раздела фаз, что может привести к поликристаллическому росту.

Наиболее близким по конструктивным особенностям к предлагаемому изобретению является устройство, защищенное патентом США US 5116456 (МПК С30В 11/02, опубликовано 26 мая 1992 г.). Это устройство для выращивания кристаллов вертикальным методом Бриджмена, содержит корпус с размещенной внутри него теплоизоляцией, два последовательно размещенных нагревателя и тигель, установленный с возможностью осевого перемещения. При этом верхняя секция нижнего нагревателя частично перекрывает нижнюю секцию верхнего нагревателя (внутренний диаметр верхнего нагревателя больше внешнего диаметра нижнего нагревателя).

Недостатком этого устройства является локальный перегрев расплава в области перекрытия названных секций нагревателей, что отрицательно влияет на качество выращиваемого кристалла.

Задачей изобретения является обеспечение равномерного и регулируемого температурного поля в области контакта нагревателей.

Техническим результатом является получение кристаллов высокого качества.

Указанные техническая задача и результат достигаются благодаря тому, что в устройстве для выращивания кристаллов вертикальным методом Бриджмена, содержащем корпус с размещенной внутри него теплоизоляцией, два последовательно установленных нагревателя и тигель, имеющий возможность осевого перемещения, дополнительно размещен третий нагреватель высотой h установленный между теплоизоляцией и зазором нагревателей, имеющих одинаковые внутренний и внешний диаметры, симметрично плоскости стыковки нижнего и верхнего нагревателей. При этом общая высота верхнего и нижнего нагревателей составляет 1,5Н-2Н, внутренний диаметр 1,1D-1,2D, внешний диаметр 1,4D-1,5D, а высота третьего нагревателя h составляет 0,25Н-0,5Н, его внутренний диаметр 1,55D-1,65D и внешний диаметр 1,85D-1,95D, где Н-высота рабочей камеры тигля, a D внешний диаметр тигля.

Сущность изобретения поясняется схемой на фиг.

Устройство содержит корпус 1 со слоем внутренней изоляции 2 и три нагревателя - верхний нагреватель 3, средний нагреватель 4 и нижний нагреватель 5. Указанные нагреватели образуют тепловой узел устройства. Внутри ростовой камеры, образованной верхним и нижним нагревателями, размещен с возможностью осевого перемещения тигель 6. Внутри тигля, имеющего внешний диаметр D и высоту рабочей камеры-полости Н, размещается шихта 7 и затравочный кристалл 8. Все устройство смонтировано на подставке 9.

Верхний 3 и нижний 5 нагреватели одинаковой высоты установлены соосно с тиглем 6 один над другим с зазором от 1 до 3 мм, что обусловлено конструкцией нагревателей. Высота heH нагревателей 3 и 5 больше высоты Н тигля 6 в 1,5-2 раза в связи с тем, что цилиндрические нагреватели такой формы в нижней и верхней части близкой к торцам, имеют температуру на 20-30% ниже, чем в средней части. Поэтому величина высоты нагревателей равная 1,5 является минимальным предельным значением. Увеличение высоты нагревателей более чем в 2 раза приведет к увеличению затрат на изготовление нагревателя за счет расхода материалов и затрат электроэнергии в процессе роста монокристаллов.

Внутренний диаметр dв нагревателей 3 и 5 больше диаметра D тигля 6 в 1,1-1,2 раза, а внешний dн больше диаметра тигля 6 в 1,4-1,5 раза. При внутреннем и внешнем диаметрах нагревателей менее 1,1 и 1,4, соответственно, возникает неоднородность теплового поля за счет конструктивных особенностей резистивного нагревателя, что увеличивает неоднородность температуры по сечению кристаллического слитка. Увеличение внутреннего и внешнего диаметров нагревателей более 1,2 и 1,5 раза, соответственно, требует повышения мощности нагревателей за счет увеличения расстояния между нагревателем и контейнером, что значительно повышает расход электроэнергии и требует дополнительной теплоизоляции внешней поверхности нагревателей.

Средний (третий) нагреватель 4 установлен снаружи области соприкосновения верхнего 3 и нижнего 5 нагревателей, благодаря чему не снижается температура в этой области и обеспечивается равномерное температурное поле в области контакта двух нагревателей теплового узла. Высота hc среднего нагревателя 4 соответствует 0,25-0,5 высоты тигля Н. При меньшей высоте нагреватель не обеспечивает подогрев контактной области вследствие того, что эти торцевые области имеют температуру на 20-30% ниже центральной части. При большей высоте нагревателя будет создаваться повышенная температура по сечению контейнера в торцевых областях среднего нагревателя.

Средний нагреватель располагается симметрично относительно области соприкосновения между нагревателями 3 и 5. Определенное перекрытие средним нагревателем 4 концов верхнего и нижнего нагревателей позволяет избежать чрезмерного снижения и повышения температуры в этих областях. Внутренний диаметр Dв среднего нагревателя 4 больше диаметра D тигля 6 в 1,55-1,65 раза, а внешний диаметр среднего Dн больше диаметра D тигля в 1,85-1,95 раза. Уменьшение внутреннего диаметра менее 1,55 раза ограничивается диаметрами нагревателей 3 и 5 в связи с конструктивными особенностями резистивного нагревателя за счет отклонения величины диаметра. Превышение внутреннего диаметра среднего нагревателя более, чем в 1,65 раза приведет к увеличению требуемой мощности нагревателей за счет увеличения расстояния между нагревателем и контейнером, что значительно повысит расход электроэнергии. Уменьшение внешнего диаметра среднего нагревателя менее 1,85 раза из-за конструктивных особенностей резистивного нагревателя не позволит создать равномерное температурное поле в поперечном сечении нагревателей. Увеличение внешнего диаметра среднего нагревателя 4 более чем в 1,95 раза приведет к увеличению расхода материалов, электроэнергии и сложности регулирования температуры.

Подставка контейнера 9 обеспечивает фиксацию тигля с затравочным кристаллом и расплавом на заданной высоте внутри теплового узла, а также способствует отводу тепла от нижней части выращиваемого кристалла. Тигель выполнен в форме цилиндра с плоским дном, благодаря чему достигается устойчивость на подставке 9 и не допускается соприкосновение стенки тигля с нагревательным элементом, что может привести к локальному перегреву расплава в этой области, повышенному дефектообразованию и росту поликристаллического материала.

Устройство функционирует следующим образом.

В тигель 6 загружают затравочный монокристалл 8, а сверху него шихту с поликристаллическим материалом заданного состава. Тигель 6 с затравочным монокристаллом и поликристаллическим материалом устанавливают внутри теплового узла таким образом, чтобы затравка располагалась в нижней части нижнего нагревателя в той его области, в которой обеспечивается условие частичного оплавления верхней части монокристаллической затравки в процессе затравления. После фиксации тигля внутри теплового узла и создания в ростовой камере необходимой атмосферы и давления к нижнему 5 и верхнему 3 нагревателям подается напряжение. Подводимое напряжение увеличивается постепенно, чтобы обеспечить медленный рост температуры загруженного материала. Увеличение температуры должно происходить со скоростью 3-10°С/мин для медленного нагрева и расплавления шихты, предотвращающего увеличение внутренних напряжений в твердой фазе и перегрев расплава. Напряжение вначале подается на нижний 5 и затем на верхний нагреватель 3 до достижения заданной температуры плавления материала. Температуры нижнего и верхнего нагревателей должны соответствовать заданному осевому градиенту температуры. После достижения заданных температур нижнего и верхнего нагревателей для выравнивания температурного профиля в области соприкосновения названных нагревателей на средний нагреватель 4 подают электрическое напряжение, обеспечивающее температуру в этой области, соответствующую заданному осевому градиенту температуры. После расплавления поликристаллического материала и частичного оплавления верхней части затравочного монокристалла производится плавное снижение температуры нагревателей, в результате чего происходит кристаллизация расплава и рост монокристалла от затравки вдоль оси контейнера.

Пример осуществления изобретения

Для выращивания монокристаллов состава Ge:Ga (1019 ат/см3) диаметром 30 мм на дно контейнера загружали затравочный монокристалл германия диаметром 30 мм и высотой 15 мм. Затем загружали шихту -кусковой поликристаллический германий массой 450 г. Контейнер устанавливали внутри теплового узла таким образом, что верхний торец затравочного кристалла находился на высоте 45 мм от нижней кромки нижнего нагревателя. После фиксирования контейнера ростовую камеру вакуумировали до давления 10-3 Па. После достижении заданной величины вакуума в ростовой камере подавали напряжение вначале на нижний и затем на верхний нагреватели для достижения температуры расплава до 950°С, которая выше температуры плавления материала равной 937°С. Подводимое напряжение увеличивали таким образом, чтобы повышение температуры происходило со скоростью 3-10°С/мин. Когда заданная температура расплава была достигнута на средний нагреватель подавалось электрическое напряжение, обеспечивающее температуру в этой области, соответствующую заданному осевому градиенту температуры около 60 К/см. Производили выдержку расплава при температуре 950°С в течение 1 часа. Затем производили охлаждение расплава с заданным осевым градиентом температуры при скорости охлаждения около 1,0 К/мин. В результате получен монокристалл Ge, легированный Ga, с фронтом кристаллизации близким к плоскому.

Проведенные эксперименты по выращиванию кристаллов в предлагаемом устройстве подтверждают его промышленную применимость.

Устройство для выращивания кристаллов вертикальным методом Бриджмена, содержащее корпус с размещенной внутри него теплоизоляцией, два последовательно установленных нагревателя и тигель с рабочей камерой, имеющий возможность осевого перемещения, отличающееся тем, что оно дополнительно содержит третий нагреватель высотой hс, установленный в зазоре между теплоизоляцией и нагревателями, имеющими одинаковые внутренние и внешние диаметры, симметрично плоскости соприкосновения нижнего и верхнего нагревателей, причем общая высота верхнего и нижнего нагревателей составляет 1,5Н-2Н, внутренний диаметр - 1,1D-1,2D, внешний диаметр - 1,4D-1,5D, а высота третьего нагревателя hс составляет 0,25Н-0,5Н, его внутренний диаметр - 1,55D-1,65D, и внешний диаметр - 1,85D-1,95D, где Н - высота рабочей камеры тигля, a D - внешний диаметр тигля.
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ КРИСТАЛЛОВ ВЕРТИКАЛЬНЫМ МЕТОДОМ БРИДЖМЕНА
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ КРИСТАЛЛОВ ВЕРТИКАЛЬНЫМ МЕТОДОМ БРИДЖМЕНА
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 21-30 из 39.
07.06.2019
№219.017.750e

Беспроводное устройство для измерения температуры

Изобретение относится к области кристаллографии, а более конкретно к беспроводным устройствам для контроля температуры в вакуумных ростовых камерах, а также при отжиге кристаллов, выращенных из расплава. Беспроводное устройство для измерения температуры, содержащее термодатчик, блок питания и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002690719
Дата охранного документа: 05.06.2019
04.10.2019
№219.017.d284

Кластер установок для выращивания кристаллов из раствора

Изобретение относится к области выращивания кристаллов. Предлагается кластер установок для выращивания кристаллов из раствора, содержащий несколько кристаллизационных установок 1, которые объединены в отдельные блоки по несколько установок, например по десять, которые образуют кластеры нижнего...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002701940
Дата охранного документа: 02.10.2019
17.10.2019
№219.017.d6c7

Фтор-проводящий композитный электролит и способ его получения

Изобретение относится к фтор-проводящим твердым электролитам (ФТЭЛ), которые используются в различных областях ионики твердого тела, электрохимии, сенсорных систем и низковольтной энергетики, а также к способу его получения. Фтор-проводящий композитный электролит получают кристаллизацией...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002702905
Дата охранного документа: 14.10.2019
18.10.2019
№219.017.d753

Композитный протонопроводящий материал и способ его получения

Изобретение может быть использовано при создании протонообменных мембран, применяемых в топливных элементах на основе водорода. Композитный протонопроводящий материал имеет состав xCs(HSO)(HPO)-(1-х)AlPO, где х=0,5-0,9. Способ получения композитного материала включает получение гидроксида...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002703246
Дата охранного документа: 15.10.2019
17.01.2020
№220.017.f622

Реактор высокого давления для регистрации спектров электронного парамагнитного резонанса

Изобретение относится к области спектроскопии, а именно к устройствам для регистрации спектров электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) в жидкостях и сверхкритических флюидах при высоком давлении. Реактор высокого давления для регистрации спектров электронного парамагнитного резонанса (ЭПР)...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002711218
Дата охранного документа: 15.01.2020
28.03.2020
№220.018.1131

Способ выращивания кристалла из раствора при постоянной температуре

Изобретение относится к области выращивания искусственных кристаллов из растворов. В способе выращивания кристалла из раствора при постоянной температуре, включающем отвод и последующее возвращение раствора в кристаллизатор, общий объем раствора в кристаллизаторе делят на две сообщающиеся...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002717799
Дата охранного документа: 25.03.2020
24.06.2020
№220.018.29cc

Способ получения наностержней никеля с регулируемым аспектным отношением

Изобретение относится к области металлургии, в частности к способам получения никелевых наностержней цилиндрической формы с заданным аспектным отношением. Способ включает изготовление трековой полимерной матрицы, имеющей сквозные каналы-поры, на одну из сторон которой наносят слой меди с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002724264
Дата охранного документа: 22.06.2020
22.07.2020
№220.018.3562

Способ лечения открытоугольной формы глаукомы, устройство для его осуществления и рабочий инструмент

Группа изобретений относится к офтальмологии. Способ лечения открытоугольной формы глаукомы путем обеспечения оттока водянистой влаги через склеру в проекции цилиарного тела посредством серии лазерных аппликаций по его периметру. В месте каждой конкретной аппликации с помощью рабочего...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002727036
Дата охранного документа: 17.07.2020
12.04.2023
№223.018.4310

Способ синхронизированной регистрации рентгеновского излучения и вторичного флуоресцентного излучения в монофотонном режиме при облучении образца рентгеновским излучением

Использование: для синхронизированной регистрации рентгеновского и вторичного флуоресцентного излучения в монофотонном режиме. Сущность изобретения заключается в том, что осуществляют облучение исследуемого образца рентгеновским излучением с последующей регистрацией флуоресцентного излучения от...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002793568
Дата охранного документа: 04.04.2023
20.04.2023
№223.018.4d95

Способ изготовления зонных пластин

Способ изготовления зонных пластин, в котором формируют блок из стеклянных пластин двух сортов, имеющих различную плотность и диэлектрическую проницаемость, но одинаковую площадь и объем, располагая пластины первого и второго сорта поочередно. С обеих сторон блока находятся пакеты пластин из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002793078
Дата охранного документа: 28.03.2023
Показаны записи 1-4 из 4.
05.12.2018
№218.016.a330

Магниторезистивный сплав на основе висмута

Изобретение относится к сплавам на основе висмута, которые могут быть использованы для изготовления датчиков контрольно-измерительной аппаратуры, например датчиков Холла. Сплав на основе висмута содержит, мас. %: сурьма 5,1437216-5,7737629, теллур 0,0000006-0,0003188, висмут – остальное. Сплав...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002673870
Дата охранного документа: 30.11.2018
01.05.2019
№219.017.47c3

Магниторезистивный сплав на основе висмута

Изобретение относится к металлургии, а именно к сплавам на основе висмута, предназначенным для изготовления датчиков контрольно-измерительной аппаратуры. Магниторезистивный сплав на основе висмута содержит, мас.%: сурьма 5,1437216 - 5,7737629, олово 0,000006 - 0,0001, висмут – остальное. Сплав...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002686493
Дата охранного документа: 29.04.2019
14.05.2023
№223.018.54a6

Устройство для измерения термо-эдс тонких пленок

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения термо-ЭДС в тонких пленках металлических, полупроводниковых термоэлектрических материалов. Сущность: устройство для измерения термо-ЭДС тонких пленок длиной L и шириной S, содержит термопары и средства для замера ЭДС....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002737341
Дата охранного документа: 27.11.2020
15.05.2023
№223.018.5a31

Устройство для термической обработки металлических, полупроводниковых подложек и аморфных плёнок

Изобретение относится к технологии термической обработки металлических, полупроводниковых подложек и аморфных пленок. Устройство содержит корпус с размещенной внутри него теплоизоляцией, подложкодержатель и нагреватель, нагреватель содержит два дистанционно расположенных кварцевых кольца,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002761867
Дата охранного документа: 13.12.2021
+ добавить свой РИД