Вид РИД
Изобретение
Известны методы устранения влияния оптического подсвета на ширину линии СВЧ-перехода щелочных атомов. Это производится либо путем уменьшения полной интенсивности оптического подсвета, либо с помощью пространственного разделения областей подсвета и взаимодействия с СВЧ-излучением.
Предложенный способ устранения влияния оптического подсвета на ширину линии в эталоне частоты на парах щелочных металлов отличается от существующих тем, что, с целью улучшения стабильности частоты эталона и уменьшения уширения линии в нем, используют оптический подсвет с частотой следования импульсов, превышающей вклад релаксации щелочных атомов в ширину линии при скважности, большей двух.
Колба с парами щелочного элемента освещается не непрерывным подсветом, а импульсным, с длительностью импульсов, достаточной для накачки атомов, и с периодами темноты, несколько меньшими времени релаксации.
Предлагаемый способ импульсной оптической накачки даст положительный эффект в применении стандартов частоты в системах навигации, в качестве задающих генераторов в радиостанциях, так как с его помощью существенно уменьшается влияние оптического сдвига и повышается стабильность стандарта частоты.
Способ устранения влияния оптического подсвета на ширину линии в эталоне частоты на парах щелочных металлов, отличающийся тем, что, с целью улучшения стабильности частоты эталона и уменьшения уширения линии в нем, используют оптический подсвет с частотой следования импульсов, превышающей вклад релаксации щелочных атомов в ширину линии при скважности, большей двух.