Автор РИД: Шабельников Ирлан Витальевич

Изобретение относится к области исследования структуры материалов и касается способа спектрального лазерного сканирования композитных материалов в соответствии с оптической плотностью его матрикса и составных компонентов. Способ осуществляется в полной темноте и заключается в последовательном...