Автор РИД: Марков Олег Иванович

Изобретение относится к приборам и методам экспериментальной физики и предназначено для исследования дефектной структуры кристаллов. Способ имеет преимущество по сравнению с методом рентгенодифракционной топографии: нет необходимости разрушать исследуемый образец, можно осуществлять экспрессный...

Изобретение относится к области полупроводниковых материалов с модифицированными электрическими свойствами. Способ получения низкотемпературного термоэлетрика на основе сплава BiSb с добавками гадолиния включает помещение навески сплава BiSb и металлического гадолиния в количестве 0,01-0,1 ат.%...