ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ОТОБРАЖЕНИЯ

ОБЛАСТЬ ТЕХНИКИ

[0001] Настоящее изобретение относится к жидкокристаллическому устройству отображения. Более конкретно, настоящее изобретение относится к жидкокристаллическому устройству отображения, пригодному в качестве жидкокристаллического устройства отображения режима ECB (электрически управляемого двулучепреломления).

ПРЕДШЕСТВУЮЩИЙ УРОВЕНЬ ТЕХНИКИ

[0002] Жидкокристаллическое устройство отображения обычно включает в себя пару поляризаторов, жидкокристаллическую панель отображения (жидкокристаллическую ячейку), размещенную между парой поляризаторов, и одну или множество фазовых пластин, расположенных между жидкокристаллической панелью отображения и по меньшей мере одним из пары поляризаторов. Жидкокристаллическая панель отображения имеет пару подложек, обращенных друг к другу, и жидкокристаллический слой, размещенный между парой подложек.

[0003] Примеры режима жидкокристаллической панели отображения включают в себя режим TN (скрученный нематический), режим STN (сверхскрученный нематический), режим ECB, режим IPS (переключения в плоскости), режим VA (вертикального выравнивания), режим OCB (оптически компенсируемого двулучепреломления), режим HAN (гибридно-выровненный нематический), режим ASM (аксиально-симметричной выровненной микроячейки), полутоновой режим градации серого, режим разделения области и режим отображения, использующий ферроэлектрический жидкий кристалл или антиферроэлектрический жидкий кристалл.

[0004] Ссылаясь на режим ECB, раскрывается технология, использующая жидкокристаллическую пленку, установленную в положении, в котором нематический жидкий кристалл является гибридно-выровненным (см., например, Патентные документы 1-4).

[0005]

[Патентный документ 1] опубликованная японская заявка на патент №2007-316211

[Патентный документ 2] опубликованная японская заявка на патент №2008-129177

[Патентный документ 3] опубликованная японская заявка на патент №2008-309957

[Патентный документ 4] опубликованная японская заявка на патент №2009-42657

[0006] Однако в жидкокристаллическом устройстве отображения режима ECB, описанном в каждом из Патентных документов 1-4, были случаи, когда шкала градации серого инвертируется в диапазоне широкого угла обзора, когда отображается цвет, близкий к черному.

РАСКРЫТИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

[0007] Настоящее изобретение было достигнуто ввиду вышеописанных обстоятельств, и его задача состоит в том, чтобы обеспечить жидкокристаллическое устройство отображения, которое проявляет превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному.

[0008] Изобретатели настоящего изобретения провели различные исследования относительно жидкокристаллического устройства отображения, которое проявляет превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному. В результате, изобретатели настоящего изобретения обнаружили, что возможно уменьшить диапазон угла обзора, в котором имеет место инверсия шкалы градации серого, когда отображается цвет, близкий к черному, посредством использования режима, в котором разность фаз в перпендикулярном направлении элемента, который находится между парой поляризаторов, исключая жидкокристаллический слой, и фазовую пластину (первую фазовую пластину), включающую в себя жидкокристаллическую пленку, составляет 130 нм или больше, и/или режим, в котором разность фаз жидкокристаллической панели отображения составляет 210-310 нм, средний угол наклона нематического жидкого кристалла, включенного в жидкокристаллическую пленку, равен 34-40°, разность фаз в плоскости второй фазовой пластины составляет 130-150 нм, и коэффициент Nz второй фазовой пластины составляет 1,35-1,75, и изобретатели настоящего изобретения поняли, что вышеописанная проблема может быть решена в полной мере посредством уменьшения диапазона угла обзора, и получили настоящее изобретение.

[0009] Таким образом, настоящим изобретением является жидкокристаллическое устройство отображения, включающее в себя первый поляризатор, второй поляризатор, жидкокристаллическую панель отображения, первую фазовую пластину и вторую фазовую пластину, в котором второй поляризатор обращен к первому поляризатору, жидкокристаллическая панель отображения обеспечена между первым поляризатором и вторым поляризатором, первая фазовая пластина и вторая фазовая пластина обеспечены между первым или вторым поляризатором и жидкокристаллической панелью отображения независимо друг от друга, причем жидкокристаллическая панель отображения имеет пару подложек, обращенных друг к другу, и жидкокристаллический слой, размещенный между парой подложек, причем жидкокристаллический слой включает в себя гомогенно выровненную молекулу жидкого кристалла, первая фазовая пластина включает в себя жидкокристаллическую пленку, причем жидкокристаллическая пленка формируется посредством установления в положение, в котором нематический жидкий кристалл является гибридно-выровненным, и специфичная разница фаз в качестве разности фаз в перпендикулярном направлении элемента, который находится между первым и вторым поляризаторами, исключая жидкокристаллический слой и первую фазовую пластину, составляет 120 нм или больше (в дальнейшем также называемое “первым жидкокристаллическим устройством отображения согласно настоящему изобретению”).

[0010] Когда специфичная разница фаз составляет менее чем 120 нм, инверсия шкалы градации серого может не быть полностью подавлена, когда отображается цвет, близкий к черному.

[0011] Конфигурация первого жидкокристаллического устройства отображения согласно настоящему изобретению специально не ограничена другими компонентами до тех пор, пока она по существу включает в себя такие компоненты. Подробное описание представлено ниже предпочтительных режимов в первом жидкокристаллическом устройстве отображения согласно настоящему изобретению.

[0012] Хотя верхний предел специфичной разности фаз конкретно не ограничен, ее верхний предел предпочтительно составляет 330 нм. Обычно, до упомянутого выше значения характеристика инверсии шкалы градации серого достигает своего пика.

[0013] Первый поляризатор, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения, вторая фазовая пластина и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разница фаз может составлять 120 нм или больше, и 300 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному.

[0014] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя прозрачный защитный слой, имеющий разность фаз в перпендикулярном направлении 25 нм или больше, и 35 нм или меньше, причем первый поляризатор, прозрачный защитный слой, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения, вторая фазовая пластина и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разница фаз может составлять 150 нм или больше, и 330 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному.

[0015] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя третью фазовую пластину, показывающую оптически отрицательную одноосность в перпендикулярном направлении, причем первый поляризатор, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения, вторая фазовая пластина, третья фазовая пластина и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 140 нм или больше, и 250 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному, не ухудшая изоконтрастную характеристику.

[0016] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя третью фазовую пластину, обнаруживающую оптически отрицательную одноосность в перпендикулярном направлении, причем первый поляризатор, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения, третья фазовая пластина, вторая фазовая пластина и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 130 нм или больше, и 290 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному, не ухудшая изоконтрастную характеристику.

[0017] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя третью фазовую пластину, обнаруживающую оптически отрицательную одноосность в перпендикулярном направлении, причем первый поляризатор, первая фазовая пластина, третья фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения, вторая фазовая пластина и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 130 нм или больше, и 290 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному, не ухудшая изоконтрастную характеристику.

[0018] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя третью фазовую пластину, обнаруживающую оптически отрицательную одноосность в перпендикулярном направлении, причем первый поляризатор, третья фазовая пластина, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения, вторая фазовая пластина и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 140 нм или больше, и 250 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному, не ухудшая изоконтрастную характеристику.

[0019] Таким образом, в режиме, в котором первый поляризатор, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения, вторая фазовая пластина и второй поляризатор расположены в этом порядке (в дальнейшем также называемом “первым режимом”), специфичная разность фаз предпочтительно составляет 150 нм или больше, и 250 нм или меньше. Посредством этого в первом режиме возможно достоверно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному.

[0020] Первый поляризатор, вторая фазовая пластина, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 120 нм или больше, и 260 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному.

[0021] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя прозрачный защитный слой, имеющий разность фаз в перпендикулярном направлении 25 нм или больше, и 35 нм или меньше, причем первый поляризатор, прозрачный защитный слой, вторая фазовая пластина, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 150 нм или больше, и 240 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному.

[0022] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя третью фазовую пластину, обнаруживающую оптически отрицательную одноосность в перпендикулярном направлении, причем первый поляризатор, вторая фазовая пластина, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения, третья фазовая пластина и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 140 нм или больше, и 250 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному, не ухудшая изоконтрастную характеристику.

[0023] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя третью фазовую пластину, обнаруживающую оптически отрицательную одноосность в перпендикулярном направлении, причем первый поляризатор, вторая фазовая пластина, первая фазовая пластина, третья фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 140 нм или больше, и 210 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному, не ухудшая изоконтрастную характеристику.

[0024] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя третью фазовую пластину, обнаруживающую оптически отрицательную одноосность в перпендикулярном направлении, причем первый поляризатор, вторая фазовая пластина, третья фазовая пластина, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 130 нм или больше, и 210 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному, не ухудшая изоконтрастную характеристику.

[0025] Жидкокристаллическое устройство отображения может дополнительно включать в себя третью фазовую пластину, обнаруживающую оптически отрицательную одноосность в перпендикулярном направлении, причем первый поляризатор, третья фазовая пластина, вторая фазовая пластина, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения и второй поляризатор могут быть расположены в этом порядке, и специфичная разность фаз может составлять 140 нм или больше, и 270 нм или меньше. Посредством этого возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному, не ухудшая изоконтрастную характеристику.

[0026] Таким образом, в режиме, в котором первый поляризатор, вторая фазовая пластина, первая фазовая пластина, жидкокристаллическая панель отображения и второй поляризатор расположены в этом порядке (в дальнейшем также называемом “вторым режимом”), специфичная разность фаз предпочтительно составляет 150 нм или больше, и 210 нм или меньше. Посредством этого во втором режиме возможно продемонстрировать дополнительную превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному.

[0027] Согласно первому жидкокристаллическому устройству отображения согласно настоящему изобретению возможно достигнуть доли не-инверсии шкалы серого предпочтительно 60% или больше.

[0028] Настоящим изобретением также является жидкокристаллическое устройство отображения, включающее в себя первый поляризатор, второй поляризатор, жидкокристаллическую панель отображения, первую фазовую пластину и вторую фазовую пластину, в котором второй поляризатор обращен к первому поляризатору, жидкокристаллическая панель отображения обеспечена между первым поляризатором и вторым поляризатором, первая фазовая пластина обеспечена между первым поляризатором и жидкокристаллической панелью отображения, вторая фазовая пластина обеспечена между вторым поляризатором и жидкокристаллической панелью отображения, жидкокристаллическая панель отображения имеет пару подложек, обращенных друг к другу, и жидкокристаллический слой, размещенный между парой подложек, причем жидкокристаллический слой включает в себя гомогенно выровненную молекулу жидкого кристалла, разность фаз жидкокристаллической панели отображения составляет 210-310 нм, первая фазовая пластина включает в себя жидкокристаллическую пленку, причем жидкокристаллическая пленка формируется посредством установления в положение, в котором нематический жидкий кристалл является гибридно-выровненным, средний угол наклона нематического жидкого кристалла равен 34-40°, разность фаз в плоскости второй фазовой пластины составляет 130-150 нм, и коэффициент Nz второй фазовой пластины составляет 1,35-1,75 (в дальнейшем также называемое “вторым жидкокристаллическим устройством отображения согласно настоящему изобретению”).

[0029] Конфигурация второго жидкокристаллического устройства отображения согласно настоящему изобретению специально не ограничена другими компонентами до тех пор, пока она по существу включает в себя такие компоненты.

[0030] Согласно второму жидкокристаллическому устройству отображения согласно настоящему изобретению возможно достигнуть доли не-инверсии шкалы серого предпочтительно 60% или больше.

[Выгодные эффекты изобретения]

[0031] Согласно каждому из первого и второго жидкокристаллических устройств отображения согласно настоящему изобретению возможно продемонстрировать превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого в положении, в котором отображается цвет, близкий к черному.

КРАТКОЕ ОПИСАНИЕ ЧЕРТЕЖЕЙ

[0032] Фиг. 1 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 2 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 3 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 4 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 5 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 6 является схематическим перспективным видом нематического жидкого кристалла согласно первому варианту осуществления для описания угла наклона и угла скручивания;

Фиг. 7 является схематическим видом в поперечном сечении жидкокристаллического уровня согласно первому варианту осуществления для описания направления выравнивания гомогенного жидкого кристалла;

Фиг. 8 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 1 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 9 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 1+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 10 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 1-1 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 11 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 1-2 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 12 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 1-3 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 13 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 1-4 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 14 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 2 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 15 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 2+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 16 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 2-1 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 17 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 2-2 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 18 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 2-3 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 19 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру 2-4 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 20 является концептуальным видом для описания режима компоновки оптических осей оптических элементов согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 21 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=126 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=154 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=182 нм удовлетворяется;

Фиг. 22 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=252 нм удовлетворяется, и (g) показывает случай, когда общая Rth=294 нм удовлетворяется;

Фиг. 23 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=126 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=154 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=182 нм удовлетворяется;

Фиг. 24 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=252 нм удовлетворяется, и (g) показывает случай, когда общая Rth=294 нм удовлетворяется;

Фиг. 25 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=126 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=154 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=182 нм удовлетворяется;

Фиг. 26 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=252 нм удовлетворяется, и (g) показывает случай, когда общая Rth=294 нм удовлетворяется;

Фиг. 27 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=126 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=154 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=182 нм удовлетворяется;

Фиг. 28 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=252 нм удовлетворяется, и (g) показывает случай, когда общая Rth=294 нм удовлетворяется;

Фиг. 29 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого каждой из: структуры 1 и структуры 2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 30 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=100 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=156 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=184 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=212 нм удовлетворяется;

Фиг. 31 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=240 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=282 нм удовлетворяется, и (g) показывает случай, когда общая Rth=324 нм удовлетворяется;

Фиг. 32 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=100 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=156 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=184 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=212 нм удовлетворяется;

Фиг. 33 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=240 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=282 нм удовлетворяется, и (g) показывает случай, когда общая Rth=324 нм удовлетворяется;

Фиг. 34 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=100 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=156 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=184 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=212 нм удовлетворяется;

Фиг. 35 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=240 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=282 нм удовлетворяется, и (g) показывает случай, когда общая Rth=324 нм удовлетворяется;

Фиг. 36 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=100 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=156 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=184 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=212 нм удовлетворяется;

Фиг. 37 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=240 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=282 нм удовлетворяется, и (g) показывает случай, когда общая Rth=324 нм удовлетворяется;

Фиг. 38 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого каждой из: структуры 1+ прозрачный защитный слой и структуры 2+ прозрачный защитный слой жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 39 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 40 является графиками, обнаруживающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 41 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 42 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 43 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 44 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 45 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 46 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 47 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 48 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 49 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 50 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 51 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 52 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 53 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 54 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 55 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 56 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 57 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 58 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 59 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 60 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 61 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 62 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 1-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 63 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора структуры 1-1 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 64 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора структуры 1-2 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 65 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора структуры 1-3 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 66 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора структуры 1-4 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 67 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора каждой из структур 1-1 - 1-4 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 68 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 69 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 70 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 71 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 72 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 73 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 74 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 75 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 76 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 77 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 78 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 79 является графиками, показывающими характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 80 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 81 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 82 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-1 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 83 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 84 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 85 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-2 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 86 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 87 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 88 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-3 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 89 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (a) показывает случай, когда общая Rth=70 нм удовлетворяется, (b) показывает случай, когда общая Rth=130 нм удовлетворяется, (c) показывает случай, когда общая Rth=140 нм удовлетворяется, и (d) показывает случай, когда общая Rth=150 нм удовлетворяется;

Фиг. 90 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (e) показывает случай, когда общая Rth=160 нм удовлетворяется, (f) показывает случай, когда общая Rth=170 нм удовлетворяется, (g) показывает случай, когда общая Rth=190 нм удовлетворяется, и (h) показывает случай, когда общая Rth=210 нм удовлетворяется;

Фиг. 91 является графиками, показывающими изоконтрастную характеристику структуры 2-4 жидкокристаллического устройства отображения, согласно первому варианту осуществления, из которых (i) показывает случай, когда общая Rth=230 нм удовлетворяется, (j) показывает случай, когда общая Rth=250 нм удовлетворяется, (k) показывает случай, когда общая Rth=270 нм удовлетворяется, и (l) показывает случай, когда общая Rth=290 нм удовлетворяется;

Фиг. 92 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора структуры 2-1 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 93 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора структуры 2-2 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 94 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора структуры 2-3 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 95 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора структуры 2-4 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 96 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора каждой из структур 2-1 - 2-4 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 97 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора каждой из: структуры 1, структуры 1+ прозрачный защитный слой и структур 1-1 - 1-4;

Фиг. 98 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого и долю угла обзора каждой из: структуры 2, структуры 2+ прозрачный защитный слой и структур 2-1 - 2-4;

Фиг. 99 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру жидкокристаллического устройства отображения, согласно каждому из примеров 1-3;

Фиг. 100 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру жидкокристаллического устройства отображения, согласно каждому из примеров 4-6;

Фиг. 101 является графиком, показывающим долю не-инверсии шкалы серого жидкокристаллического устройства отображения, согласно каждому из: примерам 1-6 и сравнительному примеру 1;

Фиг. 102 показывает изоконтрастную характеристику жидкокристаллического устройства отображения режима TN, снабженного пленкой широкого обзора;

Фиг. 103 показывает характеристику инверсии шкалы градации серого жидкокристаллического устройства отображения режима TN, снабженного пленкой широкого обзора;

Фиг. 104 показывает изоконтрастную характеристику жидкокристаллического устройства отображения режима ECB;

Фиг. 105 показывает характеристику инверсии шкалы градации серого жидкокристаллического устройства отображения режима ECB;

Фиг. 106 показывает изоконтрастную характеристику жидкокристаллического устройства отображения режима ECB;

Фиг. 107 показывает характеристику инверсии шкалы градации серого жидкокристаллического устройства отображения режима ECB;

Фиг. 108 показывает изоконтрастную характеристику структуры 2 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 109 показывает характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 2 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 110 показывает изоконтрастную характеристику структуры 1 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 111 показывает характеристику инверсии шкалы градации серого структуры 1 жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления;

Фиг. 112 показывает изоконтрастную характеристику жидкокристаллического устройства отображения режима ASV;

Фиг. 113 показывает характеристику инверсии шкалы градации серого жидкокристаллического устройства отображения режима ASV;

Фиг. 114 показывает зависимость угла обзора от разности фаз жидкокристаллической панели отображения режима ECB;

Фиг. 115 является схематическим видом в поперечном сечении, показывающим структуру жидкокристаллического устройства отображения согласно второму варианту осуществления; и

Фиг. 116 является графиком, показывающим соотношение между остаточной разностью фаз и приложенным напряжением в жидкокристаллическом устройстве отображения согласно первому варианту осуществления.

НАИЛУЧШИЙ РЕЖИМ ДЛЯ ВЫПОЛНЕНИЯ ИЗОБРЕТЕНИЯ

[0033] В настоящем описании доля не-инверсии шкалы серого обозначает процентную долю от диапазона, в котором инверсия шкалы градации серого не имеет место относительно диапазона общего угла обзора. В дополнение, наличие или отсутствие инверсии шкалы градаций серого определяется посредством сравнения отношений яркости между 0-ым уровнем и 7-ым уровнем в изображении 64 уровней шкалы градации серого от 0-ого уровня (черное изображение) до 63-его уровня (белое изображение).

[0034] Дополнительно, в настоящем описании доля угла обзора обозначает процент диапазона, в котором отношение контраста равно 50:1 или больше относительно диапазона общего угла обзора.

[0035] Должно быть отмечено, что диапазон общего угла обзора обозначает диапазон во всех азимутах, имеющих полярный угол от 0 до 80°.

[0036] В настоящем описании жидкокристаллическая пленка обозначает пленку, полученную посредством формирования жидкокристаллического материала, такого как низкомолекулярный жидкий кристалл, высокомолекулярный жидкий кристалл и т.п., в пленку. Хотя наличие или отсутствие жидкокристаллических свойств самой жидкокристаллической пленки в частности не ограничены, жидкокристаллическая пленка обычно не проявляет жидкокристаллические свойства.

[0037] Кроме того, согласно настоящему описанию средний угол наклона обозначает среднее значение угла, сформированного между директором нематического жидкого кристалла и плоскостью жидкокристаллической пленки в перпендикулярном направлении жидкокристаллической пленки. Средний угол наклона может быть определен посредством использования способа вращения кристалла.

[0038] Другие определения терминов и символов в настоящем описании будут представлены следующим образом, если не определено иначе:

(1) Главные индексы преломления (nx, ny, nz):

“nx” является индексом преломления в направлении, в котором индекс преломления максимизируется в плоскости оптически анизотропного слоя (то есть, направление оси наименьшей скорости распространения света), “ny” является индексом преломления в направлении, ортогональном оси наименьшей скорости распространения света в плоскости слоя (то есть, направлении оси наибольшей скорости распространения света), и “nz” является индексом преломления в перпендикулярном направлении слоя.

(2) Разность фаз Re в плоскости.

Разность фаз в плоскости Re является значением разности фаз, определенным посредством (nx-ny)×d, когда толщина оптически анизотропного слоя представлена посредством d (нм).

(3) Разность фаз в перпендикулярном направлении Rth.

Значение разности фаз в перпендикулярном направлении Rth является значением разности фаз, определенным посредством ((nx+ny)/2-nz)×d, когда толщина оптически анизотропного слоя представлена посредством d (нм).

(4) Коэффициент Nz.

Коэффициент Nz является значением, определенным посредством (nx-nz)/(nx-ny).

(5) Коэффициенты Re, Rth и Nz удовлетворяют соотношению Rth=Re×(коэффициент Nz-0,5).

[0039] Значение разности фаз оптически анизотропного слоя было измерено посредством использования Rets-200PT-Rf, произведенного Otsuka Electronics Co. Ltd.

[0040] Коэффициент Nz оптически анизотропного слоя был измерен посредством использования Rets-200PT-Rf, произведенного Otsuka Electronics Co. Ltd. Коэффициент Nz был вычислен на основании значения разности фаз в прямом направлении (направлении нормали к экрану), значения разности фаз от направления, полученного посредством вращения направления нормали на 45° с осью наименьшей скорости распространения света оптически анизотропного слоя, используемого в качестве оси вращения, индекса преломления оптически анизотропного слоя и толщины оптически анизотропного уровня.

[0041] EZcontrast, произведенный ELDIM, использовался для измерения характеристики инверсии шкалы градации серого.

[0042] Должно быть отмечено, что в настоящем описании индекс преломления, значение разности фаз и коэффициент Nz являются значениями в одноцветном свете, имеющем длину волны 550 нм с температурой 25°C, если не указано иное.

[0043] Настоящее изобретение более подробно описано, ссылаясь на чертежи в нижеследующих вариантах осуществления, но не ограничиваясь этими вариантами осуществления.

[0044]

(Первый вариант осуществления)

Жидкокристаллическое устройство отображения согласно настоящему варианту осуществления является пропускающим жидкокристаллическим устройством отображения и, как показано на Фиг. 1, включает в себя первый поляризатор 5, жидкокристаллическую панель 10 отображения (жидкокристаллическую ячейку), второй поляризатор 6, первую фазовую пластину 11, вторую фазовую пластину 12 и фоновую подсветку, обеспеченную позади этих элементов. Первый поляризатор 5, жидкокристаллическая панель 10 отображения и второй поляризатор 6 расположены в этом порядке. Первая фазовая пластина 11 и вторая фазовая пластина 12 расположены между первым или вторым поляризатором 5 или 6 и жидкокристаллической панелью 10 отображения. Первая и вторая фазовые пластины 11 и 12 могут быть расположены на одной стороне поляризатора или могут быть расположены на различных сторонах поляризатора. Когда они расположены на одной стороне поляризатора, первая фазовая пластина 11 обычно располагается ближе к жидкокристаллической панели 10 отображения, чем вторая фазовая пластина 12. В дополнение, между первой фазовой пластиной 11 и жидкокристаллической панелью отображения обычно не обеспечивается другой оптически анизотропный слой.

[0045] Жидкокристаллическое устройство отображения согласно настоящему варианту осуществления дополнительно включает в себя третью фазовую пластину, если необходимо. Третья фазовая пластина расположена между двумя смежными элементами из первого поляризатора 5, жидкокристаллической панели 10 отображения, второго поляризатора 6, первой фазовой пластины 11 и второй фазовой пластины 12.

[0046] Как показано на Фиг. 2, жидкокристаллическая панель 10 отображения имеет пару прозрачных подложек 1 и 2, расположенных таким образом, чтобы быть обращенными друг к другу, и жидкокристаллический слой 3 размещается между подложками 1 и 2.

[0047] Специфичная разность фаз (в дальнейшем также называемая “общая Rth”) составляет 120 нм или больше, причем эта специфичная разность фаз является разностью фаз в перпендикулярном направлении элемента (например, второй фазовой пластины 12, третьей фазовой пластины или подобного), который находится между первым поляризатором 5 и вторым поляризатором 6, исключая жидкокристаллический слой 3 и первую фазовую пластину 11. Посредством этого возможно продемонстрировать превосходную характеристику инверсии шкалы градации серого, когда отображается цвет, близкий к черному.

[0048] Хотя верхний предел общей Rth в частности не ограничен, ее верхний предел обычно приблизительно составляет 330 нм. Обычно, перед упомянутым выше значением характеристика инверсии шкалы градации серого достигает своего пика.

[0049] В дополнение, согласно жидкокристаллическому устройству отображения первого варианта осуществления возможно достигнуть доли не-инверсии шкалы серого предпочтительно 60% или больше (более предпочтительно 65% или более и дополнительно предпочтительно 70% или больше). Когда доля не-инверсии шкалы серого составляет меньше чем 60%, может считаться, что инверсия шкалы градации серого не достаточно подавлена, когда отображается цвет, близкий к черному.

[0050] Должно быть отмечено, что толщина каждого элемента конкретно не ограничена, и его толщина может быть установлена равным значению, аналогичному таковому в обычном жидкокристаллическом устройстве отображения.

[0051] Жидкокристаллический слой 3 формируется из жидкокристаллической композиции, содержащей различные обычные низко-молекулярные жидкие кристаллы и высоко-молекулярные жидкие кристаллы, и, как показано на Фиг. 3, жидкокристаллический слой 3 включает в себя молекулы 4 жидкого кристалла, которые гомогенно выровнены, когда не прикладывается напряжение (в дальнейшем также называемый “гомогенным жидким кристаллом”). Молекула 4 жидкого кристалла является нематическим жидким кристаллом, имеющим положительную диэлектрическую постоянную анизотропию. Угол скручивания молекулы 4 жидкого кристалла равен 0° или больше, и 5° или меньше. Когда прикладывается напряжение, как показано на Фиг. 4, молекула 4 жидкого кристалла наклоняется в перпендикулярном направлении жидкокристаллического слоя 3. Как описано ниже, первый и второй поляризаторы 5 и 6 расположены в конфигурации скрещенной николи, и жидкокристаллическая панель 10 отображения показывает обычно белый режим.

[0052] Разность фаз (Δnd) жидкокристаллической панели 10 отображения предпочтительно составляет 210-310 нм, более предпочтительно составляет 240-280 нм и особенно предпочтительно составляет 260 нм. Когда Δnd превышает 310 нм, может увеличиться напряжение возбуждения, или может ухудшиться характеристика инверсии шкалы градации серого. Когда Δnd составляет меньше чем 210 нм, может снизиться яркость.

[0053] Разность фаз (остаточная разность фаз) Re жидкокристаллической панели 10 отображения в прямом направлении, когда отображается черный, предпочтительно составляет 40-60 нм, более предпочтительно составляет 45-55 нм и особенно предпочтительно составляет 50 нм. Когда остаточная разность фаз Re превышает 60 нм, угол обзора имеет тенденцию ухудшаться. Как показано на Фиг. 116, отношение между напряжением и остаточной разностью фаз Re не является линейным, и изменение в остаточной разнице фаз относительно изменения в напряжении уменьшается, так как уменьшается остаточная разность фаз Re. В результате, когда остаточная разность фаз Re чрезмерно уменьшается, в частности, когда остаточная разность фаз Re составляет меньше чем 40 нм, может увеличиться вредный эффект относительно уменьшения потреблении энергии.

[0054] Способ возбуждения для жидкокристаллической панели 10 отображения конкретно не ограничен, и его примеры включают в себя способ пассивной матрицы, способ активной матрицы и способ адресации плазмы. Среди них способ активной матрицы, использующий активный элемент, такой как TFT (тонкопленочный транзистор) или подобное, является подходящим.

[0055] Каждая из подложек 1 и 2 выравнивает молекулы 4 жидкого кристалла в конкретном направлении. Хотя каждая из подложек 1 и 2 может иметь свойство, которое выравнивает жидкокристаллический материал, элемент выравнивания, имеющий это свойство, которое выравнивает молекулы 4 жидкого кристалла (например, слой выравнивания или подобное), обычно обеспечивается на каждой из подложек 1 и 2.

[0056] На каждой из подложек 1 и 2 на стороне жидкокристаллического слоя 3 обеспечивается электрод для приложения напряжения к жидкокристаллическому слою 3. Пример материала для электрода включает в себя прозрачную проводящую пленку, сделанную из оксида индия и олова (ITO) или подобного. Когда используется прозрачная подложка, снабженная слоем выравнивания, электрод обычно обеспечивается между прозрачной подложкой и слоем выравнивания. Должно быть отмечено, что цветной фильтр также может быть обеспечен на подложке 1 или 2 на стороне жидкокристаллического слоя 3.

[0057] Каждый из первого и второго поляризаторов 5 и 6 имеет функцию преобразования естественного света в линейно поляризованный свет. В качестве первого и второго поляризаторов 5 и 6 может быть соответственно использован обычный поляризатор, используемый в жидкокристаллическом устройстве отображения. Обычный поляризатор формируется посредством окрашивания пленки поливинилового спирта (PVA) как базового материала иодом или краской, и посредством растягивания пленки в четыре - шесть раз. Первый и второй поляризаторы 5 и 6 являются так называемыми поляризаторами O-типа.

[0058] Хотя первый поляризатор 5 и/или второй поляризатор 6 могут быть использованы отдельно, для повышения прочности, влагостойкости и сопротивления высоким температурам, как показано на Фиг. 5, прозрачный защитный слой 7 предпочтительно обеспечивается на обеих поверхностях первого и второго поляризаторов 5 и 6. В качестве прозрачного защитного слоя 7 может быть соответственно использован прозрачный защитный слой, используемый в обычной поляризующей пластине, и обычно используется пленка триацетил целлюлозы (TAC). Примеры пленки TAC включают в себя пленку TAC поляризующей жидкокристаллической пластины, произведенную Konica Minolta Opto, Inc, и TAC Fuji, произведенную FUJIFILM Corporation.

[0059] Rth пленки TAC, имеющей толщину пленки 40 мкм, обычно приблизительно составляет 30 нм. Следовательно, относительно использования обычной пленки TAC в качестве прозрачного защитного слоя 7, Rth прозрачного защитного слоя 7 предпочтительно составляет 25-35 нм и особенно предпочтительно составляет 30 нм.

[0060] С другой стороны, в качестве прозрачного защитного слоя 7 также может быть использована защитная пленка, сделанная из акрилового полимера, который удовлетворяет Rth=0 нм. В дополнение, в качестве прозрачного защитного слоя, обеспеченного на стороне жидкокристаллической панели 10 отображения первого поляризатора 5 и/или второго поляризатора 6, вместо этого могут быть также использованы первая фазовая пластина 11, вторая фазовая пластина 12 или третья фазовая пластина.

[0061] Хотя Rth прозрачного защитного слоя предпочтительно составляет 0 в режиме IPS, Rth предпочтительно имеет положительное значение в других режимах. Соответственно, Rth прозрачного защитного слоя 7 конкретно не ограничена и может быть соответственно установлена в пределах диапазона, который удовлетворяет вышеупомянутый диапазон общей Rth.

[0062] Вторая фазовая пластина 12 используется для оптической компенсации в прямом направлении. Значение разности фаз в перпендикулярном направлении второй фазовой пластины 12 влияет на характеристику угла обзора, и эта характеристика угла обзора изменяется посредством регулирования значения разности фаз. Материал для второй фазовой пластины 12 конкретно не ограничен, и его примеры включают в себя поликарбонат, полисульфон, ацетат целлюлозы, поливинил хлорид и полиолефин. Вторая фазовая пластина 12 может быть сформирована посредством использования, например, способа одноосного растягивания полимерной пленки, сделанной из вышеупомянутого материала (необработанная пленка) в продольном (длина) направлении или боковом (ширина) направлении, или способа двуосного растягивания полимерной пленки в продольном и боковом направлениях. В дополнение, вторая фазовая пластина 12 также может быть сформирована посредством растягивания полимерной пленки, сделанной из вышеупомянутого материала в направлении, наклонном к продольному или боковому направлению, как описано в опубликованной японской заявке на патент №2007-203556 или опубликованной японской заявке на патент №2007-90532.

[0063] Хотя Re второй фазовой пластины 12 особенно предпочтительно составляет 140 нм, ее Re может также составлять 130-150 нм (предпочтительно 135-145 нм) с учетом изменений в продукте. В дополнение, Re второй фазовой пластины 12 предпочтительно по существу удовлетворяет отношению (остаточная разность фаз Re жидкокристаллической панели 10 отображения)=(Re второй фазовой пластины 12)-(разности фаз Re, h жидкокристаллической пленки).

[0064] Фазовая пластина, удовлетворяющая Re=140 нм, выпускается серийно для жидкокристаллического устройства отображения режима VA, использующего свет с круговой поляризацией, и может быть использована в настоящем варианте осуществления, и, следовательно, фазовая пластина является выгодной относительно стоимости. В дополнение, пакет из фазовой пластины, удовлетворяющей Re=140 нм, и поляризатора функционируют также, как пластина с круговой поляризацией, и, следовательно, возможно предотвратить визуальное распознавание отражения в электроде в панели.

[0065] Rth второй фазовой пластины 12 конкретно не ограничена до тех пор, пока ее Rth установлена, чтобы удовлетворять вышеупомянутому диапазону общей Rth с учетом наличия или отсутствия других оптических элементов, таких как третья фазовая пластина, прозрачный защитный слой и т.п.

[0066] Коэффициент Nz второй фазовой пластины 12 конкретно не ограничен до тех пор, пока коэффициент Nz установлен таким образом, чтобы Re и Rth удовлетворяли желаемым диапазонам.

[0067] Третья фазовая пластина главным образом используется для регулирования общей Rth. Третья фазовая пластина имеет оптически отрицательную одноосность в перпендикулярном направлении и удовлетворяет отношению nx=ny>nz или nxny>nz. Третья фазовая пластина функционирует как так называемая отрицательная пластина C. Материал для третьей фазовой пластины конкретно не ограничен, и примеры материала включают в себя те же материалы, что и таковые для второй фазовой пластины 12, описанной выше. Третья фазовая пластина может быть сформирована посредством использования, например, способа двуосного растягивания полимерной пленки (необработанной пленки), сделанной из вышеописанного материала, в продольном и боковом направлениях. В дополнение, в качестве материала для третьей фазовой пластины также может быть использована жидкокристаллическая композиция. В частности, примеры жидкокристаллической композиции включают в себя упрочненный слой или отвержденный слой жидкокристаллической композиции, содержащий жидкокристаллическое соединение, подвергаемое плоскому выравниванию, и упрочненный слой или отвержденный слой жидкокристаллической композиции, содержащий дискотическое жидкокристаллическое соединение, подвергаемое столбчатому выравниванию.

[0068] Должно быть отмечено, что в настоящем описании “плоское выравнивание” обозначает состояние, в котором жидкокристаллические соединения (жидкокристаллические молекулы) выравниваются таким образом, чтобы винтовая ось жидкого кристалла являлась ортогональной обоим интерфейсам уровня. В дополнение, “столбчатое выравнивание” обозначает состояние, в котором дискотические жидкокристаллические соединения выравниваются таким образом, чтобы они складывались друг на друга в форме столбика. Дополнительно, “упрочненный слой” обозначает слой, в котором жидкокристаллическая композиция в размягченном состоянии, расплавленном состоянии или растворенном в растворе охлаждается и упрочняется. Кроме того, “отвержденный слой” обозначает слой, в котором часть или все из жидкокристаллических композиций поперечно связаны посредством по меньшей мере одного из: высокой температуры, катализатора, света и радиации, которые должны быть приведены в устойчивое состояние, в котором жидкокристаллические композиции не могут плавиться или растворяться, или им сложно таять или растворяться. Должно быть отмечено, что вышеописанный отвержденный слой также включает в себя отвержденный слой, который получается из упрочненного слоя жидкокристаллической композиции.

[0069] В дополнение, “жидкокристаллическая композиция” обозначает композицию, которая имеет жидкокристаллическую фазу и проявляет жидкокристаллическое свойство. Примеры жидкокристаллической фазы включают в себя нематическую жидкокристаллическую фазу, смектическую жидкокристаллическую фазу, холестерическую жидкокристаллическую фазу и столбчатую жидкокристаллическую фазу. В качестве жидкокристаллической композиции, используемой для третьей фазовой пластины, жидкокристаллическая композиция, имеющая нематическую жидкокристаллическую фазу, является предпочтительной. Причина состоит в том, что из нее может быть получена пленка с разностью фаз, имеющая высокую прозрачность.

[0070] Rth третьей фазовой пластины конкретно не ограничена до тех пор, пока ее Rth установлена таким образом, чтобы удовлетворять вышеупомянутому диапазону общей Rth с учетом наличия или отсутствия других оптических элементов, таких как вторая фазовая пластина 12, прозрачный защитный слой и т.п.

[0071] Коэффициент Nz третьей фазовой пластины конкретно не ограничен до тех пор, пока коэффициент Nz установлен таким образом, чтобы Rth удовлетворяла желаемому диапазону.

[0072] Rth пленки TAC, имеющей толщину пленки 40 мкм, обычно приблизительно составляет 30 нм, и эта пленка TAC также является отрицательной пластиной C. Таким образом, вышеописанный прозрачный защитный слой 7 также может быть использован в качестве третьей фазовой пластины.

[0073] Первая фазовая пластина 11 является фазовой пластиной выравнивания наклона и главным образом используется для улучшения характеристики угла обзора. Первая фазовая пластина 11 включает в себя по меньшей мере жидкокристаллическую пленку, и жидкокристаллическая пленка сделана из жидкокристаллического материала, обнаруживающего оптически положительную одноосность. Материал включает в себя по меньшей мере один тип нематического жидкого кристалла, обнаруживающего оптически положительную одноосность. Должно быть отмечено, что материал может включать в себя только нематический жидкий кристалл, или может быть композицией, содержащей нематический жидкий кристалл. Жидкокристаллическая пленка формируется посредством установления нематического жидкого кристалла в жидкокристаллическом состоянии в состояние, в котором нематический жидкий кристалл является гибридно-выровненным в направлении нормали (то есть, перпендикулярном направлении первой фазовой пластины 11). Первая фазовая пластина 11 может включать в себя покрывающий слой, сделанный из акрилового покрывающего материала или подобного, в дополнение к жидкокристаллической пленке.

[0074] В состоянии, в котором нематический жидкий кристалл является гибридно-выровненным, угол, сформированный между директором жидкого кристалла и плоскостью жидкокристаллической пленки на верхней поверхности пленки, отличается от угла на нижней поверхности пленки. Следовательно, угол, сформированный между директором и плоскостью пленки около поверхности раздела верхней поверхности пленки, отличается от угла около поверхности раздела нижней поверхности пленки, и угол непрерывно изменяется между верхней поверхностью пленки и нижней поверхностью пленки.

[0075] В жидкокристаллической пленке директор нематического жидкого кристалла наклонен под различными углами во всех местоположениях в перпендикулярном направлении пленки. Соответственно, когда жидкокристаллическая пленка рассматривается как структура пленки, оптическая ось не существует в жидкокристаллической пленке.

[0076] Жидкокристаллическая пленка имеет специфический средний угол наклона. Хотя средний угол наклона жидкокристаллической пленки особенно предпочтительно равен 37°, ее средний угол наклона также может быть равен 34-40° (предпочтительно 35-39°) с учетом изменений в продукте.

[0077] Около одной из поверхностей раздела жидкокристаллической пленки абсолютное значение угла, сформированного между директором нематического жидкого кристалла и плоскостью пленки, обычно равно 20-90°, предпочтительно равно 40-90° и более предпочтительно равно 50-80°. В поверхности раздела напротив поверхности раздела абсолютное значение угла, сформированного между ними, обычно равно от 0 до 20° и предпочтительно равно от 0 до 10°.

[0078] Согласно настоящему варианту осуществления жидкокристаллическая пленка, в которой угол, сформированный между директором нематического жидкого кристалла и плоскостью пленки, равен 70° около одной поверхности раздела жидкокристаллической пленки, угол, сформированный между ними на поверхности раздела напротив одной поверхности раздела, равен 2°, и сформированный угол непрерывно изменяется между поверхностями раздела, является особенно предпочтительной.

[0079] Жидкокристаллическая пленка расположена таким образом, чтобы поверхность раздела, имеющая большее абсолютное значение угла, располагалась на стороне жидкокристаллической панели 10 отображения. Таким образом, поверхность раздела на стороне, где нематический жидкий кристалл поднимается, расположен ближе к жидкокристаллической панели 10 отображения, чем поверхность раздела на стороне, когда нематический жидкий кристалл ложится.

[0080] Материал для жидкокристаллической пленки конкретно не ограничен, и жидкокристаллическая пленка может быть сформирована, например, посредством гибридного выравнивания низко-молекулярного жидкого кристалла нематической фазы в его жидкокристаллическом состоянии, и затем поперечного связывания жидкого кристалла посредством использования света или высокой температуры, чтобы установить жидкий кристалл. Конкретный пример жидкокристаллической пленки включает в себя пленку NR, произведенную Nippon Oil Corporation.

[0081] В пленке, в которой нематический жидкий кристалл является гибридно-выровненным, индекс преломления ne в направлении, параллельном директору нематического жидкого кристалла, отличается от индекса преломления no в направлении, ортогональном его директору. Когда предполагается, что значение (ne-no), полученное посредством вычитания no из ne, является виртуальным двулучепреломлением, виртуальная разность фаз Re, h в плоскости при рассмотрении от направления нормали к жидкокристаллической пленке, представлена произведением виртуального двулучепреломления (ne-no) и толщиной пленки жидкокристаллической пленки.

[0082] Разность фаз Re, h предпочтительно составляет 70-110 нм, более предпочтительно составляет 80-100 нм и особенно предпочтительно составляет 90 нм. Когда разность фаз превышает 110 нм, может увеличиться напряжение возбуждения, или может ухудшиться характеристика инверсии шкалы градации серого. Когда разница фаз составляет менее чем 70 нм, может ухудшиться характеристика угла обзора, и может снизиться яркость. Должно быть отмечено, что разность фаз Re, h может управляться посредством изменения толщины жидкокристаллической пленки. В дополнение, разность фаз Re, h может быть легко определена посредством использования оптического измерения поляризации, такого как эллипсометрия или подобное.

[0083] Толщина пленки жидкокристаллической пленки конкретно не ограничена, и может быть соответственно установлена в соответствии с физическими свойствами материала или подобного. Ее толщина пленки обычно составляет 0,2-10 мкм, предпочтительно составляет 0,3-5 мкм и более предпочтительно составляет 0,5-2 мкм. Когда ее толщина пленки менее чем 0,2 мкм, могут быть не получены соответствующие компенсационные эффекты. Когда ее толщина пленки превышает 10 мкм, изображение устройства отображения может быть излишне закрашено.

[0084] Верхняя и нижняя поверхности первой фазовой пластины 11, направление выравнивания первой фазовой пластины 11 и направление выравнивания гомогенного жидкого кристалла жидкокристаллического слоя 3 определяются следующим образом.

[0085] Каждая из верхней и нижней поверхностей первой фазовой пластины 11 определяется углом, сформированным между директором нематического жидкого кристалла и плоскостью пленки около поверхность раздела пленки жидкокристаллической пленки. Конкретно, как показано на Фиг. 6 и 7, поверхность, на которой угол, сформированный между директором нематического жидкого кристалла 8 и плоскостью пленки, равен 20-90° на стороне острого угла, определяется как поверхность b, в то время как поверхность, на которой угол, сформированный между ними, равен от 0 до 20° на стороне острого угла, определяется как поверхность c. В дополнение, когда поверхность c рассматривается от поверхности b через жидкокристаллическую пленку, направление, в котором угол, сформированный между директором нематического жидкого кристалла и компонентом директора, спроектированного на поверхность c, является острым углом, и которое является параллельным спроектированному компоненту, определяется как направление 11d выравнивания первой фазовой пластины.

[0086] Обычно, на поверхности раздела жидкокристаллического слоя 3 гомогенный жидкий кристалл 4 не параллелен поверхности раздела, но наклонен под углом, и этот угол в целом называется углом преднаклона. Как показано на Фиг. 3, направление, в котором угол, сформированный между директором гомогенного жидкого кристалла 4 в поверхности раздела жидкокристаллического слоя 3 и компонентом директора, спроектированного на поверхность раздела, является острым углом, и которое является параллельным спроектированному компоненту, определяется как направление 4d выравнивания гомогенного жидкого кристалла.

[0087] Первая фазовая пластина 11, вторая фазовая пластина 12, первый поляризатор 5 и второй поляризатор 6 могут наслаиваться вместе с помощью связующего слоя или адгезивного слоя. Пример материала для связующего слоя или адгезивного слоя включает в себя акриловую смолу. Конкретно, примеры этого включают в себя SK-2057 и SK-1478 (термоустойчивый тип), произведенный Soken Chemical & Engineering Co., Ltd. и т.п. В дополнение, например, может быть использован связующий слой или адгезивный слой в качестве контрмеры против обесцвечивания из-за влажности и высокой температуры, связующий слой, имеющий низкую силу связывания, способную повторно снимать слой, связующий слой с удалением ультрафиолета или адгезивный слой, в котором примешан УФ абсорбент, связующий слой или адгезивный слой для поверхности с осажденным алюминием, чтобы предотвратить отслаивание осажденной поверхности, и связующий слой или адгезивный слой рассеивания света, в котором примешиваются рассеивающие свет частицы.

[0088] Предпочтительные структуры настоящего варианта осуществления показаны на Фиг. 8-19. Предпочтительные структуры настоящего варианта осуществления являются структурами, в которых отдельные элементы расположены в порядке, показанном ниже.

[0089]

<Структура 1> первый поляризатор 5/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/вторая фазовая пластина 12/второй поляризатор 6 (Фиг. 8)

[0090]

<Структура 1+ прозрачный защитный слой> первый поляризатор 5/прозрачный защитный слой 7/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/вторая фазовая пластина 12/второй поляризатор 6 (Фиг. 9)

[0091]

<Структура 1-1> первый поляризатор 5/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/вторая фазовая пластина 12/третья фазовая пластина 13/второй поляризатор 6 (Фиг. 10)

[0092]

<Структура 1-2> первый поляризатор 5/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/третья фазовая пластина 13/вторая фазовая пластина 12/второй поляризатор 6 (Фиг. 11)

[0093]

<Структура 1-3> первый поляризатор 5/первая фазовая пластина 11/третья фазовая пластина 13/жидкокристаллическая панель 10 отображения/вторая фазовая пластина 12/второй поляризатор 6 (Фиг. 12)

[0094]

<Структура 1-4> первый поляризатор 5/третья фазовая пластина 13/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/вторая фазовая пластина 12/второй поляризатор 6 (Фиг. 13)

[0095]

<Структура 2> первый поляризатор 5/вторая фазовая пластина 12/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/второй поляризатор 6 (Фиг. 14)

[0096]

<Структура 2+ прозрачный защитный слой> первый поляризатор 5/прозрачный защитный слой 7/вторая фазовая пластина 12/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/второй поляризатор 6 (Фиг. 15)

[0097]

<Структура 2-1> первый поляризатор 5/вторая фазовая пластина 12/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/третья фазовая пластина 13/второй поляризатор 6 (Фиг. 16)

[0098]

<Структура 2-2> первый поляризатор 5/вторая фазовая пластина 12/первая фазовая пластина 11/третья фазовая пластина 13/жидкокристаллическая панель 10 отображения/второй поляризатор 6 (Фиг. 17)

[0099]

<Структура 2-3> первый поляризатор 5/вторая фазовая пластина 12/третья фазовая пластина 13/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/второй поляризатор 6 (Фиг. 18)

[0100]

<Структура 2-4> первый поляризатор 5/третья фазовая пластина 13/вторая фазовая пластина 12/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/второй поляризатор 6 (Фиг. 19)

[0101] Должно быть отмечено, что в каждой структуре первая фазовая пластина 11 сформирована только из жидкокристаллической пленки.

[0102] В дополнение, передняя и задняя части в каждой структуре конкретно не ограничены. В каждой структуре случай, когда первый поляризатор 5 расположен на стороне наблюдателя, и случай, когда первый поляризатор 5 расположен на стороне фоновой подсветки, оптически равны друг другу, и они проявляют аналогичные характеристики отображения. В частности, характеристики отображения, такие как характеристика инверсии шкалы градации серого и изоконтрастная характеристика, просто повернуты вокруг прямого направления на 180°.

[0103] Представлено описание азимута оптической оси каждого элемента посредством использования Фиг. 20. Здесь в плоскости, параллельной главной поверхности прозрачной подложки 1 или 2, содержащей жидкокристаллическую панель 10 отображения, ось X и ось Y, которые являются ортогональными друг другу, определяются ради удобства. Формулировка "в плоскости" обозначает находиться в плоскости, определенной осью X и осью Y. В дополнение, ось X соответствует горизонтальному направлению экрана, в то время как ось Y соответствует ортогональному направлению экрана. Дополнительно, предполагается, что положительное (+) направление (азимут 0°) оси X соответствует правой стороне экрана, в то время как отрицательное (-) направление (азимут 180°) оси X соответствует левой стороне экрана. Кроме того, предполагается, что положительное (+) направление (азимут 90°) оси Y соответствует верхней стороне экрана, в то время как отрицательное (-) направление (азимут 270°) оси Y соответствует нижней стороне экрана.

[0104] Азимут оси 5a поглощения первого поляризатора 5 находится предпочтительно в диапазоне 90°±2°, более предпочтительно в диапазоне 90°±1° и особенно предпочтительно 90°. Когда ее азимут находится вне диапазона 90°±2°, может быть уменьшен контраст.

[0105] Азимут оси 6a поглощения второго поляризатора 6 находится предпочтительно в диапазоне 0°±2°, более предпочтительно в диапазоне 0°±1° и особенно предпочтительно 0°. Когда ее азимут находится вне диапазона 0°±2°, может быть уменьшен контраст.

[0106] Азимут оси 12a наименьшей скорости распространения света второй фазовой пластины 12 находится предпочтительно в диапазоне 135°±2°, более предпочтительно в диапазоне 135°±1° и особенно предпочтительно 135°. Когда ее азимут находится вне диапазона 135°±2°, может быть уменьшен контраст.

[0107] Направление 4d выравнивания гомогенного жидкого кристалла находится предпочтительно в диапазоне 45°±2°, более предпочтительно в диапазоне 45°±1° и особенно предпочтительно в диапазоне 45°. Когда его направление 4d выравнивания находится вне диапазона 45°±2°, может быть уменьшен контраст.

[0108] Направление 11d выравнивания первой фазовой пластины 11 находится предпочтительно в диапазоне 225°±2°, более предпочтительно в диапазоне 225°±1° и особенно предпочтительно в диапазоне 225°. Когда ее направление 11d выравнивания находится вне диапазона 225°±2°, может быть уменьшен контраст.

[0109] Должно быть отмечено, что азимуты оптических осей не являются абсолютными, и относительные углы между отдельными оптическими осями могут соответственно находиться в пределах диапазонов, описанных выше. Таким образом, ось 5a поглощения и ось 6a поглощения являются предпочтительно ортогональными друг другу. В частности, угол, сформированный между осями 5a и 6a поглощения, предпочтительно находится в диапазоне 90°±2°, более предпочтительно в диапазоне 90°±1° и особенно предпочтительно в диапазоне 90°. Когда азимут, который делит пополам угол, сформированный между осями 5a и 6a поглощения, как предполагается, равен φ1, азимут оси 12a наименьшей скорости распространения света предпочтительно находится в диапазоне φ1±2°, более предпочтительно в диапазоне φ1±2° и особенно предпочтительно φ1. Направление 4d выравнивания гомогенного жидкого кристалла и направление 11d выравнивания первой фазовой пластины предпочтительно противоположны и параллельны друг другу. В частности, направления 4d и 11d выравнивания этого предпочтительно противоположны друг другу, и угол, сформированный между их направлениями 4d и 11d выравнивания, находится предпочтительно в диапазоне 0°±2° (более предпочтительно в диапазоне 0°±1° и особенно предпочтительно в диапазоне 0°).

[0110] Результат моделирования изоконтрастной характеристики и характеристики инверсии шкалы градации серого, в то время как общая Rth изменяется в каждой структуре, показан ниже. Должно быть отмечено, что в каждом из чертежей, показывающих характеристику инверсии шкалы градации серого, диапазон, в котором инвертируется шкала градации серого (диапазон, где 7-й слой шкалы градации серого является более темным, чем ее 0-й слой), обозначен темно-серым, и диапазон, в котором не инвертируется шкала градации серого (диапазон, где 7-й слой шкалы градации серого более яркий, чем ее 0-й слой), обозначен серым светом. В каждом из чертежей, показывающих изоконтрастную характеристику, самый внутренний контур указывает контрастное отношение 50:1.

[0111] Условия моделирования представлены следующим образом, и LCD MASTER, произведенный SHINTECH, Inc, использовался для этого моделирования.

Разность фаз (Δnd) жидкокристаллической панели отображения: 260 нм

Остаточная разность фаз Re жидкокристаллической панели отображения: 50 нм

Re второй фазовой пластины: 140 нм

Re третьей фазовой пластины: 0 нм

Средний угол наклона жидкокристаллической пленки: 37°

Разность фаз Re, h жидкокристаллической пленки: 90 нм

Rth прозрачного защитного слоя: 30 нм

Re прозрачного защитного слоя: 0 нм

Ось поглощения первого поляризатора: 90°

Ось поглощения второго поляризатора: 0°

Ось наименьшей скорости распространения света второй фазовой пластины: 135°

Направление выравнивания гомогенного жидкого кристалла: 45°

Направление выравнивания первой фазовой пластины: 225°

белое изображение: 0 V

[0112] Когда визуальная оценка инверсии шкалы градации серого в фактической панели была выполнена, было визуально замечено, что инверсия шкалы градации серого была главным образом эффективно подавлена в случае, когда доля инверсии шкалы градации серого была улучшена от таковой во время общей Rth опорного значения, на 20%. Опорное значение общей Rth было установлено в 70 нм. Опорное значение было определено из самой предпочтительной Re (=140 нм) второй фазовой пластины 12 и коэффициента Nz (=1), полученного, когда необработанная пленка второй фазовой пластины 12 была растянута продольным одноосным способом растяжения, как самым легким способом. Следовательно, при последующем оценивании, в каждой структуре значение, полученное посредством умножения доли не-инверсии шкалы серого на 1,2, было использовано как опорное значение оценки, когда только самая общая Rth второй фазовой пластины 12 рассматривалась как общая Rth, то есть, когда общая Rth=70 нм была удовлетворена. Когда это значение является не меньшим, чем опорное значение оценки, возможно достигнуть чрезвычайно превосходной характеристики инверсии шкалы градации серого. Однако в структуре 1+ прозрачный защитный слой и структуре 2+ прозрачный защитный слой Rth прозрачного защитного слоя была установлена равной 30 нм, и, следовательно, опорное значение оценки в структуре без прозрачного защитного слоя, то есть, структуре 1 или структуре 2, использовалось как основа. В дополнение, в структурах 1-1 - 1-4 и структурах 2-1 - 2-4 значение, полученное посредством умножения доли не-инверсии шкалы серого на 1,2, использовалось как опорное значение оценки, когда Rth третьей фазовой пластины было установлено равным 0 нм.

[0113] Когда доля не-инверсии шкалы серого была улучшена от той, когда общая Rth=70 нм была удовлетворена, на 13%, было возможно визуально наблюдать небольшое подавление инверсии шкалы градации серого, и когда доля не-инверсии шкалы серого была улучшена от той, когда общая Rth=70 нм была удовлетворена, на 15%, было возможно визуально наблюдать подавление инверсии шкалы градации серого, хотя уровень подавления не был столь же высок, как уровень в случае увеличения на 20%.

[0114] Ссылаясь на изоконтрастную характеристику, доля угла обзора, когда общая Rth была равна опорному значению (=70 нм), была использована как опорное значение оценки. В случае, когда значение не меньше чем опорное значение, даже когда улучшена характеристика инверсии шкалы градации серого, изоконтрастная характеристика не ухудшается.

[0115] Ссылаясь на каждую из структур 1 и 2, результат вычисления, выполненного с Rth второй фазовой пластины 12, установленной равной 70 нм, 126 нм, 154 нм, 182 нм, 210 нм, 252 нм или 294 нм посредством установки коэффициента Nz второй фазовой пластины 12 равным 1, 1,4, 1,6, 1,8, 2, 2,3 или 2,6, показан на Фиг. 21-28. В дополнение, ссылаясь на каждую из структур 1 и 2, результат вычисления доли не-инверсии шкалы серого показан на Фиг. 29 и в Таблице 1. Должно быть отмечено, что в структурах 1 и 2 Rth второй фазовой пластины 12 используется в качестве общей Rth как есть.

[0116]

[0117] Как результат, в структуре 1 было обнаружено, что доля не-инверсии шкалы серого не менее чем опорное значение оценки была показана в диапазоне общей Rth равной 120 нм или больше, и 300 нм или меньше, и могла быть достигнута чрезвычайно превосходная характеристика инверсии шкалы градации серого. В структуре 1 общая Rth может составлять 180 нм или больше, или может также составлять 250 нм или больше. На основании этого возможно значительно улучшить характеристику инверсии шкалы градации серого. В дополнение, в структуре 2 было обнаружено, что доля не-инверсии шкалы серого не менее чем опорное значение оценки была показана в диапазоне общей Rth равной 120 нм или больше, и 260 нм или меньше, и могла быть достигнута чрезвычайно превосходная характеристика инверсии шкалы градации серого. В структуре 2 общая Rth может составлять 180 нм или больше. На основании этого возможно значительно улучшить характеристику инверсии шкалы градации серого.

[0118] Относительно каждой структуры 1+ прозрачный защитный слой и структуры 2+ прозрачный защитный слой, результат вычисления, выполненного с Rth второй фазовой пластины 12, установленной равной 70 нм, 126 нм, 154 нм, 182 нм, 210 нм, 252 нм или 294 нм посредством установления коэффициента Nz второй фазовой пластины 12 равным 1, 1,4, 1,6, 1,8, 2, 2,3 или 2,6, показан на Фиг. 30-37. В дополнение, относительно каждой структуры 1+ прозрачный защитный слой и структуры 2+ прозрачный защитный слой, результат вычисления доли не-инверсии шкалы серого показан на Фиг. 38 и в Таблице 2. Должно быть отмечено, что в структуре 1+ прозрачный защитный слой и структуре 2+ прозрачный защитный слой, общая Rth соответствует сумме каждой Rth второй фазовой пластины 12 и Rth (30 нм) прозрачного защитного слоя.

[0119]

[0120] Как результат, в структуре 1+ прозрачный защитный слой было обнаружено, что доля не-инверсии шкалы серого не менее чем опорное значение оценки была показана в диапазоне общей Rth равной 150 нм или больше, и 330 нм или меньше, и могла быть достигнута чрезвычайно превосходная характеристика инверсии шкалы градации серого. В структуре 1+ прозрачный защитный слой общая Rth может также составлять 210 нм или больше. На основании этого возможно значительно улучшить характеристику инверсии шкалы градации серого. В дополнение, в структуре 2+ прозрачный защитный слой, было обнаружено, что доля не-инверсии шкалы серого не менее чем опорное значение оценки была показана в диапазоне общей Rth равной 150 нм или больше, и 240 нм или меньше, и могла быть достигнута чрезвычайно превосходная характеристика инверсии шкалы градации серого.

[0121] Относительно каждой из структур 1-1 - 1-4, результат вычисления, выполненного с коэффициентом Nz второй фазовой пластины 12, установленным равным 1, и Rth второй фазовой пластины 12, установленной равной 70 нм, и Rth третьей фазовой пластины, установленной равной 0 нм, 60 нм, 70 нм, 80 нм, 90 нм, 100 нм, 120 нм, 140 нм, 160 нм, 180 нм, 200 нм или 220 нм, показан на Фиг. 39-62. В дополнение, относительно каждой из структур 1-1 - 1-4, результаты вычисления доли не-инверсии шкалы серого и доли угла наклона показаны на Фиг. 63-67 и в Таблице 3. Должно быть отмечено, что в каждой из структур 1-1 - 1-4 общая Rth соответствует сумме Rth (70 нм) второй фазовой пластины 12 и каждому Rth третьей фазовой пластины.

[0122]

[0123] Как результат, в структуре 1-1 было обнаружено, что доля не-инверсии шкалы серого не менее чем опорное значение оценки была показана без уменьшения доли угла обзора в диапазоне общей Rth 140 нм или больше, и 250 нм или меньше, и могла быть достигнута чрезвычайно превосходная характеристика инверсии шкалы градации серого, не ухудшая изоконтрастную характеристику. С этой же точки зрения, в структуре 1-2 было обнаружено, что была предпочтительна общая Rth 130 нм или больше, и 290 нм или меньше. В дополнение, в структуре 1-3 было обнаружено, что была предпочтительна общая Rth 130 нм или больше, и 290 нм или меньше. Дополнительно, в структуре 1-4 было обнаружено, что была предпочтительна общая Rth 140 нм или больше, и 250 нм или меньше. В каждой структуре 1-2 и структуре 1-3, общая Rth может составлять 170 нм или больше. На основании этого, возможно значительно улучшить характеристику инверсии шкалы градации серого.

[0124] Относительно каждой из структур 2-1 - 2-4, результат вычисления, выполненного с коэффициентом Nz второй фазовой пластины 12, установленным равным 1, и Rth второй фазовой пластины 12, установленной равной 70 нм, и Rth третьй фазовой пластины, установленной равной 0 нм, 60 нм, 70 нм, 80 нм, 90 нм, 100 нм, 120 нм, 140 нм, 160 нм, 180 нм, 200 нм или 220 нм, показан на Фиг. 68-91. В дополнение, относительно каждой из структур 2-1 - 2-4, результаты вычисления доли не-инверсии шкалы серого и доли угла обзора показаны на Фиг. 92-96 и в Таблице 4. Должно быть отмечено, что в каждой из структур 2-1 - 2-4 общая Rth соответствует сумме Rth (70 нм) второй фазовой пластины 12 и каждому Rth третьей фазовой пластины.

[0125]

[0126] Как результат, в структуре 2-1 было обнаружено, что доля не-инверсии шкалы серого не менее чем опорное значение оценки была показана без уменьшения доли угла обзора в диапазоне общей Rth 140 нм или больше, и 250 нм или меньше, и могла быть достигнута чрезвычайно превосходная характеристика инверсии шкалы градации серого, не ухудшая изоконтрастную характеристику. С этой же точки зрения, в структуре 1-2 было обнаружено, что была предпочтительна общая Rth 140 нм или больше, и 210 нм или меньше. В дополнение, в структуре 1-3 было обнаружено, что была предпочтительна общая Rth 130 нм или больше, и 210 нм или меньше. Дополнительно, в структуре 1-4 было обнаружено, что была предпочтительна общая Rth 140 нм или больше, и 270 нм или меньше. В структуре 2-1 общая Rth может составлять 170 нм или больше, или может также составлять 230 нм или больше. В каждой структуре 2-2 и структуре 2-4 общая Rth может составлять 170 нм или больше. На основании этого возможно значительно улучшить характеристику инверсии шкалы градации серого.

[0127] На Фиг. 97 и в Таблице 5 показаны результаты структуры 1, структуры 1+ прозрачный защитный слой и структуры 1-1 - 1-4.

[0128]

[0129] Как результат, было обнаружено, что доля не-инверсии шкалы серого не менее чем опорное значение оценки была показана в каждой структуре 1, структуре 1+ прозрачный защитный слой и структурах 1-1 - 1-4 до тех пор, пока общая Rth находилась в пределах диапазона 150 нм или больше, и 250 нм или меньше. Таким образом, в режиме, в котором первый поляризатор 5/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/вторая фазовая пластина 12/второй поляризатор 6 были расположены в этом порядке, было обнаружено, что могла быть достоверно достигнута чрезвычайно превосходная характеристика инверсии шкалы градации серого посредством установления общей Rth в диапазоне 150 нм или больше, и 250 нм или меньше.

[0130] На Фиг. 98 и в Таблице 6 показаны результаты структуры 2, структуры 2+ прозрачный защитный слой и структуры 2-1 - 2-4.

[0131]

[0132] Как результат, было обнаружено, что доля не-инверсии шкалы серого не менее чем опорное значение оценки была показана в каждой структуре 2, структуре 2+ прозрачный защитный слой и структурах 2-1 - 2-4 до тех пор, пока общая Rth находилась в пределах диапазона 150 нм или больше, и 210 нм или меньше. Таким образом, в режиме, в котором первый поляризатор 5/вторая фазовая пластина 12/первая фазовая пластина 11/жидкокристаллическая панель 10 отображения/второй поляризатор 6 были расположены в этом порядке, было обнаружено, что могла быть достоверно достигнута чрезвычайно превосходная характеристика инверсии шкалы градации серого, посредством установления общей Rth в диапазоне 150 нм или больше, и 210 нм или меньше.

[0133] Ниже представлено описание примеров жидкокристаллического устройства отображения согласно первому варианту осуществления. Должно быть отмечено, что в следующих отдельных примерах азимут оси наименьшей скорости распространения света каждой фазовой пластины и азимут оси поглощения каждого поляризатора определяются углом, сформированным осями X, как показано на Фиг. 20.

[0134] (Пример 1) В жидкокристаллическом устройстве отображения из Примера 1, который показан на Фиг. 99, прозрачный защитный слой 7, изготовленный из пленки TAC, первый поляризатор 5, прозрачный защитный слой 7, изготовленный из пленки TAC, первая фазовая пластина 11, изготовленная из жидкокристаллической пленки, жидкокристаллическая панель 10 отображения, вторая фазовая пластина 12, второй поляризатор 6 и прозрачный защитный слой 7, изготовленный из пленки TAC, были обеспечены в этом порядке от стороны фоновой подсветки. Таким образом, Пример 1 относится к структуре вышеописанной структуры 1+ прозрачный защитный слой.

[0135] Прозрачный защитный слой 7 и первая фазовая пластина 11 были наслоены вместе с помощью акрилового адгезивного слоя 14, имеющего толщину 5 мкм. В дополнение, первая фазовая пластина 11 и жидкокристаллическая панель 10 отображения были наслоены вместе с помощью акрилового адгезивного слоя 14, имеющего толщину 25 мкм. Дополнительно, жидкокристаллическая панель 10 отображения и вторая фазовая пластина 12 были наслоены вместе с помощью акрилового адгезивного слоя 14, имеющего толщину 20 мкм.

[0136] В жидкокристаллической панели 10 отображения жидкокристаллический слой изготовлен из жидкокристаллической композиции, содержащей гомогенно выровненные жидкокристаллические молекулы, и жидкокристаллический материал (Δn=0,65), произведенный Merck KGaA, был использован в качестве жидкокристаллической композиции. При этом директор гомогенного жидкого кристалла (продольное направление жидкокристаллической молекулы) был отрегулирован посредством направления истирания слоя выравнивания, и направление выравнивания гомогенного жидкого кристалла было установлено равным 45°. Угол преднаклона гомогенного жидкого кристалла был установлен равным 3°. Промежуток (промежуток ячейки) в жидкокристаллическом слое был установлен равным 4 мкм. Во время отображения черного остаточная разность фаз Re жидкокристаллической панели 10 отображения составила 50 нм.

[0137] Чтобы компенсировать двулучепреломление, полученное из гомогенного жидкого кристалла, направление выравнивания первой фазовой пластины 11 было установлено равным азимуту (азимут 225°), который по существу был противоположен и параллелен направлению истирания, чтобы последовательно компенсировать двулучепреломление. Должно быть отмечено, что разность фаз Re, h жидкокристаллической пленки была установлена равным 90 нм. В дополнение, средний угол наклона жидкокристаллической пленки был установлен равным 37°, и толщина пленки жидкокристаллической пленки (включая покрывающий слой) была установлена равной 7 мкм. Также использовалась первая фазовая пластина 11, пленка NH, произведенная Nippon Oil Corporation.

[0138] Ось наименьшей скорости распространения света второй фазовой пластины 12 была установлена равной азимуту (азимут 135°), который по существу был ортогональным направлению выравнивания каждого гомогенного жидкого кристалла и первой фазовой пластины 11. Должно быть отмечено, что Re второй фазовой пластины 12 была установлена в 140 нм, чтобы соответствовать сумме остаточной разности фаз Re жидкокристаллической панели 10 отображения и разности фаз Re, h жидкокристаллической пленки. В дополнение, коэффициент Nz второй фазовой пластины 12 был установлен равным 1,6. Как результат, Rth второй фазовой пластины 12 составлял 154 нм. Толщина пленки второй фазовой пластины 12 была установлена равной 32 мкм. Также была использована вторая фазовая пластина 12, ZEONOR, произведенная OPTES INC.

[0139] Чтобы преобразовать линейно поляризованный свет, проходящий через первый поляризатор 5, в желаемый эллиптически поляризованный свет или линейно поляризованный свет и заставить свет войти в жидкокристаллический слой, ось поглощения первого поляризатора 5 была установлена равной азимуту (азимут 90°), который пересек направление выравнивания первой фазовой пластины 11 и ось наименьшей скорости распространения света второй фазовой пластины 12 под углом по существу 45°. С другой стороны, ось поглощения второго поляризатора 6 была установлена равной азимуту (азимут 0°), который по существу был ортогональным оси поглощения первого поляризатора 5. Толщина пленки каждого первого поляризатора 5 и второго поляризатора 6 была установлена равной 28 мкм. В качестве таковой первого и второго поляризаторов 5 и 6, была использована поляризующая пленка, полученная посредством окрашивания пленки PVA, произведенной KURARAY CO., LTD, иодом, и затем посредством растягивания пленки PVA.

[0140] Толщина пленки для пленки TAC была установлена равной 40 мкм, и Rth пленки TAC была установлена равной 30 нм. В качестве таковой пленки TAC, была использована пленка TAC для пластины поляризации жидкого кристалла, произведенной Konica Minolta Opto Products Co., Ltd.

[0141] Общая Rth в жидкокристаллическом устройстве отображения Примера 1, соответствовала сумме Rth (30 нм) прозрачного защитного слоя 7 и Rth (154 нм) второй фазовой пластины 12 и приблизительно составляла 184 нм.

[0142]

(Пример 2) Жидкокристаллическое устройство отображения из Примера 2 было изготовлено способом, аналогичным способу, используемому для изготовления жидкокристаллического устройства отображения из Примера 1 за исключением того, что коэффициент Nz второй фазовой пластины 12 был установлен равным 1,4, Rth второй фазовой пластины 12 была установлена равной 126 нм, и общая Rth была изменена, чтобы стать 156 нм.

[0143]

(Пример 3) Жидкокристаллическое устройство отображения из Примера 3 было изготовлено способом, аналогичным способу, используемому для изготовления жидкокристаллического устройства отображения из Примера 1 за исключением того, что коэффициент Nz второй фазовой пластины 12 был установлен равным 1,8, Rth второй фазовой пластины 12 была установлена равной 182 нм, и общая Rth была изменена, чтобы стать равной 212 нм.

[0144]

(Пример 4) В жидкокристаллическом устройстве отображения из Примера 4, как показано на Фиг. 100, прозрачный защитный слой 7, изготовленный из пленки TAC, первый поляризатор 5, вторая фазовая пластина 12, первая фазовая пластина 11, изготовленная из жидкокристаллической пленки, жидкокристаллическая панель 10 отображения, прозрачный защитный слой 7, изготовленный из пленки TAC, второй поляризатор 6 и прозрачный защитный слой 7, изготовленный из пленки TAC, были обеспечены в этом порядке от стороны фоновой подсветки. Таким образом, Пример 4 отличается от Примера 1 только в отношении компоновки отдельных элементов. В дополнении, Пример 4 относится к структуре вышеописанной структуры 2+ прозрачный защитный слой.

[0145] Должно быть отмечено, что вторая фазовая пластина 12 и первая фазовая пластина 11 были наслоены вместе с помощью акрилового адгезивного слоя 14, имеющего толщину 5 мкм. Первая фазовая пластина 11 и жидкокристаллическая панель 10 отображения были наслоены вместе с помощью акрилового адгезивного слоя 14, имеющего толщину 25 мкм. Жидкокристаллическая панель 10 отображения и прозрачный защитный слой 7 были наслоены вместе с помощью акрилового адгезивного слоя 14, имеющего толщину 20 мкм.

[0146]

(Пример 5) Жидкокристаллическое устройство отображения из Примера 5 было изготовлено способом, аналогичным способу, используемому для изготовления жидкокристаллического устройства отображения из Примера 4 за исключением того, что коэффициент Nz второй фазовой пластины 12 был установлен равным 1,4, Rth второй фазовой пластины 12 была установлена равной 126 нм, и общая Rth была изменена, чтобы стать равной 156 нм.

[0147]

(Пример 6) Жидкокристаллическое устройство отображения из Примера 6 было изготовлено способом, аналогичным способу, используемому для изготовления жидкокристаллического устройства отображения из Примера 4 за исключением того, что коэффициент Nz второй фазовой пластины 12 был установлен равным 1,8, Rth второй фазовой пластины 12 была установлена равной 182 нм, и общая Rth была изменена, чтобы стать равной 212 нм.

[0148]

(Сравнительный Пример 1)

Жидкокристаллическое устройство отображения из Сравнительного Примера 1 было изготовлено способом, аналогичным способу, используемому для изготовления жидкокристаллического устройства отображения из Примера 4 за исключением того, что коэффициент Nz второй фазовой пластины 12 был установлен равным 1, Rth второй фазовой пластины 12 была установлена равной 70 нм, и общая Rth была изменена, чтобы стать равной 100 нм.

[0149] Результаты фактического измерения характеристики инверсии шкалы градации серого жидкокристаллического устройства отображения из Примеров 1-6 и Сравнительного Примера 1 были сравнены с результатами моделирования характеристики инверсии шкалы градации серого, выполненного посредством использования условий изготовления жидкокристаллических устройств отображения из Примеров 1-6 и Сравнительного Примера 1. Должно быть отмечено, что моделирование имеет результаты, аналогичные результатам моделирования вышеописанной структуры 1+ прозрачный защитный слой или структуры 2+ прозрачный защитный слой. Эти результаты показаны на Фиг. 101 и в Таблице 7.

[0150]

[0151] Как очевидно из Фиг. 101 и Таблицы 7, разность между фактически измеренным значением и значением, определенным моделированием, находится в пределах приблизительно 3%, и можно заметить, что фактическая доля не-инверсии шкалы серого может быть оценена посредством использования моделирования с высокой точностью.

[0152] Ниже представлено описание наличия или отсутствия корреляции между характеристикой инверсии шкалы градации серого и изоконтрастной характеристикой. Фиг. 102 и 103 показывают изоконтрастную характеристику и характеристику инверсии шкалы градации серого жидкокристаллического устройства отображения режима TN, снабженного пленкой широкого обзора (пленкой WV). Фиг. 104-111 показывают изоконтрастную характеристику и характеристику инверсии шкалы градации серого жидкокристаллического устройства отображения режима ECB. Фиг. 112 и 113 показывают изоконтрастную характеристику и характеристику инверсии шкалы градации серого жидкокристаллического устройства отображения режима ASV (усовершенствованный сверх обзор), который является одним типом режима VA. Должно быть отмечено, что в режиме ASV жидкокристаллические молекулы наклонены во всех направлениях как "фейерверк", когда прикладывается напряжение.

[0153] Жидкокристаллическое устройство отображения режима ECB согласно Фиг. 104 и 105 имеет структуру, в которой поляризующая пластина, фазовая пластина (Re=270 нм), жидкокристаллическая пленка (разность фаз Re, h=90 нм), жидкокристаллическая панель отображения режима ECB, фазовая пластина (Re=270 нм, коэффициент Nz=1,4), фазовая пластина (Re=270 нм) и поляризующая пластина обеспечены в этом порядке от стороны фоновой подсветки.

[0154] Жидкокристаллическое устройство отображения режима ECB согласно Фиг. 106 и 107 имеет структуру, в которой поляризующая пластина, фазовая пластина (Re=270 нм), жидкокристаллическая пленка (разность фаз Re, h=90 нм), жидкокристаллическая панель отображения режима ECB, фазовая пластина (Re=270 нм, коэффициент Nz=1,0), фазовая пластина (Re=270 нм) и поляризующая пластина обеспечены в этом порядке от стороны фоновой подсветки.

[0155] Фиг. 108 и 109 показывают результат оценки жидкокристаллического устройства отображения, имеющего вышеописанную структуру 2, в то время как Фиг. 110 и 111 показывают результат оценки жидкокристаллического устройства отображения, имеющего вышеописанную структуру 1.

[0156] Из этих чертежей обнаруживается, что не наблюдается корреляция между характеристикой инверсии шкалы градации серого и изоконтрастной характеристикой. Таким образом, когда жидкокристаллический режим отличается, состояния обеих характеристик значительно изменяются. В дополнение, разница в характеристике инверсии шкалы градации серого может быть замечена даже между жидкокристаллическими устройствами отображения режима ECB. Например, когда жидкокристаллическое устройство отображения согласно Фиг. 104 и 105 сравнивается с жидкокристаллическим устройством отображения согласно Фиг. 106 и 107, угол обзора изоконтрастной характеристики, очевидно, больше в жидкокристаллическом устройстве отображения согласно Фиг. 106 и 107, но характеристика инверсии шкалы градации серого, очевидно, хуже. Таким образом, лучшая изоконтрастная характеристика не обязательно приводит к лучшей характеристике инверсии шкалы градации серого.

[0157] Как показано на Фиг. 114, когда напряжение прикладывается к жидкокристаллической панели отображения режима ECB, разность фаз изменяется согласно напряжению шкалы градации серого в прямом направлении (полярный угол 0°). Однако в наклонном направлении молекула жидкого кристалла в форме шара для регби выпрямляется, и следовательно имеет место явление, в котором угол наклона головной части (части точек обратной кривой) шара регби изменяется согласно величине напряжения, и разность фаз не изменяется согласно напряжению шкалы градации серого. Хотя система, способная компенсировать 63-ий и 0-ой уровни шкалы градации серого, является достаточной только для увеличения угла обзора изоконтрастной характеристики, усовершенствование инверсии шкалы градации серого является усовершенствованием инвертированной части таким образом, чтобы было необходимо выполнить отличную операцию. Инверсия шкалы градации серого не имеет место без инвертированной части. В режиме VA, таком как режим ASV или подобный, молекула жидкого кристалла управляется таким образом, чтобы ее головная часть (часть точек обратной кривой) могла находиться в любом направлении. Следовательно, когда пиксели рассматриваются в среднем, часть точек обратной кривой каждой молекулы жидкого кристалла отменяется частью точек обратной кривой другого пикселя таким образом, чтобы можно было предположить, что часть точек обратной кривой исчезла. В дополнение, в режиме IPS молекула жидкого кристалла выравнивается таким образом, что часть точек обратной кривой не может быть видна от поверхности отображения. С другой стороны, в режиме TN или режиме ECB, часть точек обратной кривой неизбежно появляется, и, следовательно, инверсия шкалы градации серого имеет тенденцию иметь место.

[0158] Согласно настоящему изобретению возможно реализовать жидкокристаллическое устройство отображения, подходящее для режима ECB, в котором инверсия шкалы градации серого имеет тенденцию иметь место способом, описанным выше.

[0159]

(Второй вариант осуществления)

Ниже представлено описание жидкокристаллического устройства отображения из второго варианта осуществления. Должно быть отмечено, что элементы во втором варианте осуществления, которые являются одними и теми же, что и таковые в первом варианте осуществления, обозначаются теми же самыми номерами позиций, и их описание опущено.

[0160] Жидкокристаллическое устройство отображения согласно настоящему варианту осуществления является пропускающим жидкокристаллическим устройством отображения, в котором прозрачный защитный слой 7, изготовленный из пленки TAC, первый поляризатор 5, прозрачный защитный слой 7, изготовленный из пленки TAC, первая фазовая пластина 11, изготовленная из жидкокристаллической пленки, жидкокристаллическая панель 10 отображения, вторая фазовая пластина 212, второй поляризатор 6 и прозрачный защитный слой 7, изготовленный из пленки TAC, обеспечены в этом порядке от стороны фоновой подсветки, как показано на Фиг. 115.

[0161] В настоящем варианте осуществления, в качестве прозрачного защитного слоя 7 используется пленка TAC, имеющая толщину пленки 40 мкм. Хотя Rth пленки TAC особенно предпочтительно составляет 30 нм, ее Rth также может составлять 25-35 нм с учетом изменений в продукте. С другой стороны, в качестве прозрачного защитного слоя 7 также может быть использована защитная пленка, которая сделана из акрилового полимера и удовлетворяет Rth=0 нм.

[0162] В качестве пакета из прозрачного защитного слоя 7, первого поляризатора 5 и прозрачного защитного слоя 7, может быть использована обыкновенная поляризующая пластина.

[0163] Вторая фазовая пластина 212 используется для оптической компенсации в прямом направлении. Значение разности фаз второй фазовой пластины 212 в перпендикулярном направлении влияет на характеристику угла обзора, и характеристика угла обзора изменяется посредством регулирования значения разности фаз. Вторая фазовая пластина 212 изготовлена посредством использования материала и способа, аналогичных таковым для второй фазовой пластины 12 из первого варианта осуществления.

[0164] Хотя Re второй фазовой пластины 212 особенно предпочтительно составляет 140 нм, ее Re также может составлять 130-150 нм (предпочтительно 135-145 нм) с учетом изменений в продуките. В дополнении, Re второй фазовой пластины 212 предпочтительно по существу удовлетворяет отношению (остаточная разность фаз Re жидкокристаллической панели 10 отображения)=(Re второй фазовой пластины 212)-(разность фаз Re, h жидкокристаллической пленки).

[0165] Фазовая пластина, удовлетворяющая Re=140 нм, выпускается серийно для жидкокристаллического устройства отображения режима VA, использующего свет с круговой поляризацией, и может быть использована в настоящем варианте осуществления, и, следовательно, фазовая пластина является выгодной относительно стоимости. В дополнение, пакет из фазовой пластины, удовлетворяющей Re=140 нм, и поляризатора функционируют также как пластина с круговой поляризацией, и, следовательно, возможно предотвратить визуальное распознавание отражения в электроде в панели.

[0166] Таким образом, в качестве пакета из второй фазовой пластины 212, второго поляризатора 6 и прозрачного защитного слоя 7 может быть соответственно использована обычная пластина с круговой поляризацией.

[0167] Хотя коэффициент Nz второй фазовой пластины 212 особенно предпочтительно составляет 1,55, ее коэффициент Nz также может составлять 1,35-1,75 (предпочтительно 1,4-1,7) с учетом изменений в продукте.

[0168] Хотя Rth второй фазовой пластины 212, удовлетворяющей вышеописанный Re и коэффициент Nz, особенно предпочтительно составляет 147 нм, ее Rth может также составлять 140-155 нм с учетом изменений в продукте. В дополнение, в настоящем варианте осуществления, общая Rth соответствует сумме Rth второй фазовой пластины 212 и Rth (30 нм) прозрачного защитного слоя 7 и составляет 120 нм или больше.

[0169] Пакет из прозрачного защитного слоя 7, первого поляризатора 5 и прозрачного защитного слоя 7 (поляризующей пластины), и первой фазовой пластины 11 наслаиваются вместе с помощью связующего слоя или адгезивного слоя (например, акрилового адгезивного слоя, имеющего толщину 5 мкм). В дополнение, первая фазовая пластина 11 и жидкокристаллическая панель 10 отображения наслаиваются вместе с помощью связующего слоя или адгезивного слоя (например, акрилового адгезивного слоя, имеющего толщину 25 мкм). Дополнительно, жидкокристаллическая панель 10 отображения и пакет из второй фазовой пластины 212, второго поляризатора 6 и прозрачного защитного слоя 7 (пластина с круговой поляризацией) наслаиваются вместе с помощью связующего слоя или адгезивного слоя (например, акрилового адгезивного слоя, имеющий толщину 25 мкм). Должно быть отмечено, что в качестве связующего слоя и адгезивного слоя, могут быть использованы таковые, показанные в качестве примеров в первом варианте осуществления.

[0170] Во втором варианте осуществления азимут и направление выравнивания оптической оси каждого элемента установлены способом, аналогичным способу в первом варианте осуществления.

[0171] Таким образом, согласно настоящему варианту осуществления, аналогично первому варианту осуществления, возможно продемонстрировать превосходную характеристику инверсии шкалы градаций серого, когда отображается цвет, близкий к черному.

[0172] Конкретно, доля не-инверсии шкалы серого жидкокристаллического устройства отображения второго варианта осуществления предпочтительно составляет 60% или больше. Когда доля не-инверсии шкалы серого составляет меньше чем 60%, может быть рассмотрено, что инверсия шкалы градации серого достаточно не подавляется, когда отображается цвет, близкий к черному.

[0173] Настоящая заявка испрашивает приоритет заявки на патент №2009-207543, поданной в Японии 8 сентября 2009, согласно Парижской конвенции и условиям государственного права в указанной стране, все содержимое которой тем самым включено посредством ссылки.

ОБЪЯСНЕНИЕ НОМЕРОВ ПОЗИЦИЙ

[0174] 1, 2: прозрачная подложка

3: жидкокристаллический слой

4: гомогенный жидкий кристалл

4d: направление выравнивания гомогенного жидкого кристалла

5: первый поляризатор

5a: ось поглощения первого поляризатора

6: второй поляризатор

6a: ось поглощения второго поляризатора

7: прозрачный защитный слой

8: нематический жидкий кристалл

10: жидкокристаллическая панель отображения

11: первая фазовая пластина

11d: направление выравнивания первой фазовой пластины

12: вторая фазовая пластина

12a: ось наименьшей скорости распространения света второй фазовой пластины

13: третья фазовая пластина

14: адгезивный слой