×
25.08.2017
217.015.c5c9

Результат интеллектуальной деятельности: СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ РАДИОПОГЛОЩАЮЩИХ МАТЕРИАЛОВ

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к области измерительной техники. Предложен способ измерения коэффициента отражения радиопоглощающих материалов (РПМ), включающий облучение образца радиопоглощающего материала и металлической пластины одинаковых размеров импульсными сверхширокополосными сигналами, регистрацию дискретных сигналов, соответствующих сигналам от образца радиопоглощающего материала - выборока V и от металлической пластины - выборока V, вычисление амплитудных спектров сигналов с помощью преобразования Фурье и получении частотной характеристики коэффициента отражения как отношения амплитудных спектров и, отличающийся тем, что сверхширокополосный сигнал находится в пикосекундном диапазоне, а выборки V и V до выполнения преобразования Фурье дополняют нулевыми отсчетами до длины N, причем N=2≥100⋅N, где N - изначальная длина выборок, а затем выполняют ядерное сглаживание выборок V и V в окне Гаусса с шириной h, причем h выбирается по принципу максимального правдоподобия с исключением объектов по одному по формуле , где V - исходная выборка, V - сглаживающая функция, V/{i} - выборка с исключенным i-м отсчетом. Технический результат, достигаемый при реализации предлагаемого способа, состоит в повышении точности измерений за счет уменьшения шага по частоте в частотной характеристике коэффициента отражения РПМ, а также за счет снижения шумовой составляющей измеренных импульсных сигналов методом ядерного сглаживания, при этом относительная погрешность определения частотной характеристики коэффициента отражения по сравнению с прототипом уменьшается на 10-15%. Изобретение может быть использовано в радиотехнике, в частности в радиолокации. 3 ил.

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к способу измерения коэффициента отражения радиопоглощающих материалов (РПМ), которое может быть использовано в радиотехнике, в частности в радиолокации.

Известен способ измерения коэффициента отражения РПМ в частотной области [Алимин Б.Ф. Техника измерений коэффициентов отражения поглотителей электромагнитных волн // Зарубежная электроника. 1977. №2. С. 88-110] и устройство, его реализующее [АС SU №1270720]. Способ заключается в раздельном облучении узкополосным гармоническим сигналом образца радиопоглощающего материала и металлической пластины одинаковых размеров, приеме рассеянных ими сигналов и вычислении значения коэффициента отражения на заданной частоте как отношения мощностей сигналов, рассеянных образцом и металлической пластиной. Частотный диапазон измерений обусловливается частотными диапазонами передающей и приемной антенн. Для определения коэффициента отражения в широкой полосе частот (десятки гигагерц) требуется применение набора из нескольких антенн, что приводит к снижению точности измерений из-за стыковки результатов на границах частотных диапазонов антенн. Кроме того, образец должен облучаться синфазным волновым фронтом с равномерным амплитудным распределением, что возможно только в дальней зоне излучения. В высокочастотной области, например, на частоте 10 ГГц граница дальней зоны составляет 20 м. В совокупности с тем, что измерения должны проводиться в безэховых камерах для исключения отражения от окружающих предметов, это значительно увеличивает материальные затраты при проведении измерений.

Также известен способ измерения коэффициента отражения радиоволн от радиопоглощающих покрытий [Пат. РФ №2234101], принятый за прототип. Сущность данного способа состоит в том, что облучение образца радиопоглощающего покрытия и металлической пластины одинаковых размеров проводят импульсными сверхширокополосными сигналами. Затем сигналы Vc и Vm, рассеянные образцом и пластиной соответственно, регистрируют и с помощью дискретного преобразования Фурье вычисляют их спектральные плотности и После этого разбивают диапазон рабочих частот на совокупность частотных интервалов, аппроксимируют линейными функциями фазовые характеристики спектральных плотностей и в каждом p-ом интервале, по наклонам которых определяют соответствующие запаздывания частотных составляющих сигналов, проводят когерентное суммирование спектральных плотностей и с учетом фазовых сдвигов, находят их средние значения и и по формуле определяют частотную характеристику коэффициента отражения радиопоглощающего покрытия.

Недостаток указанного выше способа заключается в низкой точности измерений по причине большого шага по частоте между отсчетами частотной характеристики коэффициента отражения в случае, когда измеренные сигналы находятся в пикосекундном диапазоне длительностей (единицы-десятки пикосекунд).

Например, рассеянный образцом сигнал Vc имеет приближенно гауссовскую форму и его длительность составляет tu=20 пс. Активная ширина спектра (в которой содержится 95% энергии) такого сигнала составляет ГГц [Ицхоки Я.С., Овчинников Н.И. Импульсные и цифровые устройства. М.: Советское радио, 1973. 592 с.]. При регистрации данный сигнал был дискретизирован с временным шагом Δt=0,5 пс с числом отсчетов N0=500, что удовлетворяет теореме Котельникова [Карташев В.Г. Основы теории дискретных сигналов и цифровых фильтров: Учеб. пособие для вузов. М.: Высш. школа, 1982. 109 с.]. В таком случае шаг по частоте дискретной функции спектральной плотности составляет ГГц, что в сверхшироком диапазоне измерений, например, до 40 ГГц дает всего десять значащих точек частотной характеристики коэффициента отражения. На практике требуемое частотное разрешение в диапазоне до 40 ГГц составляет не менее 100 МГц, что соответствует 400 значащим точкам частотной характеристики коэффициента отражения. Увеличение количества точек N0 пропорционально приводит к уменьшению шага Δt при той же длительности импульса, соответственно разрешение по частоте не увеличивается. В этом случае разбиение диапазона рабочих частот на поддиапазоны и линеаризация в них фазовых характеристик спектральных плотностей не приведет к улучшению соотношения «сигнал-шум», что и наблюдается в прототипе.

Техническая задача, решаемая предлагаемым способом, состоит в преодолении указанных недостатков, а именно в повышении точности измерения коэффициента отражения РПМ, в случае, когда измеренные сигналы находятся в пикосекундном диапазоне длительностей (единицы-десятки пикосекунд).

Технический результат, достигаемый при реализации предлагаемого способа, состоит в повышении точности измерений за счет уменьшения шага по частоте в частотной характеристике коэффициента отражения РПМ, а также за счет снижения шумовой составляющей измеренных импульсных сигналов методом ядерного сглаживания, при этом относительная погрешность определения частотной характеристики коэффициента отражения по сравнению с прототипом уменьшается на 10-15%.

Данный технический результат достигается за счет предлагаемого способа измерения коэффициента отражения радиопоглощающих материалов, включающего облучение образца радиопоглощающего материала и металлической пластины одинаковых размеров импульсными сверхширокополосными сигналами, регистрацию дискретных сигналов соответствующих сигналам от образца радиопоглощающего материала - выборока Vc и от металлической пластины - выборока Vm, вычисление амплитудных спектров сигналов с помощью преобразования Фурье и получении частотной характеристики коэффициента отражения как отношения амплитудных спектров, и отличающегося тем, что сверхширокополосный сигнал находится в пикосекундном диапазоне, а выборки Vc и Vm до выполнения преобразования Фурье дополняют нулевыми отсчетами до длины N, причем N=2n≥100⋅N0, где N0 - изначальная длина выборок, а затем выполняют ядерное сглаживание выборок Vc и Vm в окне Гаусса с шириной h, причем h выбирается по принципу максимального правдоподобия с исключением объектов по одному по формуле , где V - исходная выборка, Vs - сглаживающая функция, V/{i} - выборка с исключенным i-м отсчетом.

Отличительной особенностью способа является, что сверхширокополосный сигнал имеет пикосекундную длительность, а до выполнения преобразования Фурье в конце выборок Vc и Vm добавляется М нулевых отсчетов, причем:

где N0 - изначальное количество отсчетов выборок Vc и Vm. Равенство числа отсчетов степени 2 обусловлено требованиями быстрого преобразования Фурье (БПФ).

Добавление М нулевых отсчетов в конце выборок Vc и Vm не приводит к искажению спектральной плотности сигналов, так как не вносится никаких изменений в форму исходного сигнала. Однако при том же временном шаге Δt в этом случае шаг по частоте уменьшается относительно шага по частоте по крайней мере в 100 раз:

Отличительной особенностью способа является также, что до выполнения преобразования Фурье для улучшения соотношения «сигнал-шум» производится ядерное сглаживание выборок Vc и Vm по формуле (3) [Хардле В. Прикладная непараметрическая регрессия. М.: Мир, 1993. 349 с.]:

где Vs - сглаженный сигнал, V - исходный сигнал (Vc или Vm), К(х) - функция ядра Гаусса, h - ширина окна сглаживания.

Функция ядра Гаусса определяется выражением (4):

Ширина окна h определяется по принципу максимального правдоподобия со скользящим исключением объектов по одному (leave-one-out) [М.П. Кузнецов, А.А. Мафусаилов, Н.К. Животовский. Сглаживающие алгоритмы прогнозирования // Машинное обучение и анализ данных. 2011. Т. 1. №1. С. 104-112.]. Для этого вводится следующая функция (5):

где V/{i} - выборка с исключенным i-м значением.

Значение h0, соответствующее минимуму функции LOO(h,V), является оптимальным.

В результате частотную характеристику коэффициента отражения радиопоглощающего материала КРПМ находят по формуле (6):

i=0…N0-1

где Sc и Sm - функции спектральных плотностей сглаженных сигналов Vc и Vm, соответственно, найденные с помощью быстрого преобразования Фурье. Повышения точности измерений достигается за счет того, что при ядерном сглаживания измерительного сигнала улучшается соотношение «сигнал-шум». При этом выбор окна сглаживания в соответствии с соотношением (5) не приводит к искажению формы импульса, а следовательно, и к искажению формы дискретной функции спектральной плотности.

Пример реализации способа

С помощью устройства для измерения коэффициента отражения радиопоглощающих материалов, описанного в [Пат. №155117], были поочередно облучены образец РПМ и металлическая пластина и зарегистрированы два сигнала: Vc - рассеянный образцом и Vm - рассеянный металлической пластиной. Дискретные сигналы Vc и Vm, зарегистрированные приемником, имеют шаг по времени между отсчетами Δt=0,5 пс и количество отсчетов N0=500.

Для улучшения разрешения частотной характеристики коэффициента отражения по частоте дискретные сигналы дополнены нулевыми отсчетами:

Затем по формулам (3)-(5) найдено оптимальное значение ширины окна сглаживания и выполнено ядерное сглаживание сигналов Vc и Vm. На Фиг. 1 показаны значения функций LOO(h, Vc) и LOO(h, Vm) и оптимальные значения ширины окна: 4,8 для сигнала Vc и 4,2 для сигнала Vm. На Фиг. 2 показаны исходные (серым цветом) и сглаженные (черным цветом) при помощи ядерного сглаживания сигналы Vc и Vm.

Затем с помощью быстрого преобразования Фурье сигналов Vc и Vm, вычислялись амплитудные спектры Sc и Sm соответственно и находилась частотная характеристика коэффициента отражения как отношение амплитудных спектров по формуле (6). На Фиг. 3 показана частотная характеристика коэффициента отражения образца РПМ в диапазоне от 10 до 30 ГГц: ломаная К1 является кусочно-линейной аппроксимацией частотной характеристики коэффициента отражения, полученной при реализации способа-прототипа, кривая К2 получена при реализации настоящего способа. В диапазоне от 10 до 30 ГГц характеристика, представленная ломаной К1 имеет 5 значащих точек, а кривая К2 - 655 точек. Наибольшая разница между значениями К1 и К2 в данном диапазоне составляет δ=14,8% на частоте 26 ГГц.

Способ измерения коэффициента отражения радиопоглощающих материалов, включающий облучение образца радиопоглощающего материала и металлической пластины одинаковых размеров импульсными сверхширокополосными сигналами, регистрацию дискретных сигналов соответствующих сигналам от образца радиопоглощающего материала - выборока V и от металлической пластины - выборока V, вычисление амплитудных спектров сигналов с помощью преобразования Фурье и получении частотной характеристики коэффициента отражения как отношения амплитудных спектров, отличающийся тем, что сверхширокополосный сигнал находится в пикосекундном диапазоне, а выборки V и V до выполнения преобразования Фурье дополняют нулевыми отсчетами до длины N, причем N=2≥100⋅N, где N - изначальная длина выборок, а затем выполняют ядерное сглаживание выборок V и V в окне Гаусса с шириной h, причем h выбирается по принципу максимального правдоподобия с исключением объектов по одному по формуле , где V - исходная выборка, V - сглаживающая функция, V/{i} - выборка с исключенным i-м отсчетом.
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ РАДИОПОГЛОЩАЮЩИХ МАТЕРИАЛОВ
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ РАДИОПОГЛОЩАЮЩИХ МАТЕРИАЛОВ
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ РАДИОПОГЛОЩАЮЩИХ МАТЕРИАЛОВ
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ РАДИОПОГЛОЩАЮЩИХ МАТЕРИАЛОВ
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ РАДИОПОГЛОЩАЮЩИХ МАТЕРИАЛОВ
Источник поступления информации: Роспатент

Showing 1-10 of 29 items.
10.02.2013
№216.012.2445

Устройство для измерения формы поверхности трехмерного объекта

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к профилометрии, топографии. Устройство для измерения формы поверхности трехмерного объекта в координатах X, Y, Z включает матрицу зондов, в нижней части которых жестко закреплен щуп, а в верхней части - светоотражательный элемент,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002474787
Дата охранного документа: 10.02.2013
10.08.2014
№216.012.e7de

Способ термостабилизации фотодиода для измерения его электрических характеристик

Изобретение относится к технике фотометрии и предназначено для повышения точности измерения электрических характеристик фотодиода. Способ заключается в том, что исследуемую электрическую характеристику измеряют в выбранной последовательности точек, осуществляя контроль температуры с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002525151
Дата охранного документа: 10.08.2014
27.08.2014
№216.012.f035

Способ определения внутренней квантовой эффективности полупроводникового фотодиода по его вольт-амперным характеристикам

Изобретение относится к технике фотометрии и предназначено для метрологического определения внутренней квантовой эффективности полупроводникового фотодиода по его вольт-амперным характеристикам. Известен способ калибровки фотодиодов - метод электрического смещения на окисле. Чтобы...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002527312
Дата охранного документа: 27.08.2014
27.08.2014
№216.012.f039

Интерференционный микроскоп

Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в биологии, медицине, машиностроении, оптическом приборостроении. Интерференционный микроскоп содержит микроскоп светлого поля для формирования увеличенного изображения объекта в задней фокальной плоскости, 4f оптическую систему из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002527316
Дата охранного документа: 27.08.2014
20.10.2014
№216.013.0032

Косметологическое устройство для фотофореза микроэлементов

Изобретение относится к области медицинской и эстетической косметологии. В устройстве для фотофореза основным действующим фактором является воздействие линейчатого спектра ряда химических элементов, испускаемого катодом таким образом, что суммарная мощность составляет величину порядка 1 мВт....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002531442
Дата охранного документа: 20.10.2014
10.07.2015
№216.013.60a8

Способ измерения геометрических параметров несферических частиц в жидкости по деполяризованному динамическому рассеянию света и устройство для его осуществления

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим методам измерения параметров несферических дисперсных частиц, взвешенных в жидкости. Способ заключается в измерении зависимостей интенсивности рассеянного излучения от времени при нескольких положениях поляризационного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002556285
Дата охранного документа: 10.07.2015
20.08.2015
№216.013.6f02

Способ учета влияния нестабильности излучения лазера при воспроизведении и передаче единицы мощности

Изобретение относится к области фотометрии и касается способа учета влияния нестабильности лазера при воспроизведении и передаче единицы мощности. При проведении измерений используют два измерительных преобразователя, постоянные времени которых отличаются не менее чем на два порядка. По...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002559988
Дата охранного документа: 20.08.2015
20.06.2016
№217.015.0338

Устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов

Изобретение относится к области измерительной техники и касается устройства для измерения энергии мощных импульсов лазерного излучения. Устройство включает в себя источник лазерного излучения, рассеивающую среду, световолоконный коллектор, ослабитель лазерного излучения, фотодиод,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002587690
Дата охранного документа: 20.06.2016
20.08.2016
№216.015.4b84

Многоканальное устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов проходного типа

Изобретение относится к области измерительной техники и касается устройства для измерения энергии мощных импульсов лазерного излучения. Устройство включает в себя источник лазерного излучения, рассеивающую среду, световолоконные коллекторы, ослабители лазерного излучения, фотодиоды,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002594634
Дата охранного документа: 20.08.2016
10.08.2016
№216.015.5419

Устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов проходного типа

Изобретение относится к области измерительной техники и касается устройства для измерения энергии мощных импульсов лазерного излучения. Устройство включает в себя источник лазерного излучения, рассеивающую среду, световолоконный коллектор, ослабитель лазерного излучения, фотодиод,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002593918
Дата охранного документа: 10.08.2016
Showing 1-10 of 24 items.
10.02.2013
№216.012.2445

Устройство для измерения формы поверхности трехмерного объекта

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к профилометрии, топографии. Устройство для измерения формы поверхности трехмерного объекта в координатах X, Y, Z включает матрицу зондов, в нижней части которых жестко закреплен щуп, а в верхней части - светоотражательный элемент,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002474787
Дата охранного документа: 10.02.2013
10.08.2014
№216.012.e7de

Способ термостабилизации фотодиода для измерения его электрических характеристик

Изобретение относится к технике фотометрии и предназначено для повышения точности измерения электрических характеристик фотодиода. Способ заключается в том, что исследуемую электрическую характеристику измеряют в выбранной последовательности точек, осуществляя контроль температуры с...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002525151
Дата охранного документа: 10.08.2014
27.08.2014
№216.012.f035

Способ определения внутренней квантовой эффективности полупроводникового фотодиода по его вольт-амперным характеристикам

Изобретение относится к технике фотометрии и предназначено для метрологического определения внутренней квантовой эффективности полупроводникового фотодиода по его вольт-амперным характеристикам. Известен способ калибровки фотодиодов - метод электрического смещения на окисле. Чтобы...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002527312
Дата охранного документа: 27.08.2014
27.08.2014
№216.012.f039

Интерференционный микроскоп

Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в биологии, медицине, машиностроении, оптическом приборостроении. Интерференционный микроскоп содержит микроскоп светлого поля для формирования увеличенного изображения объекта в задней фокальной плоскости, 4f оптическую систему из...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002527316
Дата охранного документа: 27.08.2014
20.10.2014
№216.013.0032

Косметологическое устройство для фотофореза микроэлементов

Изобретение относится к области медицинской и эстетической косметологии. В устройстве для фотофореза основным действующим фактором является воздействие линейчатого спектра ряда химических элементов, испускаемого катодом таким образом, что суммарная мощность составляет величину порядка 1 мВт....
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002531442
Дата охранного документа: 20.10.2014
10.07.2015
№216.013.60a8

Способ измерения геометрических параметров несферических частиц в жидкости по деполяризованному динамическому рассеянию света и устройство для его осуществления

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим методам измерения параметров несферических дисперсных частиц, взвешенных в жидкости. Способ заключается в измерении зависимостей интенсивности рассеянного излучения от времени при нескольких положениях поляризационного...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002556285
Дата охранного документа: 10.07.2015
20.08.2015
№216.013.6f02

Способ учета влияния нестабильности излучения лазера при воспроизведении и передаче единицы мощности

Изобретение относится к области фотометрии и касается способа учета влияния нестабильности лазера при воспроизведении и передаче единицы мощности. При проведении измерений используют два измерительных преобразователя, постоянные времени которых отличаются не менее чем на два порядка. По...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002559988
Дата охранного документа: 20.08.2015
20.06.2016
№217.015.0338

Устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов

Изобретение относится к области измерительной техники и касается устройства для измерения энергии мощных импульсов лазерного излучения. Устройство включает в себя источник лазерного излучения, рассеивающую среду, световолоконный коллектор, ослабитель лазерного излучения, фотодиод,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002587690
Дата охранного документа: 20.06.2016
20.08.2016
№216.015.4b84

Многоканальное устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов проходного типа

Изобретение относится к области измерительной техники и касается устройства для измерения энергии мощных импульсов лазерного излучения. Устройство включает в себя источник лазерного излучения, рассеивающую среду, световолоконные коллекторы, ослабители лазерного излучения, фотодиоды,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002594634
Дата охранного документа: 20.08.2016
10.08.2016
№216.015.5419

Устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов проходного типа

Изобретение относится к области измерительной техники и касается устройства для измерения энергии мощных импульсов лазерного излучения. Устройство включает в себя источник лазерного излучения, рассеивающую среду, световолоконный коллектор, ослабитель лазерного излучения, фотодиод,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002593918
Дата охранного документа: 10.08.2016
+ добавить свой РИД