Автор РИД: Кривенков Роман Юрьевич

Изобретение относится к оптическому приборостроению. Способ измерения нелинейно-оптических свойств веществ и материалов методом z-сканирования при монохроматической лазерной накачке включает измерение зависимости коэффициента пропускания плоскопараллельного исследуемого образца при его...