×
03.07.2019
219.017.a429

Способ очистки металлургического кремния от примесей

Вид РИД

Изобретение

Юридическая информация Свернуть Развернуть
Краткое описание РИД Свернуть Развернуть
Аннотация: Изобретение относится к очистке металлургического кремния до степени чистоты солнечного кремния. Сущность изобретения заключается в расплавлении кремния в вакуумной камере и регулировке температуры расплава, при этом обеспечивается давление порядка 0,0001 бар и поддерживается температура расплава кремния в диапазоне от 1400°С до 1600°С. Согласно способу расплав кремния обдувается увлажненным водородом, количество которого в смеси Н и НО не выходит за пределы диапазона от 200 до 900 молей из расчета на 1 моль воды. Техническим результатом является одновременное интенсивное удаление легирующих примесей бора (В) и фосфора (Р) из расплавленного кремния при отсутствии испарения Si. 3 ил.
Реферат Свернуть Развернуть

Изобретение относится к способам очистки металлургического кремния до степени чистоты солнечного кремния, используемого в фотоэлектрических преобразователях солнечной энергии в электрическую.

Чистота солнечного кремния составляет 99.9999% (6N). В обеспечение чистоты указанного уровня необходимо соответствующее сокращение содержания в металлургическом кремнии таких примесей, как Fe, Al, Ca, Ti, cr, В, Р, О и С. Бор (В) и фосфор (Р) являются технологически сложно удаляемыми элементами из кремния. Содержание бора (В) и фосфора (Р) в солнечном кремнии не должно превышать 0.3 ppmw и 0.6 ppmw соответственно.

Наиболее часто используемый в настоящее время способ очистки кремния от примесей заключается в переводе металлургического кремния в летучие соединения (силаны), и последующее восстановление кремния на затравках (Siemens-процесс и его производные). По причине высокой стоимости и высокой экологической опасности производства кремния с использованием данных технологий, получили развитие способы прямой очистки металлургического кремния. Прямая очистка кремния, как правило, включает в себя последовательность технологических операций, каждая из которых направлена на удаление той или иной группы примесей. К таким операциям относятся направленная кристаллизация, вакуумное рафинирование, плазмохимическая обработка и т.д. [1]. Вакуумное рафинирование является одним из основных методов удаления из расплава кремния примесей с высоким давлением насыщенных паров (фосфор, натрий, калий, магний, цинк, кальций, алюминий). Одной из модификаций метода вакуумного рафинирования является метод плазмотермической очистки, основанный на воздействии на поверхность расплава кремния высокотемпературных динамических потоков плазмы формируемых плазмотронами. В качестве плазмообразующего газа в данном методе используются чистые инертные газы, как правило - аргон. Поток плазмы создает на поверхности расплава кремния локальную область с высокой температурой, с поверхности которой происходит интенсивное испарение примесей с высоким давлением насыщенных паров. Однако данные методы имеют сравнительно низкую эффективность удаления основных легирующих примесей - бора и фосфора. Таким образом, актуальной является задача удаления легирующих примесей из кремния.

Известен способ очистки кремния (аналог), обозначаемый как «направленная кристаллизация» [2-6], заключающийся в искусственном создании фронта кристаллизации расплавленного кремния. В процессе направленной кристаллизации происходит уменьшение содержания примесей в твердой фазе по сравнению с их содержанием в жидкой фазе. В финале процесса кристаллизованный кремний оказывается чище расплавленного. Уменьшение содержания примесей в твердой фазе зависит от коэффициента сегрегации, определяемого через соотношение равновесных концентраций примесей в твердом и жидком состоянии вещества, поэтому такой процесс очистки называется сегрегационной очисткой. В процессе кристаллизации хуже удаляются примеси с высоким коэффициентом сегрегации.

Недостатком процесса направленной кристаллизации (аналога) как технологии очистки металлургического кремния является плохое удаление бора и фосфора вследствие аномально высоких значений коэффициентов сегрегации указанных элементов, равных 0.8 и 0.35 соответственно.

Известен технологический процесс очистки кремния от примесей бора за счет его взаимодействия с водородом (прототип). Газообразные (g) летучие соединения бора образуются при обдувке расплавленного кремния влажным воздухом [7] при атмосферном давлении в соответствии с реакцией

Вещество НВО является термодинамически метастабильным и в атмосфере, содержащей кислород, доокисляется до НВО2.

Температура плавления кремния равна 1450°С (на фиг. 1 и 3 показана прерывистой вертикальной прямой). График зависимости количества равновесного вещества НВО2 от температуры на фиг. 1 демонстрирует достаточно резкое снижение вероятности образования НВО2 в диапазоне 1450-2250°С, поэтому оптимальная для удаления бора температура находится в самом начале данного диапазона и составляет порядка 1500°С.

К недостатку прототипа относится тот факт, что для активного удаления Р нужна температура 1700°С. Однако, как отмечено выше, при такой температуре снижается вероятность образования НВО2 (см. фиг. 1); к тому же при температурах выше 1700°С начинается интенсивное испарение кремния.

Техническая задача предлагаемого решения состоит в создании технологических условий для одновременного интенсивного удаления примесей бора (В) и фосфора (Р) из расплавленного кремния при отсутствии испарения Si.

При атмосферном давлении на кривой зависимости количества равновесного вещества НВО2 от температуры при атмосферном давлении наблюдается достаточно интенсивный пик 1 в области высоких температур около 2300°С. При снижении давления пик образования НВО смещается в область низких температур, а также происходит рост амплитуды данного пика. На фиг. 2 представлена зависимость количества равновесного вещества НВО от температуры при давлении 0.0001 бар в системе, состоящей из 1 кмоля Si, 100 кмолей химически неактивного Ar, 1 кмоля Н2, 1000 ppm Н2О и 10 ppm В. Анализ данных фиг.2 позволяет сделать вывод о том, что высокотемпературный пик 1 образования НВО2 при давлении 0.0001 бар наблюдается при температуре около 1500°С при обдувке расплава металлургического кремния увлажненным водородом в соотношении 200-900 молей Н2 к 1 молю Н2О. Снижение мольной доли Н2 по отношению к доли Н2О в смеси двух этих компонент до уровня меньше, чем 200:1 вызывает резкий спад, практически до нуля, интенсивности образовании летучего соединения НВО2. Более высокое, чем 900:1 содержание Н2 в смеси Н2 и Н2О недопустимо из-за чрезмерного и неэффективного расходования водорода.

При этом величина испаряемого элементарного фосфора в этих условиях (давление 0.0001 бар и температура 1500°С) практически достигает максимальной величины и находится вблизи области насыщения (фиг. 3).

Таким образом, решение технической задачи достигается тем, что в процессе очистки кремния в замкнутой вакуумной камере с размещаемом в ней расплавом металлургического кремния обеспечивается давление порядка 0.0001 бар и поддерживается температура расплава кремния в диапазоне от 1400°С до 1600°С, а расплав кремния обдувается увлажненным водородом, количество которого в смеси Н2 и Н2О не выходит за пределы диапазона от 200 до 900 молей из расчета на 1 моль воды.

Данное решение может быть использовано в технологии прямой очистки кремния от примесей с целью получения кремния для задач солнечной энергетики.

ЛИТЕРАТУРА

1. Bruno Ceccaroli, Eivind Ovrelid, Sergio Pizzini. Solar Silicon Processes: Technologies, Challenges, and Opportunities 1st Edition. CRC Press, 2016, 272 p.

2. Silicon refining process: US 4242175 A: IPC C01B 33/037 / Allen D. Zumbrunnen; Applicant: Zumbrunnen Allen D-US 05/973,134, filed 26.12.1978, pub. 30.12.1980.

3. Патент США №20150028268 (A1), МПК v, C30B 29/06, SILICIO FERROSOLAR S.L., 2012.

4. Патент США №79554333 (B2), МКП H01L 31/1804, Y02E 10/547, CALISOLAR INC., 2009.

5. Патент Германия №112010004412 (Т5), МПК H01L 31/042, H01L 31/18, HOSHINO MASAHIRO KAO CHENG С, 2012.

6. Патент Германии №102005061690 (А1), МПК С01В 33/021, С01В 33/023, C23F 1/00, SCHEUTEN SOLAR HOLDING BV, 2009.

7. Европейский патент №0459421 (В1), МПК С01В 33/037, H01L 31/04, KAWASAKI STEEL CORPORATION, 1997.

Способ очистки металлургического кремния от примесей в замкнутой вакуумной камере с размещаемой в ней загрузкой металлургического кремния, включающий расплавление и регулировку температуры расплава кремния, отличающийся тем, что в камере обеспечивают давление порядка 0,0001 бар и поддерживают температуру расплава кремния в диапазоне от 1400°С до 1600°С, расплав кремния обдувают увлажненным водородом, количество которого в смеси Н и НО находится в диапазоне от 200 до 900 молей из расчета на 1 моль воды.
Способ очистки металлургического кремния от примесей
Способ очистки металлургического кремния от примесей
Способ очистки металлургического кремния от примесей
Источник поступления информации: Роспатент

Showing 1-10 of 26 items.
20.08.2013
№216.012.619c

Электростатический энергоанализатор заряженных частиц

Изобретение относится к области энергетического анализа потоков заряженных частиц, возбуждаемых первичными электронами с поверхности твердого тела. Сущность изобретения заключается в том, что электростатический энергоанализатор заряженных частиц содержит коаксиально размещенные внутренний и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490620
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.621d

Изотраекторный масс-спектрометр

Изобретение относится к области масс-анализа потоков ионов, эмиттируемых с поверхности твердого тела под воздействием первичного излучения, и может быть использовано для улучшения аналитических свойств масс-спектрометров, используемых для исследования объектов твердотельной микро- и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490749
Дата охранного документа: 20.08.2013
20.08.2013
№216.012.621e

Электростатический анализатор энергий заряженных частиц

Изобретение относится к области энергетического анализа потоков заряженных частиц, возбуждаемых первичными электронами с поверхности твердого тела, и может быть использовано для улучшения аналитических и потребительских свойств электронных спектрометров, используемых для исследования объектов...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002490750
Дата охранного документа: 20.08.2013
10.03.2014
№216.012.aa40

Способ определения зарядового состояния атомов в субнанослойных пленках на поверхности металлов и полупроводников

Использование: для определения зарядового состояния атомов в субнанослойных пленках на поверхности металлов и полупроводников. Сущность: заключается в том, что поверхность анализируемого объекта облучают ионами инертных газов низких энергий, регистрируют энергетический спектр отраженных ионов...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002509299
Дата охранного документа: 10.03.2014
10.03.2014
№216.012.aa42

Способ определения кристаллической фазы в аморфных пленках наноразмерной толщины

Использование: для определения кристаллической фазы в аморфных пленках наноразмерной толщины. Сущность заключается в том, что выполняют бомбардировку поверхности пучком ионов и регистрацию интенсивности отраженных ионов, при этом анализируемую поверхность бомбардируют ионами инертного газа с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002509301
Дата охранного документа: 10.03.2014
20.04.2014
№216.012.bb3e

Способ изготовления фотоэмиттера с отрицательным электронным сродством для инфракрасного диапазона

Изобретение относится к области эмиссионной и наноэлектроники и может быть использовано в разработке и в технологии производства фотоэлектронных преобразователей второго поколения, эмиттеров с отрицательным электронным сродством для приборов ИК-диапазона. Способ изготовления фотоэмиттера с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002513662
Дата охранного документа: 20.04.2014
10.11.2014
№216.013.04a8

Способ измерения контактной разности потенциалов

Изобретение относится измерительной технике и представляет собой способ измерения контактной разности потенциалов между проводящими материалами (металлами, полупроводниками, электролитами) и может быть использовано для измерения электродных потенциалов, работы выхода поверхности, для контроля...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002532590
Дата охранного документа: 10.11.2014
27.11.2014
№216.013.0b16

Способ определения атомного состава активных нанопримесей в жидкостях

Изобретение относится к области нано-, микроэлектроники и аналитического приборостроения и может быть использовано в разработке технологии и в производстве изделий микро- и наноэлектроники, а также в производстве чистых материалов и для диагностики и контроля жидких технологических сред. Способ...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002534246
Дата охранного документа: 27.11.2014
10.12.2014
№216.013.0ee3

Способ определения длительности времени плазмохимического травления поверхности полупроводниковых пластин для субмикронных технологий

Изобретение относится к области микроэлектроники. Технический результат направлен на повышение достоверности определения типа и количества загрязняющих примесей на поверхности полупроводниковых пластин после плазмохимического травления и определения оптимального значения длительности времени...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002535228
Дата охранного документа: 10.12.2014
27.09.2015
№216.013.7e7c

Электростатическая линза со стабильным фокусным расстоянием

Изобретение относится к области электронного приборостроения и может быть использовано при разработке электронно-оптических устройств со стабильным по отношению к колебаниям потенциалов электродов фокусным расстоянием. Электростатическая линза состоит из трех аксиально-симметричных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002563977
Дата охранного документа: 27.09.2015
+ добавить свой РИД