Автор РИД: Федеральное государственное унитарное предприятие Научно-исследовательский институт комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем (ФГУП НИИКИ ОЭП)

Изобретение относится к измерительной технике. Способ включает направление в образец исследуемой среды навстречу друг другу двух соосных пучков лазерного излучения, пространственно перекрывающихся в образце исследуемой среды, при этом обеспечивается возникновение ВРМБ излучения в среде,...

Изобретение относится к области обработки данных дистанционного зондирования для обнаружения и распознавания по изображениям. Техническим результатом является упрощение операций по созданию синтезированного изображения для визуальной интерпретации, его адаптации к интересующим наблюдателя...

Изобретение относится к области силовой оптики, а именно к определению лучевой прочности поверхности оптической детали. Облучают разные участки поверхности оптической детали пучком импульсного лазерного излучения с неоднородным распределением интенсивности излучения в пятне облучения,...

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к устройствам защиты оптических систем от воздействия лазерного излучения путем обеспечения высокой скорости срабатывания затвора. Устройство содержит установленные на оптической оси объектив для формирования изображения...

Лазер включает активный элемент, излучающий при накачке пучок лучей разных длин волн, и пространственный модулятор света. Резонатор лазера содержит выходное частично отражающее плоское зеркало, расположенное на оптической оси резонатора перед активным элементом, плоское полностью отражающее...

Изобретение может быть использовано при проектировании оптико-электронных систем с высокоточной пространственной ориентацией. Световозвращающий элемент выполнен в виде двояковыпуклой составной линзы, включающей две линзы, соединенные между собой по сферической поверхности с радиусом кривизны R....

Изобретение относится к способу и устройству для получения покрытий. Изобретение позволяет стабильно получать высококачественные покрытия из широкого класса материалов с высокой адгезией к подложкам из металлов, диэлектриков, полупроводников. Покрытие получают путем ионного осаждения на...

Изобретение относится к области измерительной техники, к измерительным устройствам, характеризующимся оптическими средствами измерений, и может быть использовано для решения широкого круга технических задач, включающих измерение плоских углов, таких как юстировка оптико-электронных систем,...

Изобретение относится к способам получения тонких слоев материала ионной имплантацией и может быть использовано при модификации подложек из металлов, диэлектриков и полупроводников. Согласно способу ионную имплантацию осуществляют в струйном диафрагменном разряде (СДР) в вакууме при...

Изобретение относится к измерительной технике, к измерительным устройствам, характеризующимся оптическими средствами измерений, и может быть использовано для решения широкого круга технических задач, включающих измерение плоских углов, таких как юстировка оптико-электронных систем, сборка...