×

Автор РИД: Кудряшова Татьяна Юрьевна

Показаны записи 1-1 из 1.
13.01.2017
№217.015.89f9

Способ определения стойкости полупроводниковых приборов свч к воздействию ионизирующих излучений

Использование: для отбраковки полупроводниковых приборов. Сущность изобретения заключается в подаче на каждый прибор из группы однотипных приборов неизменные напряжения питания, приложении последовательности циклов ионизирующего излучения, доза которого накапливается в каждом цикле с тем, чтобы...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002602416
Дата охранного документа: 20.11.2016
+ добавить свой РИД