×

Автор РИД: Открытое акционерное общество "НИИ молекулярной электроники и завод "МИКРОН"

Показаны записи 1-3 из 3.
19.04.2019
№219.017.2d26

Способ фотолитического селективного травления двуокиси кремния

Использование: в микроэлектронике, а именно в способах фотолитического травления поверхности пластин в процессе изготовления сверхбольших интегральных схем. Сущность изобретения: способ фотолитического травления двуокиси кремния включает травление поверхности SiO в гексафториде серы при...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002257641
Дата охранного документа: 27.07.2005
10.04.2019
№219.017.02da

Дозатор гомогенной парогазовой смеси

Изобретение относится к средствам для образования паровой и парогазовой смеси, используемой при высокотемпературной обработке изделий в производстве полупроводниковых приборов и интегральных схем. Изобретение направлено на повышение надежности и качества дозатора, что обеспечивается за счет...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002314499
Дата охранного документа: 10.01.2008
11.03.2019
№219.016.d68b

Лодочка для удержания кремниевых пластин при изготовлении полупроводниковых приборов

Лодочка для удержания кремниевых пластин при изготовлении полупроводниковых приборов относится к устройствам, предназначенным для удержания кремниевых пластин во время термообработки. Лодочка состоит из четырех параллельных кварцевых стержней с нарезанными в них пазами, соединенных между собой...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002280916
Дата охранного документа: 27.07.2006
+ добавить свой РИД