×
10.11.2013
216.012.7f90

Результат интеллектуальной деятельности: УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ В ПОЛОСКОВОМ ТРАКТЕ

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к технике испытаний электронных компонентов в полосковых линиях передачи в СВЧ диапазоне с помощью векторного анализа цепей компонентов. Устройство для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте, содержащее установленные на основании неподвижную стойку и подвижную по его продольной оси стойку, в которых закреплены коаксиально-полосковые переходы, блок установки измерительного или калибровочного узла с испытываемым электронным компонентом, отличающееся тем, что блок установки измерительного или калибровочного узла с испытываемым электронным компонентом выполнен в виде размещенной между стойками, подвижной вдоль оси основания каретки с площадкой для установки этого узла, а стойки снабжены микровинтами для позиционирования и регулирования силы прижатия выходов центральных проводников коаксиально-полосковых переходов к микрополосковым проводникам измерительного или калибровочного узла. Технический результат заключается в упрощении конструкции и повышении точности измерений. 1 ил.
Основные результаты: Устройство для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте, содержащее установленные на основании неподвижную стойку и подвижную по его продольной оси стойку, в которых закреплены коаксиально-полосковые переходы, блок установки измерительного или калибровочного узла с испытываемым электронным компонентом, отличающееся тем, что блок установки измерительного или калибровочного узла с испытываемым электронным компонентом выполнен в виде размещенной между стойками, подвижной вдоль оси основания каретки с площадкой для установки этого узла, а стойки снабжены микровинтами для позиционирования и регулирования силы прижатия выходов центральных проводников коаксиально-полосковых переходов к микрополосковым проводникам измерительного или калибровочного узла.

Изобретение относится к технике испытаний электронных компонентов в полосковых линиях передачи в СВЧ диапазоне с помощью векторного анализа цепей компонентов.

В качестве прототипа принято испытательное устройство для тестирования СВЧ компонентов с подложкой (патент США №5017895, G01R 31/02, H01P 5/00, опубл. 21.05.1991).

Устройство содержит установленные на основании неподвижную стойку и подвижную по направляющим по его продольной оси стойку, в которых закреплены коаксиально-полосковые переходы, блок, несущий контрольную плату и тестируемый СВЧ компонент.

Измеряемая плата (в патенте - подложка) вставляется в зажимное приспособление, включающее изогнутые скобообразные пластины, прикрепленные к металлическому блоку, которые могут параллельно перемещаться в вертикальном направлении. Средство перемещения включает подпружиненные полочковидные элементы, один конец которых зафиксирован в подвижных элементах, рычаг для расширения зажимов, толкатели для позиционирования подложки, продольном направлении. Центральный проводник вставлен в специальный зажим коаксиально-полоскового перехода, способный расширяться и сжиматься под давлением.

Недостатки прототипа следующие: крепление плат осуществляется с помощью зажимов, создает трудности при сборке устройства и может привести к повреждению плат, что отрицательно скажется на результатах тестирования;

довольно сложно осуществляется позиционирование выходов центральных проводников коаксиально-полосковых переходов с испытываемым узлом, что может вызвать неточность соединений в измерительном тракте.

Эти недостатки устраняются предлагаемым решением.

Ставится задача упрощения конструкции устройства для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте.

Технический результат - исключение искажений при испытании электронных компонентов, расширение технологических возможностей устройства.

Этот технический результат достигается тем, что в устройстве для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте, содержащем установленные на основании неподвижную стойку и подвижную по направляющим по его продольной оси стойку, в которых закреплены коаксиально-полосковые переходы, блок установки измерительного или калибровочного узла с испытываемым электронным компонентом, этот блок выполнен в виде подвижной по продольной оси основания каретки, размещенной между стойками, с площадкой для его установки, стойки снабжены микровинтами для позиционирования и регулирования силы прижатия выходов центральных проводников коаксиально-полосковых переходов к микрополосковым проводникам измерительного или калибровочного узла.

На каретке можно надежно закрепить тестируемый узел (плату и тестируемый СВЧ компонент) без ее повреждения, можно использовать платы различных размеров и из различных материалов.

Для использования плат различной толщины имеется возможность регулировать положение центрального проводника коаксиально-полоскового перехода с помощью микровинтов; с помощью винта легко осуществляется перемещение стойки.

Предлагаемое устройство для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте приведено на чертеже.

Оно содержит основание 1, установленные на нем неподвижную стойку 2, подвижную по направляющим 3 по продольной оси основания 1, стойку 4. Перемещение стойки 4 осуществляется с помощью вина 5. В стойках 2 и 4 установлены коаксиально-полосковые переходы, подключаемые к измерительному прибору. Стойки 2, 4 снабжены микровинтами 6, 7, для позиционирования и регулирования силы прижатия выходов центральных проводников 8 коаксиально-полосковых переходов к микрополосковым проводникам измерительного или калибровочного узла по ширине и высоте выходов центральных проводников 8.

Между стойками 2, 4 размещена каретка 9 с площадкой 10 для установки измерительного или калибровочного узла) с испытываемым электронным компонентом.

Работа устройства осуществляется следующим образом.

Поднимают коаксиально-полосковые переходы с помощью направляющих микровинтов 7, выводят фиксирующий винт 5 на длину, достаточную для установки в контактное устройство калибровочного или измерительного узла. Каретку 9 сдвигают на середину расстояния между стойками 2 и 4. Устанавливают нужный узел на каретку 9, фиксируют крепежными винтами. Придвигают до упора каретку 9 к стойке 2. Придвигают до упора стойку 4 к каретке 9. Вводят винт 5 до упора. После установки узла производят измерение его волновых параметров рассеяния векторным анализатором цепей. Выполнив предварительные калибровочные измерительно-вычислительные процедуры, можно производить определение волновых параметров рассеяния непосредственно по геометрическим границам объектов.

Устройство для испытаний электронных компонентов в полосковом тракте, содержащее установленные на основании неподвижную стойку и подвижную по его продольной оси стойку, в которых закреплены коаксиально-полосковые переходы, блок установки измерительного или калибровочного узла с испытываемым электронным компонентом, отличающееся тем, что блок установки измерительного или калибровочного узла с испытываемым электронным компонентом выполнен в виде размещенной между стойками, подвижной вдоль оси основания каретки с площадкой для установки этого узла, а стойки снабжены микровинтами для позиционирования и регулирования силы прижатия выходов центральных проводников коаксиально-полосковых переходов к микрополосковым проводникам измерительного или калибровочного узла.
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ В ПОЛОСКОВОМ ТРАКТЕ
Источник поступления информации: Роспатент

Показаны записи 21-30 из 31.
10.10.2014
№216.012.fc6e

Способ измерения параметров однофотонных источников излучения инфракрасного диапазона

Изобретение относиться к области измерения параметров слабых потоков излучения и касается способа измерения параметров однофотонных источников излучения. Параметры источника излучения измеряются с помощью однофотонного сверхпроводникового детектора. Для осуществления способа измеряют среднее...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002530468
Дата охранного документа: 10.10.2014
10.04.2015
№216.013.40c0

Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов и устройство для его осуществления

Изобретение относится к области измерения характеристик материалов и может быть использовано для определения диэлектрической проницаемости изоляционных композитных и других материалов. Способ основан на измерении комплексного коэффициента отражения электромагнитных волн от отрезка линии...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002548064
Дата охранного документа: 10.04.2015
10.06.2015
№216.013.4fa0

Способ изготовления чип-резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления чип-резисторов, включающем формирование резистивного слоя путем напыления с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002551905
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5271

Способ изготовления толстопленочных резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления толстопленочных резисторов, включающем последовательное нанесение методом...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552626
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5275

Способ изготовления чип-резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления чип-резисторов, включающем формирование резистивного слоя путем напыления с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552630
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5276

Способ изготовления толстопленочных резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления толстопленочных резисторов, включающем последовательное нанесение методом...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552631
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5325

Линия нанесения гальванохимических покрытий на мелкие детали

Изобретение относится к области гальванотехники, в частности к оборудованию для нанесения химических и гальванических покрытий, и служит для гальванохимической обработки мелких деталей россыпью, в частности для нанесения гальванического покрытия на охватывающие контакты чип-резисторов. Линия...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552806
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.05.2016
№216.015.3cc7

Способ изготовления тонкопленочного резистора

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в том числе мощных высокочастотных цепях. В способе изготовления тонкопленочного резистора, включающем...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002583952
Дата охранного документа: 10.05.2016
20.05.2016
№216.015.3e72

Пленочный резистор

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в том числе мощных, высокочастотных цепях. В пленочном резисторе, включающем диэлектрическую подложку и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002584032
Дата охранного документа: 20.05.2016
29.12.2017
№217.015.f9a2

Способ изготовления низкоомного чип-резистора

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству низкоомных чип-резисторов, которые могут быть использованы в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности, в частности для применения в качестве датчиков тока. Технический результат предложенного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002639313
Дата охранного документа: 21.12.2017
Показаны записи 21-30 из 37.
27.06.2014
№216.012.d843

Емкостный датчик перемещений

Изобретение относится к микромеханическим устройствам и может применяться в интегральных акселерометрах и гироскопах. Техническим результатом заявленного изобретения является повышение точности емкостного датчика при измерении угловых перемещений. Технический результат достигнут посредством...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002521141
Дата охранного документа: 27.06.2014
10.07.2014
№216.012.dd62

Способ получения аллилсульфоната натрия для синтеза сульфосодержащих карбоксилатных суперпластификаторов для цементных смесей

Изобретение относится к способу получения аллилсульфоната натрия, который заключается во взаимодействии аллилхлорида и сульфита натрия в гетерогенной водно-органической среде в присутствии метоксиполиэтиленгликольметакрилатов (с числом оксиэтильных звеньев 23-45) в качестве катализаторов...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002522452
Дата охранного документа: 10.07.2014
27.08.2014
№216.012.ef87

Способ измерения влажности нефти

Изобретение относится к нефтедобывающей промышленности, а именно к способам измерения влажности нефти без предварительной сепарации газа из продукции скважины. В процессе проведения экспериментальных работ находится зависимость средней абсолютной погрешности проверочных точек от средней...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002527138
Дата охранного документа: 27.08.2014
10.09.2014
№216.012.f195

Способ измерения расхода двухфазной трехкомпонентной среды

Изобретение относится к нефтедобывающей промышленности, а именно к способам определения дебита нефтяных скважин без предварительной сепарации газа из продукции скважины. Способ измерения расхода двухфазной трехкомпонентной среды, включающий калибровку многофазного расходомера, обработку...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002527667
Дата охранного документа: 10.09.2014
10.09.2014
№216.012.f401

Режущая пластина

Изобретение относится к области машиностроения, в частности к металлообработке. Режущая пластина содержит основу из твердого сплава и нанесенный на нее износостойкий слой из наноструктурного карбида вольфрама и наноструктурного карбида ниобия с размером зерен 20-50 нм, при их следующем...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002528288
Дата охранного документа: 10.09.2014
10.10.2014
№216.012.fc6e

Способ измерения параметров однофотонных источников излучения инфракрасного диапазона

Изобретение относиться к области измерения параметров слабых потоков излучения и касается способа измерения параметров однофотонных источников излучения. Параметры источника излучения измеряются с помощью однофотонного сверхпроводникового детектора. Для осуществления способа измеряют среднее...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002530468
Дата охранного документа: 10.10.2014
10.04.2015
№216.013.40c0

Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов и устройство для его осуществления

Изобретение относится к области измерения характеристик материалов и может быть использовано для определения диэлектрической проницаемости изоляционных композитных и других материалов. Способ основан на измерении комплексного коэффициента отражения электромагнитных волн от отрезка линии...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002548064
Дата охранного документа: 10.04.2015
10.06.2015
№216.013.4fa0

Способ изготовления чип-резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления чип-резисторов, включающем формирование резистивного слоя путем напыления с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002551905
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5271

Способ изготовления толстопленочных резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления толстопленочных резисторов, включающем последовательное нанесение методом...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552626
Дата охранного документа: 10.06.2015
10.06.2015
№216.013.5275

Способ изготовления чип-резисторов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к производству постоянных резисторов, и может быть использовано в электронной, радиотехнической и других смежных отраслях промышленности. В способе изготовления чип-резисторов, включающем формирование резистивного слоя путем напыления с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002552630
Дата охранного документа: 10.06.2015
+ добавить свой РИД