×
27.01.2015
216.013.20d2

ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА

Вид РИД

Изобретение

Юридическая информация Свернуть Развернуть
№ охранного документа
0002539850
Дата охранного документа
27.01.2015
Краткое описание РИД Свернуть Развернуть
Аннотация: Микролинза может быть использована в изображающих планарных устройствах, устройствах интегральной оптики, для соединения оптических волноводов, для ввода излучения в фотонно-кристаллические и планарные волноводы и т.д. Планарная цилиндрическая микролинза имеет прямоугольную входную апертуру и выполнена в виде фотонного кристалла. Вдоль оптической оси микролинзы выполнена щель. Длина щели меньше или равна длине микролинзы и доходит до фокусной плоскости микролинзы. Микролинза может быть просто и удобно изготовлена с помощью технологий нанолитографии или фотолитографии. Технический результат - обеспечение фокусировки ТМ-поляризованного света в пятно шириной менее дифракционного предела, порядка 0,03 длины волны света. 8 ил.
Основные результаты: Планарная цилиндрическая микролинза, имеющая прямоугольную входную апертуру, выполненная в виде фотонного кристалла, отличающаяся тем, что вдоль оптической оси микролинзы выполнена щель, при этом длина щели меньше или равна длине микролинзы и доходит до фокусной плоскости микролинзы.
Реферат Свернуть Развернуть

Изобретение относится к фокусировке когерентного оптического излучения для получения фокусного пятна с заданной шириной меньше дифракционного предела в 2D случае (цилиндрическая планарная линза). Данная микролинза может быть использована в изображающих планарных устройствах, устройствах интегральной оптики, для соединения оптических волноводов, для ввода излучения в фотонно-кристаллические и планарные волноводы и т.д.

Для планарной фокусировки света используются различные типы линз. Самым простым вариантом являются обычные сферические или асферические линзы. Другой вариант линзы для фокусировки излучения описан в работе Graded index photonic crystals / H. Kurt, D.S. Citrin / Optics Express, 2007. - V.15. - P.1240-1252 (аналог). В этой работе применена фотонно-кристаллическая микролинза для фокусировки света, аналог градиентной линзы. Фотонный кристалл выполнен с помощью создания в материале с показателем преломления n=3,47 круглых отверстий, диаметр которых варьировался для получения среднего показателя преломления, заданного формулой .

Недостаток такой линзы заключается в недостаточно острой фокусировке света. Авторами получено значение ширины фокусного пятна по полуспаду интенсивности (FWHM) около 0,5λ в среде с показателем преломления n=3,47. С помощью такой линзы невозможно получить фокусное пятно с шириной, намного меньшей дифракционного предела.

Для достижения острой фокусировки следует использовать линзы с высокой числовой апертурой. Если считать, что фокусное пятно создается только распространяющимися волнами с максимальным наклоном к оптической оси, равным θ, то ширина фокуса по полуспаду интенсивности должна быть равной , где λ - длина волны в вакууме, n - показатель преломления среды, в которой происходит фокусировка света.

При числовой апертуре NA=nsinθ, стремящейся к n, ширина фокуса в 2D случае не может быть лучше . Эту величину можно рассматривать как дифракционный предел в 2D случае.

Для получения наиболее острой фокусировки следует фокусировать свет вблизи раздела двух сред, например материал оптического элемента с показателем преломления n>1 и воздух с показателем преломления 1. Вблизи поверхности раздела сред возбуждаются поверхностные световые волны, конструктивная интерференция которых может приводить к уменьшению фокусного пятна ниже дифракционного предела. Это возможно потому, что поверхностные волны имеют проекцию волнового вектора kx на поперечную координату x большую, чем волновое число в среде: kx>k0n, где k0=2π/λ - волновое число света в вакууме.

Наилучшими фокусирующими свойствами обладают градиентные линзы. В частности, микролинза, показатель преломления которой описывается гиперболическим секансом:

,

где L - длина линзы, n0 - максимальный показатель преломления на оптической оси, x - поперечная координата (Микаэлян А.Л. Применение свойств среды для фокусирования волн // Доклады академии наук СССР. - 1951. - Вып.81. - С.569-571).

Такие линзы могут быть созданы с помощью аппроксимации градиентного показателя преломления дифракционной субволновой микроструктурой, например, с помощью фотонных кристаллов.

Наиболее близка к данному изобретению работа, описанная в Chien, Н.Т. Focusing of electromagnetic waves by periodic arrays of air holes with gradually varying radii / H.T. Chien and C.C. Chen // Opt. Exp. - 2006. - V.14. - P. 10759, взятая за прототип. Однако ширина фокусного пятна в данной линзе близка к 0,5 длине волны света.

В данном изобретении была поставлена задача сфокусировать ТМ-поляризованный свет в пятно шириной менее дифракционного предела, порядка 0,03 длины волны света с помощью планарной цилиндрической микролинзы.

Задача достигается за счет того, что в планарной цилиндрической микролинзе, имеющей прямоугольную входную апертуру, выполненной в виде фотонного кристалла, согласно изобретению вдоль оптической оси микролинзы выполнена щель, при этом длина щели меньше или равна длине микролинзы и доходит до фокусной плоскости микролинзы.

В случае наличия щели ТМ-поляризованная волна может распространяться в ней как в волноводе, а фокусировка света градиентной линзой сосредоточит энергию поля внутри щели в фокусной плоскости. Ширина фокусного пятна, сформированного на границе линзы, будет близка к ширине щели, что позволит создавать планарные линзы со сколь угодно малым фокусом. Чем уже щель, тем уже фокус, но и тем меньше интенсивность света и количество световой энергии в фокусе. Длина щели Н может быть как равна длине линзы, так и быть меньше ее. Микролинза сохраняет свою работоспособность, если щель будет доходить до выходной апертуры линзы, а ее длина будет составлять десятые доли длины волны света в материале, из которого изготовлена микролинза.

Микролинза с градиентным показателем преломления с субволновой на оптической оси щелью может быть создана различными способами. Это может быть как микролинза с настоящим градиентным распределением показателя преломления (например, созданная комбинацией напыления различных материалов), так и с кусочно-постоянным распределением показателя преломления, например, имеющая вид бинарной дифракционной решетки или фотонного кристалла (с квадратными или круглыми отверстиями), средний показатель преломления которого повторяет градиентный аналог. Изготовить линзу можно с помощью технологии травления кремния после нанесения на него маскирующего слоя резиста с заданным микрорельефом (электронная литография).

На Фиг.1 приведено (в полутонах) распределение показателя преломления в градиентной гиперболической секансной линзе.

На Фиг.2 приведено распределение интенсивности света в относительных единицах в фокальной плоскости линзы.

На Фиг.3 приведено распределение показателя преломления в градиентной линзе со щелью.

На Фиг.4 приведено распределение интенсивности света в фокальной плоскости градиентной линзы со щелью.

На Фиг.5 приведено распределение показателя преломления в фотонно-кристаллической линзе со щелью с шахматной расстановкой отверстий.

На Фиг.6 приведено распределение интенсивности света в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы с шахматной расстановкой отверстий, без щели.

На Фиг.7 приведено распределение интенсивности света в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы с шахматной расстановкой отверстий, со щелью.

На Фиг.8 приведено распределение интенсивности света в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы с шахматной расстановкой отверстий, со щелью.

На Фиг.1 приведено в градациях серого распределение показателя преломления в градиентной гиперболической секансной линзе без щели. Видно, что показатель преломления максимальный по центру, достигающий значения n0=3,47 (кремний, Si), и спадает к краям до n(R)=1. Ширина микролинзы составляет 2R=4,8 мкм, длина L=2 мкм. Микролинза рассчитана на длину волны света λ=1,55 мкм.

На Фиг.2 приведено распределение интенсивности I ТМ-поляризованной волны (электрический вектор волны лежит в плоскости линзы, а магнитный вектор перпендикулярен плоскости линзы) в относительных единицах в фокальной плоскости линзы, показанной на Фиг.1. Фокальная плоскость расположена на границе линзы при z=2 мкм. Свет в виде плоской волны на Фиг.1, 3, 5 распространяется снизу вверх и падает нормально на входе линзы при Z=0. На Фиг.2 ширина фокального пятна по полуспаду интенсивности составляет FWHM=0,181 мкм=0,117λ. Дифракционный предел ширины фокусного пятна по полуспаду интенсивности для данного показателя преломления и длины волны составляет .

На Фиг.3 приведено распределение показателя преломления в градиентной линзе со щелью для фокусировки ТМ-поляризованной волны в узкое фокусное пятно заданной ширины W. Параметры линзы те же, что и на фиг.1. Ширина щели W может быть произвольной и менее дифракционного предела, щель проходит вдоль оптической оси через всю линзу.

На Фиг.4 приведено распределение интенсивности света ТМ-поляризованной волны в фокальной плоскости градиентной линзы со щелью, показатель преломления которой изображен на Фиг.3. Ширина щели W=50 нм, ширина фокального пятна по полуспаду интенсивности составляет FWHM=43 нм=0,029λ на расстоянии 10 нм за линзой.

На Фиг.5 приведено распределение показателя преломления в фотонно-кристаллической линзе со щелью, аналогичной градиентной линзе, для фокусировки ТМ-поляризованной волны в узкое фокусное пятно заданной ширины W. Ширина щели W может быть произвольной и менее дифракционного предела. Ширина линзы составляет 2R=4,6 мкм, длина L=2 мкм, максимальный диаметр отверстий 0,25 мкм, минимальный 30 нм, показатель преломления материала линзы n=3,47.

На Фиг.6 приведено распределение интенсивности света ТМ-поляризованной волны в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы, показатель преломления которой изображен на Фиг.5, но без щели. Ширина фокального пятна по полуспаду интенсивности составляет FWHM=162 нм=0,104λ на расстоянии 10 нм за линзой (Z=2,01 мкм). Дифракционная эффективность фокусировки света по первым минимумам интенсивности у фокуса составила 32%.

На Фиг.7 приведено распределение интенсивности света ТМ-поляризованной волны в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы, показатель преломления которой изображен на Фиг.5, со щелью вдоль оптической оси шириной W=50 нм. Щель проходит через всю линзу (Н=2 мкм). Ширина фокального пятна по полуспаду интенсивности составляет FWHM=59 нм=0,038λ на расстоянии 10 нм за линзой. Максимальная интенсивность света в фокусном пятне возросла, ширина фокуса сравнима с шириной щели. Эффективность фокусировки света по первым минимумам интенсивности у фокуса составила 27%. Уменьшая ширину щели W можно добиться более узких фокусных пятен, однако количество энергии в них и интенсивность будет падать.

На Фиг.8 приведено распределение интенсивности света ТМ-поляризованной волны в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы, показатель преломления которой изображен на Фиг.5, со щелью вдоль оптической оси шириной W=50 нм, а длина щели подобрана для максимума интенсивности света в фокусе и составляет H=0,24 мкм. Ширина фокального пятна по полуспаду интенсивности составляет FWHM=58 нм=0,037λ на расстоянии 10 нм за линзой. Максимальная интенсивность света в фокусном пятне еще больше, чем в случае Н=2 мкм (Фиг.7). Эффективность фокусировки света по первым минимумам интенсивности у фокуса тоже возросла по сравнению с предыдущим случаем и составила 45%.

Из приведенного примера видно, что планарная микролинза со щелью формирует узкое фокусное пятно с заданной шириной (при прочих равных условиях) в отличие от простых градиентных и аналогичных им линз (прототип). Так же видно, что, подбирая длину щели H, можно значительно увеличить интенсивность (мощность) в фокусе линзы и даже создать линзу, у которой одновременно и ширина фокусного пятна меньше, и эффективность фокусировки света выше аналогичной линзы без щели.

Преимущество данной линзы заключается также в простоте и удобстве изготовления с помощью технологий нанолитографии (запись отверстий в маскирующем слое электронного резиста типа ЭРП-40 электронным лучом в электронном микроскопе с литографической приставкой с последующим проявлением резиста и плазмохимическим травлением подложки) или фотолитографии.

Планарная цилиндрическая микролинза, имеющая прямоугольную входную апертуру, выполненная в виде фотонного кристалла, отличающаяся тем, что вдоль оптической оси микролинзы выполнена щель, при этом длина щели меньше или равна длине микролинзы и доходит до фокусной плоскости микролинзы.
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 1-4 из 4.
20.01.2013
№216.012.1ded

Планарная фотонно-кристаллическая микролинза

Изобретение относится к фокусировке когерентного оптического излучения для получения фокусного пятна, ширина которого меньше дифракционного предела в 2D случае (цилиндрическая линза). Техническим результатом является фокусировка плоской световой волны вблизи ее границы с малым фокусным пятном....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002473155
Дата охранного документа: 20.01.2013
20.04.2013
№216.012.358e

Способ выполнения отверстий в костной ткани альвеолярного гребня и устройство его реализующее

Изобретение относится к хирургической стоматологии и может быть использовано для внутрикостной дентальной имплантации. В области отсутствующих зубов производят разрез по вершине гребня альвеолярного отростка и отслойку слизисто-надкостничного лоскута. В разрез устанавливают втулки с коническими...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002479263
Дата охранного документа: 20.04.2013
10.06.2013
№216.012.48a9

Способ получения декоративных покрытий

Изобретение относится к области получения декоративных покрытий на изделиях из стекла, керамики и других материалов с оптически гладкой поверхностью и может быть использовано при нанесении декоративных покрытий на товары народного потребления, отделочно-декоративные и художественные изделия в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002484181
Дата охранного документа: 10.06.2013
10.08.2013
№216.012.5e12

Установка для измерения параметров оптически прозрачных поверхностей

Изобретение относится к средствам определения качественных параметров поверхностного слоя оптически прозрачных поверхностей путем моделирования воздействия на оптически прозрачную поверхность различных природных факторов. Технический результат - расширение фукнциональных возможностей. Установка...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002489703
Дата охранного документа: 10.08.2013
Показаны записи 1-4 из 4.
20.01.2013
№216.012.1ded

Планарная фотонно-кристаллическая микролинза

Изобретение относится к фокусировке когерентного оптического излучения для получения фокусного пятна, ширина которого меньше дифракционного предела в 2D случае (цилиндрическая линза). Техническим результатом является фокусировка плоской световой волны вблизи ее границы с малым фокусным пятном....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002473155
Дата охранного документа: 20.01.2013
20.04.2013
№216.012.358e

Способ выполнения отверстий в костной ткани альвеолярного гребня и устройство его реализующее

Изобретение относится к хирургической стоматологии и может быть использовано для внутрикостной дентальной имплантации. В области отсутствующих зубов производят разрез по вершине гребня альвеолярного отростка и отслойку слизисто-надкостничного лоскута. В разрез устанавливают втулки с коническими...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002479263
Дата охранного документа: 20.04.2013
10.06.2013
№216.012.48a9

Способ получения декоративных покрытий

Изобретение относится к области получения декоративных покрытий на изделиях из стекла, керамики и других материалов с оптически гладкой поверхностью и может быть использовано при нанесении декоративных покрытий на товары народного потребления, отделочно-декоративные и художественные изделия в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002484181
Дата охранного документа: 10.06.2013
10.08.2013
№216.012.5e12

Установка для измерения параметров оптически прозрачных поверхностей

Изобретение относится к средствам определения качественных параметров поверхностного слоя оптически прозрачных поверхностей путем моделирования воздействия на оптически прозрачную поверхность различных природных факторов. Технический результат - расширение фукнциональных возможностей. Установка...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002489703
Дата охранного документа: 10.08.2013
+ добавить свой РИД