×
12.01.2017
217.015.60ca

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ДИХРОГРАФОВ КРУГОВОГО ДИХРОИЗМА

Вид РИД

Изобретение

Юридическая информация Свернуть Развернуть
Краткое описание РИД Свернуть Развернуть
Аннотация: Изобретение относится к оптическим устройствам, имитирующим вещество, обладающее круговым дихроизмом (КД), с возможностью регулирования величины задаваемого эффекта в широком диапазоне значений на выбранной длине волны, служащее для калибровки дихрографов кругового дихроизма. Устройство содержит линейный поляризатор и фазовую пластину, которая обеспечивает разность хода между обыкновенным и необыкновенным лучами ((2m+1)·λ/4), где m - целое число, λ - длина волны света. В качестве поляризатора используется изотропная прозрачная пластина диэлектрика с возможностью регулируемого наклона относительно оси, перпендикулярной направлению распространения света и составляющей угол 45° с главными направлениями фазовой пластины. Техническим результатом является возможность имитировать вещество, обладающее КД в широком диапазоне значений величины КД на выбранной длине волны без использования реальных оптически активных веществ, с отсутствием линейной поляризации света на выходе из устройства. 5 ил.
Реферат Свернуть Развернуть

Изобретение относится к оптическим устройствам, имитирующим вещество, обладающее круговым дихроизмом (КД), с возможностью регулирования величины задаваемого эффекта в широком диапазоне значений на выбранной длине волны, служащее для калибровки приборов и для измерения величины кругового дихроизма.

Круговой дихроизм (циркулярный дихроизм) - один из эффектов оптической анизотропии, проявляющийся в различии коэффициентов поглощения света, поляризованного по правому и левому кругу. Спектры КД удобны для использования на практике, поскольку, как правило, содержат узкие, хорошо разрешимые полосы, характерные для каждого вещества. Этим объясняется то, что в настоящее время метод измерения КД используется очень широко в различных областях науки, особенно химии, медицине, биофизике. КД является новейшим чувствительным методом исследования строения молекул. Важным аспектом измерения КД является точность калибровки величины сигнала, поскольку величина эффекта обычно не превосходит долей процента от значения коэффициента поглощения в неполяризованном свете.

В настоящее время калибровка дихрографов кругового дихроизма, как правило, производится с применением оптически активного вещества - эталона, величина КД которого известна на определенной длине волны. Например, в заявке [РФ №2013123106, МПК G01N 21/00, опубл. 27.11.2014 г.] предлагается использовать полимерный оптически активный материал, представляющий собой гель, в котором распределены и иммобилизованы частицы двухцепочечных молекул нуклеиновых кислот, обладающие характерным для них аномальным круговым дихроизмом с заданной по величине характеристикой сигнала при облучении циркулярно-поляризованным излучением на дискретной длине волны в УФ-диапазоне спектра и сохраняющие эту характеристику при хранении в течение нескольких месяцев после его изготовления.

Однако использование эталонных веществ имеет ряд недостатков. В первую очередь, это нестабильность заданной величины сигнала во времени и при воздействии различных факторов (температуры, давления, влажности и т.д.). Во-вторых, каждое эталонное вещество характеризуется ограниченным количеством пиков КД и не существует веществ с достаточным количеством пиков в широком спектральном интервале, что приводит к необходимости иметь много эталонных веществ с характерными особенностями на разных длинах волн. Кроме того, необходимо, чтобы величина эффекта эталонного вещества была близка к величине эффекта измеряемого вещества в диапазоне 10-6-10-1. А если принять во внимание нестабильность растворов химических веществ, то становится ясным, с какими сложностями сталкиваются исследователи и практические работники при калибровке приборов КД.

Все это требует создания новых типов оптических устройств, предназначенных для калибровки дихрографов кругового дихроизма, в которых можно задавать стабильную по времени необходимую величину КД в любой части спектра без использования реальных оптически активных веществ.

Наиболее близким по техническому решению к предлагаемому устройству является устройство, описанное в работе [Костюк Г.К. Устройство для калибровки дихрографа в широкой области спектра / Г.К. Костюк, Е.К. Галанов, М.В. Лейкин // Оптико-механическая промышленность. - 1976. - №5. - С. 28-31], задающее любое значение дихроизма в широком диапазоне длин волн и не требующее конкретного химического соединения. Это устройство представляет собой комбинацию четвертьволновой пластинки и линейного поляризатора. Азимут пластинки - 0 градусов, азимут поляризатора - 45 градусов по отношению к горизонтальной плоскости. При повороте поляризатора вокруг луча на некоторый угол θ в нем появится дихроизм, как и в случае прохождения света через реальное вещество с величиной дихроизма Δε. Если один из компонентов устройства колеблется, то световой поток окажется частично модулированным по амплитуде. При этом величина КД равна

Таким образом, задавая угол θ и наблюдая за изменением величины переменного сигнала (U), несущего информацию об измеряемом дихроизме, можно установить коэффициент пропорциональности К для выражения

Впоследствии, зная этот коэффициент, можно достаточно легко пересчитать величину сигнала в величину измеряемого дихроизма.

Однако это устройство имеет существенный недостаток. После прохождения через него свет имеет почти 100% линейную поляризацию, так как на выходе стоит линейный поляризатор (при задании малых величин кругового дихроизма свет становится эллиптически поляризованным с большим отношением осей). Высокая степень линейной поляризации света может вносить искажения в результаты измерений, поскольку в общей схеме спектрометров по измерению КД находятся различные элементы, чувствительные к линейной поляризации, например линзы, призмы, приемник и т.д., что ограничивает возможности применения данного устройства для калибровки КД дихрографов.

Техническим результатом изобретения является создание устройства, позволяющего имитировать вещество, обладающее КД в широком диапазоне значений на выбранной длине волны без использования реальных оптически активных веществ, с отсутствием линейной поляризации света на выходе из устройства.

Технический результат достигается тем, что в устройстве для калибровки дихрографов кругового дихроизма, содержащем линейный поляризатор и фазовую пластину, новым является то, что фазовая пластина обеспечивает разность хода между обыкновенным и необыкновенным лучами ((2m+1)λ/4), а в качестве поляризатора используется изотропная прозрачная пластина диэлектрика с возможностью регулируемого наклона относительно оси, перпендикулярной направлению распространения света и составляющей угол 45° с главными направлениями фазовой пластины.

Отличия заявляемого устройства от прототипа заключаются в том, что в заявляемом изобретении используется сочетание фазовой пластины, обеспечивающей разность хода, равную ((2m+1)λ/4), а в качестве поляризатора используется изотропная прозрачная пластина диэлектрика с возможностью регулирования угла наклона относительно оси, перпендикулярной направлению распространения света и составляющей угол 45° с главным направлениями фазовой пластины. Перечисленные выше признаки позволяют сделать вывод о соответствии заявляемого технического решения критерию «новизна».

При изучении других известных технических решений в данной области техники признаки, отличающие заявляемое изобретение от прототипа, не выявлены, и потому они обеспечивают заявляемому техническому решению соответствие критерию «изобретательский уровень».

На фиг. 1 приведена схема устройства для задания кругового дихроизма. На фиг. 2 представлен ход лучей при наклонном падении света из воздуха на изотропную прозрачную пластину диэлектрика. На фиг. 3 представлена зависимость коэффициентов отражения s- и р-волн от угла падения для кварцевого стекла для λ=550 нм. На фиг. 4 приведена зависимость величины КД устройства от угла наклона изотропной стеклянной пластины. На фиг. 5 приведена рабочая область углов наклона изотропной стеклянной пластины и величин КД.

Устройство содержит наклонную изотропную прозрачную пластину диэлектрика (1) и фазовую пластину (2), вырезанную из одноосного кристалла параллельно его оптической оси, для которой выполняется условие(no-ne)d=(2m+1)λ/4, где m - любое целое число либо ноль, no и ne показатели преломления лучей, электрические колебания которых происходят вдоль оптической оси кристалла (обыкновенный луч) и перпендикулярно к оси (необыкновенный луч), d - толщина пластины. При прохождении света через такую фазовую пластину лучи приобретают разность фаз, равную (2m+l)π/2. Фазовая пластина (2) расположена перпендикулярно к направлению распространения света. Изотропная прозрачная пластина диэлектрика имеет возможность регулирования угла наклона относительно оси OO′, проходящей перпендикулярно к направлению распространения света и под 45° к главным осям фазовой пластины. Изменение угла наклона α изотропной пластины приводит к изменению степени частичной линейной поляризации проходящего через нее луча от 0 (при α=0°) до максимального значения (при α, равном углу Брюстера для материала пластины). После прохождения светом изотропной прозрачной пластины частично линейно поляризованный свет попадает на фазовую пластину, при этом угол между плоскостью линейной поляризации света и главными направлениями фазовой пластины составляет 45°. Это условие приводит к тому, что частичная линейная поляризация света полностью преобразуется в частичную круговую поляризацию на выходе из устройства. Полученный таким образом сигнал тождественен прохождению света через оптически активное вещество с КД.

Устройство работает следующим образом.

В естественном (неполяризованном) свете все направления колебаний электрического поля равновероятны, и его можно представить как сумму двух линейно поляризованных волн равной интенсивности, в которых колебания происходят, соответственно, параллельно (р-поляризация) и перпендикулярно плоскости падения (s-поляризация) света. При нормальном падении света на пластину свет остается неполяризованным. При наклонном падении света на изотропную прозрачную пластину диэлектрика (фиг. 2) происходит изменение поляризации отраженного и преломленного лучей: в отраженном луче уменьшается интенсивность р-волны, а в проходящем s-волны, что приводит к частичной линейной поляризации проходящей и отраженной волн. Степень линейной поляризации ΔK зависит от угла падения света на изотропную пластину и ее показателя преломления и определяется с помощью формул Френеля [Лансберг Г.С. Оптика / Г.С. Лансберг. - Москва: Из-во Наука, 1976. - 928 с.]

где rs - коэффициент отражения s-волны; rp - коэффициент отражения р-волны; α - угол падения световой волны; β - угол преломления световой волны; n - показатель преломления; ΔK - степень поляризации проходящего луча. На фиг. 3 изображены зависимости коэффициентов отражения s- и р-волн от угла падения на границе раздела воздух-стекло. Видно, что при некотором угле падения света коэффициент rp=0 и, соответственно, степень поляризации преломленного и отраженного лучей будет максимальна. Это условие выполняется, когда (α+β)=π/2, при угле падения Брюстера:

Поскольку свет, проходя через наклонную изотропную прозрачную пластину, пересекает две грани, то степень линейной поляризации света прошедшего через нее света следует рассчитывать по формуле

После прохождения света через наклонную изотропную прозрачную пластину частично линейно поляризованный свет попадает на фазовую пластину, расщепляющую поляризованный пучок света на две компоненты, электрические колебания которых происходят вдоль оптической оси кристалла (обыкновенный луч) и перпендикулярно к оси (необыкновенный луч), и создающую разность хода между этими лучами, определяемую формулой , где m - любое целое число либо ноль, no и ne - показатели преломления обыкновенного и необыкновенного лучей.

При прохождении частично линейно поляризованного луча через такую фазовую пластину неполяризованная компонента луча совершенно не изменяется, а линейно поляризованная компонента преобразуется в эллиптическую. Так как плоскость частичной поляризации волны составляет 45° с главными направлениями фазовой пластинки, то частичная линейная поляризация света полностью преобразуется в частичную круговую поляризацию света при прохождении данной фазовой пластинки. В результате получится сигнал, тождественный сигналу после прохождению света через оптически активное вещество с КД, с полным отсутствием линейной поляризации луча на выходе из устройства. Изменение угла наклона изотропной пластины позволяет на выходе из устройства задавать величину КД в широком диапазоне значений на выбранной длине волны.

После прохождения световой волны через предлагаемое устройство определяется значение сигнала, соответствующее заданной величине КД, и калибровка дихрографов КД осуществляется путем выявления соответствия, между характеристиками регистрируемого системой оптического сигнала и известной величиной КД предлагаемого устройства.

Для подтверждения идентичности круговой поляризации света, создаваемой предлагаемым устройством, и круговой поляризации, возникающей в реальной оптически активной среде, проведем описание поведения света с помощью матриц Мюллера [Шерклифф У. Поляризованный свет / У. Шерклифф. // - Москва: Изд-во Мир, пер. с англ., 1965. - 264 с.].

Световому потоку любой поляризации в матричном представлении Мюллера можно сопоставить единственный столбец-вектор Стокса:

четыре параметра которого соответствует усредненной по времени интенсивности. Первый параметр I называется интенсивностью. Параметры М, С и S называются, соответственно, параметрами преимущественной горизонтальной поляризации, преимущественной поляризации под углом 45° и преимущественной правоциркулярной поляризации. Отрицательная величина параметра соответствует преимущественной ортогональной форме поляризации.

Выражения, описывающие любое оптическое устройство (поляризатор, фазовую пластинку и т.д.), являются матрицей Мюллера размерности 4×4. Конкретные матрицы характеризуют не только само устройство, но и его ориентацию (азимут). Для получения вектора Стокса, характеризующего световой поток, прошедший совокупность устройств, необходимо перемножить соответствующие матрицы по обычным правилам матричной алгебры с соблюдением следующих условий: вектор, представляющий падающий свет, записывается справа, а матрицы, соответствующие различным устройствам, располагаются последовательно справа налево.

Запишем матрицы Мюллера, описывающие прохождение естественного света через вещество с КД и прохождение света через предлагаемое устройство, состоящее из наклонной изотропной прозрачной пластины диэлектрика и фазовой пластины.

Случай 1. Естественный свет, проходит через вещество с КД

где - коэффициенты пропускания + и - круговых волн.

Случай 2. Естественный свет проходит через наклонную изотропную пластинку и далее через фазовую пластину

где - коэффициенты пропускания + и - круговых волн.

I- Вектор Стокса для неполяризованного света.

II - Вещество с круговым дихроизмом (понятие азимута не имеет смысла).

III - Результат прохождения света через вещество с КД.

IV - Наклонная изотропная пластина с азимутом 45° (устройство с линейным дихроизмом).

V - Фазовая пластинка, создающую разность хода между обыкновенным и необыкновенным лучами в четверть длины волны (азимут=45°).

VI - Результат прохождения света через описываемое устройство.

Сравнивая результаты, полученные после прохождения света через вещество с КД и после прохождения света через предлагаемое устройство, можно утверждать, что состояния световой волны в обоих случаях идентичны. Таким образом, прохождение света через предлагаемое устройство полностью тождественно прохождению света через вещество с КД.

В качестве наклонной изотропной прозрачной пластины берем пластину из плавленого кварца, у которой для длины волны λ=550 нм показатель преломления равен n=1.46. При нормальном падении на пластину светового луча степень поляризации проходящего света равна нулю, а при увеличении угла наклона степень поляризации и, как следствие, величина дихроизма будет расти и при угле наклона, равном углу Брюстера (в данном случае α=αБ=55.6°), степень линейной поляризации проходящего луча, рассчитанная по формуле (6), достигнет максимума и будет равна после прохождения двух граней пластины (формула (7)) ≈ 13%. После прохождения волной фазовой пластины значение КД будет иметь эту же величину. Это означает, что с помощью данного устройства можно задавать величину КД в пределах от 0 до 0.13.

Для длины волны λ=550 нм минимальная толщина фазовой пластины, выполненной из кристаллического кварца, будет равна 15.3 мкм (так как no=1.545 ne=1.554 и

К примеру, при угле наклона φ=10°, рассчитанная по формуле (6) степень линейной поляризации при прохождении одной грани будет равна 0.168%. А на выходе из пластины Δ=0.336%, что даст величину КД в этом случае, равную 0.00336.

На фиг. 4 представлен график зависимости задаваемой величины КД от угла наклона изотропной пластины на λ=550 нм, показатель преломления которой равен n=1.46. В действительности, величина КД реальных оптически активных веществ, как правило, не превышает 10-2, соответственно, рабочими углами поворота стеклянной пластины является область малых углов ≈ до 10°. Эта область приведена на фиг. 5.

Устройство для калибровки дихрографов кругового дихроизма, содержащее линейный поляризатор и фазовую пластину, отличающееся тем, что фазовая пластина обеспечивает разность хода между обыкновенным и необыкновенным лучами ((2m+1)·λ/4), где m - целое число, λ - длина волны света, а в качестве поляризатора используется изотропная прозрачная пластина диэлектрика с возможностью регулируемого наклона относительно оси, перпендикулярной направлению распространения света и составляющей угол 45° с главными направлениями фазовой пластины.
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ДИХРОГРАФОВ КРУГОВОГО ДИХРОИЗМА
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ДИХРОГРАФОВ КРУГОВОГО ДИХРОИЗМА
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ДИХРОГРАФОВ КРУГОВОГО ДИХРОИЗМА
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ДИХРОГРАФОВ КРУГОВОГО ДИХРОИЗМА
Источник поступления информации: Роспатент

Showing 1-10 of 28 items.
20.12.2013
№216.012.8d6d

Способ получения аморфных магнитных пленок со-р

Изобретение относится к области химического осаждения аморфных магнитных пленок Co-P, например, на полированное стекло и может быть использовано в вычислительной технике. Способ включает очистку стеклянной подложки, двойную сенсибилизацию в растворе хлористого олова с промежуточной обработкой в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002501888
Дата охранного документа: 20.12.2013
20.01.2014
№216.012.9903

Микрополосковый широкополосный полосно-пропускающий фильтр

Изобретение относятся к технике сверхвысоких частот и предназначено для частотной селекции сигналов. Технический результат заключается в расширении высокочастотной полосы заграждения полосно-пропускающего микрополоскового фильтра и уменьшении его размеров. Микрополосковый фильтр содержит...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002504870
Дата охранного документа: 20.01.2014
10.05.2014
№216.012.c09e

Сквид-магнитометр для фотомагнитных исследований

Изобретение относится к измерительной технике, представляет собой СКВИД-магнитометр для фотомагнитных исследований и может быть использовано для измерения переменных магнитных величин при проведении магнитных измерений при изучении физики магнитных явлений, фотоиндуцированного магнетизма,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002515059
Дата охранного документа: 10.05.2014
10.05.2014
№216.012.c28f

Управляемый фазовращатель

Управляемый фазовращатель относится к технике высоких и сверхвысоких частот и может использоваться для управления фазой сигналов в антенных решетках и системах передачи информации. Достигаемый технический результат - упрощение конструкции. Управляемый фазовращатель содержит...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002515556
Дата охранного документа: 10.05.2014
20.08.2014
№216.012.eb76

Спин-стекольный магнитный материал

Изобретение относится к разработке новых магнитных материалов с магнитным состоянием спинового стекла и может найти применение в химической промышленности и электронной технике, в частности, для разработки моделей новых типов устройств магнитной памяти. Спин-стекольный магнитный материал...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002526086
Дата охранного документа: 20.08.2014
10.09.2014
№216.012.f2b9

Способ получения порошков гидрида магния в плазме высокочастотной дуги

Изобретение относится к неорганической химии и может быть использовано при гидрировании металла, в частности магния. Способ получения порошков гидрида магния в плазме высокочастотной дуги заключается в диспергировании порошка Mg в присутствии катализатора Ni в потоке гелия и водорода в плазме...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002527959
Дата охранного документа: 10.09.2014
10.10.2014
№216.012.fc69

Способ измерения магнитного момента образцов на сквид-магнитометре

Изобретение относится к устройствам для измерения переменных магнитных величин и может быть использовано при проведении магнитных измерений в следующих областях: физика магнитных явлений, палеомагнетизм, биомагнетизм. В способе измерения магнитного момента образцов на СКВИД-магнитометре,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002530463
Дата охранного документа: 10.10.2014
20.12.2014
№216.013.1081

Устройство для измерения поглощающей и излучающей способностей тонкопленочного образца

Изобретение относится к области теплометрии и может быть использовано для измерения поглощающей и излучающей способностей тонкопленочных образцов, например образцов теплозащитных экранов, используемых в космической промышленности. Устройство для измерения поглощающей и излучающей способностей...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002535648
Дата охранного документа: 20.12.2014
20.12.2014
№216.013.1234

Датчик слабых высокочастотных магнитных полей

Изобретение относится к измерительной технике, представляет собой датчик слабых высокочастотных магнитных полей и может применяться в первую очередь в магнитометрии. Датчик содержит диэлектрическую подложку, на верхней стороне которой нанесены полосковые проводники двух микрополосковых...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002536083
Дата охранного документа: 20.12.2014
10.01.2015
№216.013.19fa

Оптический многослойный полосно-пропускающий фильтр

Фильтр может быть использован в оптических устройствах связи и спектрометрах комбинационного рассеяния света. Фильтр содержит симметричную конструкцию из чередующихся диэлектрических слоев с высоким и низким показателем преломления, образующую систему однослойных резонаторов, разделенных один...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538078
Дата охранного документа: 10.01.2015
Showing 1-10 of 30 items.
20.12.2013
№216.012.8d6d

Способ получения аморфных магнитных пленок со-р

Изобретение относится к области химического осаждения аморфных магнитных пленок Co-P, например, на полированное стекло и может быть использовано в вычислительной технике. Способ включает очистку стеклянной подложки, двойную сенсибилизацию в растворе хлористого олова с промежуточной обработкой в...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002501888
Дата охранного документа: 20.12.2013
20.01.2014
№216.012.9903

Микрополосковый широкополосный полосно-пропускающий фильтр

Изобретение относятся к технике сверхвысоких частот и предназначено для частотной селекции сигналов. Технический результат заключается в расширении высокочастотной полосы заграждения полосно-пропускающего микрополоскового фильтра и уменьшении его размеров. Микрополосковый фильтр содержит...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002504870
Дата охранного документа: 20.01.2014
10.05.2014
№216.012.c09e

Сквид-магнитометр для фотомагнитных исследований

Изобретение относится к измерительной технике, представляет собой СКВИД-магнитометр для фотомагнитных исследований и может быть использовано для измерения переменных магнитных величин при проведении магнитных измерений при изучении физики магнитных явлений, фотоиндуцированного магнетизма,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002515059
Дата охранного документа: 10.05.2014
10.05.2014
№216.012.c28f

Управляемый фазовращатель

Управляемый фазовращатель относится к технике высоких и сверхвысоких частот и может использоваться для управления фазой сигналов в антенных решетках и системах передачи информации. Достигаемый технический результат - упрощение конструкции. Управляемый фазовращатель содержит...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002515556
Дата охранного документа: 10.05.2014
20.08.2014
№216.012.eb76

Спин-стекольный магнитный материал

Изобретение относится к разработке новых магнитных материалов с магнитным состоянием спинового стекла и может найти применение в химической промышленности и электронной технике, в частности, для разработки моделей новых типов устройств магнитной памяти. Спин-стекольный магнитный материал...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002526086
Дата охранного документа: 20.08.2014
10.09.2014
№216.012.f2b9

Способ получения порошков гидрида магния в плазме высокочастотной дуги

Изобретение относится к неорганической химии и может быть использовано при гидрировании металла, в частности магния. Способ получения порошков гидрида магния в плазме высокочастотной дуги заключается в диспергировании порошка Mg в присутствии катализатора Ni в потоке гелия и водорода в плазме...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002527959
Дата охранного документа: 10.09.2014
10.10.2014
№216.012.fc69

Способ измерения магнитного момента образцов на сквид-магнитометре

Изобретение относится к устройствам для измерения переменных магнитных величин и может быть использовано при проведении магнитных измерений в следующих областях: физика магнитных явлений, палеомагнетизм, биомагнетизм. В способе измерения магнитного момента образцов на СКВИД-магнитометре,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002530463
Дата охранного документа: 10.10.2014
20.12.2014
№216.013.1081

Устройство для измерения поглощающей и излучающей способностей тонкопленочного образца

Изобретение относится к области теплометрии и может быть использовано для измерения поглощающей и излучающей способностей тонкопленочных образцов, например образцов теплозащитных экранов, используемых в космической промышленности. Устройство для измерения поглощающей и излучающей способностей...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002535648
Дата охранного документа: 20.12.2014
20.12.2014
№216.013.1234

Датчик слабых высокочастотных магнитных полей

Изобретение относится к измерительной технике, представляет собой датчик слабых высокочастотных магнитных полей и может применяться в первую очередь в магнитометрии. Датчик содержит диэлектрическую подложку, на верхней стороне которой нанесены полосковые проводники двух микрополосковых...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002536083
Дата охранного документа: 20.12.2014
10.01.2015
№216.013.19fa

Оптический многослойный полосно-пропускающий фильтр

Фильтр может быть использован в оптических устройствах связи и спектрометрах комбинационного рассеяния света. Фильтр содержит симметричную конструкцию из чередующихся диэлектрических слоев с высоким и низким показателем преломления, образующую систему однослойных резонаторов, разделенных один...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002538078
Дата охранного документа: 10.01.2015
+ добавить свой РИД