Автор РИД: КВИКБИМ ТЕК. КО., ЛТД. (CN)

Изобретение относится к способу калибровки пятна луча. Техническим результатом является повышение надежности и скорости калибровки пятна луча в устройствах лучевой обработки. Способ включает регулировку положения пятна луча на изображении в предварительно заданную координату, настройку пятна...