×
08.03.2019
219.016.d3a2

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИНЫ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ИНФРАКРАСНОЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ

Вид РИД

Изобретение

Юридическая информация Свернуть Развернуть
Краткое описание РИД Свернуть Развернуть
Аннотация: Изобретение относится к области бесконтактного исследования поверхности металлов и полупроводников и касается устройства для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ). Устройство содержит источник p-поляризованного монохроматического излучения, цилиндрический фокусирующий объектив, твердотельный плоскогранный образец с направляющей волну гранью, элемент преобразования излучения в ПЭВ, выполненный в виде цилиндрического сегмента, элемент преобразования ПЭВ в объемную волну, идентичный элементу преобразования излучения в ПЭВ, подвижную платформу, размещенное на платформе уголковое зеркало, плоскость симметрии которого параллельна плоскости падения излучения, фотоприемник и подключенный к нему измерительный прибор. Устройство дополнительно содержит непрозрачный экран, разделяющий элементы преобразования, которые, в свою очередь, примыкают к одному ребру волноведущей грани, противолежащему отражающим поверхностям зеркала и перпендикулярному к его плоскости симметрии. Элементы преобразования равноудалены от плоскости симметрии зеркала, а платформа может перемещаться вдоль плоскости падения излучения. Технический результат заключается в сокращении числа входящих в состав устройства зеркал и количества отражений ПЭВ зеркалами в процессе измерений. 1 ил.
Реферат Свернуть Развернуть

Изобретение относится к бесконтактным методам исследования поверхности металлов и полупроводников посредством инфракрасного (ИК) излучения, а именно - к определению ИК спектров поглощения, как самой поверхности, так и ее переходного слоя, путем измерения длины распространения поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ), направляемой этой поверхностью, и может найти применение в исследованиях физико-химических процессов на поверхности твердого тела, в ИК-спектроскопии окисных и адсорбированных слоев, в оптических сенсорных устройствах и контрольно-измерительной технике.

Спектроскопия поверхности твердого тела - одна из основных областей применения ПЭВ [1]. В ИК-диапазоне практикуют, главным образом, абсорбционную ПЭВ-спектроскопию, в которой измеряемой величиной является длина распространения ПЭВ L (расстояние вдоль трека, на котором интенсивность поля ПЭВ уменьшается в е≈2.718 раз), достигающая в этом диапазоне 1000λ, (где λ - длина волны излучения, возбуждающего ПЭВ) и которая, поэтому, может быть измерена непосредственно. Причем, так как расстояние взаимодействия излучения с поверхностью в этом методе макроскопическое, а интенсивность поля ПЭВ максимальна на направляющей ее поверхности, то чувствительность ПЭВ-спектроскопии значительно выше чувствительности иных оптических методов контроля проводящей поверхности в ИК-диапазоне.

Точность определения величины L, а, следовательно, и точность самого метода ПЭВ-спектроскопии, пропорциональна числу N измерений интенсивности ПЭВ в различных точках трека (где N≥2) и в значительной степени зависит от стабильности условий преобразования ПЭВ в детектируемую фотоприемником объемную волну (ОВ); в частности - от неизменности величины зазора между элементом преобразования ПЭВ в ОВ и поверхностью образца в процессе перемещения этого элемента вдоль трека.

Известно устройство для измерения длины распространения монохроматических ПЭВ ИК-диапазона, содержащее источник лазерного излучения, твердотельный образец с плоской поверхностью, направляющей ПЭВ, фиксированный относительно поверхности элемент преобразования излучения в ПЭВ, перемещаемый вдоль трека ПЭВ элемент преобразования ПЭВ в объемную волну, приемник излучения, выходящего из второго элемента преобразования, и измерительный прибор, регистрирующий сигналы с выхода фото приемника [2]. Основными недостатками такого устройства являются низкая точность измерений, обусловленная наличием паразитных приповерхностных объемных волн, порождаемых на первом элементе преобразования в результате дифракции падающего излучения, и вариациями оптической связи между ПЭВ и вторым элементом преобразования в процессе его перемещения.

Известно устройство для измерения длины распространения ИК ПЭВ, содержащее источник лазерного излучения, твердотельный образец, состоящий из двух частей, сопряженных плоскими гранями, фиксированный относительно поверхности первой (по ходу излучения) части элемент преобразования излучения в ПЭВ и подключенный к измерительному прибору фотодетектор, размещенный у края поверхности в плоскости падения излучения; причем, фотодетектор имеет возможность перемещаться вдоль линии пересечения плоскости падения излучения и волноведущей поверхности, а вторая часть образца является съемной [3]. Основными недостатками такого устройства являются низкая точность измерений, обусловленная наличием паразитных приповерхностных объемных волн, порождаемых вследствие дифракции падающего излучения на первом элементе преобразования, и минимальным числом измерений (N=2) интенсивности ПЭВ - при наличии второй части образца и в ее отсутствии.

Известно устройство для измерения длины распространения ПЭВ ИК диапазона, содержащее источник лазерного излучения, твердотельный образец с направляющей ПЭВ плоской гранью и ее ребром, перпендикулярным треку, размещенный в окружающей среде над волноведущей гранью элемент преобразования излучения в ПЭВ, способный перемещаться вдоль трека, приемник излучения, зафиксированный относительно образца и размещенный в плоскости падения на уровне направляющей ПЭВ грани, и измерительный прибор, регистрирующий сигналы с выхода приемника [4]. Основными недостатками известного устройства являются низкая точность измерений, обусловленная наличием паразитных приповерхностных объемных волн, порождаемых при дифракции падающего излучения на элементе преобразования и вариациями оптической связи между ПЭВ и элементом преобразования в процессе его перемещения.

Известно устройство для измерения длины распространения монохроматических ПЭВ ИК диапазона, содержащее источник излучения, направляющий ПЭВ составной твердотельный образец, состоящий из примыкающих друг к другу двух частей, первая из которых является плоскогранной, а вторая - полуцилиндром с радиусом образующей меньше длины распространения ПЭВ, основание которого сопряжено с торцом первой части и ориентировано перпендикулярно треку ПЭВ, размещенный в окружающей среде над волноведущей поверхностью неподвижный элемент преобразования излучения в ПЭВ, приемник излучения, размещенный в плоскости падения излучения у края второй части, а также - измерительный прибор, подключенный к приемнику; причем, обе части образца и приемник размещены на подвижной платформе, способной перемещаться параллельно волноведущей поверхности первой части [5]. Основным недостатком такого устройства является низкая точность измерений, обусловленная изменением величины зазора между элементом преобразования и поверхностью первой части, а также - смещением пучка излучения источника относительно этого элемента в процессе перемещения платформы.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому устройству является устройство для измерения длины распространения РЖ ПЭВ, содержащее источник p-поляризованного монохроматического излучения, твердотельный образец с направляющей волну плоской гранью, элемент преобразования излучения в ПЭВ, выполненный в виде цилиндрического сегмента, ось которого перпендикулярна плоскости падения излучения, а его выпуклая поверхность, способная направлять ПЭВ, примыкает к грани образца и имеет протяженность линии пересечения с плоскостью падения меньше длины распространения ПЭВ, перемещаемую параллельно грани платформу, элемент преобразования ПЭВ в объемную волну, фотоприемник и подключенный к нему измерительный прибор, регулируемую линию задержки, состоящую из четырех зеркал, ориентированных перпендикулярно к поверхности образца и примыкающих к ней; причем, ось симметрии линии перпендикулярна треку ПЭВ, одна пара зеркал линии фиксирована на треке в плоскости падения, а вторая - размещена на платформе, перемещение которой ограничено направлением вдоль оси симметрии линии; кроме того, элемент преобразования ПЭВ в объемную волну идентичен элементу преобразования излучения источника в ПЭВ, но примыкает к противоположному ребру грани образца в месте ее пересечения с плоскостью падения [6]. Основными недостатками известного устройства являются избыточное число зеркал, отражающих пучок ПЭВ в процессе измерений, что приводит не только к удорожанию устройства и усложнению его юстировки, но и к понижению точности измерений вследствие понижения соотношения сигнал/шум из-за порождения паразитных объемных волн при каждом взаимодействии ПЭВ с зеркалом.

Техническим результатом, на достижение которого направлено изобретение, является сокращение числа входящих в состав устройства зеркал и количества отражений ПЭВ зеркалами в процессе измерений.

Технический результат достигается тем, что в устройстве для измерения длины распространения ИК ПЭВ, содержащем источник p-поляризованного монохроматического излучения, цилиндрический фокусирующий объектив, твердотельный плоскогранный образец с направляющей волну гранью, элемент преобразования излучения в ПЭВ, выполненный в виде цилиндрического сегмента, ось которого перпендикулярна плоскости падения излучения, а его выпуклая поверхность, способная направлять ПЭВ, примыкает к волноведущей грани образца и имеет протяженность линии пересечения с плоскостью падения меньше длины распространения ПЭВ, элемент преобразования ПЭВ в объемную волну, идентичный элементу преобразования излучения в ПЭВ и также примыкающий к волноведущей грани, подвижную платформу, перемещаемую параллельно этой грани, размещенное на платформе уголковое зеркало, ориентированное перпендикулярно к волноведущей грани и примыкающее к ней своими отражающими поверхностями, фотоприемник и подключенный к нему измерительный прибор, плоскость симметрии зеркала ориентирована параллельно плоскости падения излучения, а само устройство дополнительно содержит непрозрачный экран, разделяющий элементы преобразования, которые, в свою очередь, примыкают к одному ребру волноведущей грани, противолежащему отражающим поверхностям зеркала и перпендикулярному к его плоскости симметрии, причем эти элементы равноудалены от последней, а платформа может перемещаться вдоль плоскости падения излучения.

Сокращение числа входящих в состав устройства зеркал и количества отражений ПЭВ зеркалами в процессе измерений достигается размещением элементов преобразования излучения в ПЭВ и обратно у одного ребра волноведущей грани, а не у ее противоположных ребер как это выполнено в устройстве-прототипе. При таком размещении элементов преобразования устраняется необходимость отклонения пучка ПЭВ (с помощью второго уголкового зеркала) от плоскости падения излучения, а важное условие высокого соотношения сигнал/шум - неподвижность элементов преобразования в ходе измерений - по-прежнему соблюдается. Кроме того, размещением элементов преобразования у одного ребра волноведущей грани образца позволяет уменьшить ее необходимый (для выполнения измерений) размер, а, значит, и уменьшить размер всего устройства.

На Фиг. 1 приведена схема заявляемого устройства (вид сверху), где 1 - источник p-поляризованного монохроматического излучения, 2 - фокусирующее цилиндрическое зеркало, образующая которого перпендикулярна плоскости падения излучения; 3 - цилиндрический элемент преобразования излучения в ПЭВ, выпуклая поверхность которого способна направлять ПЭВ, ее образующая параллельна образующей зеркала 2, а дуга в плоскости падения короче длины распространения ПЭВ; 4 - плоская грань образца, сопряженная своим ребром с элементом 3 и способная направлять ПЭВ; 5 - уголковое зеркало, отражающие поверхности которого перпендикулярны к грани 4, примыкают к ней и обращены к ребру грани 4, сопряженному с элементом 3, таким образом, что плоскость симметрии зеркала параллельна плоскости падения излучения; 6 - элемент преобразования ПЭВ в объемное излучение, идентичный элементу 3 и примыкающий к тому же ребру грани 4, причем элементы 3 и 6 расположены симметрично относительно плоскости падения и равноудалены от нее; 7 - фотоприемник; 8 - электроизмерительный прибор, подключенный к приемнику 7; 9 - непрозрачный экран, разделяющий элементы 3 и 6; 10 - подвижная платформа, содержащая зеркало 5 и способная перемещаться параллельно грани 4 вдоль плоскости падения излучения.

Заявляемое устройство работает следующим образом. Излучение источника 1 падает на зеркало 2, которое фокусирует его на свободное ребро цилиндрической поверхности элемента 3 с радиусом кривизны не менее 100⋅λ, что обеспечивает неизлучающий характер ПЭВ на ней. Дифрагируя на ребре, излучение преобразуется в ПЭВ, направляемую выпуклой поверхностью элемента 3. Достигнув ее второго ребра, ПЭВ переходит на плоскую грань 4 образца и распространяется по ней с некоторым затуханием, обусловленным джоулевыми потерями в материале образца. Вследствие потерь, интенсивность ПЭВ уменьшается вдоль трека по экспоненциальному закону, характеризуемому длиной распространения L волны. Дойдя до уголкового зеркала 5, ПЭВ последовательно взаимодействует с его отражающими поверхностями и изменяет направление своего распространения на обратное. Вернувшись на исходное ребро грани 4, ПЭВ переходит на выпуклую поверхность элемента 6. Достигнув ее свободного ребра, ПЭВ дифрагирует на нем и трансформируется в объемное излучение, поступающее во входное окно приемника 7, сопряженного с прибором 8. Показания прибора 8 пропорциональны интенсивности детектируемой объемной волны, а, следовательно, и интенсивности ПЭВ на свободном ребре элемента 6. При этом приемник 7 защищен от паразитных засветок, исходящих от элемента 3, непрозрачным экраном 9, что способствует повышению соотношения сигнал/шум. Изменив расстояние между зеркалом 5 и ребром грани 4, сопряженным с элементами 3 и 6, с помощью платформы 10, на которой укреплено зеркало 5, вновь регистрируют интенсивность ПЭВ, прошедшей в этот раз иное расстояние по грани 4. Тогда длину распространения ПЭВ L можно рассчитать по формуле [1]:

где |Δх| - изменение расстояния между зеркалом 5 и исходным ребром грани 4; I1 и I2 - сигналы, регистрируемые прибором 8 до и после изменения этого расстояния. Выполнив измерения и рассчитав значения L для большого числа расстояний х, пробегаемых ПЭВ, находят среднее значение L. Многократность измерений и усреднение их результатов способствуют повышению точности определения L. Отметим, что в заявляемом устройстве, как и в прототипе, элементы преобразования 3 и 6 выполнены в виде цилиндрических сегментов, выпуклые поверхности которых способны направлять ПЭВ; такая форма этих элементов позволяет им выполнять, наряду с функцией преобразования волн, и дополнительную функцию экранирования элементов схемы от паразитных волн, порождаемых излучением источника 1 на свободном ребре элемента 3 и при взаимодействии ПЭВ с зеркалом 5 [7].

В качестве примера применения заявляемого устройства рассмотрим возможность измерения длины распространения ПЭВ L, генерируемой излучением с λ=130 мкм на поверхности непрозрачного слоя золота, напыленного на плоскую грань размещенной в воздухе полированной стеклянной подложки и содержащего покровный слой сульфида цинка толщиной 0.5 мкм. Известно, что в этом случае L≈280 мм [7]. Пусть грань 4 имеет размер 100×50 мм2 (в два раза меньше, чем в прототипе), что обеспечивает максимальную длину пробега ПЭВ до 200 мм. Тогда, при шаге смещения зеркала 5 равном 10 мкм и максимальном изменении расстояния от этого зеркала до ребра грани 4 равном 70 мм, число измерений N интенсивности ПЭВ будет равно 7000 (на 40% больше, чем в прототипе), что обеспечивает статистическую погрешность определения L не превышающую ее значение при использовании устройства-прототипа.

Таким образом, по сравнению с прототипом, заявляемое устройство позволяет сократить число входящих в состав устройства зеркал и количество отражений ПЭВ зеркалами в процессе измерений, что не только удешевляет устройство и упрощает его юстировку, но и позволяет уменьшить размер устройства, не понижая точности измерений.

Источники информации, принятые во внимание при составлении заявки:

1. Поверхностные поляритоны. Электромагнитные волны на поверхностях и границах раздела сред / Под ред. В.М. Аграновича и Д.Л. Миллса. - М.: Наука, 1985. - 525 с.

2. Жижин Г.Н., Москалёва М.А., Шомина Е.В., Яковлев В.А. Селективное поглощение ПЭВ, распространяющейся по металлу в присутствии тонкой диэлектрической пленки // Письма в ЖЭТФ, 1976, т. 24, Вып.4, с. 221-225.

3. Жижин Г.Н., Мустафина О.М., Никитин А.К. Устройство для измерения длины распространения ПЭВ ИК-диапазона // Патент РФ на изобретение №2380664. - Бюл. №3 от 27.01.2010 г.

4. Gerasimov V.V., Knyazev В.A., Nikitin А.K., Zhizhin G.N. A way to determine the permittivity of metalized surfaces at terahertz frequencies // Applied Physics Letters, 2011, v. 98, No. 17, 171912.

5. Никитин A.К., Жижин Г.Н., Князев Б.А., Никитин В.В. Устройство для измерения длины распространения монохроматических поверхностных электромагнитных волн инфракрасного диапазона // Патент РФ на изобретение №2470269, Бюл. №35 от 20.12.2012 г.

6. Никитин А.К., Князев Б.А., Герасимов В.В. Устройство для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны // Патент РФ на изобретение RU 2645008, Бюл. №5 от 15.02.2018 г. (прототип)

7. Gerasimov V.V., Knyazev В.А., Lemzyakov A.G., Nikitin A.K., Zhizhin G.N. Growth of terahertz surface plasmon propagation length due to thin-layer dielectric coating // Journal of the Optical Society of America (B), 2016, v.33, Is. 11, p. 2196-2203.

Устройство для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ), содержащее источник p-поляризованного монохроматического излучения, цилиндрический фокусирующий объектив, твердотельный плоскогранный образец с направляющей волну гранью, элемент преобразования излучения в ПЭВ, выполненный в виде цилиндрического сегмента, ось которого перпендикулярна плоскости падения излучения, а его выпуклая поверхность, способная направлять ПЭВ, примыкает к волноведущей грани образца и имеет протяженность линии пересечения с плоскостью падения меньше длины распространения ПЭВ, элемент преобразования ПЭВ в объемную волну, идентичный элементу преобразования излучения в ПЭВ и также примыкающий к волноведущей грани, подвижную платформу, перемещаемую параллельно этой грани, размещенное на платформе уголковое зеркало, ориентированное перпендикулярно к волноведущей грани и примыкающее к ней своими отражающими поверхностями, фотоприемник и подключенный к нему измерительный прибор, отличающееся тем, что плоскость симметрии зеркала параллельна плоскости падения излучения, и устройство дополнительно содержит непрозрачный экран, разделяющий элементы преобразования, которые, в свою очередь, примыкают к одному ребру волноведущей грани, противолежащему отражающим поверхностям зеркала и перпендикулярному к его плоскости симметрии, причем эти элементы равноудалены от последней, а платформа может перемещаться вдоль плоскости падения излучения.
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИНЫ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ИНФРАКРАСНОЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИНЫ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ИНФРАКРАСНОЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 1-10 из 22.
25.08.2017
№217.015.b6c1

Устройство для обнаружения неоднородностей на плоских гранях потока однотипных проводящих изделий в инфракрасном излучении

Изобретение относится к оптическим методам контроля качества поверхности металлов и полупроводников, а именно к инфракрасной (ИК) амплитудной рефлектометрии. Устройство содержит источник p-поляризованного монохроматического излучения, два элемента преобразования излучения в ПЭВ, приемник...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002614660
Дата охранного документа: 28.03.2017
26.08.2017
№217.015.e2fc

Метод и устройство для регистрации изображений фазовых микрообъектов в произвольных узких спектральных интервалах

Изобретение относится к технологиям количественной фазовой микроскопии и предназначено для измерения пространственного распределения фазовой задержки, вносимой прозрачным микрообъектом, в произвольных узких спектральных интервалах. Способ заключается в том, что прошедшее через микрообъект...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002626061
Дата охранного документа: 21.07.2017
20.01.2018
№218.016.119b

Способ определения диэлектрической проницаемости металла в терагерцовом диапазоне спектра

Изобретение относится к области оптических измерений и касается способа определения диэлектрической проницаемости металла в терагерцовом диапазоне спектра. Способ включает в себя возбуждение зондирующим пучком поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) на плоской поверхности металлического...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002634094
Дата охранного документа: 23.10.2017
17.02.2018
№218.016.2acd

Способ генерации непрерывного широкополосного инфракрасного излучения с регулируемым спектром

Изобретение относится к области оптики и касается способа генерации непрерывного широкополосного инфракрасного излучения с регулируемым спектром. Способ включает в себя нагрев металлического тела, содержащего две смежные плоские грани, генерацию оптическими фононами тела на одной из граней...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002642912
Дата охранного документа: 29.01.2018
04.04.2018
№218.016.3174

Устройство для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны

Изобретение относится к области оптических измерений и касается устройства для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ). Устройство включает в себя источник монохроматического излучения, твердотельный образец с направляющей волну плоской гранью,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002645008
Дата охранного документа: 15.02.2018
09.06.2018
№218.016.5ace

Триангуляционный метод измерения площади участков поверхности внутренних полостей объектов известной формы

Изобретение относится к технологиям визуально-измерительного контроля (ВИК), позволяющим по зарегистрированным изображениям обнаружить искомые элементы поверхности контролируемых объектов в труднодоступных внутренних полостях различных технических устройств и сооружений и измерить...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002655479
Дата охранного документа: 28.05.2018
09.06.2018
№218.016.5aef

Способ и устройство регистрации пространственного распределения оптических характеристик труднодоступных объектов

Способ заключается в том, что объект освещают широкополосным светом, формируют пучок излучения, переносящий изображение объекта, делят его на два идентичных пучка, один из которых пространственно фильтруют, формируя волну с известной формой волнового фронта, совмещают направления...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002655472
Дата охранного документа: 28.05.2018
02.12.2018
№218.016.a28f

Двухкомпонентный интерферометр общего пути

Устройство предназначено для регистрации пространственного распределения фазовой задержки, вносимой оптически прозрачным микрообъектом, и измерению его характеристик. Устройство состоит из оптически связанных и расположенных последовательно первого оптического компонента, фокусирующего...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002673784
Дата охранного документа: 29.11.2018
08.03.2019
№219.016.d343

Акустооптическая ячейка для реализации обратной коллинеарной дифракции терагерцевого излучения на ультразвуковой волне в жидкости

Использование: для управления такими параметрами электромагнитного излучения терагерцевого диапазона, как направление распространения, интенсивность, поляризация, частота и фаза. Сущность изобретения заключается в том, что акустооптическая ячейка (АО-ячейка) содержит герметичный контейнер с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002681420
Дата охранного документа: 06.03.2019
14.03.2019
№219.016.df80

Устройство для определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения

Изобретение относится к области исследования поверхности материалов оптическими методами и касается устройства определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения. Устройство включает в себя источник...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002681658
Дата охранного документа: 12.03.2019
Показаны записи 1-10 из 39.
20.02.2013
№216.012.26f5

Активирующий люминесценцию белка гидридный комплекс

Изобретение относится к области биосенсорики и может быть использовано для изучения белков методом люминесценции. Обработкой ультразвуком белка, содержащего ароматические аминокислоты, в физиологическом растворе в присутствии фосфора YHrVO или YЕrYОСl, получают активирующий люминесценцию белка...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002475493
Дата охранного документа: 20.02.2013
20.03.2013
№216.012.3012

Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр

Изобретение относится к инфракрасной спектроскопии поверхностей металлов и полупроводников. Спектрометр содержит перестраиваемый по частоте источник p-поляризованного монохроматического излучения, элемент преобразования излучения источника в поверхностные плазмоны (ПП), твердотельный проводящий...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002477841
Дата охранного документа: 20.03.2013
20.03.2013
№216.012.3013

Плазмонный фурье-спектрометр терагерцового диапазона

Изобретение относится к оптическим методам исследования поверхности металлов и полупроводников. Спектрометр содержит источник объемного излучения, светоделитель, расщепляющий излучение на измерительный и реперный пучки, зеркало, твердотельный проводящий образец с двумя сопряженными скругленным...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002477842
Дата охранного документа: 20.03.2013
20.04.2013
№216.012.37c8

Способ локализации неоднородностей металлической поверхности в инфракрасном излучении

Изобретение относится к оптическим методам контроля качества поверхностей металлов и полупроводников. Способ включает воздействие на поверхность зондирующим излучением, для которого металл имеет отрицательную действительную часть диэлектрической проницаемости, преобразование излучения в набор...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002479833
Дата охранного документа: 20.04.2013
27.08.2013
№216.012.651d

Способ определения набега фазы монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона

Изобретение относится к оптическим методам контроля проводящей поверхности в инфракрасном (ИК) излучении и может быть использовано в физико-химических исследованиях динамики роста переходного слоя поверхности, в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002491522
Дата охранного документа: 27.08.2013
27.08.2013
№216.012.6528

Способ определения глубины проникновения поля терагерцовых поверхностных плазмонов в окружающую среду

Изобретение относится к оптическим методам контроля поверхности металлов и полупроводников в терагерцовом диапазоне спектра и может найти применение в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий металлизированных изделий и полупроводниковых подложек, в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002491533
Дата охранного документа: 27.08.2013
27.08.2013
№216.012.655e

Способ управления спектром пучка широкополосного терагерцового излучения

Изобретение относится к оптике дальнего инфракрасного (ИК) и терагерцового (ТГц) диапазонов и может найти применение в установках, содержащих широкополосные источники ТГц-излучения, в ТГц плазменной и фурье-спектроскопии проводящей поверхности и тонких слоев на ней, в перестраиваемых фильтрах...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002491587
Дата охранного документа: 27.08.2013
10.04.2014
№216.012.b754

Способ измерения длины распространения инфракрасных поверхностных плазмонов по реальной поверхности

Изобретение относится к области бесконтактного исследования поверхности металлов оптическими методами, а именно к способу измерения длины распространения поверхностных плазмонов, направляемых этой поверхностью. Способ включает измерение интенсивности излучения вдоль трека плазмонов и расчет...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002512659
Дата охранного документа: 10.04.2014
20.07.2014
№216.012.de9d

Способ пассивной локализации ребер прямоугольного металлического параллелепипеда в инфракрасном излучении

Изобретение относится к бесконтактным пассивным методам обнаружения и локализации металлических объектов в инфракрасном (ИК) излучении, а именно к локализации металлических тел в форме прямоугольного параллелепипеда путем регистрации излучаемого ими теплового ИК-излучения, и может найти...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002522775
Дата охранного документа: 20.07.2014
27.08.2014
№216.012.ee8d

Способ сопряжения набора вторичных плазмон-поляритонных каналов связи терагерцового диапазона с основным каналом

Изобретение относится к области средств коммуникации, в которых перенос информации осуществляется поверхностными электромагнитными волнами, точнее поверхностными плазмон-поляритонами (ППП) терагерцового (ТГц) диапазона, направляемыми плоской поверхностью проводящей подложки, и может найти...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002526888
Дата охранного документа: 27.08.2014
+ добавить свой РИД