×

Автор РИД: Государственное учреждение "Научно-производственный комплекс "Технологический центр" Московского государственного института электронной техники (ГУ НПК "ТЦ" МИЭТ)

Показаны записи 1-1 из 1.
10.04.2019
№219.017.040b

Способ самосовмещенного формирования изоляции элементов интегральных микросхем и поликремниевых контактов к подложке и скрытому слою

Использование: микроэлектроника, технология изготовления интегральных микросхем (ИМС). Сущность изобретения: в способе самосовмещенного формирования изоляции элементов ИМС и поликремниевых контактов к подложке и n+ - скрытому слою на полупроводниковой подложке со сплошным скрытым и...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002356127
Дата охранного документа: 20.05.2009
+ добавить свой РИД