×
20.01.2018
218.016.1c4c

Результат интеллектуальной деятельности: НИЗКООМНЫЙ ЧИП-РЕЗИСТОР

Вид РИД

Изобретение

№ охранного документа
0002640575
Дата охранного документа
10.01.2018
Аннотация: Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству низкоомных чип-резисторов, которые могут быть использованы в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в частности для применения в качестве датчиков тока. Технический результат предложенного устройства заключается в создании низкоомного чип-резистора со значением ТКС, которое не превышает целевого значения при заданном значении сопротивления. Технический результат достигается за счет того, что предложен низкоомный чип-резистор, включающий резистивную пластину с контактами на концах, с покрытием из изолирующего материала между контактами и гальваническим покрытием на контактах, при этом участок низкоомного чип-резистора, состоящий из контакта с гальваническим покрытием и смежной с контактом части резистивной пластины, образует вывод чип-резистора, а контакты имеют конфигурацию, при которой общее сопротивление выводов удовлетворяет математической зависимости. 1 ил., 1 табл.

Изобретение относится к электронной технике, а именно к чип-резисторам, которые могут быть использованы в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в частности для применения в качестве датчиков тока.

Из уровня техники широко известны низкоомные чип-резисторы, применяемые в качестве датчиков тока. Как правило, такие чип-резисторы обладают низким температурным коэффициентом сопротивления (ТКС), не превышающим значение 300 ppm 1/°С. ТКС характеризует обратимое изменение сопротивления резистора вследствие изменения температуры окружающей среды или изменения электрической нагрузки. Чем меньше ТКС, тем лучшей температурной стабильностью обладает чип-резистор. Чип-резисторы обладают определенным показателем ТКС, указываемым производителем в сопроводительной документации.

Производство низкоомных чип-резисторов с низким ТКС подразумевает повышенную точность и сложность производственных процессов, связанных с решением задач по снижению ТКС. Поэтому, применяя принцип достаточности показателей для решения разных технологических задач, используют низкоомные чип-резисторы с разным ТКС. При этом, хотя все значения ТКС у производимых чип-резисторов как правило не превышают 300 ppm 1/°С, однако не существует способов изначального задания значения ТКС в готовом изделии (за счет подбора оптимальной их конфигурации).

Известен чип-резистор и способ его производства, патент US 8242878, опубл. 14.08.2012, Н01С 1/02. Известный чип-резистор включает резистивную металлическую пластину, выполняющую роль основания чип-резистора без использования отдельной подложки, контакты на концах пластины, гальваническое покрытие на контактах, обеспечивающее паяемость, и покрытие из изолирующего материала на пластине между контактами. Технология получения чип-резистора включает в себя заготовку резистивной металлической пластины, формирование контактов на концах пластины, формирование гальванического покрытия на контактах, формирование покрытия из изолирующего материала на пластине между контактами, подгонку сопротивления металлической полосы. Представленная технология позволяет создавать чип-резисторы малых размеров, в частности типоразмера 0402 (1 мм на 0,5 мм) и сопротивлением до 1 мОм. Описанный в патенте чип-резистор выбран за ближайший аналог.

Недостатком известного устройства является то, что его конструктивные особенности не предусматривают возможность получения гарантированных значений ТКС и сопротивления и или их различного сочетания.

Технический результат заключается в создании низкоомного чип-резистора со значением ТКС, которое не превышает целевого значения при заданном значении сопротивления.

Технический результат достигается за счет того, что предложен низкоомный чип-резистор, включающий резистивную пластину с контактами на концах, с покрытием из изолирующего материала между контактами и гальваническим покрытием на контактах, при этом участок низкоомного чип-резистора, состоящий из контакта с гальваническим покрытием и смежной с контактом части резистивной пластины, образует вывод чип-резистора, а контакты имеют конфигурацию, при которой общее сопротивление выводов удовлетворяет условию:

где Rв - общее сопротивление выводов,

Rоб - общее сопротивление низкоомного чип-резистора,

ТКСоб - общий температурный коэффициент сопротивления низкоомного чип-резистора,

ТКСр - температурный коэффициент сопротивления резистивной пластины,

ТКСв - температурный коэффициент сопротивления выводов.

На чертеже показана конструкция низкоомного чип-резистора, где обозначены:

1 - резистивная пластина;

2 - контакты;

3 - гальваническое покрытие;

4 - покрытие из изолирующего материала;

5 - вывод;

L - длина контакта.

Предлагаемый низкоомный чип-резистор в общем случае включает резистивную пластину 1 из манганина с медными контактами 2 на концах на обеих сторонах пластины 1. На контакты нанесено гальваническое покрытие 3, состоящее из слоев никеля и припоя (сплава олова со свинцом). Между контактами 2 на резистивную пластину 1 нанесено покрытие из изолирующего материала 4. При этом участок низкоомного чип-резистора, состоящий из контакта с гальваническим покрытием и смежной с контактом части резистивной пластины, образует вывод чип-резистора 5. Контакты 2 имеют конфигурацию, при которой общее сопротивление выводов 5 удовлетворяет условию (1).

Предлагаемое устройство изготавливают следующим образом.

На каждом из двух концов на обеих сторонах пластины 1 известным гальваническим методом формируют слой из меди с образованием контактов 2. Чтобы исключить возникновение переходных сопротивлений между медными контактами 2 и резистивной пластиной 1 перед гальваническим наращиванием контактов 2 проводят процедуру снятия окисных пленок с поверхности резистивной пластины 1 в кислой среде с использованием сильных или слабых неорганических кислот в соответствующей для реакции концентрации (например, в растворе K2Cr2O7 концентрацией 80±5 г/л с серной кислотой концентрацией 615±15 г/л при комнатной температуре в течение 10-15 сек или раствора HCl в соотношении компонентов 1:1 при комнатной температуре, время активации 30-40 сек). При этом контакты 2 формируют на обеих сторонах резистивной пластины 1 для возможности монтажа чип-резистора на печатную плату любой из его сторон. Далее известным способом, например методом лазерной резки резистивной пластины, подгоняют целевую величину общего сопротивления чип-резистора в пределах допустимого отклонения сопротивления. Затем между медными контактами на резистивную пластину на обеих сторонах наносят покрытие из изолирующего материала 4, например краску. После этого на медные контакты гальваническим методом наносят гальваническое покрытие 3 для обеспечения паяемости изделия.

Для того чтобы конечное изделие обладало заданным значением сопротивления Rоб и значением ТКС, которое не превышает требуемое значение ТКСоб, на этапе формирования контактов проводят выбор их конфигурации, а именно задают длину и площадь поперечного сечения контактов таким образом, чтобы выполнялось соотношение (1). Для расчета правой части соотношения (1) используют известные значения ТКСр и ТКСв и требуемые значения и ТКСоб. При оценке требований, предъявляемых к конфигурации контактов, используется значение ТКС наиболее высокопроводящего материала в выводе. Длину и площадь поперечного сечения контактов задают используя известное соотношение определения сопротивления:

где

ρ - удельное сопротивление контакта,

L - длина контакта,

S - площадь поперечного сечения контакта (плоскостью поперечной относительно длины вывода L).

Подставляя соотношение (2) в (1) и учитывая то, что контакты расположены на обоих концах резистивной пластины, получаем:

Таким образом при выборе длины и площади сечения контактов необходимо, чтобы их отношение удовлетворяло условию (3). Если условие (3) будет выполнено, то в конечном изделии будут достигнуты требуемые значения Rоб и значение ТКС, не превышающее требуемое ТКСоб.

Следует отметить, что соотношения (1) и (3) применимы только в случае отсутствия дополнительных переходных сопротивлений в изделии, которые могут возникнуть в процессе производства между медными контактами и резистивной пластиной, при этом значения таких дополнительных переходных сопротивлений непредсказуемы. Поэтому для работы соотношений (1) и (3) необходимо перед гальваническим наращиванием контактов проводить процедуру снятия окисных пленок с поверхности резистивной пластины, что сведет к минимуму наличие переходных сопротивлений.

Полученные экспериментальным путем соотношения (1) и (3) подтверждены теоретическими выводами при условии, что в качестве значения ТКСв при оценке требований к конфигурации контактов используется значение ТКС материала наиболее высокопроводящего участка вывода.

Пример 1.

Ставилась задача создания низкоомного чип-резистора стандартного (широко применяемого) типоразмера 2512 со значением параметра ТКС конечного изделия не более ТКСоб=100 ppm 1/°С при заданном сопротивлении Rоб=10 мОм.

В качестве основы низкоомного чип-резистора использовали резистивную пластину из манганина размером 6,3 мм × 3,2 мм. На каждом из двух концов пластины по обеим ее сторонам гальваническим методом формировали слой меди, образуя тем самым контакты. Перед гальваническим наращиванием контактов проводили процедуру снятия окисных пленок с поверхности резистивной пластины в растворе K2Cr2O7 концентрацией 80±5 г/л с серной кислотой концентрацией 615±15 г/л при комнатной температуре в течение 10-15 сек. Далее методом лазерной резки резистивной пластины подгоняли общее сопротивления чип-резистора в пределы допустимого отклонения. Затем между медными контактами на манганиновую пластину на обеих сторонах наносили краску. После этого на медные контакты гальваническим методом наносили покрытие - слои никеля и припоя (сплав олова со свинцом).

Известно, что температурный коэффициент сопротивления манганиновой пластины ТКСр=10 ppm, а температурный коэффициент вывода (для наихудшего случая) ТКСв=4300 ppm.

В соответствии с соотношением (1) для обеспечения значения параметра ТКС конечного изделия не более ТКСоб=100 ppm 1/°С, требовалось сформировать контакты такой конфигурации, чтобы сопротивление вывода Rв, не превышало 0,2 мОм. Учитывая удельное сопротивление меди , из соотношения (3) следовало, что необходимо выполнение условия:

Варианты возможного исполнения конфигурации медных контактов низкоомного чип-резистора типоразмера 2512 для Примера 1 представлены в таблице 1.

Из таблицы 1 видно, что при задании конфигурации контактов таким образом, что выполняется соотношение (4), фактическое значение ТКСоб конечного изделия не превышает 100 ppm 1/°С. Если же соотношение (4) не выполняется (6-ая и 7-ая строки табл. 1), то фактическое значение ТКСоб больше 100 ppm 1/°С.

Сопротивление низкоомных чип-резисторов измеряли в соответствии с ГОСТом 21342.20-78 "Резисторы. Метод измерения сопротивления". Температурный коэффициент сопротивления (ТКС) измеряли согласно ГОСТу 21342.15-78 «Резисторы. Метод определения температурной зависимости сопротивления».

Приведенные в примере варианты исполнения конфигурации контактов не ограничивают всевозможные варианты исполнения конфигурации контактов, которые могут быть и другими.

С помощью примера показано, что конструкция предложенного низкоомного чип-резистора позволяет задавать значение ТКС, которое не превышает целевого значения при заданном значении сопротивления.


НИЗКООМНЫЙ ЧИП-РЕЗИСТОР
НИЗКООМНЫЙ ЧИП-РЕЗИСТОР
НИЗКООМНЫЙ ЧИП-РЕЗИСТОР
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 1-10 из 11.
10.11.2013
№216.012.7f90

Устройство для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте

Изобретение относится к технике испытаний электронных компонентов в полосковых линиях передачи в СВЧ диапазоне с помощью векторного анализа цепей компонентов. Устройство для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте, содержащее установленные на основании неподвижную стойку и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002498329
Дата охранного документа: 10.11.2013
10.04.2015
№216.013.40c0

Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов и устройство для его осуществления

Изобретение относится к области измерения характеристик материалов и может быть использовано для определения диэлектрической проницаемости изоляционных композитных и других материалов. Способ основан на измерении комплексного коэффициента отражения электромагнитных волн от отрезка линии...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002548064
Дата охранного документа: 10.04.2015
10.06.2015
№216.013.4fa0

Способ изготовления чип-резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления чип-резисторов, включающем формирование резистивного слоя путем напыления с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002551905
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5271

Способ изготовления толстопленочных резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления толстопленочных резисторов, включающем последовательное нанесение методом...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552626
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5275

Способ изготовления чип-резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления чип-резисторов, включающем формирование резистивного слоя путем напыления с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552630
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5276

Способ изготовления толстопленочных резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления толстопленочных резисторов, включающем последовательное нанесение методом...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552631
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5325

Линия нанесения гальванохимических покрытий на мелкие детали

Изобретение относится к области гальванотехники, в частности к оборудованию для нанесения химических и гальванических покрытий, и служит для гальванохимической обработки мелких деталей россыпью, в частности для нанесения гальванического покрытия на охватывающие контакты чип-резисторов. Линия...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552806
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.05.2016
№216.015.3cc7

Способ изготовления тонкопленочного резистора

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в том числе мощных высокочастотных цепях. В способе изготовления тонкопленочного резистора, включающем...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002583952
Дата охранного документа: 10.05.2016
20.05.2016
№216.015.3e72

Пленочный резистор

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в том числе мощных, высокочастотных цепях. В пленочном резисторе, включающем диэлектрическую подложку и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002584032
Дата охранного документа: 20.05.2016
29.12.2017
№217.015.f9a2

Способ изготовления низкоомного чип-резистора

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству низкоомных чип-резисторов, которые могут быть использованы в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в частности для применения в качестве датчиков тока. Технический результат предложенного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002639313
Дата охранного документа: 21.12.2017
Показаны записи 1-10 из 11.
10.11.2013
№216.012.7f90

Устройство для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте

Изобретение относится к технике испытаний электронных компонентов в полосковых линиях передачи в СВЧ диапазоне с помощью векторного анализа цепей компонентов. Устройство для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте, содержащее установленные на основании неподвижную стойку и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002498329
Дата охранного документа: 10.11.2013
10.04.2015
№216.013.40c0

Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов и устройство для его осуществления

Изобретение относится к области измерения характеристик материалов и может быть использовано для определения диэлектрической проницаемости изоляционных композитных и других материалов. Способ основан на измерении комплексного коэффициента отражения электромагнитных волн от отрезка линии...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002548064
Дата охранного документа: 10.04.2015
10.06.2015
№216.013.4fa0

Способ изготовления чип-резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления чип-резисторов, включающем формирование резистивного слоя путем напыления с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002551905
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5271

Способ изготовления толстопленочных резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления толстопленочных резисторов, включающем последовательное нанесение методом...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552626
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5275

Способ изготовления чип-резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления чип-резисторов, включающем формирование резистивного слоя путем напыления с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552630
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5276

Способ изготовления толстопленочных резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления толстопленочных резисторов, включающем последовательное нанесение методом...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552631
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5325

Линия нанесения гальванохимических покрытий на мелкие детали

Изобретение относится к области гальванотехники, в частности к оборудованию для нанесения химических и гальванических покрытий, и служит для гальванохимической обработки мелких деталей россыпью, в частности для нанесения гальванического покрытия на охватывающие контакты чип-резисторов. Линия...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552806
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.05.2016
№216.015.3cc7

Способ изготовления тонкопленочного резистора

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в том числе мощных высокочастотных цепях. В способе изготовления тонкопленочного резистора, включающем...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002583952
Дата охранного документа: 10.05.2016
20.05.2016
№216.015.3e72

Пленочный резистор

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в том числе мощных, высокочастотных цепях. В пленочном резисторе, включающем диэлектрическую подложку и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002584032
Дата охранного документа: 20.05.2016
29.12.2017
№217.015.f9a2

Способ изготовления низкоомного чип-резистора

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству низкоомных чип-резисторов, которые могут быть использованы в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в частности для применения в качестве датчиков тока. Технический результат предложенного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002639313
Дата охранного документа: 21.12.2017
+ добавить свой РИД