×

Автор РИД: Щипцов Виктор Семёнович

Показаны записи 1-2 из 2.
25.08.2017
№217.015.bc38

Способ магнитоиндукционного измерения толщины диэлектрического покрытия и устройство для его осуществления

Группа изобретений относится к измерительной технике и может быть использована для оценки надежности и качества многослойных конструкций из полимерных композиционных материалов на основе контроля толщины слоев. Способ магнитоиндукционного измерения толщины диэлектрического покрытия включает...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002616071
Дата охранного документа: 12.04.2017
10.03.2016
№216.014.cad6

Способ вихретокового контроля толщины композитных материалов на неметаллических подложках и устройство для его осуществления

Группа изобретений относится к области измерительной техники и может быть использована для оценки надежности и качества многослойных конструкций из полимерных композиционных материалов на основе контроля толщины слоев. Сущность: способ характеризуется тем, что предварительно измеряют...
Тип: Изобретение
Номер охранного документа: 0002577037
Дата охранного документа: 10.03.2016
+ добавить свой РИД