×
27.10.2015
216.013.8804

Результат интеллектуальной деятельности: СПОСОБ ВЫРАЩИВАНИЯ МОНОКРИСТАЛЛОВ ГЕРМАНИЯ

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к технологии выращивания монокристаллов германия из расплава в форме диска и может быть использовано для изготовления объективов в устройствах обнаружения инфракрасного излучения. До начала процесса выращивания расплав германия выдерживают в тигле при температуре плавления в течение 1-2 ч. Затем осуществляют выращивание монокристаллов германия в кристаллографических направлениях [111] или [100] при переохлаждении на фронте кристаллизации в пределах 0,5-1,0 К, скорости радиального разращивания не более 0,5 мм/мин и температурном градиенте у фронта кристаллизации в пределах 3,0÷10,0 К/см. Изобретение позволяет получать монокристаллы германия с минимальным рассеянием принимаемого инфракрасного излучения не более 1,0-2,0% от мощности принимаемого сигнала.
Основные результаты: Способ выращивания монокристаллов германия в форме диска с показателем рассеяния не более 1,0-2,0%, применяемых для изготовления объективов в устройствах регистрации инфракрасного излучения, отличающийся тем, что монокристаллы выращиваются при переохлаждении на фронте кристаллизации в пределах 0,5-1,0 К, скорости радиального разращивания не более 0,5 мм/мин и температурном градиенте у фронта кристаллизации в пределах 3,0÷10,0 К/см.

Изобретение относится к способам выращивания монокристаллов германия из расплава и может быть использовано для выращивания монокристаллов германия в форме дисков, применяемых для изготовления оптических устройств.

Наиболее близким аналогом заявляемого изобретения является способ выращивания монокристаллов германия в форме диска для изготовления деталей ИК оптики, RU 2493297 С1 27.02.2012.

Согласно этому способу монокристалл выращивают на затравку в кристаллографическом направлении [111] после выдержки при температуре плавления в течение 1-2 ч. В способе применяется температурный градиент у фронта кристаллизации в пределах от 3,0 до 10,0 К/см. Способ позволяет вырастить необходимые монокристаллы, но не обеспечивает минимального уровня рассеяния лучистой энергии в связи с появлением в кристаллах на интенсивном скоростном режиме повышенной плотности дислокаций, скоплений дислокаций и участков поликристаллизации. А такие дефекты увеличивают рассеяние принимаемой лучистой энергии, что существенно снижает точность приема сигнала. Напоминающий этот способ был разработан на Запорожском титано-магниевом комбинате. Он реализовался на скоростях радиального разращивания монокристаллов на уровнях от 1,5 до 5,0 мм/мин при высоком переохлаждении расплава в области фронта кристаллизации и приводил к выращиванию монокристаллов с рассеянием до 10,0-12,0%, что значительно ухудшало действие систем приема излучения.

Техническим результатом заявляемого изобретения является разработка способа выращивания монокристаллов без скоплений дислокаций и поликристаллических участков и соответственно с величиной рассеиваемого инфракрасного излучения в пределах 1,0-2,0%.

Технический результат достигается за счет того, что для выращивания монокристаллов германия в форме диска с показателем рассеяния не более 1,0-2,0%, применяемых для изготовления объективов в устройствах регистрации инфракрасного излучения, монокристаллы выращиваются при переохлаждении на фронте кристаллизации в пределах 0,5-1,0 К и скорости радиального разращивания не более 0,5 мм/мин и температурном градиенте у фронта кристаллизации в пределах 3,0÷10,0 К/см.

При выращивании монокристаллов германия устанавливаются специальные тепловой и гидродинамический режимы (определенные температурные градиенты, скорости вытягивания из расплава и вращения кристаллов), обеспечивающие устойчивость плоского фронта кристаллизации, предотвращающего появление дислокаций.

Существенными отличиями заявляемого изобретения от прототипа, позволяющими достичь заявляемого технического результата, являются обеспечение за счет определенного размещения тигля, нагревателя и экранов и снижения мощности нагревателя в период затравления создания уровня переохлаждения на фронте кристаллизации не более 0,5-1,0 К, что ограничивает скорость радиального разращивания монокристалла величиной не более 0,5 мм/мин. При таком режиме с помощью регулировки мощности нагревателя обеспечивается уровень переохлаждения в районе фронта кристаллизации в пределах от 0,5 до 1.0 К. Затем в процессе выращивания монокристалла германия в кристаллографическом направлении [111] (или [100]) обеспечивается поддержание скорости разращивания в радиальном направлении не более 0,5 мм/ мин и температурного градиента у фронта кристаллизации в пределах (3,0-10,0) К/см, что обеспечивает выращивание монокристаллов с рассеянием принимаемого инфракрасного излучения на уровне не более 1,0-2,0% от общей мощности излучения.

Сущность изобретения

До начала процесса выращивания монокристалла германия расплав выдерживается в тигле при температуре плавления в течение 1-2 часов. Затем в процессе выращивания монокристалла германия в кристаллографическом направлении [111] (или [100]) обеспечивается поддержание скорости разращивания в радиальном направлении не более 0,5 мм/мин и температурного градиента у фронта кристаллизации в пределах 3,0÷10,0 К/см, что обеспечивает выращивание монокристаллов с рассеянием принимаемого инфракрасного излучения на уровне не более 1,0-2,0% от общей мощности излучения и плотности дислокаций в монокристаллах 2*103-2*104 на 1 см2 (см. таблицу 1).

Промышленная применимость

Способ может применяться в организациях, имеющих оборудование для роста монокристаллов и их обработки. В частности, такой организацией является Межвузовская лаборатория кристаллизации Тверского государственного университета.

Способ выращивания монокристаллов германия в форме диска с показателем рассеяния не более 1,0-2,0%, применяемых для изготовления объективов в устройствах регистрации инфракрасного излучения, отличающийся тем, что монокристаллы выращиваются при переохлаждении на фронте кристаллизации в пределах 0,5-1,0 К, скорости радиального разращивания не более 0,5 мм/мин и температурном градиенте у фронта кристаллизации в пределах 3,0÷10,0 К/см.
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 51-60 из 68.
10.05.2018
№218.016.4f41

Способ измерения температуры локальных участков поверхности расплава в тигле при выращивании методом чохральского монокристаллов веществ с температурой плавления выше 650с

Изобретение относится к области температурных измерений и касается способа измерения температуры локальных участков поверхности расплава в тигле при выращивании методом Чохральского монокристаллов веществ с температурами плавления выше 650°C. Способ включает в себя фотографирование цифровым...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002652640
Дата охранного документа: 28.04.2018
09.06.2018
№218.016.5d58

Способ оптической томографии прозрачных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и области оптического приборостроения, а именно к неразрушающему контролю качества материалов, в частности к бесконтактным способам дефектоскопии прозрачных материалов. Сущность изобретения заключается в том, что в способе оптической томографии...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002656408
Дата охранного документа: 05.06.2018
09.06.2018
№218.016.5d8c

Способ механохимического удаления накипных отложений

Изобретение относится к теплоэнергетике и может быть использовано для очистки от накипи внутренних поверхностей нагрева или теплообмена водогрейных и паровых котлов, нагревательных элементов и внутренних поверхностей чайников, систем охлаждения двигателей внутреннего сгорания. Описан способ...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002656334
Дата охранного документа: 05.06.2018
12.07.2018
№218.016.70b4

Способ получения слитка германия, очищенного от примесей

Изобретение относится к области цветной металлургии, в частности, к получению полупроводниковых материалов, и может быть использовано в производстве сырьевого германия, применяемого для выращивания монокристаллов для оптического применения. Слиток германия, очищенного от примесей, получают...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002660788
Дата охранного документа: 09.07.2018
30.08.2018
№218.016.8174

Пассивный реабилитационный экзоскелет

Изобретение относится к медицине. Пассивный реабилитационный экзоскелет содержит каркас с элементами крепления к туловищу, две пары тазобедренных и голеностопных рычагов, выполненных в форме пространственных оболочек, подвижно соединенных между собой и свободным концом тазобедренного рычага с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002665386
Дата охранного документа: 29.08.2018
05.09.2018
№218.016.836f

Электролит для осаждения покрытия из сплава медь-индий

Изобретение относится к области гальваностегии, в частности к электролитическому осаждению сплава медь-индий, и может быть использовано в приборостроении и при дополнительной антикоррозионной защите углеродистых сталей крупногабаритных узлов, днталей, труб и других сооружений. Электролит...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002665855
Дата охранного документа: 04.09.2018
01.11.2018
№218.016.9822

Способ приготовления прекурсоров для ориентационного вытягивания пленочных нитей из свмпэ

Способ изготовления прекурсоров для ориентационного вытягивания пленочных нитей из сверхвысокомолекулярного полиэтилена - СВМПЭ относится к начальной стадии изготовления высокопрочных высокомодульных пленочных нитей из указанного полимера путем проведения ориентационного вытягивания заявляемых...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002671120
Дата охранного документа: 29.10.2018
30.12.2018
№218.016.ad8d

Способ получения тиксотропных супрамолекулярных гидрогелей заданной прочности

Изобретение относится к медицине. Для получения тиксотропных супрамолекулярных гидрогелей заданной прочности реализуют алгоритм на основе ранее выявленных зависимостей прочности гелей для различных концентраций хлорида натрия от соотношения концентраций нитрата серебра и L-цистеина для...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002676473
Дата охранного документа: 29.12.2018
30.03.2019
№219.016.f998

Шунгитовая композиция с активными добавками комплексонов

Настоящее изобретение относится к шунгитовой композиции для наружного применения, используемой для производства пластырей или повязок для снятия или уменьшения болевых ощущений при мышечных и суставных болях различного происхождения с активными добавками комплексонов. Композиция включает при...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002683574
Дата охранного документа: 29.03.2019
19.12.2019
№219.017.eeeb

Детектор лазерного излучения ик-диапазона

Изобретение относится к области оптико-электронного приборостроения и касается детектора лазерного излучения в ИК-диапазоне. Детектор содержит размещенный в корпусе и закреплённый в кристаллодержателе приемный элемент на основе полупроводникового монокристалла р-типа, электрически соединённые...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002709413
Дата охранного документа: 17.12.2019
Показаны записи 51-54 из 54.
12.07.2018
№218.016.70b4

Способ получения слитка германия, очищенного от примесей

Изобретение относится к области цветной металлургии, в частности, к получению полупроводниковых материалов, и может быть использовано в производстве сырьевого германия, применяемого для выращивания монокристаллов для оптического применения. Слиток германия, очищенного от примесей, получают...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002660788
Дата охранного документа: 09.07.2018
09.05.2019
№219.017.4ca0

Способ обогащения апатит-штаффелитовой руды

Изобретение относится к обогащению полезных ископаемых и может быть использовано при обогащении апатит-штаффелитовых руд. Технический результат - более полное выделение (повышение извлечения) апатита и штаффелита из апатит-штаффелитовых руд. Способ получения методом флотации...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002317858
Дата охранного документа: 27.02.2008
19.07.2019
№219.017.b666

Способ определения степени однородности одноосных кристаллов

Изобретение относится к области оптики, а именно к способам определения оптической однородности и выявления структурных дефектов оптических кристаллов, и может быть использовано для контроля качества одноосных кристаллов. Целью изобретения является разработка способа определения степени...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002694790
Дата охранного документа: 16.07.2019
19.12.2019
№219.017.eeeb

Детектор лазерного излучения ик-диапазона

Изобретение относится к области оптико-электронного приборостроения и касается детектора лазерного излучения в ИК-диапазоне. Детектор содержит размещенный в корпусе и закреплённый в кристаллодержателе приемный элемент на основе полупроводникового монокристалла р-типа, электрически соединённые...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002709413
Дата охранного документа: 17.12.2019
+ добавить свой РИД