Автор РИД: ОГАВА Акихиро (JP)

Группа изобретений относится к способу и устройству обнаружения дефектов поверхности стального материала. Способ оптического обнаружения дефекта поверхности стального материала содержит этап освещения заданного участка контроля осветительными световыми пучками с различными направлениями...