×
10.08.2016
216.015.55f9

Результат интеллектуальной деятельности: СПОСОБ ОБРАБОТКИ ПОВЕРХНОСТИ АЛМАЗА

Вид РИД

Изобретение

Аннотация: Изобретение относится к способам обработки поверхности алмаза для его использования в электронной технике СВЧ. Способ включает взаимное расположение в одной плоскости исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали, обеспечение непосредственного контакта упомянутых поверхностей, термическую обработку исходной поверхности алмаза на заданную глубину, обеспечивающую заданную конечную поверхность алмаза, при этом предусматривающую нагрев упомянутых поверхностей в инертной среде, с заданной скоростью, вблизи температуры образования эвтектического сплава железо - углерод, выдержку при этой температуре и естественное охлаждение, при этом металлическую поверхность из стали берут с содержанием углерода 3,9-4,1 мас. %, с классом чистоты поверхности со стороны контакта упомянутых поверхностей не менее 14, контакт упомянутых поверхностей осуществляют по всей их поверхности либо локально согласно заданной конечной поверхности алмаза, нагрев упомянутых поверхностей осуществляют при температуре 1090-1135°С, в процессе нагрева исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали и выдержки осуществляют их перемещение в плоскости контакта относительно друг друга циклически, причем выдержку при упомянутой температуре осуществляют в течение времени (t, с), перемещение исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали относительно друг друга осуществляют со скоростью перемещения (v, мм/с) и количестве циклов перемещения (n), значения величин которых определяют из соответствующих выражений. Технический результат - повышение качества обработки за счет снижения шероховатости поверхности алмаза. 6 з.п. ф-лы, 1 табл., 21 пр.

Изобретение относится к различным технологическим процессам и может быть использовано в электронной технике СВЧ.

Материал алмаз благодаря уникальным свойствам - высокой твердости, высокой теплопроводности, химической инертности - находит все более широкое применение в технике, в том числе электронной технике СВЧ. Последнее сдерживает не столько стоимость самого материала алмаза, а сколько высокая трудоемкость его обработки.

Широко известен ряд способов обработки алмаза, предусматривающих комплексное, многоэтапное воздействие на алмаз различными физико-химическими методами, например методом автоклавной обработки [1, 2], либо путем облучения потоком электронов и последующего отжига в вакууме [3, 4], либо посредством ионно-лучевой обработки [5].

Данные способы предназначены в основном для улучшения декоративных свойств алмаза, отличаются значительной трудоемкостью изготовления, неэкологичностью, требуют существенных материальных и энергетических затрат, сложной аппаратуры.

Более того, данные способы за исключением последнего практически не пригодны для задач электронной техники СВЧ.

Известен способ полировки алмазных пластин, включающий обработку поверхности поликристаллических пластин алмаза трением путем взаимодействия поверхности поликристаллических пластин алмаза с вращающимся контртелом, в котором с целью улучшения чистоты обрабатываемой поверхности, повышения скорости и удешевления последний изготавливают из материала, не вступающего в реакцию с поверхностью пластин алмаза, например керамики или кварца, при этом используют ультрадисперсный порошок меди или оксида меди, нанесенный на поверхность контртела, в качестве вещества, инициирующего обработку алмаза, а обработку ведут на воздухе или в атмосфере с содержанием кислорода не менее 10% при температуре, превышающей 400°С, и с частотой вращения контртела от 1000 до 3000 об/мин [6].

Известен способ полирования поверхности поликристаллического алмаза, полученного методом осаждения из газовой фазы, заключающийся, как и предыдущий, в обработке поверхности алмаза трением путем взаимодействия поверхности алмаза с вращающимся контртелом, в котором, прежде всего, с целью уменьшения шероховатости поверхности алмаза обработку осуществляют контртелом, выполненным из упорядочивающегося сплава на основе титана, с частотой вращения контртела от 3000 до 5000 об/мин при нагрузке от 8 до 12 H [7].

Данные способы обработки алмаза отличаются низким качеством обработки, а именно:

во-первых, невысоким классом чистоты обработки поверхности алмаза и, прежде всего, высокой шероховатостью обработанной поверхности алмаза,

во-вторых, ограниченными функциональными возможностями.

Более того, последние два способа, как и предыдущие, практически не пригодны для задач электронной техники СВЧ из-за возможного разрушения обрабатываемой поверхности алмаза большим удельным давлением, поскольку электронная техника СВЧ предусматривает, как правило, использование материала алмаза малой толщины (несколько сотен микрометров).

Известен способ обработки поверхности алмаза, включающий взаимное расположение в одной плоскости исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали, обеспечение непосредственного контакта упомянутых поверхностей, термическую обработку исходной поверхности алмаза на заданную глубину, обеспечивающую заданную конечную поверхность алмаза, при этом предусматривающую нагрев упомянутых поверхностей в инертной среде, с заданной скоростью, при температуре 1150-1250°С (вблизи температуры образования эвтектического сплава железо - углерод), выдержку при этой температуре и охлаждение [8], - прототип.

Температура образования эвтектического сплава железо - углерод равна 1148°С [9].

Данный способ обработки поверхности алмаза обеспечивает шероховатость поверхности алмаза порядка 2-4 мкм.

Однако указанная шероховатость поверхности алмаза является далеко недостаточной для изготовления изделий электронной техники СВЧ.

Техническим результатом изобретения - способа обработки поверхности алмаза - является повышение качества обработки путем снижения шероховатости поверхности алмаза и расширение функциональных возможностей.

Указанный технический результат достигается заявленным способом обработки поверхности алмаза, включающим взаимное расположение в одной плоскости исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали, обеспечение непосредственного контакта упомянутых поверхностей, термическую обработку исходной поверхности алмаза на заданную глубину, обеспечивающую заданную конечную поверхность алмаза, при этом предусматривающую нагрев упомянутых поверхностей в инертной среде, с заданной скоростью, вблизи температуры образования эвтектического сплава железо - углерод, выдержку при этой температуре и естественное охлаждение, в котором

металлическую поверхность из стали берут с содержанием углерода (3,9-4,1), мас. %, с классом чистоты поверхности со стороны контакта упомянутых поверхностей не менее 14,

контакт упомянутых поверхностей осуществляют по всей их поверхности либо локально согласно заданной конечной поверхности алмаза,

нагрев упомянутых поверхностей осуществляют при температуре (1090-1135)°С,

в процессе нагрева упомянутых поверхностей - исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали - и выдержки осуществляют их перемещение в плоскости контакта относительно друг друга циклически, при этом

выдержку при упомянутой температуре осуществляют в течение времени (tвыд., сек), перемещение исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали относительно друг друга осуществляют со скоростью перемещения (vпeр., мм/сек) и при количестве циклов перемещения (n), значения которых определяют из выражений соответственно:

tвыд.=d/f(T, (Nэс-Nc)),

vпep.=lпep./tпep.,

n=tвыд./tпep.,

где d - заданная глубина термической обработки исходной поверхности алмаза, мкм,

Nэс - содержание углерода в эвтектическом сплаве железо - углерод исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали, мас. %,

Nc - содержание углерода металлической поверхности из стали, мас. %,

f (Τ, (Nэс-Nс)) - функция скорости термической обработки исходной поверхности алмаза на заданную глубину от температуры нагрева упомянутых поверхностей и разницы содержания углерода в эвтектическом сплаве железо - углерод и металлической поверхности из стали,

lпep. - заданная длина перемещения упомянутых поверхностей в одном цикле, мм,

tпep. - время одного цикла перемещения упомянутых поверхностей, сек.

Заданную конечную поверхность алмаза характеризуют качество обработки, конфигурация и форма.

Инертной средой может быть среда азота, или инертного газа, или вакуума.

Заданную скорость нагрева упомянутых поверхностей определяют исходя из метода нагрева, например метода инфракрасного излучения.

В случае осуществления контакта упомянутых поверхностей локально, металлическая поверхность из стали со стороны контакта исходной поверхности алмаза может быть выполнена с обеспечением заданной конечной поверхности алмаза.

Исходной поверхностью алмаза может быть как поверхность поликристаллического, так и монокристаллического алмаза.

Перемещение исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали относительно друг друга циклически в процессе нагрева и выдержки обеспечивают любым технологически обоснованным средством.

Раскрытие сущности изобретения

Совокупность существенных признаков заявленного способа обработки поверхности алмаза, а именно

использование металлической поверхности из стали с содержанием углерода (3,9-4,1) мас. %, с классом чистоты поверхности со стороны контакта упомянутых поверхностей не менее 14,

осуществление контакта упомянутых поверхностей по всей их поверхности либо локально согласно заданной конечной поверхности алмаза,

осуществление нагрева упомянутых поверхностей при температуре (1090-1135)°С, ниже температуры образования эвтектического сплава железо - углерод (1148°С),

обеспечивает оптимальный режим растворения углерода обрабатываемой исходной поверхности алмаза в металлической поверхности из стали, и тем самым обеспечивается управляемость технологического процесса обработки поверхности алмаза, и тем самым исключается вероятность растрава обрабатываемой исходной поверхности алмаза как в случае осуществления контакта упомянутых поверхностей по всей их поверхности, так и, что особенно важно, в случае локального контакта упомянутых поверхностей согласно заданной поверхности алмаза.

Следствием этого является:

во-первых, обеспечение высокого качества обработки, а именно обеспечение заданной конечной поверхности алмаза:

а) как по всей ее поверхности, так и локально согласно ее заданной конечной поверхности класс чистоты не хуже 14,

б) значительное снижение шероховатости ее поверхности,

в) отсутствие на ней скрытых сколов, царапин,

г) исключение необходимости дополнительной механической ее доводки-полировки;

это значительно определяет параметры изготавливаемых изделий электронной техники СВЧ,

во-вторых, расширение функциональных возможностей способа обработки благодаря возможности формирования форм заданной сложности, при этом должного качества заданной конечной поверхности алмаза,

осуществление перемещения циклически в процессе нагрева и выдержки обрабатываемой исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали относительно друг друга в плоскости контакта.

При этом при определенных величинах времени выдержки (tвыд., сек), скорости перемещения (vпер., мм/сек), количестве циклов перемещения (n), значения которых определяют из указанных выражений соответственно, при этом некоторые из последних определены экспериментальным путем, обуславливается прохождение физико-химических процессов обработки исходной поверхности алмаза в две стадии.

На первой осуществляется преимущественный контакт исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали, взаимодействие и соответственно растворение углерода алмаза в металлической поверхности из стали на их микронеровностях, и тем самым обеспечивается некоторое снижение шероховатости обрабатываемой исходной поверхности алмаза.

На второй упомянутое выше осуществляется по всей площади контакта упомянутых поверхностей, и тем самым обеспечивается, прежде всего, дальнейшее значительное снижение шероховатости и, как следствие, обеспечение максимально возможной степени качества обработки заданной конечной поверхности алмаза и, прежде всего, минимально возможной ее шероховатости.

Это особенно важно для изделий электронной техники СВЧ, при изготовлении которых требуется высокое качество поверхности алмаза, например мембран из алмаза, изделий с субмикронными размерами слоев и топологий.

Использование металлической поверхности из стали с содержанием углерода более 4,1 мас. %,

равно как и нагрев упомянутых поверхностей при температуре менее 1090°С,

равно как и время выдержки (tвыд., сек) при этой температуре менее указанного значения,

равно как и режим перемещения в процессе нагрева и выдержки исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали относительно друг друга в плоскости контакта (скорости перемещения (vпep., мм/сек), количестве циклов перемещения (n)) менее указанных значений, определяемых из указанных выражений соответственно, нежелательно, поскольку скорость растворения углерода исходной поверхности алмаза в металлической поверхности из стали становится чрезвычайно малой.

Использование металлической поверхности из стали с содержанием углерода менее 3,9 мас. %,

равно как и нагрев упомянутых поверхностей при температуре более 1135°С,

равно как и время выдержки (tвыд., сек) при этой температуре более указанного значения,

равно как и режим перемещения в процессе нагрева и выдержки обрабатываемой исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали относительно друг друга в плоскости контакта (скорости перемещения (vпер., мм/сек), количестве циклов перемещения (n)) более указанных значений, определяемых из указанных выражений соответственно, нежелательно, поскольку скорость растворения углерода обрабатываемой исходной поверхности алмаза в металлической поверхности из стали становится чрезвычайно высокой, что приводит к механическим деформациям упомянутых поверхностей.

Изобретение иллюстрируется чертежами.

На фиг. 1а, б, в, г даны изображения обрабатываемой поверхности алмаза, а именно

- исходной поверхности алмаза и профиль ее шероховатости по сечению до ее обработки (фиг. 1а, б соответственно),

- заданной конечной поверхности алмаза и профиль ее шероховатости по сечению после обработки заявленным способом (фиг. 1в, г соответственно).

Примеры реализации заявленного способа обработки поверхности алмаза

Пример 1

Исходная поверхность алмаза - поверхность пластины поликристаллического алмаза диаметром 57 мм, толщиной 300 мкм.

Изготавливают металлическую поверхность из стали с содержанием углерода 4,0, мас. %, с классом чистоты поверхности со стороны контакта исходной поверхности алмаза - пластины поликристаллического алмаза не менее 14, размером 120×60×3 мм (соразмерно последней).

Задают:

d - заданную глубину термической обработки исходной поверхности алмаза - 5 мкм,

lпер. - заданную длину перемещения упомянутых поверхностей в одном цикле - 57 мм,

tпер. - время одного цикла перемещения упомянутых поверхностей - 57 сек.

Определяют согласно указанным выражениям соответственно значения:

времени выдержки (tвыд.) при указанной температуре - 3600 сек,

скорости перемещения (vпep.) исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали относительно друг друга - 1 мм/сек,

количества циклов перемещения (n) - 63.

Взаимно располагают в горизонтальной плоскости указанные исходную поверхность алмаза и металлическую поверхность из стали.

Обеспечивают непосредственный контакт упомянутых поверхностей.

Осуществляют термическую обработку исходной поверхности алмаза на заданную глубину - 5 мкм.

Для чего нагревают взаимно расположенные упомянутые поверхности (обрабатываемой исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали) в установке инфракрасного излучения (Электропечь трубчатая ПТК-1,2-70) в среде азота, при температуре 1112,5°С (это соответствует температуре вблизи образования эвтектического сплава железо - углерод), со скоростью 10,0°С/сек (это обеспечивает метод инфракрасного нагрева).

Осуществляют выдержку при этой температуре.

При этом в процессе нагрева упомянутых поверхностей (исходной поверхности алмаза и металлической поверхности из стали) и выдержки осуществляют их перемещение циклически в плоскости контакта относительно друг друга,

при этом выдержку при упомянутой температуре осуществляют в течение времени (tвыд.,) 3600 сек, перемещение - со скоростью перемещения (vпер.) 1 мм/сек и при количестве циклов перемещения (n) 63.

Примеры 2-20. Аналогично примеру 1 реализован заявленный способ обработки поверхности алмаза, но при других технологических режимах, указанных в формуле изобретения (примеры 1-3, 6-8, 11-13, 16-18), так и за ее пределами (примеры 4-5, 9-10, 14-15, 19-20).

Пример 21 соответствует способу прототипа.

Изготовленные образцы алмаза, поверхность которых обработана заявленным способом, были проконтролированы на предмет шероховатости поверхности с помощью устройства (Hommel-Etamic W5 компании JENOPTIC).

Данные сведены в таблицу.

Как видно из таблицы, значения шероховатости поверхности (совокупность неровностей поверхности с относительно малыми шагами на базовой длине) образцов алмаза,

поверхность которых обработана согласно формуле изобретения, составляют 0,05-0,1 мкм (примеры 1-3, 6-8, 11-13, 16-18),

в отличие от образцов алмаза, поверхность которых обработана за пределами формулы изобретения (примеры 4-5, 9-10, 14-15, 19-20), составляют 2,0-3,2 мкм,

и в отличие от образца алмаза прототипа, значения шероховатости поверхности которого составляют 2,0-4,0 мкм.

Таким образом, заявленный способ обработки поверхности алмаза обеспечивает по сравнению с прототипом

во-первых, высокое качество обработки поверхности алмаза, и, прежде всего, величина шероховатости поверхности алмаза снижена примерно в 40 раз.

во-вторых, расширение функциональных возможностей способа обработки благодаря обеспечению локальной заданной поверхности алмаза, при этом высокого качества обработки поверхности алмаза.

Последнее особенно важно для производства элементов электронной техники и особенно микроэлектронной техники СВЧ.

Источники информации

1. Патент РФ №2279908, МПК B01J 3/00, приоритет 08.08.2001 г., опубликовано 20.07.2006 г.

2. Патент РФ №2281350, МПК С30В 33/02, приоритет 21.10.2004 г., опубликовано 10.08.2006 г.

3. Патент РФ №2237113, МПК С30В 33/02, приоритет 26.06.2003 г., опубликовано 27.09.2004 г.

4. Патент РФ №2145365, МПК С30В 33/04, приоритет 11.12.1998 г., опубликовано 10.02.2000 г.

5. Патент РФ №2434977, МПК С30В 33/04, приоритет 16.04.2010 г., опубликовано 27.11.2011 г.

6. Патент РФ №2483856, МПК В24В 37/04, приоритет 07.07.2011 г., опубликовано 10.06.2013 г.

7. Патент РФ №2369473, МПК В24В 31/00, приоритет 29.01.2008 г., опубликовано 10.10.2009 г.

8. Патент США №6284315, МПК С23С 16/56 (кл. 427/249.1), приоритет 14.01.2000 г., опубликовано 04.09.2001 г., - прототип.

9. Диаграмма состояния двойных металлических систем. Справочник, том 1. Москва, Машиностроение, 1996 г., стр. 718.


СПОСОБ ОБРАБОТКИ ПОВЕРХНОСТИ АЛМАЗА
Источник поступления информации: Роспатент

Showing 51-60 of 67 items.
29.05.2018
№218.016.5767

Интегральная схема свч

Заявлена интегральная схема СВЧ, содержащая диэлектрическую подложку из алмаза, на обратной стороне которой выполнено металлизационное покрытие, элементы интегральной схемы - активные и пассивные элементы, линии передачи, выводы, в диэлектрической подложке из алмаза выполнены сквозные...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002654970
Дата охранного документа: 23.05.2018
29.05.2018
№218.016.5810

Способ металлизации диэлектрического материала компонента электронной техники свч

Использование: для металлизации диэлектрического материала компонента электронной техники СВЧ. Сущность изобретения заключается в том, что способ включает формирование защитного слоя на поверхности диэлектрического материала компонента, за исключением его лицевой поверхности, посредством...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002654963
Дата охранного документа: 23.05.2018
14.06.2018
№218.016.61be

Приемопередающий модуль активной фазированной антенной решетки

Заявлен приемопередающий модуль активной фазированной антенной решетки, содержащий, по меньшей мере, четыре одноканальных модуля, каждый из которых содержит последовательно соединенные защитное устройство и малошумящий усилитель приемного канала, выходной усилитель мощности передающего канала,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002657336
Дата охранного документа: 13.06.2018
28.07.2018
№218.016.762c

Клеевая композиция для электронной техники свч

Изобретение относится к клеевой композиции для электронной техники СВЧ. Композиция содержит связующее - модифицированную эпоксидную смолу - продукт взаимодействия эпоксититанкремнийорганической смолы с тетрабутоксититанатом, при соотношении компонентов 1:0,06 соответственно, металлический...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002662513
Дата охранного документа: 26.07.2018
07.11.2019
№219.017.debe

Водорастворимый флюс для пайки

Изобретение относится к составам флюсов для низкотемпературной пайки с повышенной термостойкостью. Водорастворимый флюс содержит компоненты в следующем соотношении, мас %: глицерин 60-62, сорбит 27-28, щелочь 8-9, ингибитор в виде тетрабората натрия или борной кислоты 2-4. Введение в состав...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002705190
Дата охранного документа: 05.11.2019
10.11.2019
№219.017.e054

Баночное окно ввода-вывода энергии свч

Изобретение относится к электровакуумной технике СВЧ, а именно к баночным окнам ввода-вывода энергии СВЧ электровакуумных приборов и ввода энергии СВЧ в ускоряющие структуры ускорителей. В частности, оно может быть использовано при создании мощных и сверхмощных клистронов и мощных современных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002705563
Дата охранного документа: 08.11.2019
31.01.2020
№220.017.fb76

Способ получения поглощающего свч-энергию покрытия

Изобретение относится к поглощающим СВЧ-энергию покрытиям и может быть использовано в электронной технике. Способ получения поглощающего СВЧ-энергию покрытия на металлических поверхностях деталей включает газотермическое напыление порошка, содержащего диоксид титана, при этом в качестве...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002712326
Дата охранного документа: 28.01.2020
05.02.2020
№220.017.fea8

Устройство для выравнивания амплитудно-частотной характеристики свч тракта

Изобретение относится к области радиотехники. Устройство для выравнивания амплитудно-частотной характеристики СВЧ тракта содержит центральный тракт и коаксиальные резонаторы, настраиваемые на разные частоты внутри полосы пропускания. Центральный тракт представляет собой воздушную коаксиальную...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002713073
Дата охранного документа: 03.02.2020
05.02.2020
№220.017.fea9

Приемопередающий модуль активной фазированной антенной решетки свч-диапазона

Изобретение относится к радиоэлектронным устройствам, а именно к конструкции приемопередающих модулей активных фазированных антенных решеток СВЧ-диапазона. Сущность заявленного решения заключается в том, что приемопередающий модуль активной фазированной антенной решетки СВЧ-диапазона содержит,...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002713079
Дата охранного документа: 03.02.2020
09.02.2020
№220.018.014c

Фильтр свч

Изобретение относится к радиотехнике, в частности к фильтрам. Фильтр содержит входную и выходную линии передачи, между которыми расположен связанный резонатор, выполненный из двух каскадно-соединенных элементов, каждый из которых содержит два отрезка линии передачи одинаковой длины, связанных...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002713719
Дата охранного документа: 06.02.2020
Showing 51-54 of 54 items.
01.03.2019
№219.016.c87d

Электронная отпаянная пушка для вывода электронного потока в атмосферу или иную газовую среду

Изобретение относится к электронной технике, а именно к электронным отпаянным пушкам и ускорителям электронов, предназначенным для вывода электронного потока из вакуумной области пушки и ускорителя в атмосферу или иную газовую среду, и может быть использовано в полупроводниковой электронике для...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002680823
Дата охранного документа: 27.02.2019
29.03.2019
№219.016.ef37

Металлизированная пластина алмаза и способ ее изготовления

Изобретения могут быть использованы для монтажа элементов электронной техники. Техническим результатом изобретения является обеспечение высоких электрофизических параметров путем исключения деградации свойств пластины алмаза, при сохранении высокой адгезии металла к алмазу. Сущность...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002285977
Дата охранного документа: 20.10.2006
19.06.2019
№219.017.8a9a

Металлизированная пластина алмаза для изделий электронной техники

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для монтажа и одновременно для отвода тепла от активных элементов как отдельных изделий электронной техники, так и радиоэлектронных устройств различного назначения. Сущность изобретения: металлизированная пластина алмаза для...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002436189
Дата охранного документа: 10.12.2011
10.07.2019
№219.017.b01b

Способ обработки поверхности детали из композиционного материала алмаз - карбид кремния - кремний

Изобретение относится к способам обработки поверхности деталей из композиционных материалов типа «алмаз - карбид кремния - кремний» и может быть использовано, в частности, при изготовлении инструмента и конструкционных деталей для машиностроения. Способ обработки характеризуется тем, что...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002402509
Дата охранного документа: 27.10.2010
+ добавить свой РИД