Результат интеллектуальной деятельности: СПОСОБ НАСТРОЙКИ ВИХРЕТОКОВОГО ДЕФЕКТОСКОПА

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам неразрушающего контроля, и может быть использован, например, для дефектоскопии вихретоковым методом.

Известны способы настройки вихретокового дефектоскопа, когда настройку производят на настроечном образце с дефектом известной величины, переходят на объект контроля и по сигналам на объекте контроля судят о величине дефекта (Герасимов В.Г., Покровский А.Д., Сухоруков В.В. Неразрушающий контроль: Практ. Пособие, Книга 3. Электромагнитный контроль. М., Высшая школа, 1992, 312 с.).

Недостатком способа является низкая точность определения параметров дефекта за счет влияние изменений свойств объекта контроля на результат контроля.

Наиболее близким по технической сущности является способ настройки дефектоскопа, заключающийся в том, что дефектоскоп предварительно калибруют на настроечном образце с дефектом известной величины, переходят на объект контроля и компенсируют разницу между сигналами на бездефектных участках образца и объекта контроля и после этого осуществляют контроль объекта (Неразрушающий контроль: Справочник: В 7 т. Под общ. ред. В.В. Клюева: В 2 кн., книга 2, Вихретоковый контроль - М.: Машиностроение, 2003, 688 с.).

Недостатком способа является низкая точность определения параметров дефекта из-за мешающего влияния изменений зазора на величину сигнала от дефекта.

Техническим результатом способа является повышение точности определения параметров дефектов.

Этот результат достигается тем, что в известном способе дефектоскоп предварительно калибруют при изменении зазора на настроечном образце с дефектом известной величины, переходят на объект контроля и компенсируют разницу между сигналами на бездефектных участках образца и объекта контроля и контролируют объект, до контроля снимают годографы влияния зазора на бездефектном участке и на участке с дефектом известной величины на настроечном образце, снимают годограф влияния зазора на бездефектном участке объекта контроля, изменяют фазу тока возбуждения так, чтобы годографы влияния зазора на бездефектных участках образца и объекта совпали

Сущность способа настройки вихретокового дефектоскопа поясняется чертежом, на котором приведены годографы сигнала вихретоковый преобразователь от зазора, для участка без дефекта (кривая 1) и с дефектом (кривая 2) до поворота фазы, а также после поворота фазы соответственно (кривая 1′) для участка без дефекта и (кривая 2′) для участка с дефектом.

Способ настройки вихретокового дефектоскопа заключается в следующем.

Снимают годографы влияния зазора между преобразователем и объектом контроля на сигнал на бездефектном участке настроечного образца и на участке этого образца с калибровочным дефектом известной величины. Годографы представлены на комплексной плоскости вносимых напряжений Im (U_вн) и Re (U_вн). Кривая 1 - годограф влияния зазора над бездефектным участком настроечного образца. Точка А соответствует положению преобразователя непосредственно на настроечном образце, а точка Н - на расстоянии, где влиянием настроечного образца можно пренебречь. Кривая 2 - годограф влияния зазора на участке настроечного образца с калибровочным дефектом известной величины.

Снимают годограф влияния зазора на сигнал на бездефектном участке объекта контроля, показанный кривой 3. Если между направлениями годографов 1 и 3 угол составляет величину Ф, то изменяют фазу тока возбуждения на этот угол Ф так, чтобы годографы влияния зазора на бездефектных участках настроечного образца и объекта контроля совпали и потом осуществляют контроль объекта.

В этом случае годографы 1′ и 2′ влияния зазора, соответственно на бездефектном участке и участке, содержащем калибровочный дефект, после поворота фазы, причем кривые 1′ и 3 совпадают. Если при контроле объекта был получен сигнал, соответствующий точке F, то величина дефекта будет определяться как отношение длины отрезка FC, соответствующего величине дефекта в объекте контроля, к длине отрезка DC, соответствующего величине калибровочного дефекта настроечного образца.

Использование способа позволяет повысить точность определения параметров дефекта за счет уменьшения мешающего влияния изменений зазора на величину сигнала от дефекта. Это обеспечивается тем, что поворот фазы обеспечивает положение годографа, соответствующего объекту контроля, такое же, как и годограф, соответствующий настроечному образцу. В результате этого величина дефекта определяется с помощью параметров калибровочного дефекта.