×
27.03.2015
216.013.3636

Результат интеллектуальной деятельности: РЕЦИРКУЛЯЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем. Формируют стартовый и стоповый импульсы заданной длительности и с заданной длительностью интервала между ними, превышающей длительность стартового импульса. Стартовый и стоповый импульсы подают на два параллельных канала, каждый из которых содержит схему ИЛИ и регулируемую линию задержки. Контролируемую микросхему включают в канал стопового импульса. При одном цикле рециркуляции стартовый импульс проходит канал, первый коммутатор, общую линию задержки, второй коммутатор и возвращается на схему ИЛИ канала. Стартовый импульс управляет коммутаторами, которые переключают общую линию задержки к каналу стопового импульса. Аналогичный путь проходит стоповый импульс, только по каналу с контролируемой микросхемой. Стоповый импульс также управляет коммутаторами, которые переключают общую линию задержки к каналу стартового импульса. Предварительно регулируемыми линиями задержки добиваются равенства задержек, вносимых параллельными каналами без подключенной контролируемой микросхемы. Измеряют длительность временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульса при завершении всех циклов рециркуляции, по которой и определяют искомую величину. Длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки. Технический результат заключается в уменьшении погрешности измерения. 2 ил.
Основные результаты: Рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем, включающий формирование стартового и стопового импульсов одинаковой длительности; передачу и поочередную рециркуляцию стартового и стопового импульсов по двум параллельным каналам с переключением каналов с помощью двух коммутаторов, и каждый из каналов содержит линию задержки; измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество N циклов рециркуляции, отличающийся тем, что стартовый и стоповый импульсы поступают в начале первого цикла рециркуляции на первые объединенные входы двух схем ИЛИ каждого канала, а в начале следующих циклов проходят через вторые входы схем ИЛИ; и соединенные с выходом схем ИЛИ линии задержки каждого канала регулируемые; а контролируемую микросхему последовательно включают в канал рециркуляции стопового импульса, и длительность стартового и стопового импульсов и интервал между ними предварительно задают; а в цепь рециркуляции стартового и стопового импульсов включают общую для двух каналов линию задержки, которая подключается первым коммутатором или к каналу стартового импульса, или к каналу стопового импульса, а вторым коммутатором подключается или ко второму входу схемы ИЛИ канала стартового импульса, или ко второму входу схемы ИЛИ канала стопового импульса, при этом коммутаторы управляются или стоповым, или стартовым импульсами; и измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов осуществляют на вторых входах схем ИЛИ при достижении N+1 цикла рециркуляции, а искомую величину определяют по формуле: ,где T - измеренный временной интервал между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество циклов рециркуляции; N - количество циклов рециркуляции; τ - длительность стартового и стопового импульсов; T - первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами; при этом первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами должна превышать длительность стартового импульса; а длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки; причем перед подключением контролируемой микросхемы время задержки каналов выравнивают регулируемыми линиями задержки.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем.

Известен способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем путем вычитания из времени появления сигнала на выходе микросхемы времени поступления сигнала на вход по заданному уровню (см. ГОСТ 18683.2-83. Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров).

Недостатком известного способа является большая погрешность измерения времени задержки из-за малого измеряемого временного интервала. Время задержки распространения сигнала современных цифровых интегральных микросхем составляет десятки наносекунд и менее. Так, типовое время задержки КМОП микросхемы с напряжением питания 10 В составляет 25 нс, а с питанием 5 В составляет 35 нс.

Наиболее близким к заявленному изобретению по совокупности признаков способом того же назначения и принятым за прототип является рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала, включающий формирование стартового и стопового импульсов; передачу и поочередную рециркуляцию стартового и стопового импульсов по двум параллельным каналам, каждый из которых содержит линию задержки; и измерение временного интервала между их передними или задними фронтами через заданное количество циклов рециркуляции (см. А.С. СССР №474784, авторов Семенов А.Г., Игнатенков А.П. «Устройство дискретного измерения временных интервалов», опубликовано 25.06.1975, бюллетень №23).

Недостатком известного способа, принятого за прототип, является большая погрешность измерения временного интервала в диапазоне единиц наносекунд, так как стартовый и стоповый импульсы формируются по переднему и заднему фронту измеряемого импульса, и длительность стартового и стопового импульсов должна быть меньше длительности измеряемого временного интервала. При прохождении по каналам преобразования импульсы наносекундной длительности наиболее подвергнуты искажениям и при многократном прохождении импульсов по указанным каналам искажения и погрешности преобразования будут накапливаться.

Технический результат заключается в уменьшении погрешности измерения временного интервала в диапазоне единиц наносекунд.

Указанный технический результат достигается тем, что в известном рециркуляционном способе измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем, включающем формирование стартового и стопового импульсов одинаковой длительности; передачу и поочередную рециркуляцию стартового и стопового импульсов по двум параллельным каналам с переключением каналов с помощью двух коммутаторов, и каждый из каналов содержит линию задержки; измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество N циклов рециркуляции, отличие заключается в том, что стартовый и стоповый импульсы поступают в начале первого цикла рециркуляции на первые объединенные входы двух схем ИЛИ каждого канала, а в начале следующих циклов проходят через вторые входы схем ИЛИ; и соединенные с выходом схем ИЛИ линии задержки каждого канала регулируемые; а контролируемую микросхему последовательно включают в канал рециркуляции стопового импульса, и длительность стартового и стопового импульсов и интервал между ними предварительно задают; а в цепь рециркуляции стартового и стопового импульсов включают общую для двух каналов линию задержки, которая подключается первым коммутатором или к каналу стартового импульса, или к каналу стопового импульса, а вторым коммутатором подключается или ко второму входу схемы ИЛИ канала стартового импульса, или ко второму входу схемы ИЛИ канала стопового импульса, при этом коммутаторы управляются или стоповым, или стартовым импульсами; и измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов осуществляют на вторых входах схем ИЛИ при достижении N+1 цикла рециркуляции, а искомую величину определяют по формуле:

,

где Tизм - измеренный временной интервал между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество циклов рециркуляции; N - количество циклов рециркуляции; τ - длительность стартового и стопового импульсов; T0 - первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами; при этом первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами должна превышать длительность стартового импульса; а длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки; причем, перед подключением контролируемой микросхемы, время задержки каналов выравнивают регулируемыми линиями задержки.

Сущность изобретения заключается в следующем. Измерение малых временных интервалов проводят, как правило, рециркуляционным способом (см., например, Рециркуляционные преобразователи временного интервала в код: Учеб. пособие / Г.Н. Абрамов; Поволж. техн. ин-т сервиса, 85 с., М. Изд-во Гос. акад. сферы быта и услуг. 1998). В рециркуляционных измерителях малых временных интервалов сформированный одиночный импульс, равный по длительности измеряемому временному интервалу, многократно рециркулирует по каналу, содержащему схему ИЛИ и линию задержки. При достижении заданных N циклов рециркуляции определяют время задержки распространения сигнала TЗ=Tизм/N, где Tизм - длительность импульса задержки в конце всех циклов рециркуляции. Кроме рециркуляции одиночного импульса используют также (как это реализовано в прототипе) рециркуляцию двух импульсов - стартового и стопового по двум параллельным каналам. Стартовый и столовый импульсы формируются по переднему и заднему фронту одиночного импульса. Использование для рециркуляции стартового и стопового импульсов ограничено минимальной длительностью временного интервала. Сформированные по фронтам одиночного сигнала два импульса должны иметь меньшую длительность, чем длительность одиночного сигнала, что не всегда выполнимо.

Для устранения ограничений на длительность импульса измеряемого временного интервала длительность стартового и стопового импульсов в предложенном изобретении не формируют по фронтам сигнала, а предварительно задают (импульсы напряжения длительностью τ на рис.1в). Также задают и интервал T0 между импульсами. Длительность импульса τ при этом может намного превышать длительность измеряемого временного интервала.

Стартовый и стоповый импульсы поступают в начале первого цикла рециркуляции на первые объединенные входы двух схем ИЛИ каждого канала, а в начале следующих циклов проходят через вторые входы схем ИЛИ. Соединенные с выходом схем ИЛИ линии задержки каждого канала регулируемые. Контролируемую микросхему со временем задержки распространения сигнала TЗ последовательно включают в канал рециркуляции стопового импульса.

Предварительно перед подключением контролируемой микросхемы, регулируемыми линиями задержки добиваются одинаковой задержки Tк двух каналов, так как получить равные задержки подбором схем ИЛИ, особенно в диапазоне изменения температур окружающей среды, невозможно. В каждый момент времени работает один из параллельных каналов.

В цепь рециркуляции стартового и стопового импульсов включают общую для двух параллельных каналов линию задержки, которая подключается первым коммутатором или к каналу стартового импульса, или к каналу стопового импульса, а вторым коммутатором подключается или ко второму входу схемы ИЛИ канала стартового импульса, или ко второму входу схемы ИЛИ канала стопового импульса. Коммутаторы управляются или стоповым, или стартовым импульсами. Измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов осуществляют на вторых входах схем ИЛИ при достижении N+1 цикла рециркуляции (см. фиг.1е).

Время задержки TК1 распространения сигнала по каналу стартового импульса через схему ИЛИ 3, регулируемую линию задержки 5 и общую линию задержки 7 (см. фиг.2) за N циклов рециркуляции равно:

Эпюра напряжений на выходе канала стартового импульса показана на фиг.1г.

Время задержки TК2 распространения сигнала по каналу стопового импульса через схему ИЛИ 4, регулируемую линию задержки 6, контролируемую микросхему 1 и общую линию задержки 7 за N циклов рециркуляции равно (см. фиг.1д):

Эпюра напряжений на выходе канала стопового импульса показана на фиг.1д.

Разность между (2) и (1) дает временной интервал Tизм между передними или задними фронтами импульсов на выходе общей линии задержки (см. фиг.1е), который поступает на измеритель временных интервалов (ИВИ 12) и имеет следующий вид:

Tизм=Nτ+NT0+NTЗ

Отсюда время задержки распространения сигнала TЗ равно:

Выражение (3) легко решается аппаратным методом (вычислителем) с калибровкой шкалы в единицах времени.

Первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсом T0 должна превышать длительность стартового импульса τ; а длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции N не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки TЛЗ.

На фиг.1 представлены эпюры напряжений, поясняющие рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем.

На фиг.2 представлена функциональная схема измерителя, реализующая рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем между передними фронтами стартового и стопового импульсов.

Измеритель содержит контролируемую микросхему 1, гнезда XS1 и XS2, формирователь 2 импульсов, первую схему ИЛИ 3 и первую регулируемую линию задержки 5 канала стартового импульса, вторую схему ИЛИ 4 и вторую регулируемую линию задержки 6 канала стопового импульса, обитую линию задержки 7, первый коммутатор 8, второй коммутатор 9, первый триггер 10, счетчик 11, ИВИ 12, третий коммутатор 13, схему И 14, второй триггер 15, вычислитель 16.

Измеритель работает следующим образом. Подключают контролируемую микросхему 1 к гнездам XS1 и XS2 измерителя. С первого выхода формирователя 2 импульсов сигнал сброса длительностью τсбр (см. фиг.1а) поступает на второй триггер 15, первый триггер 10, счетчик 11, ИВИ 12 и вычислитель 16. При этом на выходе второго триггера 15 устанавливается уровень логической единицы UТр2, который подается на первый вход схемы И 14 (см. фиг.1 б). Напряжение с первого триггера 10 поступает на управляющие входы коммутаторов 8 и 9, которые переключают общую линию задержки 7 через схему И 14 к каналу стартового импульса (схема ИЛИ 3 и последовательно соединенная регулируемая линия задержки 5) и к первому входу ИВИ 12. Счетчик 11, ИВИ 12 и вычислитель 16 обнуляются.

Затем со второго выхода формирователя 2 импульсов подаются стартовый и стоповый импульсы длительностью τ (см. фиг.1в) и интервалом между ними длительностью T0. Стартовый импульс проходит через канал стартового импульса с задержкой Tк, через первый коммутатор 8, схему И 14, поступает на вход первого триггера 10, а также через общую линию задержки 7 и второй коммутатор 9 подается на первый измерительный вход ИВИ 12 и второй вход схемы ИЛИ 3. Время задержки TЛЗ будет состоять из времени задержки общей линии задержки и времени задержки прохождения сигнала схемы И 14. Первый триггер 10 переключает коммутаторы 8 и 9 к каналу стопового импульса (схема ИЛИ 4 и последовательно соединенная регулируемая линия задержки 6). Одновременно счетчик 11 считывает импульс переключения. Стоповый импульс проходит через канал стопового импульса с включенной контролируемой микросхемой 1 и задерживается на величину TК+TЗ. Затем поступает через первый коммутатор 8 и схему И 14 на вход первого триггера 10 и через общую линию задержки 7, и второй коммутатор 9 поступает на второй измерительный вход ИВИ 12 и второй вход схемы ИЛИ 4. Далее повторяется второй цикл рециркуляции стартового и стопового импульсов.

Через 2N-1 переключений первого триггера 10 и счетчика 11, сигнал со счетчика 11 подается на управляющий вход ИВИ 12 и происходит измерение времени задержки между передними фронтами последнего стартового импульса и последнего стопового импульса. Через 2N+1 переключений первого триггера 10 и счетчика 11, сигнал со счетчика 11 подается на второй триггер 15, который блокирует цепь рециркуляции импульсов путем подачи логического нуля на схему И 14. Измеренная величина задержки Tизм поступает на вход вычислителя 16, который определяет время задержки распространения сигнала TЗ по формуле (3).

Перед подключением контролируемой микросхемы 1 необходимо провести выравнивание задержек, вносимых каналом стартового импульса и каналом стопового импульса. Для этого включают третий коммутатор 13 и запускают формирователь 2 стартового и стопового импульсов. Далее измеритель работает, как и при измерении времени задержки распространения сигнала. Регулировкой линий задержек 5 и 6 добиваются равенства нулю времени задержки по каналам согласно формуле (3)

.

Рециркуляционный способ измерения времени задержки распространения сигнала цифровых интегральных микросхем, включающий формирование стартового и стопового импульсов одинаковой длительности; передачу и поочередную рециркуляцию стартового и стопового импульсов по двум параллельным каналам с переключением каналов с помощью двух коммутаторов, и каждый из каналов содержит линию задержки; измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество N циклов рециркуляции, отличающийся тем, что стартовый и стоповый импульсы поступают в начале первого цикла рециркуляции на первые объединенные входы двух схем ИЛИ каждого канала, а в начале следующих циклов проходят через вторые входы схем ИЛИ; и соединенные с выходом схем ИЛИ линии задержки каждого канала регулируемые; а контролируемую микросхему последовательно включают в канал рециркуляции стопового импульса, и длительность стартового и стопового импульсов и интервал между ними предварительно задают; а в цепь рециркуляции стартового и стопового импульсов включают общую для двух каналов линию задержки, которая подключается первым коммутатором или к каналу стартового импульса, или к каналу стопового импульса, а вторым коммутатором подключается или ко второму входу схемы ИЛИ канала стартового импульса, или ко второму входу схемы ИЛИ канала стопового импульса, при этом коммутаторы управляются или стоповым, или стартовым импульсами; и измерение временного интервала между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов осуществляют на вторых входах схем ИЛИ при достижении N+1 цикла рециркуляции, а искомую величину определяют по формуле: ,где T - измеренный временной интервал между передними или задними фронтами стартового и стопового импульсов через заданное количество циклов рециркуляции; N - количество циклов рециркуляции; τ - длительность стартового и стопового импульсов; T - первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами; при этом первоначальная длительность интервала между стартовым и стоповым импульсами должна превышать длительность стартового импульса; а длительность между передним фронтом стартового импульса и задним фронтом стопового импульса в конце всех циклов рециркуляции не должна превышать время задержки, вносимой общей линией задержки; причем перед подключением контролируемой микросхемы время задержки каналов выравнивают регулируемыми линиями задержки.
РЕЦИРКУЛЯЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
РЕЦИРКУЛЯЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
РЕЦИРКУЛЯЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 151-160 из 268.
20.10.2015
№216.013.8737

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к области металлургии, в частности, к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002566218
Дата охранного документа: 20.10.2015
20.10.2015
№216.013.8738

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, хрома и ниобия при их соотношении,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002566219
Дата охранного документа: 20.10.2015
20.10.2015
№216.013.8739

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, кремния и хрома при их соотношении,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002566220
Дата охранного документа: 20.10.2015
20.10.2015
№216.013.873a

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, ниобия и молибдена при их соотношении,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002566221
Дата охранного документа: 20.10.2015
20.10.2015
№216.013.873b

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, алюминия и хрома при их соотношении,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002566222
Дата охранного документа: 20.10.2015
20.10.2015
№216.013.873c

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида молибдена. Затем наносят верхний слой из нитрида соединения...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002566223
Дата охранного документа: 20.10.2015
27.11.2015
№216.013.9574

Безопасное сиденье транспортного средства

Изобретение относится к устройствам для обеспечения пассивной безопасности пассажирских транспортных средств. Безопасное сиденье транспортного средства содержит механизм его автоматического освобождения от стационарно зафиксированного состояния в момент аварийного торможения транспортного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002569879
Дата охранного документа: 27.11.2015
27.11.2015
№216.013.9575

Система безопасности пользователя сиденьем транспортного средства

Изобретение относится к средствам пассивной безопасности пассажирских транспортных средств. Система безопасности пользователя сиденьем транспортного средства включает механизм управления ограниченным перемещением в направлении действия сил инерции и фиксацией в начальном и конечном положениях...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002569880
Дата охранного документа: 27.11.2015
10.12.2015
№216.013.959e

Способ определения теплового сопротивления переход-корпус цифровых интегральных микросхем

Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества и оценки температурных запасов цифровых интегральных микросхем на выходном и входном контроле. Сущность: нечетное число (n>1)...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002569922
Дата охранного документа: 10.12.2015
10.12.2015
№216.013.9665

Способ обеспечения безопасности пользователя сиденьем транспортного средства

Изобретение относится к способам обеспечения пассивной безопасности пассажирских транспортных средств. Способ обеспечения безопасности пользователя сиденьем транспортного средства при аварийном торможении заключается в автоматическом освобождении сиденья от стационарно зафиксированного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002570121
Дата охранного документа: 10.12.2015
Показаны записи 151-160 из 441.
10.09.2014
№216.012.f3d3

Способ настройки тензорезисторных датчиков с мостовой измерительной цепью по мультипликативной температурной погрешности с учетом положительной нелинейности температурной характеристики выходного сигнала датчика

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при настройке тензорезисторных датчиков с мостовой измерительной цепью по мультипликативной температурной погрешности. Сущность: при сопротивлении нагрузки R≥500 кОм определяют температурный коэффициент чувствительности...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002528242
Дата охранного документа: 10.09.2014
20.09.2014
№216.012.f56d

Устройство для удаления сосулек

Изобретение относится к области строительства, в частности к устройству для удаления сосулек с крыш зданий. Технический результат изобретения заключается в повышении эксплуатационной надежности крыши. Устройство для удаления сосулек закреплено под карнизом крыши с водосточными трубами и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002528662
Дата охранного документа: 20.09.2014
20.10.2014
№216.013.00c3

Твердый смазочный материал для абразивной обработки

Настоящее изобретение относится к твердому смазочному материалу для абразивной обработки, содержащему стеариновую кислоту, дисульфид молибдена, при этом он дополнительно содержит ультрадисперсный порошок диатомита, пропитанный минеральным маслом с поверхностно-активными веществами и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002531587
Дата охранного документа: 20.10.2014
10.11.2014
№216.013.041c

Устройство для обнаружения участников дорожно-транспортного происшествия

Изобретение относится к устройству для обнаружения участников дорожно-транспортного происшествия (ДТП). Устройство содержит установленную между кузовом и передним бампером автотранспортного средства структуру, разделяющуюся в процессе совершения ДТП на отдельные элементы. Элементы содержат...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002532450
Дата охранного документа: 10.11.2014
10.11.2014
№216.013.04c6

Способ получения износостойкого покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение износостойкого покрытия из нитрида или карбонитрида титана, алюминия, кремния, молибдена и железа при их содержании в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002532620
Дата охранного документа: 10.11.2014
10.11.2014
№216.013.04c8

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к нанесению износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида соединения титана, ниобия и молибдена при их содержании в мас.%:...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002532622
Дата охранного документа: 10.11.2014
10.11.2014
№216.013.04d2

Способ получения износостойкого покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к способам нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение износостойкого покрытия из нитрида или карбонитрида титана, кремния, алюминия, молибдена и железа при их содержании, в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002532632
Дата охранного документа: 10.11.2014
10.11.2014
№216.013.053f

Способ получения многослойного покрытия для режущего инструмента

Изобретение относится к области нанесения износостойких покрытий на режущий инструмент и может быть использовано в металлообработке. Проводят вакуумно-плазменное нанесение многослойного покрытия. Сначала наносят нижний слой из нитрида титана. Затем наносят верхний слой из нитрида соединения...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002532741
Дата охранного документа: 10.11.2014
20.11.2014
№216.013.063e

Устройство для обнаружения участников дорожно-транспортного происшествия

Изобретение относится к устройству для обнаружения участников дорожно-транспортного происшествия. Устройство содержит установленную между кузовом и передним бампером автотранспортного средства металлическую трубку, прикрепленную к кузову кронштейном. Открытые концы трубки обращены к обочинам...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002532999
Дата охранного документа: 20.11.2014
20.11.2014
№216.013.068d

Двоичный сумматор

Изобретение предназначено для сложения двух четырехразрядных двоичных чисел, задаваемых двоичными сигналами и может быть использовано в системах цифровой вычислительной техники как средство арифметической обработки дискретной информации. Техническим результатом является повышение однородности...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002533078
Дата охранного документа: 20.11.2014
+ добавить свой РИД