×
11.06.2018
218.016.607a

Результат интеллектуальной деятельности: Способ формирования диэлектрических пленок анодированного сплава алюминий-кремний, обладающих эффектом переключения проводимости

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к области микро- и наноэлектроники, а именно к способу изготовления диэлектрического слоя МДП структур, обладающих эффектом переключения проводимости на основе пленок анодированного сплава алюминий-кремний. Техническим результатом, достигаемым настоящим изобретением, является создание способа формирования диэлектрических пленок анодированного сплава алюминий-кремний, обладающих эффектом переключения проводимости, полностью совместимого с кремниевой технологией интегральных микросхем. Технический результат достигается тем, что в способе формирования обладающего эффектом переключения проводимости диэлектрического слоя путем нанесения композитного материала, представляющего собой диэлектрик, в который встроены наноразмерные кластеры кремния, согласно изобретению формирование материала производят химическим анодированием сплава алюминий-кремний. 2 ил.

Изобретение относится к области микро- и наноэлектроники, а именно к способу изготовления диэлектрического слоя МДП структур, обладающих эффектом переключения проводимости на основе пленок анодированного сплава алюминий-кремний. Сущность изобретения: способ формирования диэлектрических пленок анодированного сплава алюминий-кремний, обладающих эффектом переключения проводимости.

В настоящее время большой интерес проявляется к исследованию структур, обладающих S-образными вольтамперными характеристиками (ВАХ) при одной полярности приложенного напряжения и N-образными при другой (биполярный эффект переключения проводимости). Таким образом, переключение проводящего состояния структуры происходит в зависимости от полярности приложенного напряжения, превышающего определенный порог. Биполярный эффект переключения проводящего состояния наблюдался в структурах типа проводник - диэлектрик - проводник с различными диэлектриками.

Известно, что эффект переключения проводимости наблюдался в оксидах металлов [Рожков В.А, Шалимова М.Б. // ФТП, 27 (03), 438 (1993); Байбурин В.Б., Волков Ю.П., Рожков В.А. // ПЖТФ, 24 (12), 21 (1998); M-J. Lee, Ch. B. Lee, D. Lee et al // Nature Materials, 10, 625 (2011)]. Детального исследования этого эффекта авторами проведено не было. Можно предположить, что в исследованных оксидах были недоокисленные участки, представляющие из себя наноразмерные металлические кластеры.

Известен способ формирования пленки оксинитрида кремния с включенными кластерами кремния методом магнетронного распыления кремниевой мишени в среде аргона с добавками кислорода и азота [Бердников А.Е., Геращенко В.Н., Гусев В.Н., Мироненко А.А., Орликовский А.А., Попов А.А., Рудый А.С. Способ изготовления диэлектрического слоя МДП структур, обладающих эффектом переключения проводимости // Патент РФ на изобретение №2529442 от 1 августа 2014 г.].

Наиболее близким по совокупности признаков к заявленному (прототип) является: способ формирования обладающего эффектом переключения проводимости диэлектрического слоя на основе кремнийсодержащего композитного материала [Бердников А.Е., Орликовский А.А., Мироненко А.А., Попов А.А., Черномордик В.Д. Ячейка памяти со структурой проводящий слой - диэлектрик - проводящий слой // Патент на изобретение №2376677от 20 декабря 2009 г., Орликовский А.А., Бердников А.Е., Мироненко А.А., Попов А.А., Черномордик В.Д., Перминов А.В. Способ формирования обладающего эффектом переключения проводимости диэлектрического слоя // Патент РФ на изобретение №2449416 от 27 апреля 2012 г.; А.Е. Бердников, В.Н. Гусев, А.А. Мироненко, А.А. Попов, А.В. Перминов, А.С. Рудый, В.Д. Черномордик. Эффект переключения проводимости в МДП структурах с диэлектриками на базе кремния, полученными методом низкочастотного плазмохимического осаждения / ФТП. 2013, том 47, вып. 5, стр. 626-632].

Процесс изготовления диэлектрического слоя МДП структур, обладающих эффектом переключения проводимости, сводится к нанесению композитного материала со встроенными наноразмерными кластерами кремния из смеси моносилана с кислородсодержащими газами в плазме низкочастотного тлеющего разряда. Основным недостатком указанного диэлектрического слоя является разброс напряжения переключения проводимости МДП структур, сформированных на данном диэлектрическом материале, и уменьшение количества работающих элементов памяти при уменьшении площади верхнего электрода структуры. Это обусловлено случайным характером распределения кремниевых кластеров внутри диэлектрической пленки, в результате чего уменьшается вероятность возникновения каналов, обеспечивающих переключения проводимости сформированных МДП структур.

Техническим результатом, достигаемым настоящим изобретением, является создание способа формирования диэлектрических пленок анодированного сплава алюминий-кремний, обладающих эффектом переключения проводимости, полностью совместимого с кремниевой технологией интегральных микросхем. Формируемый материал представляет собой диэлектрик, в который встроены наноразмерные кластеры кремния. Такой материал может приобретать и сохранять электрический заряд, что позволяет использовать его для создания устройств энергонезависимой перепрограммируемой памяти, мемристоров, нейронных сетей.

На практике оксидные пленки формируют электрохимическим методом или более простым и удобным химическим. Преимуществом химического метода оксидирования является небольшая продолжительность процесса, простота его выполнения и несложное и доступное оборудование.

Технический результат достигается тем, что в способе формирования обладающего эффектом переключения проводимости диэлектрического слоя путем нанесения композитного материала, представляющего собой диэлектрик, в который встроены наноразмерные кластеры кремния, согласно изобретению, формирование материала производят химическим анодированием сплава алюминий-кремний.

Сущность предлагаемого изобретения поясняется следующим описанием.

Кремниевая подложка КДБ 12 (100) легировалась бором с обеих сторон до поверхностных концентраций порядка 1017 см-3. На лицевую сторону подложки методом магнетронного распыления наносился сплав АК-1,5 толщиной 0,5-0,6 0 мкм.

Химическое оксидирование на всю толщину пленки проводили в фосфорнокислом растворе следующего состава, г/л:

Фосфорная кислота 40-50
Хромовый ангидрид 5-7
Фтористый натрий 3-4

Затем на обратную сторону подложки напыляли сплошной слой Al, а на лицевую сторону через маску с отверстиями диаметром 3 мм напыляли контакты из Al. Сформированная МДП структура представлена на фиг. 1.

Вольтамперные характеристики (ВАХ) ячеек измерялись на приборе ИППП - 1/2. Для прямого включения сформированной МДП структуры положительное напряжение прикладывалось к верхнему алюминиевому электроду. Сформированные МДП структуры на пленке оксидированного сплава АК 1,5 обладают эффектом переключения проводимости, ВАХ которого представлена на фиг. 2.

При измерении ВАХ развертка по напряжению подавалась таким образом, чтобы измерялся ток при изменении напряжения от минус 3 В до плюс 3 В и обратно. На фиг. 2 мы видим шесть характерных участков ВАХ.

Участок 1. От начала подачи напряжения от -3 В до 0 В, характеризуется нелинейным изменением тока от напряжения. Изменения тока от напряжения близки к параболическому закону.

Участок 2. При подаче напряжения 1,8-2,2 В также имеет место параболический закон изменения тока от напряжения.

Участок 3. Характеризуется резким падением тока от напряжения.

Участки 4 и 5. Характеризуются высоким сопротивлением структуры.

Участок 6. Характеризуется резким увеличением тока при увеличении отрицательного напряжения и имеет обратимый характер.

Таким образом, на ВАХ сформированной МДП структуры можно наблюдать переключение проводимости. Состояние с низким сопротивлением (открытое состояние МДП структуры) на фиг. 2 представлено участком 2. Участок 4 характеризуется высоким сопротивлением (закрытое состояние МДП структуры).

Таким образом, МДП структуры, сформированные на пленках оксидированного сплава АК 1,5, обладают эффектом переключения проводимости.

Высокая стабильность пленок оксидированного сплава АК 1,5 позволяет длительное время сохранять проводимость МДП структур. Факты спонтанного переключения проводимости МДП структур не наблюдались в течение трех лет.

Положительной стороной данного способа является его полная совместимость с оборудованием и материалами, применяемыми в традиционной технологии интегральных микросхем.

Способ формирования диэлектрических пленок анодированного сплава алюминий-кремний, обладающих эффектом переключения проводимости диэлектрического слоя, путем нанесения композитного материала, представляющего собой диэлектрик, в который встроены наноразмерные кластеры кремния, отличающийся тем, что формирование материала производят химическим анодированием сплава алюминий-кремний.
Способ формирования диэлектрических пленок анодированного сплава алюминий-кремний, обладающих эффектом переключения проводимости
Способ формирования диэлектрических пленок анодированного сплава алюминий-кремний, обладающих эффектом переключения проводимости
Источник поступления информации: Роспатент

Showing 1-3 of 3 items.
29.12.2017
№217.015.f498

Элемент энергонезависимой электрически перепрограммируемой памяти

Использование: для создания элемента памяти. Сущность изобретения заключается в том, что элемент памяти включает проводящие слои первого и второго уровня, расположенный между ними и непосредственно под проводящим слоем второго уровня слой диэлектрика толщиной от 3 до 100 нм, изолирующую щель в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002637175
Дата охранного документа: 30.11.2017
19.01.2018
№218.016.0461

Способ изготовления балки с заданным изгибом

Использование: для изготовления микро- и наномеханических балок, обладающих заданным изгибом. Сущность изобретения заключается в том, что способ включает нанесение жертвенного слоя на подложку, последовательное нанесение двух или более слоев материала балки, отличающихся величиной внутренних...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002630528
Дата охранного документа: 11.09.2017
19.06.2019
№219.017.8bef

Источник быстрых нейтральных частиц

Изобретение относится к технике получения пучков быстрых нейтральных частиц, в частности пучков нейтральных атомов, радикалов и молекул, и может быть использовано для очистки и полировки поверхностей объектов; для распыления, травления и осаждения тонких пленок различных материалов; для...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002468465
Дата охранного документа: 27.11.2012
Showing 1-7 of 7 items.
20.08.2014
№216.012.ec0f

Способ получения положительного электрода литий-ионного аккумулятора и литий-ионный аккумулятор

Заявленное изобретение относится к области электротехники, а именно, к способу получения материала для положительного электрода литий-ионного аккумулятора и к самому аккумулятору. Согласно изобретению на этапе реализации способа на проводящей подложке методом магнетронного распыления...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002526239
Дата охранного документа: 20.08.2014
27.03.2015
№216.013.360a

Кулонометрическая установка с контролируемым потенциалом

Изобретение направлено на повышение точности и упрощение конструкции кулонометрической установки с контролируемым потенциалом. Указанный результат достигается тем, что кулонометрическая установка с контролируемым потенциалом, содержащая потенциостат, задатчик потенциала, подключенный к первому...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002545318
Дата охранного документа: 27.03.2015
27.04.2015
№216.013.467e

Кулонометрическая потенциостатическая установка

Изобретение относится к аналитическому приборостроению. Кулонометрическая потенциостатическая установка, содержащая потенциостат, задатчик потенциала, подключенный к первому входу потенциостата, трехэлектродную электролитическую ячейку, рабочий электрод, которой соединен с общим проводом...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002549550
Дата охранного документа: 27.04.2015
20.09.2015
№216.013.7cd4

Конструкция диэлектрического слоя для мдп cтруктур, обладающих эффектом переключения проводимости

Изобретение относится к области микро- и наноэлектроники, а именно к конструкции диэлектрического слоя МДП структур, обладающих эффектом переключения проводимости. Особенность предлагаемой конструкции состоит в том, что внутри основной диэлектрической пленки - широкозонного полупроводника из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002563553
Дата охранного документа: 20.09.2015
25.08.2017
№217.015.d112

Способ регулирования удельной емкости отрицательного электрода литий-ионного аккумулятора

Изобретение относится к электротехнике. Способ регулирования удельной емкости отрицательного электрода литий-ионного аккумулятора при заданной плотности тока разряда включает получение партии отрицательных электродов методом магнетронного распыления кремниевой и алюминиевой мишеней активного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002621321
Дата охранного документа: 02.06.2017
26.06.2019
№219.017.91f6

Способ формирования упорядоченного массива нанокристаллов или нанокластеров кремния в диэлектрической матрице

Использование: для получения наноразмерных композитных структур. Сущность изобретения заключается в том, что способ формирования упорядоченного массива нанокристаллов или нанокластеров кремния в диэлектрической матрице включает формирование на подложке многослойной пленки, состоящей из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002692406
Дата охранного документа: 24.06.2019
20.04.2023
№223.018.4bfc

Способ измерения коэффициента диффузии при неравновесной концентрации ионов в электролитах и устройство для его реализации

Изобретение относится к экспериментальной физике и электрохимии, в частности к исследованию явлений переноса массы и заряда в химических источниках тока, в том числе в литий-ионных аккумуляторах с жидким и твердым электролитом. Предложены способ и устройство для измерения коэффициента диффузии...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002761448
Дата охранного документа: 08.12.2021
+ добавить свой РИД