×
13.01.2017
217.015.67f6

Результат интеллектуальной деятельности: СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТОПОЛОЖЕНИЯ ИСТОЧНИКА ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПО РАССЕЯННОЙ В АТМОСФЕРЕ СОСТАВЛЯЮЩЕЙ

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к способам определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей. Согласно способу применяют два оптико-электронных координатора с перпендикулярными приемными плоскостями. Осуществляют координатную привязку фотоэлементов матричных фотоприемников и принимают рассеянное атмосферным каналом оптическое излучение. Определяют координаты крайних фотоэлементов противоположных по периметру линеек фотоэлементов оптико-электронных координаторов с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых превысил пороговое значение, и вычисляют по их значениям координаты местоположения источника оптического излучения. Технический результат - одновременное определение пространственного положения оптического луча и координат источника оптического излучения. 2 ил.

Изобретение относится к области мониторинга (измерения) местоположений источников оптического излучения (ИОИ) и может быть использовано в системах обеспечения вхождения в связь, системах траекторных измерений, а также в системах координатометрии оптико-электронных средств различного базирования и т.п.

Известен наиболее близкий по технической сущности и достигаемому результату способ определения направления на ИОИ по рассеянной в атмосфере составляющей (см., например, А.Ю. Козирацкий, Ю.Л. Козирацкий, П.Е. Кулешов и др. Патент №2285275, Россия, G01S 17/06. Определения направления на источник оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей и устройство его реализации. - М: РОСПАТЕНТ. Опубл. 10.10.2006, бюл. №28, 2006), основанный на применении первого и второго оптико-электронных координаторов (ОЭК) с матричными фотоприемниками, приемные плоскости которых перпендикулярны, осуществлении координатной привязки фотоэлементов матричных фотоприемников, приеме ОЭК рассеянного атмосферным каналом оптического излучения ИОИ, определении координат фотоэлементов противоположных по периметру линеек фотоэлементов первого и второго ОЭК с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых имеет максимальное значение, и вычислении по их значениям угловых координат ИОИ.

Недостатком способа является невозможность одновременного определения пространственного положения оптического луча и координат самого ИОИ из-за отсутствия в способе оценки дальности до ИОИ.

Техническим результатом, на достижение которого направлено предлагаемое изобретение, является определение местоположения ИОИ по рассеянной в среде распространения составляющей.

Технический результат достигается тем, что в известном способе определения местоположения ИОИ по рассеянной в атмосфере составляющей, основанном на применении двух ОЭК с матричными фотоприемниками, приемные плоскости которых взаимно перпендикулярны, осуществлении координатной привязки фотоэлементов матричных фотоприемников двух ОЭК, приеме рассеянного атмосферным каналом оптического излучения ИОИ двумя ОЭК с матричными фотоприемниками, определяют крайние фотоэлементы противоположных по периметру линеек фотоэлементов двух ОЭК с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых превысил пороговое значение, и вычисляют по значениям координат их местоположения координаты местоположения ИОИ.

Сущность изобретения заключается в применении двух ОЭК с матричными фотоприемниками, принимающих рассеянное атмосферным каналом излучение направленного ИОИ. Каждый фотоэлемент матрицы имеет координатную привязку. Для оценки координат местоположения ИОИ задействованы крайние по периметру линейки фотоэлементов матрицы. Определение координат местоположения ИОИ осуществляется по положению крайних фотоэлементов линеек, имеющих выходные сигналы, координаты которых являются крайними точками «диаметров» проекций изображений оптического луча ИОИ на плоскости матриц ОЭК.

На фигуре 1 представлена схема, поясняющая способ, где: 1, 2 - верхняя и нижняя линейки фотоэлементов первого матричного ОЭК; 3, 4 - верхняя и нижняя линейки фотоэлементов второго матричного ОЭК; 5 - направленный ИОИ. Для упрощения понимания сущности способа и снижения математической (вычислительной) нагрузки на фигуре 1 упразднено влияние элементов оптического тракта ОЭК на формирование изображений в плоскости матричных приемников. Также поле первого ОЭК лежит в координатной плоскости y0z, а поле второго ОЭК лежит в координатной плоскости x0z, причем нижние линейки фотоэлементов 2 и 4 матриц расположены на координатных осях х00 и 0у0 соответственно для обоих координаторов. При оценке координат местоположения ИОИ 5 задействованы крайние по периметру линейки фотоэлементов, в частности верхние и нижние линейки первого и второго ОЭК 1-4. Каждый фотоэлемент матрицы имеет координатную привязку относительно начала координат. Направленный ИОИ 5 размещен в точке С и формирует оптический луч, попадающий в поля зрения ОЭК. Матричные ОЭК принимают рассеянное атмосферным каналом излучение направленного ИОИ 5. В зависимости от параметров передающей системы ИОИ 5 (см., например, А.С. Борейшо. Лазеры: Устройство и действие. - С. Петербург: изд. Механический ин-т, 1992, стр. 117; Р.Я. Штейнман, С.М. Шапиро, З.А. Косарева и др. Квантовая электроника. Маленькая энциклопедия. - М.: изд. Советская энциклопедия, 1969, стр. 381) сфокусированное изображение луча на фоточувствительных матрицах ОЭК будет отображать его расходимость θ. Поэтому на дистанции распространения диаметры сечения оптического луча ИОИ будут различны. В результате на линейках фотоэлементов матриц ОЭК 1-4 формируются различные по протяженности изображения луча направленного ИОИ 5 (представленные затемненными элементами). Для определения координат местоположения ИОИ 5 используются крайние фотоэлементы линеек 1-4, имеющие выходные сигналы, координаты которых являются крайними точками «диаметров» проекций изображений оптического луча на линейках фотоэлементов 1-4 матриц ОЭК. Следовательно, положение фотоэлементов, значения токов выходных сигналов которых превысили пороговое значение, ограничивается крайними фотоэлементами верхней и нижней линеек 3, 4 с координатами (хB21,0,Н), (хB22,0,Н), (хH21,0,0), (хH22,0,0) для второго ОЭК и фотоэлементами верхней и нижней линеек 1, 2 с координатами (0,уB11,Н), (0,уВ12,Н), (0,уH11,0), (0,уН12,0) для первого ОЭК (где подстрочные знаки обозначают: первые В, Н - принадлежность к верхней и нижней линейкам фотоэлементов соответственно; вторые 1, 2 - принадлежность к первому и второму ОЭК соответственно; третье 1, 2 - крайние координаты фотоэлементов, выходные сигналы которых превысили пороговое значение относительно начала координат соответственно). Эти значения координат фотоэлементов в дальнейшем используются при расчете координат местоположения направленного ИОИ 5.

При расчете координат местоположения ИОИ 5 могут быть использованы различные аппаратно реализованные математические модели, вытекающие из геометрии взаимного положения ОЭК и ИОИ, одна из которых приведена ниже.

Определяют диаметры оптического пучка dH и dB соотносительно верхних и нижних линеек фотоэлементов 1-4 матричных ОЭК.

Вычисляют угловое положение лазерного луча ε в пространстве по формуле:

где Н - расстояние между верхней и нижней линейками фотоэлементов ОЭК,

- длина оптического луча ИОИ 5 между верхней 1, 3 и нижней 2, 4

линейками фотоэлементов 1-4 ОЭК.

Определяют высоту НИОИ, на которой находится источник излучения, относительно нижней линейки фотоэлементов ОЭК, используя соотношения подобия образованных фигур (треугольников ΔСАВВВ и ΔСАНВН). Для этого вводят в рассмотрение отношения с учетом расходимости лазерного луча θ (L - расстояние САН между ИОИ и центральной точки пучка относительно нижних линеек 2, 4 фотоэлементов, L1 - длина неспроецированного участка оптической оси луча):

Тогда

Высоту, на которой находится ИОИ 5, относительно нижних линеек 2, 4 ОЭК определяют как:

Используя выражения (2) и (5), вычисляют координату zИОИ ИОИ 5 по оси Z

где z0 - координата нижней линейки фотоэлементов ОЭК по оси Z. При принятых ограничениях установки (фигура 1) ОЭК z0=0.

Находят координаты точек оси пучка ИОИ 5 AH(xH, yH, zH) и AB(xB, yВ, zB) относительно верхних и нижних линеек фотоэлементов 1-4 матричных ОЭК.

Решают систему уравнений, описывающую положение лазерного луча, проходящего через две данные точки

и находят координаты местоположения ИОИ 5 С(xИОИ, yИОИ, zИОИ)

Таким образом, на основе полученных значений координат крайних точек диаметров оптического луча относительно верхних и нижних линеек фотоэлементов 1-4 матричных ОЭК рассчитываются значения координат местоположения ИОИ 5.

На фигуре 2 представлена блок-схема устройства, с помощью которого может быть реализован предлагаемый способ (затемненные фотоэлементы имеют выходные сигналы, величина тока растет с насыщением тени). Блок-схема устройства включает: 6 - направленный ИОИ, 7 - матричные ОЭК, 8 - микропроцессор, 9 - противоположные линейки фотоэлементов ОЭК, 10 - координаты крайних фотоэлементов противоположных линеек фотоэлементов ОЭК, выходные сигналы которых превысили пороговое значение.

Устройство работает следующим образом. Матричные ОЭК 7 установлены на местности, причем их приемные плоскости ортогональны. Каждый фотоэлемент матрицы ОЭК 7 имеет координатную привязку в декартовой системе координат. Рассеянное оптическое излучение направленного ИОИ 6 принимается ОЭК 7. Координаторы 7 измеряют токи выходных сигналов противоположных линеек фотоэлементов 9 матриц, на основе значений которых выделяют координаты крайних фотоэлементов, сигналы которых превысили пороговое значение 10. Далее ОЭК 7 формируют информационные сигналы о перечисленных значениях координат фотоэлементов и передают их в микропроцессор 8, который по поступившим данным вычисляет координаты местоположения ИОИ 6.

Таким образом, у заявляемого способа появляются свойства, заключающиеся в возможности определения координат местоположения ИОИ за счет оценки координат пространственного распределения рассеянного изображения оптического луча двумя разнесенными ОЭК. Тем самым предлагаемый авторами способ устраняет недостатки прототипа.

Предлагаемое техническое решение является новым, поскольку из общедоступных сведений неизвестен способ определения местоположения ИОИ по рассеянной в атмосфере составляющей, основанный на применении двух ОЭК с матричными фотоприемниками, приемные плоскости которых взаимно перпендикулярны, осуществлении координатной привязки фотоэлементов матричных фотоприемников двух ОЭК, приеме рассеянного атмосферным каналом оптического излучения ИОИ двумя ОЭК с матричными фотоприемниками, определении крайних фотоэлементов противоположных по периметру линеек фотоэлементов двух ОЭК с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых превысил пороговое значение, и вычислении по значениям координат их местоположения координат местоположения ИОИ.

Предлагаемое техническое решение практически применимо, так как для его реализации могут быть использованы типовые оптико-электронные и электротехнические узлы и устройства.

Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей, заключающийся в применении двух оптико-электронных координаторов с матричными фотоприемниками, приемные плоскости которых взаимно перпендикулярны, осуществлении координатной привязки фотоэлементов матричных фотоприемников двух оптико-электронных координаторов, приеме рассеянного атмосферным каналом оптического излучения источника оптического излучения двумя оптико-электронными координаторами с матричными фотоприемниками, отличающийся тем, что определяют крайние фотоэлементы противоположных по периметру линеек фотоэлементов двух оптико-электронных координаторов с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых превысил пороговое значение, и вычисляют по значениям координат их местоположения координаты местоположения источника оптического излучения.
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТОПОЛОЖЕНИЯ ИСТОЧНИКА ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПО РАССЕЯННОЙ В АТМОСФЕРЕ СОСТАВЛЯЮЩЕЙ
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТОПОЛОЖЕНИЯ ИСТОЧНИКА ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПО РАССЕЯННОЙ В АТМОСФЕРЕ СОСТАВЛЯЮЩЕЙ
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 211-211 из 211.
26.10.2018
№218.016.9663

Аппаратно-программный комплекс для макетирования и отладки цифровых устройств на базе микроконтроллеров различных архитектур

Аппаратно-программный комплекс для макетирования и отладки цифровых устройств на базе микроконтроллеров различных архитектур относится к области вычислительной техники, а именно к диагностическому оборудованию, в частности к техническим средствам, позволяющим производить макетирование цифровых...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002670730
Дата охранного документа: 24.10.2018
Показаны записи 211-220 из 235.
24.11.2018
№218.016.a0cd

Способ защиты объектов от телевизионных средств космического наблюдения

Изобретение относится к области защиты объектов путем постановки аэрозольных образований и может быть использовано для маскировки объектов. Определяют параметры метеообстановки, координаты и интенсивность сброса аэрозолеобразующего состава (АОС), формируют аэрозольную завесу (AЗ). Сканируют по...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002673169
Дата охранного документа: 22.11.2018
13.01.2019
№219.016.af38

Способ поиска оптических и оптико-электронных приборов

Способ поиска оптических и оптико-электронных приборов основан на использовании дистанционно пилотируемого аппарата, который осуществляет сканирование зоны поиска по определенной траектории. При сканировании получают изображение зоны поиска как с облучением ее оптическим излучением и без...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002676856
Дата охранного документа: 11.01.2019
23.02.2019
№219.016.c6c3

Способ защиты объектов от радиолокационных огневых комплексов

Изобретение относится к области систем защиты объектов от средств воздушной разведки, прицеливания и наведения путем формирования ложной радиолокационной обстановки и может быть использовано для радиолокационной маскировки индивидуальных и групповых стационарных объектов. Достигаемый...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002680515
Дата охранного документа: 22.02.2019
13.04.2019
№219.017.0c35

Способ выявления улучшенных коллекторских свойств высокоуглеродистых пород

Изобретение относится к области геологии и касается способа выявления улучшенных коллекторских свойств высокоуглеродистых пород. Способ включает в себя отбор образцов керна из высокоуглеродистых пород, исследование образцов проб методом ИК-спектроскопии, получение ИК-спектров минеральной...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002684670
Дата охранного документа: 11.04.2019
03.07.2019
№219.017.a44e

Устройство маскировки объектов

Изобретение относится к средствам снижения заметности вооружения и военной техники и может быть использовано для маскировки и скрытия движущегося или расположенного в пунктах постоянной дислокации и запасных районах рассредоточения наземного вооружения и военной техники от тепловизионных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002693052
Дата охранного документа: 01.07.2019
10.07.2019
№219.017.a98b

Способ определения координат источника радиоизлучения

Изобретение относится к области радиотехники, а именно к пассивным системам радиомониторинга, и, в частности, может быть использовано в системах местоопределения источников радиоизлучения (ИРИ). Технический результат – повышение эффективности определения координат ИРИ забрасываемыми...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002693936
Дата охранного документа: 08.07.2019
11.07.2019
№219.017.b275

Способ определения пространственной ориентации луча излучения лазерного локационного средства

Изобретение может быть использовано в системах лазерной локации для определения местонахождения объектов в пространстве. Сущность изобретения заключается в осуществлении пространственной обработки двух последовательно получаемых матричным фотоприемным устройством изображений принятых отраженных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002694121
Дата охранного документа: 09.07.2019
29.08.2019
№219.017.c452

Способ формирования ложной оптической цели

Изобретение относится к области оптико-электронной техники и может быть использовано в лазерных локационных системах, системах оптико-электронного противодействия, а также системах защиты оптико-электронных средств (ОЭС) от мощного лазерного излучения. Достигаемый технический результат –...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002698466
Дата охранного документа: 27.08.2019
29.08.2019
№219.017.c4b2

Способ скрытия оптико-электронного средства от лазерных систем

Изобретение относится к области оптико-электронной техники и может быть использовано в лазерных локационных системах, системах оптико-электронного противодействия, а также системах защиты оптико-электронных средств от мощного лазерного излучения. Достигаемый технический результат – повышение...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002698465
Дата охранного документа: 27.08.2019
01.09.2019
№219.017.c523

Способ скрытия оптико-электронных средств

Изобретение относится к области оптико-электронной техники и может быть использовано в лазерных локационных системах, системах оптико-электронного противодействия, а также системах защиты оптико-электронных средств от мощного лазерного излучения. Способ скрытия оптико-электронного средств (ОЭС)...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002698569
Дата охранного документа: 28.08.2019
+ добавить свой РИД